CN108806567A - 显示面板及其检测方法和检测模块、显示装置 - Google Patents

显示面板及其检测方法和检测模块、显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种显示面板，所述显示面板包括多条栅线、多条数据线和多条检测信号线，多组像素单元与多条检测信号线一一对应，所述检测信号线位于同一组中多列像素单元的中间位置，以使得所述检测信号线两侧的像素单元的列数相同，所述检测信号线包括检测部和多个抵消部，所述检测部的延伸方向与数据线的延伸方向一致，每个所述抵消部都包括第一抵消部和第二抵消部，所述第一抵消部和所述第二抵消部均设置在所述检测部上，且分别朝向所述检测部的两侧延伸。本发明还提供一种检测方法、一种检测模块和一种显示装置。利用所述检测方法可以精确地检测显示面板的状态，并对显示面板进行精确的补偿，以获得精确的显示结果。

Description

显示面板及其检测方法和检测模块、显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及一种显示面板、一种对该显示面板进行检测的方法、执行该检测方法的检测模块和一种包括该显示面板和检测模块的显示装置。
背景技术
随着显示技术的日渐成熟，显示面板的品质好坏关系着面板开发商的竞争能力强弱。
为了实现窄边框，目前采用包括多级移位寄存单元的栅极驱动电路对显示面板的多行像素单元进行逐行扫描。但是，显示面板中仍然存在显示色偏等不准确的现象出现。为了使得显示面板的显示更加精确，需要设置外部补偿模块。
利用检测信号线检测驱动显示面板的各个像素单元的驱动电流，并利用补偿模块根据该驱动电路生成相应的补偿信号，以对显示面板进行补偿。
为了提高显示面板的开口率，通常将检测信号线与数据线重叠设置，且检测信号线与数据线设置在不同层中。
但是，这种补偿方法仍然存在色偏的问题。因此，如何对显示面板进行准确的补偿成为本领域接待解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板、一种对该显示面板进行检测的方法、执行该检测方法的检测模块和一种包括该显示面板和检测模块的显示装置。利用所述检测方法可以精确地检测显示面板的状态，并对显示面板进行精确的补偿，以获得精确的显示结果。
为了实现上述目的，作为本发明的一个方面，提供一种显示面板，所述显示面板包括多条栅线、多条数据线和多条检测信号线，多条所述栅线和多条数据线交叉，将所述显示面板划分为排列为多行多列的多个像素单元，每个所述像素单元内均设置有发光二极管，其中，所述像素单元被划分为多组，每组像素单元包括偶数列像素单元，多组像素单元与多条检测信号线一一对应，所述检测信号线位于同一组中多列像素单元的中间位置，以使得所述检测信号线两侧的像素单元的列数相同，所述检测信号线包括检测部和多个抵消部，所述检测部的延伸方向与数据线的延伸方向一致，每个所述抵消部都包括第一抵消部和第二抵消部，所述第一抵消部和所述第二抵消部均设置在所述检测部上，且分别朝向所述检测部的两侧延伸，以分别与所述检测部两侧的数据线交叉，所述检测部能够在检测阶段中依次与同一组中不同列的像素单元中的发光二极管的阳极电连接。
优选地，所述像素单元包括红色像素单元、绿色像素单元、蓝色像素单元和白色像素单元。
优选地，所述第一抵消部和所述第二抵消部在所述栅线所在层的投影均与相应的栅线重叠。
优选地，同一条检测线上的抵消部的数量与所述显示面板中栅线的行数相同。
优选地，所述显示面板还包括多条检测扫描线和多个检测开关单元，每个所述像素单元对应一个所述检测开关单元，以使得所述检测开关单元排列为多行多列，多行所述检测开关单元与多条检测扫描线一一对应，多列检测开关单元与多条检测信号线一一对应，
所述检测开关单元的控制端与相应的检测扫描线电连接，所述检测开关单元的输入端与相应的像素单元中发光二极管的阳极电连接，所述检测开关单元的输出端与相应的检测信号线电连接，所述检测开关单元的输入端和该检测开关单元的输出端能够在该检测开关单元的控制端接收到第一检测控制信号时导通。
