CN208157016U - 一种显示面板及其测试电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种显示面板及其测试电路。其中，该显示面板包括多条信号线，该测试电路包括：多个第一开关单元和多个第二开关单元，第一开关单元和第二开关单元均与信号线一一对应，第一开关单元和第二开关单元均包括第一端、第二端和控制端，任一信号线的第一端与其对应的第一开关单元的第一端电连接，任一信号线的第二端与其对应的第二开关单元的第一端电连接；多个测试端子，用于传输测试信号；任一信号线对应的第一开关单元的第二端与第二开关单元的第二端电连接至同一测试端子。本实用新型实施例的技术方案可以提高显示面板在测试过程中的安全性和可靠性。

Description

一种显示面板及其测试电路

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试电路。

背景技术

众所周知，显示面板的好坏直接影响显示器画面的观看效果，同时显示面板的价格占据显示器成本的70％以上，因此显示面板是影响显示器质量和造价的主要因素，相应的，在显示面板制造过程中通常会对显示面板进行多次测试，以保证制造的显示面板的质量。

在制造显示面板的过程中，扫描线和数据线可能被刮伤，而导致显示不良。故通常先会对扫描线和数据线的完整性进行检查，然后再进行画面质量的检查。由于上述两种检查过程，在显示面板上所使用的测试线路和测试端子不同，输入的测试信号也不同。若人为操作不当，同时向上述两种检查过程所使用的测试端子施加测试信号，容易导致同一根扫描线和/或同一根数据线的两端输入不同的测试信号，使显示面板和测试机台发生短路。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种显示面板及其测试电路，以提高显示面板在测试过程中的安全性和可靠性。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种显示面板的测试电路，该显示面板包括多条信号线，

该测试电路包括：多个第一开关单元和多个第二开关单元，第一开关单元和第二开关单元均与信号线一一对应，第一开关单元和第二开关单元均包括第一端、第二端和控制端，任一信号线的第一端与其对应的第一开关单元的第一端电连接，任一信号线的第二端与其对应的第二开关单元的第一端电连接；

多个测试端子，用于传输测试信号；

任一信号线对应的第一开关单元的第二端与第二开关单元的第二端电连接至同一测试端子。

进一步地，任一信号线对应的第一开关单元的控制端与第二开关单元的控制端电连接至不同的测试端子。

进一步地，多条信号线包括下述至少一种：扫描线和数据线。

进一步地，与扫描线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子，与扫描线对应的第二开关单元的控制端电连接至同一测试端子；

和/或，与数据线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子，与数据线对应的第二开关单元的控制端电连接至同一测试端子。

进一步地，多条信号线包括：多条扫描线和多条数据线，多条扫描线沿第一方向排布，沿与第一方向垂直的第二方向延伸，多条数据线沿第二方向排布，沿第一方向延伸；

位于奇数位置的扫描线对应的第一开关单元的第二端电连接至同一测试端子，位于偶数位置的扫描线对应的第一开关单元的第二端电连接至同一测试端子，位于奇数位置的扫描线对应的第一开关单元的第二端，与位于偶数位置的扫描线对应的第一开关单元的第二端电连接至不同的测试端子；

位于奇数位置的数据线对应的第一开关单元的第二端电连接至同一测试端子，位于偶数位置的数据线对应的第一开关单元的第二端电连接至同一测试端子，位于奇数位置的数据线对应的第一开关单元的第二端，与位于偶数位置的数据线对应的第一开关单元的第二端电连接至不同的测试端子。

进一步地，与扫描线对应的第一开关单元的控制端和与数据线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子；

和/或，与扫描线对应的第二开关单元的控制端和与数据线对应的第二开关单元的控制端电连接至同一测试端子。

进一步地，第一开关单元和第二开关单元均为薄膜晶体管。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种显示面板，包括本实用新型任意实施例提供的显示面板的测试电路，显示面板包括显示区和包围显示区的非显示区；测试电路位于显示面板的非显示区。

