CN112992022A - 显示面板及检测方法 - Google Patents

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CN112992022A
CN112992022A CN202011017501.2A CN202011017501A CN112992022A CN 112992022 A CN112992022 A CN 112992022A CN 202011017501 A CN202011017501 A CN 202011017501A CN 112992022 A CN112992022 A CN 112992022A
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周满城
陈柏辅
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Chongqing Kangjia Photoelectric Technology Research Institute Co Ltd
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Abstract

本申请提供一种显示面板，其包括：显示区、设置于显示区周围的非显示区以及检测电路，该检测电路包括：设置于显示区的M条扫描线、N条数据线和多个发光单元以及设置于非显示区的M个第一测试点和N个第二测试点，M和N均为大于或等于2的整数；M条扫描线和N条数据线之间相交且相互绝缘设置，且每条扫描线与每条数据线相交处形成一个交点；每个发光单元的一端与形成所述交点的扫描线电性连接，另一端与形成该交点的数据线电性连接；每个第一测试点与每条扫描线电性连接，并通过该扫描线与所述发光单元的一端电性连接，每个第二测试点与每条数据线电性连接，并通过该数据线与所述发光单元的另一端电性连接。此外，本申请还公开了一种检测方法。

Description

显示面板及检测方法
技术领域
本申请涉及一种显示面板技术领域，尤其涉及一种显示面板以及一种检测方法。
背景技术
发光二极管(Light Emitting Diode，LED)是一种能够将电能转化为光能的半导体器件，其体现出来的高对比对度、高色域远远优于现有的液晶显示器(Liquid CrystalDisplay，LCD)，因此LED显示逐渐成为主流。就目前可商业化的mini-LED而言，基本设计都是在印刷电路板(Printed Circuit Boards，PCB)上进行，当板上芯片(Chip On Board，COB)工艺(即LED被安装)结束之后，需要对PCB板进行点灯测试，以检查每个LED是否能正常点亮。但由于此时PCB板上并未安装相应的驱动集成电路(integrated circuit，IC)，因而无法对LED进行驱动。如果等到驱动IC安装完成后再对每个LED进行检测，若此时发现LED等无法正常点亮，需要将驱动IC取下进行维修，这会导致制造成本的增加和生产周期的加长。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足，本申请的目的在于提供一种显示面板以及一种用于检测所述显示面板中的发光单元是否能够正常点亮的检测方法，其旨在解决现有技术中存在的现有技术无法在不打乱LED与驱动IC安装顺序的情况下实现LED安装后进行点灯测试的问题。
一种显示面板，其包括：显示区、设置于所述显示区周围的非显示区以及检测电路，所述检测电路包括：设置于所述显示区的M条扫描线、N条数据线和多个发光单元以及设置于所述非显示区的M个第一测试点和N个第二测试点，M和N均为大于或等于2的整数；其中：M条所述扫描线和N条所述数据线之间相交且相互绝缘设置，且每条所述扫描线与每条所述数据线相交处形成一个交点；每个所述发光单元的一端与形成所述交点的扫描线电性连接，其另一端与形成该交点的数据线电性连接；每个所述第一测试点与每条所述扫描线电性连接，并通过该扫描线与所述发光单元的一端电性连接，每个所述第二测试点与每条所述数据线电性连接，并通过该数据线与所述发光单元的另一端电性连接。
