CN104298035A - 阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置 - Google Patents

阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104298035A
CN104298035A CN201410491880.7A CN201410491880A CN104298035A CN 104298035 A CN104298035 A CN 104298035A CN 201410491880 A CN201410491880 A CN 201410491880A CN 104298035 A CN104298035 A CN 104298035A
Authority
CN
China
Prior art keywords
public electrode
data line
pixel cell
electrode wire
array base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201410491880.7A
Other languages
English (en)
Inventor
桑琦
朴相镇
王宝强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Beijing BOE Display Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Beijing BOE Display Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Beijing BOE Display Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201410491880.7A priority Critical patent/CN104298035A/zh
Publication of CN104298035A publication Critical patent/CN104298035A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259Repairing; Defects
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

本发明提供一种阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置,属于液晶显示技术领域,其可解决现有的阵列基板数据线断线难以修复的问题。本发明的阵列基板,其包括:基底、栅线、公共电极线、数据线,所述栅线和所述数据线限定出多个像素单元,其中,所述公共电极线包括沿第一方向设置的第一公共电极和沿第二方向设置的第二公共电极线,所述第一公共电极线和第二公共电极线为一整体结构;所述数据线包括数据线本体,以及多个与数据线本体连接并延伸至公共电极线上方的修复部,所述修复部用于在与所述像素单元对应的数据线本体发生断线时,与该像素单元对应的第一公共电极线和/或第二公共电极线焊接在一起,以修复该数据线。

Description

阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置
技术领域
本发明属于液晶显示技术领域,具体涉及一种阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置。
背景技术
在制备薄膜晶体管液晶显示装置(TFT-LCD,Thin FilmTransistor-Liquid Crystal Display)的工艺过程中,由于成膜质量的好坏、环境的洁净度、划伤、设备影响等问题不可避免的产生线路断路,具体包括与薄膜晶体管栅极连接的扫描线断路和给像素电极供电的数据线断路、无论是在显示区域内还是在显示区域外线断路引起的线缺陷,都会导致液晶显示装置的品质大大降低。
目前薄膜晶体管液晶显示装置基本上分辨率都能够实现1920*1080,甚至有的能达到3840*2160的分辨率。每个薄膜晶体管液晶显示装置有几百万个像素和近一万条数据线和栅线,通常这种高分辨率较高的显示装置中的采用栅线加倍数据线减半的设计,以提高像素的充电时间,但是尽管采用该种方式,栅线和数据线的数量仍然很多,所以不可避免的是,这么多线中会有断线的情况。而且发明人发现特别是这种栅线加倍数据线减半的阵列基板中数据线断线还没有很好的修复方法,所以提供一种数据线的修复方法来对数据线断线进行修复是非常必要的。
发明内容
本发明所要解决的技术问题包括,针对现有的阵列基板存在的上述问题,提供一种复数据线可修复的阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板,其包括:基底、栅线、公共电极线、数据线,所述栅线和所述数据线限定出多个像素单元,其中,
所述公共电极线包括沿第一方向设置的第一公共电极和沿第二方向设置的第二公共电极线,所述第一公共电极线和第二公共电极线为一整体结构;
所述数据线包括数据线本体,以及多个与数据线本体连接并延伸至公共电极线上方的修复部,所述修复部用于在与所述像素单元对应的数据线本体发生断线时,与该像素单元对应的第一公共电极线和/或第二公共电极线焊接在一起,以修复该数据线。