进一步地，该显示面板还包括相对设置的阵列基板和彩膜基板，以及位于阵列基板和彩膜基板之间的液晶层，测试电路位于阵列基板的边缘。

进一步地，该显示面板还包括多个绑定端子，通过与柔性线路板绑定结合后，与驱动芯片电连接；

多个绑定端子和多个测试端子位于显示面板的两个邻边的边缘，多个绑定端子与信号线一一对应，任一绑定端子电连接至与其对应的信号线临近绑定端子的一端。

本实用新型实施例的技术方案通过将任一信号线对应的第一开关单元的第二端与其对应的第二开关单元的第二端电连接至同一测试端子，即使在人为操作不当时，使第一开关单元和第二开关单元同时导通时，传输至信号线的第一端与第二端的测试信号为同一测试信号，可避免在人为操作不当时，导致信号线两端的开关单元同时导通，同一根信号线的两端输入不同的测试信号，造成显示面板和测试机台发生短路的现象，故可以提高显示面板在测试过程中的安全性和可靠性。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的一种显示面板的测试电路的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的又一种显示面板的测试电路的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的一种显示面板的剖面结构示意图；

图5为本实用新型实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

本实用新型实施例提供一种显示面板的测试电路。图1为本实用新型实施例提供的一种显示面板的测试电路的结构示意图。如图1所示，该显示面板200包括多条信号线110，该测试电路包括：多个第一开关单元120、多个第二开关单元130和多个测试端子140。

其中，第一开关单元120和第二开关单元130均与信号线110一一对应，第一开关单元120和第二开关单元130均包括第一端、第二端和控制端，任一信号线110的第一端与其对应的第一开关单元120的第一端N11电连接，任一信号线110的第二端与其对应的第二开关单元130的第一端N21电连接；多个测试端子140用于传输测试信号；任一信号线110对应的第一开关单元120的第二端N12与第二开关单元130的第二端N22电连接至同一测试端子。

需要说明的是，第一开关单元120包括第一端N11、第二端N12和控制端Ctr1，可通过向控制端Ctr1输入高电平或低电平，以控制第一开关单元120的第一端N11和第二端N12之间的通断状态，即控制是否通过第一开关单元120将引入的第一测试信号(例如可以是用于测试信号线的无损性或完整性的第一测试信号，该第一测试信号的功率较小，故该第一开关单元120的传输功率可以较小)传输至信号线110。第二开关单元130包括第一端N21、第二端N22和控制端Ctr2，可通过向控制端Ctr2输入高电平或低电平，以控制第二开关单元130的第一端N21和第二端N22之间的通断状态，即控制是否通过第二开关单元130将引入的第二测试信号(例如可以是用于测试画面质量的测试信号，该第二测试信号的功率较大，故与第一开关单元120相比，第二开关单元130的传输功率较大，以满足功率要求)传输至信号线110。可选的，多条信号线110包括下述至少一种：扫描线和数据线。在测试装置上设置多个测试探针，通过使测试探针与测试电路上对应的测试端子(可以是焊盘)接触，以使测试装置产生的测试信号传输至测试电路。该显示面板可以是液晶显示面板或有机发光二极管显示面板。第一开关单元120和第二开关单元130可为开关管，例如可以是MOS管或三极管。可选的，第一开关单元120和第二开关单元130可均为一薄膜晶体管。其中，薄膜晶体管的栅极作为控制端，漏极作为第一端，源极作为第二端。薄膜晶体管的面积越大，功率越大，故相比于第二开关单元，第一开关单元的面积较小。

需要说明的是，可先控制第一开关单元120的第一端N11和第二端N12之间为导通状态，控制第二开关单元130的第一端N21和第二端N22之间为关断状态，即通过第一开关单元120将引入的第一测试信号传输至信号线110，以测试信号线的无损性或完整性，若测试结果为合格，可继续进行画面质量测试过程，控制第一开关单元120的第一端N11和第二端N12之间为关断状态，控制第二开关单元130的第一端N21和第二端N22之间为导通状态，即通过第二开关单元130将引入的第二测试信号传输至信号线110，以进行画面质量测试。通过将任一信号线110对应的第一开关单元120的第二端N12与第二开关单元130的第二端N22电连接至同一测试端子，即使在人为操作不当时，同时控制第一开关单元120的第一端N11和第二端N12之间为导通状态，以及第二开关单元130的第一端N21和第二端N22之间为导通状态，传输至信号线110的第一端与第二端的测试信号为同一测试信号，故可以避免显示面板和测试机台短路，可以提高显示面板的安全性和可靠性。