上述显示面板中，通过对每条扫描线都预设一个第一测试点，同时对每条数据线都预设一个第二测试点，直接对第一测试点与第二测试点施加电压信号，从而使得在驱动IC安装前就能对每个发光单元工作状态进行检测，进而实现了在不打乱发光单元与驱动IC安装顺序的情况下实现了发光单元安装后进行点灯测试。因此，该显示面板将会减少成本的浪费并缩短生产周期。
可选地，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，每个所述第一隔离器件设置在所述第一测试点上，并遮蔽该第一测试点，每个所述第二隔离器件设置在所述第二测试点上，并遮蔽该第二测试点。
可选地，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，所述扫描线中每相邻的两个所述扫描线对应连接的所述第一测试点共用一个所述第一隔离器件，且所述第一隔离器件同时遮蔽与相邻的两个所述扫描线对应连接的所述第一测试点，所述数据线中每相邻的两个所述数据线对应连接的所述第二测试点共用一个所述第二隔离器件，且所述第二隔离器件同时遮蔽与相邻的两个所述数据线对应连接的所述第二测试点。
可选地，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，全部所述扫描线对应连接的所述第一测试点共用一个所述第一隔离器件，且所述第一隔离器件同时遮蔽与全部所述扫描线对应连接的所述第一测试点，全部所述数据线对应连接的所述第二测试点共用一个所述第二隔离器件，且所述第二隔离器件同时遮蔽与全部所述数据线对应连接的所述第二测试点。
可选地，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，多条所述扫描线中每相邻的至少两条所述扫描线对应连接的所述第一测试点共用一个所述第一隔离器件，且该第一隔离器件同时遮蔽与相邻的至少两条扫描线对应连接的第一测试点，多条所述数据线中每相邻的至少两条数据线对应连接的所述第二测试点共用一个第二隔离器件，且该第二隔离器件同时遮蔽与相邻的至少两条所述数据线对应连接的第二测试点。
上述显示面板基于所述检测电路的设置，在预留第一测试点和第二测试点的基础上，在安装驱动IC时，通过采用第一隔离器件和第二隔离器件分别对第一测试点和第二测试点进行遮蔽，以防止ESD。因此，本申请的显示面板不但完成了COB检测功能，也完成了ESD防护。
可选地，所述发光单元为发光二极管，所述发光二极管的正极与形成所述交点的扫描线电性连接，所述发光二极管的负极与形成该交点的数据线电性连接。
可选地，所述第一隔离器件和所述第二隔离器件为封胶或贴件。
基于同样的发明构思，本申请还提供一种检测方法，包括：
在显示面板的显示区内相交且互相绝缘设置的多条扫描线和多条数据线分别连接预留的多个第一测试点和多个第二测试点，其中，所述第一测试点与发光单元的一端电性连接，所述第二测试点与该发光单元的另一端电性连接；
对所述第一测试点和所述第二测试点施加电压信号，该电压信号分别通过所述扫描线和所述数据线输入至所述发光单元，以检测所述发光单元是否能够正常点亮，当所述发光单元点亮异常时对该发光单元进行维修；
当全部所述发光单元均正常点亮时，将所述扫描驱动电路和所述数据驱动电路安装至所述显示面板的非显示区内，其中，所述扫描驱动电路与所述扫描线电性连接，所述数据驱动电路与所述数据线电性连接。
上述检测方法中，通过对每条扫描线都预设一个第一测试点，同时对每条数据线都预设一个第二测试点，直接对第一测试点与第二测试点施加电压信号，从而使得在驱动IC安装前就能对每个发光单元工作状态进行检测，进而实现了在不打乱发光单元与驱动IC安装顺序的情况下实现了发光单元安装后进行点灯测试。因此，该检测方法将会减少成本的浪费并缩短生产周期。
可选地，在所述第一测试点和所述第二测试点上分别安装对应的第一隔离器件和第二隔离器件，且所述第一隔离器件遮蔽该第一测试点，所述第二隔离器件遮蔽该第二测试点。
可选地，在多条所述扫描线中每相邻的至少两条所述扫描线对应连接的所述第一测试点上设置一个第一隔离器件，且该第一隔离器件同时遮蔽与相邻的至少两条扫描线对应连接的第一测试点，在多条所述数据线中每相邻的至少两条数据线对应连接的所述第二测试点上设置一个第二隔离器件，且该第二隔离器件同时遮蔽与相邻的至少两条所述数据线对应连接的第二测试点。
