CN101458405A - 液晶显示面板及其测试方法 - Google Patents

Abstract

一种液晶显示面板，其包括一主动矩阵、一扫描接口、一数据接口和一测试电路。该主动矩阵包括多条扫描线和与之垂直绝缘相交的多条数据线，该多条扫描线与该扫描接口相连，该多条数据线与该数据接口相连。该测试电路包括一测试控制单元和多个连接部，该测试控制单元经由该多个连接部连接该主动矩阵，用于对该主动矩阵传输测试信号。每一连接部包括一熔丝，该熔丝用于测试之后断开该测试电路与该主动矩阵。

Description

液晶显示面板及其测试方法

技术领域

本发明是关于一种液晶显示面板及其测试方法。

背景技术

由于液晶显示器具有轻、薄、耗电量少和无辐射污染等特性，已被广泛地应用于笔记本电脑、个人数字助理等便携式信息产品上，甚至已有逐渐取代传统桌上型电脑的阴极射线管显示器的趋势。

液晶显示器主要包括两个部分：背光模组和液晶显示面板。背光模组提供液晶显示面板需要的面光源，液晶显示面板包括一主动矩阵，该主动矩阵驱动液晶分子实现画面显示。在该主动矩阵布线制造过程中，常会出现布线不良，使该液晶显示面板出现画面失真等不良现象。因此，要在该液晶显示面板上设置一测试电路，在驱动芯片接入液晶显示面板前，对该液晶显示面板的主动矩阵进行测试，检查该主动矩阵有无布线不良。在确定该主动矩阵布线无不良后，须将该测试电路与该主动矩阵分离，避免该测试电路影响该主动矩阵正常工作。

请参阅图1，其是一种现有技术液晶显示面板的电路结构示意图。该液晶显示面板100包括一主动矩阵110、一扫描接口121、一数据接口122和一测试电路130。

该主动矩阵110包括多条扫描线111和与之垂直绝缘相交的多条数据线112。该多条扫描线111和该多条数据线112划分多个像素单元(未标示)，每一像素单元包括一薄膜晶体管113和一像素电极114。该薄膜晶体管113的源极与该数据线112相连，其栅极与该扫描线111相连，其漏极与该像素电极114相连。该多条扫描线111连接该扫描接口121，该多条数据线112连接该数据接口122。

该测试电路130包括一扫描测试器131、一数据测试器132、一开关控制器134、多个行测试晶体管135和多个列测试晶体管136。该多个行测试晶体管135的栅极连接该开关控制器134，其源极连接该扫描测试器131，每一行测试晶体管135的漏极连接一扫描线111。该多个列测试晶体管136的栅极连接该开关控制器134，其源极连接该数据测试器132，每一列测试晶体管136的漏极连接一数据线112。

测试该液晶显示面板100时，该开关控制器134输出一导通信号使该多个行测试晶体管135和该多个列测试晶体管136导通，该扫描测试器131通过该多个行测试晶体管135对该多条扫描线111传送测试信号；该数据测试器132通过该多个列测试晶体管136对该多条数据线112传送测试信号。

对该液晶显示面板100的测试结束后，该开关控制器134输出一关闭信号使该多个行测试晶体管135、该多个列测试晶体管136关闭，使该测试电路130与该主动矩阵110电性分离。

但是，该测试电路130与该主动矩阵110的电性分离易受静电环境影响，一旦该开关控制器134因静电击穿等原因而发生漏电时，该多个行测试晶体管135与该多个列测试晶体管136将被导通，该扫描测试器131和该数据测试器132上积累的电荷就会对相应的扫描线111和数据线112产生影响，使该液晶显示面板100出现画面失真等不良现象。

发明内容

为了解决现有技术液晶显示面板的测试电路舆主动矩阵分离不彻底的问题，有必要提供一种能可靠地实现测试电路与主动矩阵分离的液晶显示面板。

还有必要提供一种能可靠地实现测试电路与主动矩阵分离的液晶显示面板测试方法。

一种液晶显示面板，其包括一主动矩阵、一扫描接口、一数据接口和一测试电路。该主动矩阵包括多条扫描线和与之垂直绝缘相交的多条数据线，该多条扫描线与该扫描接口相连，该多条数据线与该数据接口相连。该测试电路包括一测试控制单元和多个连接部，该测试控制单元经由该多个连接部连接该主动矩阵，用于对该主动矩阵传输测试信号。每一连接部包括一熔丝，该熔丝用于测试之后断开该测试电路与该主动矩阵。