优选地，所述检测开关单元包括检测开关晶体管，所述检测开关晶体管的栅极形成为所述检测开关单元的控制端，所述检测开关晶体管的第一极形成为所述检测开关单元的输入端，所述检测开关晶体管的第二极形成为所述检测开关单元的输出端，
所述检测开关晶体管的第一极和该检测开关晶体管的第二极能够在该检测开关晶体管的栅极接收到第一检测控制信号时导通，所述检测开关晶体管的第一极和该检测开关晶体管的第二极能够在该检测开关晶体管的栅极接收到第二检测控制信号时断开，其中，所述第一检测控制信号与所述第二检测控制信号相位相反。
优选地，每个所述像素单元内均设置有像素电路，所述像素电路包括数据开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，
所述数据开关晶体管的第一极与相应的数据线电连接，所述数据开关晶体管的栅极与相应的栅线电连接，所述数据开关晶体管的第二极与同一个像素单元中的驱动晶体管的栅极电连接；
所述驱动晶体管的第一极与第一电平信号端电连接，所述驱动晶体管的第二极与同一个像素单元中的发光二极管的阳极电连接；
所述存储电容的第一端与同一个像素单元中的驱动晶体管的栅极电连接，所述存储电容的第二端与同一个像素单元中的发光二极管的阳极电连接。
作为本发明的第二个方面，提供一种显示面板的检测方法，其中，所述显示面板为本发明所提供的上述显示面板，所述检测方法包括多个检测周期，每个检测周期都包括多个检测阶段，同一个检测周期中检测阶段的数量与一个像素单元组中像素单元的列数相同，且多个检测阶段与同一个像素单元组中的多列像素单元一一对应；
每个检测阶段都包括检测子阶段和复位子阶段；
在所述检测子阶段，控制所述检测信号线与对应的像素单元组中待检测的像素单元中发光二极管的阳极电连接，并向待检测的像素单元的数据线提供检测电压，使得待检测像素单元的数据电压从初始电压变化至0V，同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从0V变化至参照电压，同一组中其他像素单元对应的数据线输入0V电压；
在所述复位子阶段，将待检测的像素单元对应的数据线的电压从0V变化至所述参照电压，并将同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从所述参照电压变化至0V。
作为本发明的第三个方面，提供一种用于显示面板的检测模块，其中，所述显示面板为本发明所提供的上述显示面板，所述检测模块包括初始化子单元、检测子单元和抵消子单元，
所述检测子单元用于在所述检测子阶段，控制所述检测信号线与对应的像素单元组中待检测的像素单元中发光二极管的阳极电连接，并向待检测的像素单元的数据线提供检测电压，使得待检测像素单元的数据电压从初始电压变化至0V，同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从0V变化至参照电压，同一组中其他像素单元对应的数据线输入0V电压；
所述抵消子单元用于在所述复位子阶段，将待检测的像素单元对应的数据线的电压从0V变化至所述参照电压，并将同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从所述参照电压变化至0V。
作为本发明的第四个方面，提供一种显示装置，所述显示装置包括显示面板和源极驱动电路，其中，所述显示面板为本发明所提供的上述显示面板，所述显示装置还包括补偿电路和本发明所提供的上述检测模块，所述检测信号线和所述数据线均与所述检测模块电连接，所述检测信号线与所述补偿电路电连接，所述补偿电路用于在接收到所述检测信号线输出的信号后生成补偿信号，并将所述补偿信号发送至所述源极驱动电路，
所述源极驱动电路能够根据数据信号和接收到的补偿信号生成源极驱动信号。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1是本发明所提供的显示面板中的检测信号线的示意图；
图2是本发明所提供的显示面板中的检测信号线与相邻数据线之间的位置关系图；
图3(a)至图3(d)是控制所述显示面板显示白色画面以对所述显示面板进行检测时的信号图；
图4(a)至图4(d)是控制所述显示面板显示红色画面以对显示面板进行检测时的信号图；
图5是本发明所提供的显示面板中像素电路与检测信号线之间的关系示意图。