上述检测方法中，在预留第一测试点和第二测试点的基础上，在安装驱动IC时，通过采用第一隔离器件和第二隔离器件分别对第一测试点和第二测试点进行遮蔽，以防止ESD。因此，本申请的检测方法不但完成了COB检测功能，也完成了ESD防护。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例公开的一种显示面板的结构示意图；
图2为本申请实施例公开的一种显示面板的电路结构示意图；
图3为本申请实施例一提供的一种检测电路的电路示意图；
图4为本申请实施例一提供的一种具有隔离器件的检测电路的电路示意图；
图5为本申请实施例二提供的一种检测电路的电路示意图；
图6为本申请实施例二提供的一种具有隔离器件的检测电路的电路示意图；
图7为本申请实施例三提供的一种检测电路的电路示意图；
图8为本申请实施例三提供的一种具有隔离器件的检测电路的电路示意图；
图9为本申请实施例公开的一种检测方法的流程示意图。
附图标记说明：
100-显示面板；
110-显示区；
111-非显示区；
112-扫描驱动电路；
113-数据驱动电路；
114-第一测试区；
115-第二测试区；
10-扫描线；
11-数据线；
13-交点；
20-发光单元；
30-第一测试点；
40-第二测试点；
50-第一隔离器件；
60-第二隔离器件；
S11-S13-检测方法的步骤；
200-实施例一提供的检测电路；
300-实施例二提供的检测电路；
400-实施例三提供的检测电路。
具体实施方式
为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。
目前，就可商业化的mini-LED而言，基本设计都是在印刷电路板(PrintedCircuit Boards，PCB)上进行，当LED被安装PCB板上之后，需要对PCB板进行点灯测试，以检查每个LED是否能正常点亮。但由于此时PCB板上并未安装相应的驱动集成电路(integrated circuit，IC)，因而无法对LED进行驱动。如果等到驱动IC安装完成后再对每个LED进行检测，若此时发现LED等无法正常点亮，需要将驱动IC取下进行维修，这会导致制造成本的增加和生产周期的加长。然而，现有技术无法在不打乱LED与驱动IC安装顺序的情况下实现LED安装后进行点灯测试。
基于此，本申请希望提供一种能够解决上述技术问题的方案，实现在不打乱LED与驱动IC安装顺序的情况下实现LED安装后进行点灯测试，其详细内容将在后续实施例中得以阐述。
本申请方案的详细阐述显示面板的具体结构和电路组成以及相关检测方法的具体流程。
请参阅图1，其为本申请实施例公开的一种显示面板的结构示意图。如图1所示，本申请提供一种显示面板100，其包括显示区110以及非显示区111。其中，显示区110用作图像显示，非显示区111环绕设置于显示区110周围，并不用作图像显示。可以理解，在一些实施方式中，所述显示面板100可以以液晶材料作为显示介质，本申请并不以此为限。
可以理解，所述显示面板100可用于包含诸如个人数字助理和/或音乐播放器功能的电子设备，诸如手机、平板电脑、具备无线通讯功能的可穿戴电子设备(如智能手表)等。上述电子设备也可以是其它电子装置，诸如具有触敏表面(例如触控面板)的膝上型计算机(Laptop)等。在一些实施例中，所述电子设备可以具有通信功能，即可以通过2G(第二代手机通信技术规格)、3G(第三代手机通信技术规格)、4G(第四代手机通信技术规格)、5G(第五代手机通信技术规格)或W-LAN(无线局域网)或今后可能出现的通信方式与网络建立通信。为简明起见，对此本申请实施例不做进一步限定。
请参阅图2，其为本申请实施例公开的一种显示面板的电路结构示意图。如图2所示，显示面板100进一步包括设置于非显示区111的扫描驱动电路112、数据驱动电路113以及第一测试区114和第二测试区115。其中，扫描驱动电路112和数据驱动电路113分别设置于显示区110的一侧非显示区111内，数据驱动电路113与多条数据线(Data Line)11电性连接，用于将源极驱动信号通过所述多条数据线11以数据电压的形式传输至多个像素单元(图未示)。扫描驱动电路112用于与多条扫描线(Scan Line)10电性连接，用于通过多条扫描线10输出栅极扫描信号用于控制像素单元何时接收图像数据进行图像显示。