一种液晶显示面板的测试方法，其包括以下步骤：

a.提供一主动矩阵，其包括多条扫描线和与之垂直绝缘相交的多条数据线；

b.提供一测试电路，用于测试该主动矩阵，该测试电路包括一测试控制单元和多个连接部，该多个连接部连接该测试控制单元和该主动矩阵，其中，每一该连接部包括一熔丝；

c.使该多个连接部闭合，该测试控制单元通过该多个连接部对主动矩阵传输测试信号进行测试；

d.提供一扫描接口，其连接该多条扫描线，提供一数据接口，其连接该多条数据线；

e.使该扫描接口与该测试控制单元之间、该数据接口与该测试控制单元之间形成电势差，产生一熔断电流通过该多个连接部，该熔断电流使该多个连接部断开。

相较于现有技术，上述液晶显示面板包括一测试控制单元、多个连接部。其中，该多个连接部连接该主动矩阵和该测试电路，对该液晶显示面板的测试结束后，断开该多个连接部。每一连接部包括一熔丝，该熔丝熔断后使该连接部断开。该多个连接部断开后，不因外界环境的影响而再次闭合，即使测试电路漏电，也不会对主动矩阵造成影响，其可靠性高。该液晶显示面板的测试方法简单，可节省成本。

附图说明

图1是一种现有技术液晶显示面板的电路结构示意图。

图2是本发明液晶显示面板第一实施方式的电路结构示意图。

图3是本发明液晶显示面板第二实施方式的电路结构示意图。

图4是本发明液晶显示面板第三实施方式的电路结构示意图。

具体实施方式

请参阅图2，其是本发明液晶显示面板第一实施方式的电路结构示意图。该液晶显示面板200包括一主动矩阵210、一扫描接口221、一数据接口222和一测试电路230。

该主动矩阵210包括多条扫描线211和与之垂直绝缘相交的多条数据线212。该多条扫描线211连接该扫描接口221，该多条数据线212连接该数据接口222。该多条扫描线211和该多条数据线212划分多个像素单元(未标示)，每一像素单元包括一薄膜晶体管213和一像素电极214。该薄膜晶体管213的源极与该数据线212相连，其栅极与该扫描线211相连，其漏极与该像素电极214相连。该多条扫描线211连接该扫描接口221，该多条数据线212连接该数据接口222。该液晶显示面板200正常工作时，该数据线212接收数据信号，该扫描线211接收扫描信号使该薄膜晶体管213导通，数据信号通过该薄膜晶体管213输出至该像素电极214。

该测试电路230包括一测试控制单元231、多个行连接部232和多个列连接部233。该测试控制单元231通过该多个行连接部232和该多个列连接部233连接该主动矩阵210。

该测试控制单元231包括一扫描测试器2311、一数据测试器2312和一开关控制器2313。该行连接部232包括一行测试晶体管2321和一行熔丝2322，每一行测试晶体管2321的漏极经由一行熔丝2322连接一扫描线211，其源极都连接该扫描测试器2311，其栅极都连接该开关控制器2313。该列连接部233包括一列测试晶体管2333和一列熔丝2334，每一列测试晶体管2333的漏极经由一列熔丝2334连接一数据线212，其源极都连接该数据测试器2312，其栅极都连接该开关控制器2313。

测试时，该开关控制器2313输出一导通信号使该多个行测试晶体管2321和该多个列测试晶体管2333导通，从而使该多个行连接部232和该多个列连接部233闭合。该扫描测试器2311通过该多个行连接部232对该多条扫描线211传送扫描测试信号，该数据测试器2312通过该多个列连接部233对该多条数据线212传送数据测试信号。