附图标记说明
110：第一抵消部 120：第二抵消部
130：检测部 140：检测开关单元
200R：红色像素单元对应的数据线
200G：绿色像素单元对应的数据线
200B：蓝色像素单元对应的数据线
200W：白色像素单元对应的数据线
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
经本申请的发明人研究发现，现有技术中补偿不准确的原因在于，数据线和检测信号线重叠部分较多，产生寄生电容。因此，在检测阶段，不同的画面下检测出的数据存在误差。
有鉴于此，作为本发明的一个方面，提供一种显示面板，所述显示面板包括多条栅线、多条数据线和多条检测信号线，多条所述栅线和多条数据线交叉，将所述显示面板划分为排列为多行多列的多个像素单元，每个所述像素单元内均设置有发光二极管。
其中，所述检测信号线与所述数据线分别设置在不同层，所述像素单元被划分为多组，每组像素单元包括偶数列像素单元，多组像素单元与多条检测信号线一一对应。所述检测信号线位于同一组多列像素单元的中间位置，以使得所述检测信号线两侧的像素单元的列数相同。
如图1和图2所示，所述检测信号线包括检测部130和多个抵消部，如图2所示，检测部130的延伸方向与所述数据线的延伸方向一致，且检测部130在所述数据线所在层的投影与任意一条数据线均不重叠，每个所述抵消部都包括第一抵消部110和第二抵消部120，第一抵消部110和第二抵消部120均设置在所述检测部上，且分别朝向检测部130的两侧延伸，以分别与检测部130两侧的数据线交叉，检测部130能够在检测阶段中依次与同一组中不同列的像素单元中的发光二极管的阳极电连接。
需要解释的是，在本发明所提供的显示面板中，每隔预定时间执行一次检测，而非在显示的过程中执行检测。执行检测的时间段即为上述检测阶段。在每个检测阶段中，可以对不同列的像素单元进行检测，在检测阶段结束后，即可完成对所述显示面板中所有像素单元的检测。
所述检测信号线的一端与检测信号源电连接，以为检测信号线提供一个初始检测电压。
在检测时，需要对待检测的像素单元进行初始化，即，将待检测的像素单元对应的数据线上的电压由检测前的值(例如，电压a)设置为初始检测电压(例如，初始检测电压可以为0V)。初始化结束后，向待检测的像素单元对应的数据线上输入检测电压(例如，电压b)。为了便于描述，称待检测的像素单元位于检测部一侧。在此过程中，向与待检测的像素单元位于同一组中、且位于检测部另一侧的一条数据线(为了便于描述，可将其称之为抵消数据线)提供第一抵消电压。具体地，当待检测的像素单元对应的数据线上的电压有电压a变为初始检测电压时，将抵消数据线上的电压从初始检测电压写至检测电压b。在同一组中，待检测的像素单元对应的数据线与相应的抵消数据线中的一者与第一抵消部重叠形成第一寄生电容，待检测的像素单元对应的数据线与相应的抵消数据线中的另一者与第二抵消部重叠形成第二寄生电容。
第一寄生电容会造成检测部上的电压升高，而第二寄生电容会造成检测部上的电压降低，二者对冲后可以减低甚至消除数据线上的电压变化对检测部上输出的电压信号的影响，从而可以提高检测精度。由于数据线上的电压对检测部上的电压影响较小，因此，可以在复位阶段快速地将检测部上的电压回复至预定初始检测电压，减少了复位所需要的时间。
在本发明中，一个检测周期包括多个检测阶段，在不同的检测阶段中，对不同颜色的像素单元进行检测。
例如，可以按照像素单元的颜色进行分组，例如，当像素单元包括红色像素单元、绿色像素单元、蓝色像素单元时，一个检测周期包括三个检测阶段，在这三个检测阶段中，分别对红色像素单元、绿色像素单元和蓝色像素单元进行检测。
当像素单元包括红色像素单元、绿色像素单元、蓝色像素单元、白色像素单元时，一个检测周期包括四个检测阶段，在这四个检测阶段中，分别对红色像素单元、绿色像素单元、蓝色像素单元和白色像素单元进行检测。当然，本发明并不限于此。
在对同一组的像素单元进行检测时，向该组的像素单元对应的数据线以及检测信号线提供检测电压，并向该组的像素单元对应的检测信号线上位于该检测信号线两侧的不同颜色的数据线提供抵消电压，从而可以防止检测信号线上的检测电压受到相应数据电压过大影响，从而获得精确的检测结果。具体地，向与第一抵消部对应的数据线提供使得检测信号线上电压升高的电压，向与第二抵消部对应的数据线提供使得检测信号线上电压降低的电压，从而可以抵消数据线上的电压对检测信号线上输出电压的影响。