第一测试区114相对所述扫描驱动电路112设置于显示区110另一侧的非显示区111，即，第一测试区114与扫描驱动电路112设置于显示区110相对两侧的非显示区111内。第二测试区115相对所述数据驱动电路113设置于显示区110另一侧的非显示区111内，即，第二测试区115与数据驱动电路113设置于显示区110另外的相对两侧的非显示区111内。所述第一测试区114和第二测试区115用于设置相应的测试点。
在本申请中，上述显示面板100还包括检测电路的相关技术方案，关于检测电路的详细内容将在下文的后续实施例中得以具体阐述和说明。
请参阅图3，其为本申请实施例一提供的一种检测电路的电路示意图。图3所示，所述检测电路200包括M条扫描线10、N条数据线11、多个发光单元20以及多个第一测试点30和多个第二测试点40。其中，所述M条扫描线10和N条数据线11均设置于所述显示区110内的相应位置，M条扫描线10沿第一方向切间隔第一预定距离相互绝缘并且平行排列，所述N条数据线11沿第二方向且间隔第二预定距离相互绝缘并且平行排列，并且M条扫描线10和N条数据线11之间相互绝缘设置，其中，所述第一方向与第二方向相互垂直，M和N均为大于或等于2的整数。
在本实施方式中，由于M条扫描线10和N条数据线11之间相交且相互绝缘设置，因此在每条扫描线10与每条数据线11相交处形成一个交点13，即M条扫描线10与N条数据线11一共可形成M*N个交点13。在其他实施方式中，M条扫描线10和N条数据线11之间可以垂直相交且相互绝缘设置，可以理解的是，所述扫描线10与所述数据线11之间也可以采用其他相交方式设置，本申请并不限于此。
在本实施方式中，为便于说明，所述扫描线10的数量为6条，即M＝6；所述数据线11的数量为3条，即N＝3，因此，所述交点13的数量为18个。可以理解，在一些实施方式中，所述扫描线10的数量并不局限于6条，还可以为4条、5条、7条、8条、9条、...、M-1条或M条。所述数据线11的数量也可以为4条、5条、7条、8条、9条、...、N-1条或N条。
多个发光单元20设置于所述显示区110内的对应位置处，具体为，每个发光单元20设置于每条扫描线10与每条数据线11形成的一个交点13处，即每个发光单元20对应一个交点13。每个发光单元20的一端与形成该交点13的扫描线10电性连接，其另一端与形成该交点13的数据线11电性连接。在本实施方式中，所述发光单元20的数量也为M*N个。在本实施方式中，所述发光单元20可为发光二极管(Light Emitting Diode，LED)，其正极与形成该交点13的扫描线10电性连接，其负极与形成该交点13的数据线11电性连接。
在本实施方式中，多个第一测试点30设置于第一测试区114，与扫描线10的一端相连。具体为，每条扫描线10的一端均连接一个第一测试点30，即第一测试点30的数量与扫描线10的数量一致，即均为M个。
在本实施方式中，多个第二测试点40设置于第二测试区115，与数据线11的一端相连。具体为，每条数据线11的一端均连接一个第二测试点40，即第二测试点40的数量与数据线11的数量一致，即均为N个。
第一测试点30与第二测试点40均用于检测发光单元20工作状态是否正常。具体为，当板上芯片(Chip On Board，COB)工艺之后，对所述第一测试点30和所述第二测试点40施加电压信号，该电压信号分别通过所述扫描线10和所述数据线11输入至所述发光单元20，以检测所述发光单元20工作状态是否正常，当发光单元20正常点亮时，则发光单元20工作状态正常，当发光单元20点亮异常时则对该发光单元20进行维修。
综上可知，本申请提供的显示面板中，通过对每条扫描线10都预设一个第一测试点30，同时对每条数据线11都预设一个第二测试点40，直接对第一测试点30与第二测试点40施加电压信号，从而使得在驱动集成电路(integrated circuit，IC)安装前就能对每个发光单元20工作状态进行检测，进而实现了在不打乱发光单元20与驱动IC安装顺序的情况下实现了发光单元安装后进行点灯测试。因此，该显示面板将会减少成本的浪费并缩短生产周期。
请一并参阅图4，其为本申请实施例一提供的一种具有隔离器件的检测电路的电路示意图。如图4所示，所述检测电路200还包括多个第一隔离器件50和多个第二隔离器件60，其中，每一第一隔离器件50设置于第一测试区114的一个第一测试点30位置上并遮蔽该第一测试点30，即所述第一隔离器件50的数量与第一测试点30的数量一致，其数量也为M个。每一第二隔离器件60设置于第二测试区115的一个第二测试点40位置上并遮蔽该第二测试点40，即所述第二隔离器件60的数量与第二测试点40的数量一致，其数量也为N个。