本实施例的技术方案通过将任一信号线110对应的第一开关单元120的第二端N12与其对应的第二开关单元130的第二端N22电连接至同一测试端子；可避免在人为操作不当时，导致信号线两端的开关单元同时导通，同一根信号线的两端输入不同的测试信号，造成显示面板和测试机台发生短路的现象，故可以提高显示面板的安全性和可靠性。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图1，任一信号线110对应的第一开关单元120的控制端Ctr1与第二开关单元130的控制端Ctr2电连接至不同的测试端子140，以分别控制第一开关单元120和第二开关单元130的导通和关断。

其中，以第一开关单元120和第二开关单元130均为NMOS管为例，在测试任一信号线的无损性或完整性时，测试装置通过向与第一开关单元120的控制端Ctr1电连接的测试端子输入高电平，控制任一信号线110对应的第一开关单元120导通，测试装置通过向与第二开关单元130的控制端Ctr2电连接的测试端子输入低电平，控制第二开关单元130关断，以通过第一开关单元120将引入的第一测试信号传输至信号线110；在测试画面质量时，测试装置通过向与第一开关单元120的控制端Ctr1电连接的测试端子输入低电平，控制任一信号线110对应的第一开关单元120关断，测试装置通过向与第二开关单元130的控制端Ctr2电连接的测试端子输入高电平，控制第二开关单元130导通，通过第二开关单元130将引入的第二测试信号传输至信号线110。

本实用新型实施例提供又一种显示面板的测试电路。图2为本实用新型实施例提供的又一种显示面板的测试电路的结构示意图。在上述实施例的基础上，多条信号线110包括：多条扫描线111和多条数据线112，多条扫描线111沿第一方向X排布，沿与第一方向X垂直的第二方向Y延伸，多条数据线112沿第二方向Y排布，沿第一方向X延伸。

其中，扫描线111和数据线112垂直交叉，定义了以矩阵方式排列的多个像素显示单元，通过控制向扫描线111和数据线112输入的扫描信号和数据信号，可以控制扫描线111和数据线112交叉位置的像素显示单元的亮度。该扫描信号可以是高电平或低电平。该数据信号可以是灰阶电压。向像素显示单元输入不同的灰阶电压，可以显示不同的亮度。图2示例性的画出4条扫描线111和4条数据线112，本实用新型对扫描线和数据线的数目不作限定。

需要说明的是，可选的，如图2所示，显示面板200可以为矩形，与扫描线111对应的第一开关单元120位于显示面板的同一侧边边缘，与扫描线111对应的第二开关单元130位于显示面板的同一侧边边缘。可选的，如图2所示，与数据线112对应的第一开关单元120位于显示面板的同一侧边边缘，与数据线112对应的第二开关单元130位于显示面板的同一侧边边缘。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图2，与扫描线111对应的第一开关单元120的控制端Ctr1电连接至同一测试端子140，以控制与扫描线111对应的所有第一开关单元120同时导通或关断；与扫描线111对应的第二开关单元130的控制端Ctr2电连接至同一测试端子140，以控制与扫描线111对应的所有第二开关单元130同时导通或关断，可减少设置测试端子的数量，减小测试电路的占用面积，提高显示装置(当测试电路位于显示面板的非显示区时)的屏占比。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图2，与数据线112对应的第一开关单元120的控制端Ctr1电连接至同一测试端子140，以控制与数据线112对应的所有第一开关单元120同时导通或关断；与数据线112对应的第二开关单元130的控制端Ctr2电连接至同一测试端子140，以控制与数据线112对应的所有第二开关单元130同时导通或关断，可减少设置测试端子的数量，减小测试电路的占用面积，提高显示装置(当测试电路位于显示面板的非显示区时)的屏占比。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图2，位于奇数位置的扫描线111对应的第一开关单元120的第二端N12电连接至同一测试端子140，位于偶数位置的扫描线111对应的第一开关单元120的第二端N12电连接至同一测试端子140，位于奇数位置的扫描线111对应的第一开关单元120的第二端N12，与位于偶数位置的扫描线111对应的第一开关单元120的第二端N12电连接至不同的测试端子140，以分别向奇数位置和偶数位置的扫描线111输入不同的测试信号，可减少设置测试端子的数量，减小测试电路的占用面积，提高显示装置的屏占比。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图2，位于奇数位置的数据线112对应的第一开关单元120的第二端N12电连接至同一测试端子140，位于偶数位置的数据线112对应的第一开关单元120的第二端N12电连接至同一测试端子140，位于奇数位置的数据线112对应的第一开关单元120的第二端N12，与位于偶数位置的数据线112对应的第一开关单元120的第二端N12电连接至不同的测试端子140，以分别向奇数位置和偶数位置的数据线112输入不同的测试信号，可减少设置测试端子的数量，减小测试电路的占用面积，提高显示装置的屏占比。