作为一种优选实施方式，为了便于布置以及便于加工，优选地，所述第一抵消部和所述第二抵消部在所述栅线所在层的投影均与相应的栅线重叠。
优选地，同一条检测线上的抵消部的数量与所述显示面板中栅线的行数相同。同一条检测信号线上，抵消部的数量越多，抵消部与数据线之间重叠的面积越大，从而可以更好地防止数据线上的电压影响检测信号线上的电压，并且可以减少检测信号线初始化的时间。
作为一种具体实施方式，显示面板的分辨率可以为3840×2160，每条检测信号线和每条数据线的交叠面积乘以2160，可以得到相当大的面积，因此，可以更好地降低寄生电容对检测信号线造成的影响。
如上文中所述，周期性地执行对显示面板的检测。作为一种优选实施方式，如图5所示，所述显示面板还包括多条检测扫描线G2和多个检测开关单元140，每个所述像素单元对应一个所述检测开关单元，以使得检测开关单元140排列为多行多列。并且，多行检测开关单元140与多条检测扫描线G2一一对应，多列检测开关单元140与多条检测信号线130一一对应。
检测开关单元140的控制端与相应的检测扫描线G2电连接，检测开关单元140的输入端与相应的像素单元中发光二极管OLED的阳极电连接，检测开关单元140的输出端与相应的检测信号线130电连接。
检测开关单元140的输入端和该检测开关单元140的输出端能够在该检测开关单元的控制端接收到第一检测控制信号时导通。
容易理解的是，只有在需要对显示面板进行检测时才向检测开关单元140的控制端提供所述第一检测控制信号。为了便于对个每个像素单元进行检测，优选地，需要对多条检测扫描线G2进行逐行扫描。在检测扫描线G2上的信号为第二检测控制信号时，该检测扫描线对应的检测开关单元140的输入端和输出端截止。
为了简化检测开关单元140的结构，优选地，检测开关单元140包括检测开关晶体管T20，该检测开关晶体管T20的栅极形成为该检测开关单元140的控制端，检测开关晶体管T20的第一极形成为检测开关单元140的输入端，检测开关晶体管T20的第二极形成为检测开关单元140的输出端。
检测开关晶体管T20的第一极和该检测开关晶体管T20的第二极能够在该检测开关晶体管T20的栅极接收到第一检测控制信号时导通，检测开关晶体管T20的第一极和该检测开关晶体管T20的第二极能够在该检测开关晶体管T20的栅极接收到第二检测控制信号时断开，其中，所述第一检测控制信号与所述第二检测控制信号相位相反。
为了驱动发光二极管OLED发光，每个像素单元中均应设置有像素电路。作为一种优选实施方式，如图5所示，像素电路包括数据开关晶体管T10、驱动晶体管T30和存储电容Cst。
数据开关晶体管T10的第一极与相应的数据线电连接，数据开关晶体管T10的栅极与相应的栅线G1电连接，数据开关晶体管T10的第二极与同一个像素单元中的驱动晶体管T30的栅极电连接。数据开关晶体管T10的第一极和数据开关晶体管T10的第二极能够在该数据开关晶体管T10的栅极接收到第一扫描信号时导通，且所述数据开关晶体管的第一极和数据开关晶体管T10的第二极能够在该数据开关晶体管T10的栅极接收到第二扫描信号时断开，其中，第一扫描信号与第二扫描信号相位相反。
驱动晶体管T30的第一极与第一电平信号端电连接，驱动晶体管T30的第二极与同一个像素单元中的发光二极管OLED的阳极电连接。容易理解的是，发光二极管OLED的阴极与第二电平信号端电连接。
存储电容Cst的第一端与同一个像素单元中的驱动晶体管T30的栅极电连接，存储电容Cst的第二端与同一个像素单元中的发光二极管OLED的阳极电连接。
数据开关晶体管T10的第一极和第二极导通时能够将数据电压写入至驱动晶体管T30的栅极。存储电容Cst可以使得驱动晶体管T30形成为二极管连接，并驱动发光二极管发光。
所述发光电路结构简单，可以在同一个显示面板中布置更多的像素电路，提高显示面板的分辨率。