在一些实施方式中，所述隔离器件的长宽尺寸一定要大于或者等于对应的测试点的长宽尺寸，以保证测试点可以完全被遮蔽。具体为，所述第一隔离器件50的长宽尺寸大于或者等于对应的第一测试点30的长宽尺寸，所述第二隔离器件60的长宽尺寸大于或者等于对应的第二测试点40的长宽尺寸。
在一些实施方式中，第一隔离器件和第二隔离器件的背面(此处背面即为丝印面)与驱动IC的引脚面绝缘，尤其是对于mini_LED显示采用PCB上倒装直显技术，以保证器件安装完成后，相应的测试点与外界之间绝缘，以避免高压的静电释放(Electro-Staticdischarge，ESD)经过测试点而达到所述扫描线10和数据线11。
在一些实施方式中，测试点可以任意排布，并不局限于本文附图3中示意的测试点布局，遮蔽所述测试点的方式可以是驱动IC，也可以是封胶之类的物质，只要是能起到测试点与外界不会有电气接触即可，处理遮蔽测试点的工艺流程也不仅仅限制于表面贴装技术(Surface Mounted Technology，SMT)，只要是板上芯片(Chip On Board，COB)工艺之后均可以。也即为，所述第一隔离器件50和第二隔离器件60可以是任何在COB工艺之后进行将测试点遮蔽的器件，比如封胶、贴件等。
请参见图5和图6，图6是本申请实施例二提供的一种具有隔离器件的检测电路的电路示意图。图6所示实施例的检测电路300与图4所示实施例的检测电路200的主要区别点在于：图4所示实施例的检测电路200的第一测试点30和第二测试点40中的每一个测试点上安装一个隔离器件(即第一隔离器件50和第二隔离器件60)，且被该隔离器件遮蔽；而图6所示实施例的检测电路300中多条扫描线10中每相邻的两个扫描线10对应连接的第一测试点30共用一个第一隔离器件50，且该第一隔离器件50同时遮蔽与相邻的两个扫描线10对应连接的第一测试点30，多条数据线11中每相邻的两个数据线11对应连接的第二测试点40共用一个第二隔离器件60，且该第二隔离器件60同时遮蔽与相邻的两个数据线11对应连接的第二测试点40。
请参见图7和图8，图8是本申请实施例三提供的一种具有隔离器件的检测电路的电路示意图。图8所示实施例的检测电路400与图4所示实施例的检测电路200的主要区别点在于：图4所示实施例的检测电路200的第一测试点30和第二测试点40中的每一个测试点上安装一个隔离器件(即第一隔离器件50和第二隔离器件60)，且被该隔离器件遮蔽；而图8所示实施例的检测电路400中所有扫描线10对应连接的第一测试点30共用一个第一隔离器件50，且该第一隔离器件50同时遮蔽与所有的扫描线10对应连接的第一测试点30，所有数据线11对应连接的第二测试点40共用一个第二隔离器件60，且该第二隔离器件60同时遮蔽与所有的数据线11对应连接的第二测试点40。
在一些实施方式中，隔离器件的设置方式并不局限于本文附图4、图6和图8中所示意的设置方式，还可以为但不局限于：多条扫描线10中每相邻的三条、四条、或其他多条扫描线10对应连接的第一测试点30共用一个第一隔离器件50，且该第一隔离器件50同时遮蔽与相邻的三条、四条、或其他多条扫描线10对应连接的第一测试点30，同时，多条数据线11中每相邻的三条、四条、或其他多条数据线11对应连接的第二测试点40共用一个第二隔离器件60，且该第二隔离器件60同时遮蔽与相邻的三条、四条、或其他多条数据线11对应连接的第二测试点40。
因此，综上可知，本申请提供的显示面板中，在预留第一测试点30和第二测试点40的基础上，在安装驱动IC时，通过采用第一隔离器件50和第二隔离器件60分别对第一测试点30和第二测试点40进行遮蔽，以防止ESD。因此，本申请的显示面板不但完成了COB检测功能，也完成了ESD防护。
请参阅图9，其为本申请实施例公开的一种检测方法的流程示意图，该检测方法由上述实施例中显示面板的检测电路实施和执行，以检测发光单元20是否能够正常点亮。在本实施例中，如图9所示，所述检测方法至少包括以下步骤。