由于本发明的阵列基板的数据线包括数据线本体部分和与数据线本体连接的修复部,且修复部是延伸至公共电线上方的,可以在某一像素单元对应的数据线本体发生断线时,与该像素单元对应的第一公共电极线和/或第二公共电极线焊接在一起,通过公共电极线来导通该条数据线上的信号,以修复该数据。同时需要说明的是,此时该像素中的公共电极线已经成为了数据线的一部分,故不可以在导通公共电极信号,否则将会对数据线中所通入的数据信号造成影响,所以在修复数据线的同时,通过切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线与其相邻的公共电极线的连接,此时该像素单元将不会有公共电极信号导入,也就说该像素单元将被废掉,虽然废掉了但却保证了与该条数据线连接的其他的像素单元可以正常显示,而且对于整个阵列基板来说废掉一个像素单元不会对整个阵列基板造成影响。
优选的是,在两相邻行所述像素单元之间设置有两条栅线,且两相邻列所述像素单元由同一条数据线控制。
优选的是,在两相邻行所述像素单元之间设置有两条栅线,在两相邻列所述像素单元设置有一条数据线;
每条所述数据线用于控制位于其两侧且在两相邻行所述像素单元之间所夹的一条栅线上方的两个相邻的像素单元和另一条栅线下方的两个相邻的像素单元。
优选的是,与每个像素单元与对应的数据线本体位置上连接2个修复部。
优选的是,每一行像素单元的各个所述第二公共电极线在行方向通过连接线连接成一体。
优选的是,与所述数据线同层还设置有源极和漏极,在该层上方还设置有像素电极,所述像素电极与漏极连接。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板的数据线断线的修复方法,其包括:
查找出数据线的断点位置;
采用激光焊接的方法将断点两侧的修复部与公共电极线焊接在一起,并通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线与其相邻的公共电极线的连接。
优选的是,每一行像素单元的各个所述第二公共电极线在行方向通过连接线连接成一体,所述通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线与其相邻的公共电极线的连接为:
通过激光切割的方法将所述断点所在像素单元的第二公共电极线所连接的连接线断开。
优选的是,与所述数据线同层还设置有源极和漏极,在该层上方还设置有像素电极,所述像素电极与漏极连接,所述通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线与其相邻的公共电极线的连接的同时还包括:
通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的像素电极与漏极的连接。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是显示装置,其包括上述阵列基板。
附图说明
图1为本发明的实施例1的阵列基板的示意图;
图2为本发明的实施例2的数据线断线的修复方法的流程图。
其中附图标记为:10、数据线;11、数据线本体;12、修复部;20、公共电极线;21、第一公共电极线;22、第二公共电极线;30、栅线;40、像素电极。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
实施例1:
如图1所示,本实施例提供一种阵列基板,其包括基底,设置在基底上的栅线30和公共电极线20,与栅线30和公共电极线20电学绝缘层隔开的数据线10,其中,栅线30和数据线10限定出成行成列设置的多个像素单元;所述公共电极线20包括沿第一方向设置的第一公共电极和沿第二方向设置的第二公共电极线22,所述第一公共电极线21和第二公共电极线22为一整体结构;所述数据线10包括数据线本体11,以及多个与数据线本体11连接并延伸至公共电极线20上方的修复部12,所述修复部12用于在与所述像素单元对应的数据线本体11发生断线时,与该像素单元对应的第一公共电极线21和/或第二公共电极线22焊接在一起,以修复该数据线10。
由于本实施例的阵列基板的数据线10包括数据线本体11部分和与数据线本体11连接的修复部12,且修复部12是延伸至公共电线上方的,可以在某一像素单元对应的数据线本体11发生断线时,与该像素单元对应的第一公共电极线21和/或第二公共电极线22焊接在一起,通过公共电极线20来导通该条数据线10上的信号,以修复该数据。同时需要说明的是,此时该像素中的公共电极线20已经成为了数据线10的一部分,故不可以在导通公共电极信号,否则将会对数据线10中所通入的数据信号造成影响,所以在修复数据线10的同时,通过切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线20与其相邻的公共电极线20的连接,此时该像素单元将不会有公共电极信号导入,也就说该像素单元将被废掉,虽然废掉了但却保证了与该条数据线10连接的其他的像素单元可以正常显示,而且对于整个阵列基板来说废掉一个像素单元不会对整个阵列基板造成影响。当然还需要说明的是,每一行的像素单元的公共电极信号是从每一行像素单元的两端同时通入的,故断开所述断点所在像素单元的公共电极线20与其相邻的公共电极线20的连接也不会影响与该像素单元连接的像素单元的公共电极信号的导入。
作为本实施例的一种情况,该阵列基板包括交叉设置的栅线30和数据线10,在两相邻行所述像素单元之间设置有两条栅线30,且两相邻列所述像素单元同一条数据线10控制;其中,与数据线本体11连接的修复部12延伸至第一公共电极线21上方。因为该种情况的数据线本体11为竖直的且与第二公共电极线22相互平行,所以在数据线本体11发生断线时,修复部12与第二公共电线连接在一起就可以对该数据线10进行修复了。
作为本实施例的另一种情况,在两相邻行所述像素单元之间设置有两条栅线30,在两相邻列所述像素单元设置有一条数据线10;每条所述数据线10用于控制位于其两侧且在两相邻行所述像素单元之间所夹的一条栅线30上方的两个相邻的像素单元和另一条栅线30下方的两个相邻的像素单元。与上一种情况不同的是数据线10的形状有所不同,该种情况的数据线10还包括与栅线30和第一电极线平行设置且设于两相邻行像素单元之间以及跨越两相邻列数据线10宽度的“拐部”,但其修复原理是与上述情况相同的。