作为本发明的第二个方面，作为本发明的第二个方面，提供一种显示面板的检测方法，其中，所述显示面板为本发明所提供的上述显示面板，所述检测方法包括多个检测周期，每个检测周期都包括多个检测阶段，同一个检测周期中检测阶段的数量与一个像素单元组中像素单元的列数相同，且多个检测阶段与同一个像素单元组中的多列像素单元一一对应；
每个检测阶段都包括初始化子阶段T1(可以包括第一初始化子阶段T1和第二初始化子阶段T2)和检测子阶段T3；
在第一初始化子阶段中，控制所述检测信号线与对应的像素单元组中待检测的像素单元中发光二极管的阳极电连接，使得待检测的像素单元的数据电压从初始电压变化至0V，同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从0V变化至检测电压，同一组中其他像素单元对应的数据线输入0V电压；
在第二初始化子阶段中，控制待检测的像素单元的数据电压保持在0V，控制同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压保持在所述检测电压；
在检测子阶段，将待检测的像素单元对应的数据线的电压从0V变化至所述检测电压，并将同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从所述检测电压变化至0V。
下面结合图2和图3(a)对本发明所提供的显示面板及其检测方法进行详细的介绍。
在图2中所示的实施方式中，显示面板包括红色像素单元、绿色像素单元、蓝色像素单元和白色像素单元。检测信号线的检测部130左侧为数据线200R和数据线200G，第一抵消部110分别与数据线200R和数据线200G交叉；检测信号线的检测部130右侧为数据线200W和数据线200B，第二抵消部120分别与数据线200W和数据线200B交叉。
图3(a)所示的是检测红色像素单元时的信号时序图。如图3(a)所示，在所述第一初始化子阶段T1，控制所述检测信号线与对应的像素单元组中待检测的红色像素单元中发光二极管的阳极电连接，并向待检测的像素单元的数据线200R提供检测电压，使得待检测像素单元的数据电压从初始电压a变化至0V，同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线关于检测信号线的检测部对称的数据线200B(即，蓝色像素单元对应的数据线)的电压从0V变化至参照电压b，同一组中其他像素单元对应的数据线输入0V电压。
在第二初始化子阶段中，控制红色像素单元对应的数据线200R上的电压维持在0V，控制蓝色像素单元对应的数据线200B上的电压维持在b。
在检测子阶段T3，向数据线200R上提供检测电压，将数据线200B上的电压降至0V。
在对红色像素单元进行检测的检测阶段的复位子阶段中，数据线200R与第一抵消部110交叉形成的寄生电容会引起检测部130上电压上升，而数据线200B与第二抵消部110交叉形成的寄生电容会引起检测部130上电压下降，二者互相抵消，从而降低数据线电压对检测部130上输出的检测信号的影响。
图3(b)中所示的是对绿色像素单元进行检测时的信号时序图，作为一种实施方式，在检测子阶段T3向与绿色像素单元对应的数据线200G提供检测电压d，在第二初始化子阶段，向与白色像素单元对应的数据线200W提供检测电压d。
图3(c)中所示的是对白色像素单元进行检测时的信号时序图，作为一种实施方式，在检测子阶段T3向与白色像素单元对应的数据线200W提供检测电压f，在第二初始化子阶段，向与绿色像素单元对应的数据线200G提供检测电压f。
图3(d)中所示的是对蓝色像素单元进行检测时的信号时序图，作为一种实施方式，在检测子阶段T3向与蓝色像素单元对应的数据线200W提供检测电压h，在第二初始化子阶段，向与红色像素单元对应的数据线200G提供检测电压h。
图4(a)至图4(d)中所示的是分别对红色像素单元、绿色像素单元、蓝色像素单元、红色像素单元和白色像素单元进行检测时的信号时序图。与图3(a)至图3(b)中不同之处在于，检测电压不同，以及初始电压不同，但是检测原理相同，这里不再一一赘述。
对于其他像素单元的检测过程与对红色像素单元检测的过程类似，这里不再赘述。
作为本发明的第三个方面，提供一种用于显示面板的检测模块，其中，所述显示面板为本发明所提供的上述显示面板，所述检测模块包括初始化子单元、检测子单元和抵消子单元。