步骤S11、在显示面板100的显示区110内相交且互相绝缘设置的多条扫描线10和多条数据线11分别连接预留的多个第一测试点30和多个第二测试点40，其中，第一测试点30与发光单元20的一端电性连接，第二测试点40与该发光单元20的另一端电性连接；在其他实施方式中，所述扫描线10和所述数据线11之间可以垂直相交且相互绝缘设置，可以理解的是，所述扫描线10和数据线11之间也可以采用其他相交方式设置，本申请对此不做具体限定。
步骤S12、对所述第一测试点30和所述第二测试点40施加电压信号，该电压信号分别通过所述扫描线10和所述数据线11输入至所述发光单元20，以检测所述发光单元20是否能够正常点亮，当发光单元20点亮异常时对该发光单元20进行维修；
具体为，COB工艺之后，多个发光单元20设置于所述显示区110内的对应位置处，且每个发光单元20的一端通过扫描线10与第一测试点30电性连接，每个发光单元20的另一端通过数据线11与第二测试点40电性连接；对所述第一测试点30和所述第二测试点40施加电压信号，该电压信号分别通过所述扫描线10和所述数据线11输入至所述发光单元20，以检测所述发光单元20是否能够正常点亮。当所述发光单元20处于被正常点亮状态时，则发光单元20正常工作；当发光单元20处于点亮异常状态时，则立即对点亮异常的发光单元20进行修复。其中，所述发光单元20的点亮异常状态包括：发光单元无法正常点亮和发光单元的亮度异常。
步骤S13、当全部发光单元20均能够正常点亮时，将所述扫描驱动电路112和所述数据驱动电路113安装至所述显示面板100的非显示区111内，其中，所述扫描驱动电路112与所述扫描线10电性连接，所述数据驱动电路113与所述数据线11电性连接。
步骤S14、在所述第一测试点30和所述第二测试点40上分别安装对应的第一隔离器件50和第二隔离器件60，且所述第一隔离器件50遮蔽该第一测试点30，所述第二隔离器件60遮蔽该第二测试点40。
在本实施例中，上述步骤S13和S14可以的操作顺序可以互换，即先在所述第一测试点30和所述第二测试点40上安装设置对应的第一隔离器50和第二隔离器60，再将所述扫描驱动电路112和所述数据驱动电路113安装至所述显示面板100的非显示区111内。或者，上述步骤S13和S14可以同时进行，即在将所述扫描驱动电路112和所述数据驱动电路113安装至所述显示面板100的非显示区111内的同时，在所述第一测试点30和所述第二测试点40上安装设置对应的第一隔离器50和第二隔离器60。为了简明和便于说明起见，对此本申请实施例不做进一步限定，其他解释均包含在本申请的思想范围之内。
在本实施例中，请同时参阅附图4，每一第一隔离器件50设置于第一测试区114的一个第一测试点30位置上并遮蔽该第一测试点30，每一第二隔离器件60设置于第二测试区115的一个第二测试点40位置上并遮蔽该第二测试点40。
在本实施例中，请同时参阅附图6，多条扫描线10中每相邻的两个扫描线10对应连接的第一测试点30共用一个第一隔离器件50，且该第一隔离器件50同时遮蔽与相邻的两个扫描线10对应连接的第一测试点30，多条数据线11中每相邻的两个数据线11对应连接的第二测试点40共用一个第二隔离器件60，且该第二隔离器件60同时遮蔽与相邻的两个数据线11对应连接的第二测试点40。
在本实施例中，请同时参阅附图8，所有扫描线10对应连接的第一测试点30共用一个第一隔离器件50，且该第一隔离器件50同时遮蔽与所有的扫描线10对应连接的第一测试点30，所有数据线11对应连接的第二测试点40共用一个第二隔离器件60，且该第二隔离器件60同时遮蔽与所有的数据线11对应连接的第二测试点40。
在一些实施方式中，隔离器件的设置方式并不局限于本文附图4、图6和图8中所示意的设置方式，还可以为但不局限于：多条扫描线10中每相邻的三条、四条、或其他多条扫描线10对应连接的第一测试点30共用一个第一隔离器件50，且该第一隔离器件50同时遮蔽与相邻的三条、四条、或其他多条扫描线10对应连接的第一测试点30，同时，多条数据线11中每相邻的三条、四条、或其他多条数据线11对应连接的第二测试点40共用一个第二隔离器件60，且该第二隔离器件60同时遮蔽与相邻的三条、四条、或其他多条数据线11对应连接的第二测试点40。