为了制备方便以及使得阵列基板的结构简单,与每个像素单元与对应的数据线本体11位置上连接2个修复部12。
为了方便给公共电极线20施加信号,故优选地每一行像素单元的各个所述第二公共电极线22在行方向通过连接线连接成一体。
当然本实施例中阵列基板还包括薄膜晶体管,其中薄膜晶体管的源极和漏极与数据线10同层设置,且在该层上方设置像素电极40,像素电极40是与漏极连接的。当然在对数据线10断线修复的时,同时也可以将与该断点位置对应的像素单元中的漏极与像素电极40切断,由于该像素单元已经废掉,故无需将数据线10号导入该像素单元的像素电极40,避免该像素单元对与其相邻的像素单元造成信号干扰。
实施例2:
如图1、2所示,本实施例提供一种阵列基板的数据线10断线的修复方法,其包括如下步骤:
1.查找出数据线10的断点位置。
2.采用激光焊接的方法将断点两侧的修复部12与公共电极线20焊接在一起,并通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线20与其相邻的公共电极线20的连接。
通过本实施例的数据线10断线的修复方法,当在某一像素单元对应的数据线本体11发生断线时,与该像素单元对应的第一公共电极线21和/或第二公共电极线22焊接在一起,通过公共电极线20来导通该条数据线10上的信号,以修复该数据。同时该像素中的公共电极线20已经成为了数据线10的一部分,故不可以在导通公共电极信号,否则将会对数据线10中所通入的数据信号造成影响,所以在修复数据线10的同时,通过切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线20与其相邻的公共电极线20的连接,此时该像素单元将不会有公共电极信号导入,也就说该像素单元将被废掉,虽然废掉了但却保证了与该条数据线10连接的其他的像素单元可以正常显示,而且对于整个阵列基板来说废掉一个像素单元不会对整个阵列基板造成影响。当然还需要说明的是,每一行的像素单元的公共电极信号是从每一行像素单元的两端同时通入的,故断开所述断点所在像素单元的公共电极线20与其相邻的公共电极线20的连接也不会影响与该像素单元连接的像素单元的公共电极信号的导入。
其中,每一行像素单元的各个所述第二公共电极线22在行方向通过连接线连接成一体,所述通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线20与其相邻的公共电极线20的连接为:
通过激光切割的方法将所述断点所在像素单元的第二公共电极线22所连接的连接线断开。此时,可以断开所述断点所在像素单元的公共电极线20与其相邻的公共电极线20的连接也不会影响与该像素单元连接的像素单元的公共电极信号的导入。
优选地,与所述数据线10同层还设置有源极和漏极,在该层上方还设置有像素电极40,所述像素电极40与漏极连接,所述通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线20与其相邻的公共电极线20的连接的同时还包括:
通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的像素电极40与漏极的连接。在本实施例的修复方法中优选地将与该断点位置对应的像素单元中的漏极与像素电极40切断,此时由于该像素单元已经废掉,故无需将数据线10号导入该像素单元的像素电极40,避免该像素单元对与其相邻的像素单元造成信号干扰。
需要说明的是,该数据线10断线的修复可以应用于实施例1中所述的任意一种阵列基板中。
实施例3:
本实施例提供了一种显示装置,其包括实施例1所述的阵列基板。
该显示装置可以为:手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
由于本实施例的显示装置包括实施例1所述的阵列基板,故当数据线10断线时可以对断线进行修复,从而提高显示装置的良率。
当然,本实施例的显示装置中还可以包括其他常规结构,如显示驱动单元等。
可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种阵列基板,其包括:基底、栅线、公共电极线、数据线,所述栅线和所述数据线限定出多个像素单元,其特征在于,
所述公共电极线包括沿第一方向设置的第一公共电极和沿第二方向设置的第二公共电极线,所述第一公共电极线和第二公共电极线为一整体结构;
所述数据线包括数据线本体,以及多个与数据线本体连接并延伸至公共电极线上方的修复部,所述修复部用于在与所述像素单元对应的数据线本体发生断线时,与该像素单元对应的第一公共电极线和/或第二公共电极线焊接在一起,以修复该数据线。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,在两相邻行所述像素单元之间设置有两条栅线,且两相邻列所述像素单元由同一条数据线控制。
3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,在两相邻行所述像素单元之间设置有两条栅线,在两相邻列所述像素单元设置有一条数据线;
每条所述数据线用于控制位于其两侧且在两相邻行所述像素单元之间所夹的一条栅线上方的两个相邻的像素单元和另一条栅线下方的两个相邻的像素单元。
4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,与每个像素单元与对应的数据线本体位置上连接2个修复部。
5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,每一行像素单元的各个所述第二公共电极线在行方向通过连接线连接成一体。