所述检测子单元用于在检测阶段中，控制所述检测信号线与该检测阶段对应的像素单元中的发光二极管的阳极电连接，且所述检测子单元还用于在所述第一初始化子阶段中，控制待检测的像素单元的数据电压从初始电压变化至0V，同一组中其他像素单元对应的数据线输入0V电压，在所述第二初始化子阶段中，控制待检测的像素单元的数据电压保持在0V；
所述抵消子单元用于在所述第一初始化子阶段中，同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从0V变化至检测电压，在所述第二初始化子阶段中，控制同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压保持在所述检测电压，在所述检测子阶段中，将同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从所述检测电压变化至0V。
作为本发明的第四个方面，提供一种显示装置，所述显示装置包括显示面板和源极驱动电路，其中，所述显示面板为本发明所提供的上述显示面板，所述显示装置还包括补偿电路和本发明所提供的上述检测模块，所述检测信号线和所述数据线均与所述检测模块电连接，所述检测信号线与所述补偿电路电连接，所述补偿电路用于在接收到所述检测信号线输出的信号后生成补偿信号，并将所述补偿信号发送至所述源极驱动电路，
所述源极驱动电路能够根据数据信号和接收到的补偿信号生成源极驱动信号。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板，所述显示面板包括多条栅线、多条数据线和多条检测信号线，多条所述栅线和多条数据线交叉，将所述显示面板划分为排列为多行多列的多个像素单元，每个所述像素单元内均设置有发光二极管，其特征在于，所述检测信号线与所述数据线分别设置在不同层，所述像素单元被划分为多组，每组像素单元包括偶数列像素单元，多组像素单元与多条检测信号线一一对应，所述检测信号线位于同一组中多列像素单元的中间位置，以使得所述检测信号线两侧的像素单元的列数相同，所述检测信号线包括检测部和多个抵消部，所述检测部的延伸方向与所述数据线的延伸方向一致，且所述检测部在所述数据线所在层的投影与任意一条数据线均不重叠，每个所述抵消部都包括第一抵消部和第二抵消部，所述第一抵消部和所述第二抵消部均设置在所述检测部上，且分别朝向所述检测部的两侧延伸，以分别与所述检测部两侧的数据线交叉，所述检测部能够在检测周期中依次与同一组中不同列的像素单元中的发光二极管的阳极电连接。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述像素单元包括红色像素单元、绿色像素单元、蓝色像素单元和白色像素单元。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一抵消部和所述第二抵消部在所述栅线所在层的投影均与相应的栅线重叠。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的显示面板，其特征在于，同一条检测线上的抵消部的数量与所述显示面板中栅线的行数相同。
5.根据权利要求1至3中任意一项所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括多条检测扫描线和多个检测开关单元，每个所述像素单元对应一个所述检测开关单元，以使得所述检测开关单元排列为多行多列，多行所述检测开关单元与多条检测扫描线一一对应，多列检测开关单元与多条检测信号线一一对应，
所述检测开关单元的控制端与相应的检测扫描线电连接，所述检测开关单元的输入端与相应的像素单元中发光二极管的阳极电连接，所述检测开关单元的输出端与相应的检测信号线电连接，所述检测开关单元的输入端和该检测开关单元的输出端能够在该检测开关单元的控制端接收到第一检测控制信号时导通。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述检测开关单元包括检测开关晶体管，所述检测开关晶体管的栅极形成为所述检测开关单元的控制端，所述检测开关晶体管的第一极形成为所述检测开关单元的输入端，所述检测开关晶体管的第二极形成为所述检测开关单元的输出端，