综上可知，本申请的显示面板以及检测方法中，通过对每条扫描线10都预设一个第一测试点30，同时对每条数据线11都预设一个第二测试点40，直接对第一测试点30与第二测试点40施加电压信号，从而使得在驱动IC安装前就能对每个发光单元20工作状态进行检测，进而实现了在不打乱发光单元20与驱动IC安装顺序的情况下实现了发光单元安装后进行点灯测试。因此，该显示面板将会减少成本的浪费并缩短生产周期。而且，在预留第一测试点30和第二测试点40的基础上，在安装驱动IC时，通过采用第一隔离器件50和第二隔离器件60分别对第一测试点30和第二测试点40进行遮蔽，以防止ESD。因此，本申请的显示面板不但完成了COB检测功能，也完成了ESD防护。
应当理解的是，本申请的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本申请所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：检测电路、显示区以及设置于所述显示区周围的非显示区，所述检测电路包括：设置于所述显示区的M条扫描线、N条数据线和多个发光单元、以及设置于所述非显示区的M个第一测试点和N个第二测试点，M和N均为大于或等于2的整数；其中：
M条所述扫描线和N条所述数据线之间相交且相互绝缘设置，且每条所述扫描线与每条所述数据线相交处形成一个交点；
每个所述发光单元的一端与形成所述交点的扫描线电性连接，其另一端与形成该交点的数据线电性连接；
每个所述第一测试点与每条所述扫描线电性连接，并通过该扫描线与所述发光单元的一端电性连接，每个所述第二测试点与每条所述数据线电性连接，并通过该数据线与所述发光单元的另一端电性连接。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，每个所述第一隔离器件设置在所述第一测试点上，并遮蔽该第一测试点，每个所述第二隔离器件设置在所述第二测试点上，并遮蔽该第二测试点。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，所述扫描线中每相邻的两个所述扫描线对应连接的所述第一测试点共用一个所述第一隔离器件，且所述第一隔离器件同时遮蔽与相邻的两个所述扫描线对应连接的所述第一测试点，所述数据线中每相邻的两个所述数据线对应连接的所述第二测试点共用一个所述第二隔离器件，且所述第二隔离器件同时遮蔽与相邻的两个所述数据线对应连接的所述第二测试点。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，全部所述扫描线对应连接的所述第一测试点共用一个所述第一隔离器件，且所述第一隔离器件同时遮蔽与全部所述扫描线对应连接的所述第一测试点，全部所述数据线对应连接的所述第二测试点共用一个所述第二隔离器件，且所述第二隔离器件同时遮蔽与全部所述数据线对应连接的所述第二测试点。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，多条所述扫描线中每相邻的至少两条所述扫描线对应连接的所述第一测试点共用一个所述第一隔离器件，且该第一隔离器件同时遮蔽与相邻的至少两条扫描线对应连接的第一测试点，多条所述数据线中每相邻的至少两条数据线对应连接的所述第二测试点共用一个第二隔离器件，且该第二隔离器件同时遮蔽与相邻的至少两条所述数据线对应连接的第二测试点。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述发光单元为发光二极管，所述发光二极管的正极与形成所述交点的扫描线电性连接，所述发光二极管的负极与形成该交点的数据线电性连接。
7.根据权利要求2-5任一项所述的显示面板，其特征在于，所述第一隔离器件和所述第二隔离器件为封胶或贴件。
8.一种检测方法，其特征在于，包括步骤：
在显示面板的显示区内相交且互相绝缘设置的多条扫描线和多条数据线分别连接预留的多个第一测试点和多个第二测试点，其中，所述第一测试点与发光单元的一端电性连接，所述第二测试点与该发光单元的另一端电性连接；
对所述第一测试点和所述第二测试点施加电压信号，该电压信号分别通过所述扫描线和所述数据线输入至所述发光单元，以检测所述发光单元是否能够正常点亮，当所述发光单元点亮异常时对该发光单元进行维修；
当全部所述发光单元均正常点亮时，将所述扫描驱动电路和所述数据驱动电路安装至所述显示面板的非显示区内，其中，所述扫描驱动电路与所述扫描线电性连接，所述数据驱动电路与所述数据线电性连接。
9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：