6.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,与所述数据线同层还设置有源极和漏极,在该层上方还设置有像素电极,所述像素电极与漏极连接。
7.一种阵列基板的数据线断线的修复方法,其特征在于,包括:
查找出数据线的断点位置;
采用激光焊接的方法将断点两侧的修复部与公共电极线焊接在一起,并通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线与其相邻的公共电极线的连接。
8.根据权利要求7所述的阵列基板的数据线断线的修复方法,其特征在于,每一行像素单元的各个所述第二公共电极线在行方向通过连接线连接成一体,所述通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线与其相邻的公共电极线的连接为:
通过激光切割的方法将所述断点所在像素单元的第二公共电极线所连接的连接线断开。
9.根据权利要求7所述的阵列基板的数据线断线的修复方法,其特征在于,与所述数据线同层还设置有源极和漏极,在该层上方还设置有像素电极,所述像素电极与漏极连接,所述通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的公共电极线与其相邻的公共电极线的连接的同时还包括:
通过激光切割的方法断开所述断点所在像素单元的像素电极与漏极的连接。
10.一种显示装置,其特征在于,所述显示装置包括权利要求1至6中任意一种所述的阵列基板。
CN201410491880.7A 2014-09-23 2014-09-23 阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置 Pending CN104298035A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410491880.7A CN104298035A (zh) 2014-09-23 2014-09-23 阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410491880.7A CN104298035A (zh) 2014-09-23 2014-09-23 阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104298035A true CN104298035A (zh) 2015-01-21

Family

ID=52317826

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410491880.7A Pending CN104298035A (zh) 2014-09-23 2014-09-23 阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104298035A (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104516133A (zh) * 2015-01-27 2015-04-15 深圳市华星光电技术有限公司 阵列基板及该阵列基板的断线修补方法
CN104916650A (zh) * 2015-06-18 2015-09-16 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种双栅线阵列基板、显示面板及显示装置
CN105549281A (zh) * 2016-03-16 2016-05-04 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及修复方法、显示面板和显示装置
CN110376809A (zh) * 2019-06-11 2019-10-25 惠科股份有限公司 断线修复结构、显示面板及断线修复方法
CN110764289A (zh) * 2019-10-29 2020-02-07 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板修补方法
CN114236930A (zh) * 2022-02-18 2022-03-25 成都中电熊猫显示科技有限公司 阵列基板以及显示装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020047977A1 (en) * 2000-08-30 2002-04-25 Lee Joun Ho In plane switching mode liquid crystal display device and method for manufacturing the same
CN1527268A (zh) * 2003-03-07 2004-09-08 友达光电股份有限公司 可修补数据线的缺陷的平面显示器及其修补方法
CN1743934A (zh) * 2005-10-13 2006-03-08 友达光电股份有限公司 有源器件矩阵基板及其修补方法
CN1916745A (zh) * 2005-08-15 2007-02-21 中华映管股份有限公司 薄膜晶体管阵列基板及其修补方法
US20070285594A1 (en) * 2006-06-09 2007-12-13 Ku-Hyun Kang Display substrate and method of repairing the same
CN101202287A (zh) * 2006-12-12 2008-06-18 Lg.菲利浦Lcd株式会社 阵列基板及其制造方法以及修复该阵列基板中的线的方法