其中，通过分别对奇数位置和偶数位置的扫描线111输入不同的测试信号，分别对奇数位置和偶数位置的数据线112输入灰阶值不同的测试信号，以使显示面板显示不同的测试画面(例如可以是黑画面、黑白相间的画面等)，可根据画面显示的均匀性，判断显示面板的画面显示质量是否合格。画面显示越均匀，则显示面板的画面显示质量越好。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图2，与扫描线111对应的第二开关单元130的控制端Ctr2和与数据线112对应的第二开关单元130的控制端Ctr2电连接至同一测试端子140，以控制所有第二开关单元130同时导通或关断，可减少设置测试端子的数量，减小测试电路的占用面积，提高显示装置的屏占比。同理，可选的，可将与扫描线111对应的第一开关单元120的控制端Ctr1和与数据线112对应的第一开关单元120的控制端Ctr1电连接至同一测试端子140(图中未示出)，以控制所有第一开关单元120同时导通或关断，可减少设置测试端子的数量，减小测试电路的占用面积。

可选的，在上述实施例的基础上，该显示面板还包括多个红色子像素显示单元、多个绿色子像素显示单元和多个黄色子像素显示单元，其中，用于向红色子像素显示单元输入数据信号的数据线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子，用于向绿色子像素显示单元输入数据信号的数据线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子，用于向蓝色子像素显示单元输入数据信号的数据线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子，不同颜色的子像素显示单元对应的数据线对应的第一开关单元的控制端电连接至不同的测试端子，以在不同时刻点亮不同颜色的子像素显示单元，以形成不同颜色的测试画面，方便观察显示面板显示的均匀性。

本实用新型实施例提供一种显示面板。图3为本实用新型实施例提供的一种显示面板的结构示意图。该显示面板200包括本实用新型任意实施例提供的显示面板的测试电路100，显示面板200包括显示区210和包围显示区210的非显示区220；测试电路100位于显示面板200的非显示区220。

本实用新型实施例提供的显示面板包括上述实施例中的显示面板的测试电路，因此本实用新型实施例提供的显示面板也具备上述实施例中所描述的有益效果，此处不再赘述。

可选的，在上述实施例的基础上，图4为本实用新型实施例提供的一种显示面板的剖面结构示意图，如图4所示，该显示面板还包括相对设置的阵列基板230和彩膜基板240，以及位于阵列基板230和彩膜基板240之间的液晶层250，测试电路100位于阵列基板230的边缘。

可选的，在上述实施例的基础上，图5为本实用新型实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，如图5所示，该显示面板200还包括多个绑定端子260，通过与柔性线路板绑定结合后，与驱动芯片270电连接。

其中，多个绑定端子260和多个测试端子140位于显示面板200的两个邻边的边缘，多个绑定端子260与信号线一一对应，任一绑定端子260电连接至与其对应的信号线临近绑定端子260的一端。驱动芯片270可以源极驱动电路和/或栅极驱动电路。

需要说明的是，在制造显示面板的过程中，扫描线和数据线可能被刮伤，而导致显示不良。故通常先会对扫描线和数据线的完整性进行检查，然后再进行画面质量的检查。显示面板正常工作时，驱动芯片通过绑定端子向对应的信号线传输驱动信号，为保证绑定端子与对应的信号线之间的电性连接良好，故需通过控制与信号线临近绑定端子260的一端连接的开关单元(例如可以是图5中的第一开关单元120)导通，以传输测试信号，使对应位置的像素显示单元全部点亮，以确定信号线是完好无损的；若对应位置的像素显示单元至少部分不亮，则确定信号线损坏或断裂。