在所述第一测试点和所述第二测试点上分别安装对应的第一隔离器件和第二隔离器件，且所述第一隔离器件遮蔽该第一测试点，所述第二隔离器件遮蔽该第二测试点。
10.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：
在多条所述扫描线中每相邻的至少两条所述扫描线对应连接的所述第一测试点上设置一个第一隔离器件，且该第一隔离器件同时遮蔽与相邻的至少两条扫描线对应连接的第一测试点，在多条所述数据线中每相邻的至少两条数据线对应连接的所述第二测试点上设置一个第二隔离器件，且该第二隔离器件同时遮蔽与相邻的至少两条所述数据线对应连接的第二测试点。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101458405A (zh) * 2007-12-12 2009-06-17 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示面板及其测试方法
CN102967954A (zh) * 2012-11-20 2013-03-13 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的测试装置及方法
CN104732902A (zh) * 2015-04-21 2015-06-24 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示面板及显示装置
CN105976745A (zh) * 2016-07-21 2016-09-28 武汉华星光电技术有限公司 阵列基板测试电路、显示面板及平面显示装置
CN106033661A (zh) * 2015-02-13 2016-10-19 明阳半导体股份有限公司 显示面板的驱动装置
CN208157016U (zh) * 2018-05-24 2018-11-27 昆山龙腾光电有限公司 一种显示面板及其测试电路
CN110956922A (zh) * 2019-12-19 2020-04-03 业成科技（成都）有限公司 显示面板及驱动方法
CN111164741A (zh) * 2019-12-31 2020-05-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 一种检测处理方法、系统及存储介质

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101458405A (zh) * 2007-12-12 2009-06-17 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示面板及其测试方法
CN102967954A (zh) * 2012-11-20 2013-03-13 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的测试装置及方法
CN106033661A (zh) * 2015-02-13 2016-10-19 明阳半导体股份有限公司 显示面板的驱动装置
CN104732902A (zh) * 2015-04-21 2015-06-24 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示面板及显示装置
CN105976745A (zh) * 2016-07-21 2016-09-28 武汉华星光电技术有限公司 阵列基板测试电路、显示面板及平面显示装置
CN208157016U (zh) * 2018-05-24 2018-11-27 昆山龙腾光电有限公司 一种显示面板及其测试电路
CN110956922A (zh) * 2019-12-19 2020-04-03 业成科技（成都）有限公司 显示面板及驱动方法
CN111164741A (zh) * 2019-12-31 2020-05-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 一种检测处理方法、系统及存储介质

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