对该液晶显示面板200的测试结束后，该开关控制器2313维持该多个行连接部232和该多个列连接部233处于闭合状态。该扫描接口221输出一低电位，该扫描测试器2311输出一高电位，即在每一行连接部232两端形成一电势差，从而产生一熔断电流通过该行连接部232，该熔断电流使该多个行熔丝2322熔断。该数据接口222输出一低电位，该数据测试器2312输出一高电位，即在每一列连接部233两端形成一电势差，从而产生一熔断电流通过该列连接部233，该熔断电流使该多个列熔丝2322熔断。从而使该测试电路230与该主动矩阵210断开。其中，通过每一行连接部232的熔断电流大于或等于每一行熔丝2322的额定熔断电流，通过每一列连接部233的熔断电流大于或等于每一列熔丝2322的额定熔断电流。

由于该多个行熔丝2322、多个列熔丝2334熔断后无法恢复，该测试电路230与该主动矩阵210断开后，不会因为该开关控制器2313漏电等原因对该液晶显示面板200的正常显示造成影响。

请参阅图3，其是本发明液晶显示面板第二实施方式的电路结构示意图。该液晶显示面板300的电路结构与上述第一实施方式的液晶显示面板200的电路结构基本相同，其区别在于：每一行测试晶体管3321的源极经由一行熔丝3322连接一扫描测试器3311，其漏极连接一扫描线311。每一列测试晶体管3333的源极经由一列熔丝3334连接一数据测试器3312，其漏极连接一数据线312。

该液晶显示面板300的测试方法与该液晶显示面板200的测试方法相同。

与第一实施方式相比，该液晶显示面板300中该多个行熔丝3322和该多个列熔丝3334与该主动矩阵310之间距离更远，从而避免该多个行熔丝3322和该多个列熔丝3334熔断时产生的高温对主动矩阵310造成不良影响。

请参阅图4，其是本发明液晶显示面板第三实施方式的电路结构示意图。该液晶显示面板400的电路结构与上述第一实施方式的液晶显示面板200的电路结构基本相同，其区别在于：每一行连接部432包括一行熔丝(未标示)；每一列连接部433包括一列熔丝(未标示)。该测试控制单元431包括一扫描测试器4311、一数据测试器4312。该扫描测试器4311经由每一行熔丝连接一扫描线411。该数据测试器4312经由一列熔丝连接一数据线412。

测试时，该扫描测试器4311通过该多个行熔丝对该多条扫描线411传送扫描测试信号。该数据测试器4312通过该多个列熔丝对该多条数据线412传送数据测试信号。

对该液晶显示面板400的测试结束后，该扫描接口421输出一低电位，该扫描测试器4311输出一高电位，即在每一行连接部432两端形成一电势差，从而产生一熔断电流通过该行连接部432，该熔断电流使该多个行熔丝熔断。该数据接口422输出一低电位，该数据测试器4312输出一高电位，即在每一列连接部433两端形成一电势差，从而产生一熔断电流通过该列连接部433，该熔断电流使该多个列熔丝熔断。从而使该测试电路430与该主动矩阵410断开。其中，通过每一行连接部432的熔断电流大于或等于每一行熔丝4322的额定熔断电流，通过每一列连接部433的熔断电流大于或等于每一列熔丝4322的额定熔断电流。

与第一、第二实施方式相比，该扫描测试器4311经由每一行熔丝直接连接一扫描线411；该数据测试器4312经由每一列熔丝直接连接一数据线412。该液晶显示面板400省略了一开关控制器、多个行测试晶体管以及多个列测试晶体管，简化了制程。

Claims (10)

1.一种液晶显示面板，其包括一主动矩阵、一扫描接口、一数据接口和一测试电路，该主动矩阵包括多条扫描线和与之垂直绝缘相交的多条数据线，该多条扫描线与该扫描接口相连，该多条数据线与该数据接口相连，其特征在于：该测试电路包括一测试控制单元和多个连接部，该测试控制单元经由该多个连接部连接该主动矩阵，用于对该主动矩阵传输测试信号，每一连接部包括一熔丝，该熔丝用于测试之后断开该测试电路与该主动矩阵。

2.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于：该多个连接部包括多个行连接部和多个列连接部，该测试控制单元包括一扫描测试器和一数据测试器，该扫描测试器通过每一行连接部连接一扫描线，该数据测试器通过每一列连接部连接一数据线。