所述检测开关晶体管的第一极和该检测开关晶体管的第二极能够在该检测开关晶体管的栅极接收到第一检测控制信号时导通，所述检测开关晶体管的第一极和该检测开关晶体管的第二极能够在该检测开关晶体管的栅极接收到第二检测控制信号时断开，其中，所述第一检测控制信号与所述第二检测控制信号相位相反。
7.根据权利要求1至3中任意一项所述的显示面板，其特征在于，每个所述像素单元内均设置有像素电路，所述像素电路包括数据开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，
所述数据开关晶体管的第一极与相应的数据线电连接，所述数据开关晶体管的栅极与相应的栅线电连接，所述数据开关晶体管的第二极与同一个像素单元中的驱动晶体管的栅极电连接；
所述驱动晶体管的第一极与第一电平信号端电连接，所述驱动晶体管的第二极与同一个像素单元中的发光二极管的阳极电连接；
所述存储电容的第一端与同一个像素单元中的驱动晶体管的栅极电连接，所述存储电容的第二端与同一个像素单元中的发光二极管的阳极电连接。
8.一种显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板为权利要求1至7中任意一项所述的显示面板，所述检测方法包括多个检测周期，每个检测周期都包括多个检测阶段，同一个检测周期中检测阶段的数量与一个像素单元组中像素单元的列数相同，且多个检测阶段与同一个像素单元组中的多列像素单元一一对应；
对于任意一个检测阶段，控制所述检测信号线与该检测阶段对应的像素单元中的发光二极管的阳极电连接，每个检测阶段都包括：
在第一初始化子阶段中，使得待检测的像素单元的数据电压从初始电压变化至0V，同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从0V变化至检测电压，同一组中其他像素单元对应的数据线输入0V电压；
在第二初始化子阶段中，控制待检测的像素单元的数据电压保持在0V，控制同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压保持在所述检测电压；
在检测子阶段，将待检测的像素单元对应的数据线的电压从0V变化至所述检测电压，并将同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从所述检测电压变化至0V。
9.一种用于显示面板的检测模块，其特征在于，所述显示面板为权利要求1至7中任意一项所述的检测模块，所述检测模块包括初始化子单元、检测子单元和抵消子单元，
所述检测子单元用于在检测阶段中，控制所述检测信号线与该检测阶段对应的像素单元中的发光二极管的阳极电连接，且所述检测子单元还用于在所述第一初始化子阶段中，控制待检测的像素单元的数据电压从初始电压变化至0V，同一组中其他像素单元对应的数据线输入0V电压，在所述第二初始化子阶段中，控制待检测的像素单元的数据电压保持在0V；
所述抵消子单元用于在所述第一初始化子阶段中，同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从0V变化至检测电压，在所述第二初始化子阶段中，控制同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压保持在所述检测电压，在所述检测子阶段中，将同一像素单元组中与待检测的像素单元对应的数据线分别位于检测信号线的检测部两侧的一条数据线的电压从所述检测电压变化至0V。
10.一种显示装置，所述显示装置包括显示面板和源极驱动电路，其特征在于，所述显示面板为权利要求1至7中任意一项所述的显示面板，所述显示装置还包括补偿电路和权利要求9所述的检测模块，所述检测信号线和所述数据线均与所述检测模块电连接，所述检测信号线与所述补偿电路电连接，所述补偿电路用于在接收到所述检测信号线输出的信号后生成补偿信号，并将所述补偿信号发送至所述源极驱动电路，
所述源极驱动电路能够根据数据信号和接收到的补偿信号生成源极驱动信号。
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