需要说明的是，如图5所示，在显示面板上，该多个绑定端子260和多个测试端子140所在两个邻边的边缘区域的布线较为密集且复杂，而未设置绑定端子260和测试端子140的显示面板的另外两个相邻的边缘区域的布线相对稀疏，故可将位于未设置绑定端子260和测试端子140的另外两个相邻的边缘区域的开关单元的控制端电连接至同一测试端子，而位于多个绑定端子260和多个测试端子140所在两个邻边的边缘区域的开关单元的控制端电连接至不同的测试端子，如图5所示，将与扫描线111对应的第二开关单元130的控制端Ctr2和与数据线112对应的第二开关单元130的控制端Ctr2电连接至同一测试端子140，而未将与扫描线111对应的第一开关单元120的控制端Ctr1和与数据线112对应的第一开关单元120的控制端Ctr1电连接至同一测试端子140，以降低布线的复杂性。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板的测试电路，该显示面板包括多条信号线，其特征在于，

该测试电路包括：多个第一开关单元和多个第二开关单元，所述第一开关单元和第二开关单元均与所述信号线一一对应，所述第一开关单元和所述第二开关单元均包括第一端、第二端和控制端，任一信号线的第一端与其对应的第一开关单元的第一端电连接，任一信号线的第二端与其对应的第二开关单元的第一端电连接；

多个测试端子，用于传输测试信号；

任一信号线对应的第一开关单元的第二端与第二开关单元的第二端电连接至同一测试端子。

2.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，任一信号线对应的第一开关单元的控制端与第二开关单元的控制端电连接至不同的测试端子。

3.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述多条信号线包括下述至少一种：扫描线和数据线。

4.根据权利要求3所述的显示面板的测试电路，其特征在于，与所述扫描线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子，与所述扫描线对应的第二开关单元的控制端电连接至同一测试端子；

和/或，与所述数据线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子，与所述数据线对应的第二开关单元的控制端电连接至同一测试端子。

5.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述多条信号线包括：多条扫描线和多条数据线，所述多条扫描线沿第一方向排布，沿与所述第一方向垂直的第二方向延伸，所述多条数据线沿所述第二方向排布，沿所述第一方向延伸；

位于奇数位置的扫描线对应的第一开关单元的第二端电连接至同一测试端子，位于偶数位置的扫描线对应的第一开关单元的第二端电连接至同一测试端子，位于奇数位置的扫描线对应的第一开关单元的第二端，与位于偶数位置的扫描线对应的第一开关单元的第二端电连接至不同的测试端子；

位于奇数位置的数据线对应的第一开关单元的第二端电连接至同一测试端子，位于偶数位置的数据线对应的第一开关单元的第二端电连接至同一测试端子，位于奇数位置的数据线对应的第一开关单元的第二端，与位于偶数位置的数据线对应的第一开关单元的第二端电连接至不同的测试端子。

6.根据权利要求5所述的显示面板的测试电路，其特征在于，与所述扫描线对应的第一开关单元的控制端和与所述数据线对应的第一开关单元的控制端电连接至同一测试端子；

和/或，与所述扫描线对应的第二开关单元的控制端和与所述数据线对应的第二开关单元的控制端电连接至同一测试端子。

7.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述第一开关单元和所述第二开关单元均为薄膜晶体管。

8.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-7任一所述的显示面板的测试电路，所述显示面板包括显示区和包围所述显示区的非显示区；所述测试电路位于所述显示面板的非显示区。

9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，该显示面板还包括相对设置的阵列基板和彩膜基板，以及位于所述阵列基板和彩膜基板之间的液晶层，所述测试电路位于所述阵列基板的边缘。

10.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，该显示面板还包括多个绑定端子，通过与柔性线路板绑定结合后，与驱动芯片电连接；

所述多个绑定端子和所述多个测试端子位于所述显示面板的两个邻边的边缘，所述多个绑定端子与信号线一一对应，任一绑定端子电连接至与其对应的信号线临近绑定端子的一端。