3.如权利要求2所述的液晶显示面板，其特征在于：该行连接部进一步包括一行测试晶体管，该列连接部进一步包括一列测试晶体管，该测试控制单元进一步包括一开关控制器，每一行测试晶体管的漏极经由一熔丝连接一扫描线，其源极连接该扫描测试器，其栅极连接该开关控制器；每一列测试晶体管的漏极经由一熔丝连接一数据线，其源极连接该数据测试器，其栅极连接该开关控制器，该开关控制器用于控制该行测试晶体管和该列测试晶体管的开关状态。

4.如权利要求2所述的液晶显示面板，其特征在于：该行连接部进一步包括一行测试晶体管，该列连接部进一步包括一列测试晶体管，该测试控制单元进一步包括一开关控制器，每一行测试晶体管的漏极连接一扫描线，其源极经由一熔丝连接该扫描测试器，其栅极连接该开关控制器；每一列测试晶体管的漏极连接一数据线，其源极经由一熔丝连接该数据测试器，其栅极连接该开关控制器，该开关控制器用于控制该行测试晶体管和该列测试晶体管的开关状态。

5.一种液晶显示面板测试方法，其包括以下步骤：

a.提供一主动矩阵，其包括多条扫描线和与之垂直绝缘相交的多条数据线；

b.提供一测试电路，用于测试该主动矩阵，该测试电路包括一测试控制单元和多个连接部，该多个连接部连接该测试控制单元和该主动矩阵，其中，每一该连接部包括一熔丝；

c.使该多个连接部闭合，该测试控制单元通过该多个连接部对该主动矩阵传输测试信号进行测试；

d.提供一扫描接口，其连接该多条扫描线，提供一数据接口，其连接该多条数据线；

e.使该扫描接口与该测试控制单元之间、该数据接口与该测试控制单元之间形成电势差，产生一熔断电流通过该多个连接部，该熔断电流使该多个连接部断开。

6.如权利要求5所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于：该测试控制单元包括一扫描测试器、一数据测试器，该多个连接部包括多个行连接部和多个列连接部，所述步骤c包括以下子步骤：

该扫描测试器通过该多个行连接部向该多条扫描线传输测试信号；

该数据测试器通过该多个列连接部向该多条数据线传输测试信号。

7.如权利要求6所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于：该步骤e进一步包括以下子步骤：

该扫描测试器与该扫描接口之间形成一电势差，使一熔断电流通过该多个行连接部，该熔断电流使该多个行连接部断开；

该数据测试器与该数据接口之间形成一电势差，使一熔断电流通过该多个列连接部，该熔断电流使该多个列连接部断开。

8.如权利要求5所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于：该测试控制单元包括一扫描测试器、一数据测试器和一开关控制器，该行连接部进一步包括一行测试晶体管，该列连接部进一步包括一列测试晶体管，每一行测试晶体管的漏极经由一熔丝连接一扫描线，其源极连接该扫描测试器，其栅极连接该开关控制器，每一列测试晶体管的漏极经由一熔丝连接一数据线，其源极连接该数据测试器，其栅极连接该开关控制器，该步骤c进一步包括以下子步骤：

该开关控制器使该多个行测试晶体管、该多个列测试晶体管导通；

该扫描测试器通过该多个行连接部向该多条扫描线传输测试信号；

该数据测试器通过该多个列连接部向该多条数据线传输测试信号。

9.如权利要求5所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于：该测试控制单元包括一扫描测试器、一数据测试器和一开关控制器，该行连接部进一步包括一行测试晶体管，该列连接部进一步包括一列测试晶体管，每一行测试晶体管的漏极连接一扫描线，其源极经由一熔丝连接该扫描测试器，其栅极连接该开关控制器；每一列测试晶体管的漏极连接一数据线，其源极经由一熔丝连接该数据测试器，其栅极连接该开关控制器，该步骤c进一步包括以下子步骤：

该开关控制器令该多个行测试晶体管、该多个列测试晶体管导通；

该扫描测试器通过该多个行连接部向该多条扫描线传输测试信号；

该数据测试器通过该多个列连接部向该多条数据线传输测试信号。

10.如权利要求5所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于：通过每一熔丝的熔断电流大于或等于每一熔丝的额定熔断电流。

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