CN102023438A (zh) * 2009-09-18 2011-04-20 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置及制造方法、缺陷修复方法
US20110163319A1 (en) * 2006-12-29 2011-07-07 Lg Display Co., Ltd. Array substrate for liquid crystal display device and method of fabricating the same
CN103885262A (zh) * 2013-12-30 2014-06-25 深圳市华星光电技术有限公司 Tft-lcd阵列基板及其数据线断线的修复方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020047977A1 (en) * 2000-08-30 2002-04-25 Lee Joun Ho In plane switching mode liquid crystal display device and method for manufacturing the same
CN1527268A (zh) * 2003-03-07 2004-09-08 友达光电股份有限公司 可修补数据线的缺陷的平面显示器及其修补方法
CN1916745A (zh) * 2005-08-15 2007-02-21 中华映管股份有限公司 薄膜晶体管阵列基板及其修补方法
CN1743934A (zh) * 2005-10-13 2006-03-08 友达光电股份有限公司 有源器件矩阵基板及其修补方法
US20070285594A1 (en) * 2006-06-09 2007-12-13 Ku-Hyun Kang Display substrate and method of repairing the same
CN101202287A (zh) * 2006-12-12 2008-06-18 Lg.菲利浦Lcd株式会社 阵列基板及其制造方法以及修复该阵列基板中的线的方法
US20110163319A1 (en) * 2006-12-29 2011-07-07 Lg Display Co., Ltd. Array substrate for liquid crystal display device and method of fabricating the same
CN102023438A (zh) * 2009-09-18 2011-04-20 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置及制造方法、缺陷修复方法
CN103885262A (zh) * 2013-12-30 2014-06-25 深圳市华星光电技术有限公司 Tft-lcd阵列基板及其数据线断线的修复方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104516133A (zh) * 2015-01-27 2015-04-15 深圳市华星光电技术有限公司 阵列基板及该阵列基板的断线修补方法
CN104516133B (zh) * 2015-01-27 2017-12-29 深圳市华星光电技术有限公司 阵列基板及该阵列基板的断线修补方法
CN104916650A (zh) * 2015-06-18 2015-09-16 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种双栅线阵列基板、显示面板及显示装置
CN104916650B (zh) * 2015-06-18 2017-10-27 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种双栅线阵列基板、显示面板及显示装置
CN105549281A (zh) * 2016-03-16 2016-05-04 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及修复方法、显示面板和显示装置
CN105549281B (zh) * 2016-03-16 2018-09-04 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及修复方法、显示面板和显示装置
CN110376809A (zh) * 2019-06-11 2019-10-25 惠科股份有限公司 断线修复结构、显示面板及断线修复方法
CN110764289A (zh) * 2019-10-29 2020-02-07 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板修补方法
CN114236930A (zh) * 2022-02-18 2022-03-25 成都中电熊猫显示科技有限公司 阵列基板以及显示装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104298035A (zh) 阵列基板、阵列基板的数据线断线的修复方法、显示装置
US7532265B2 (en) Integrated circuit with the cell test function for the electrostatic discharge protection
US8724062B2 (en) Common repair structures for close bus in a liquid crystal display
KR101375845B1 (ko) 액정표시소자 및 그 제조방법
JP5350495B2 (ja) 表示装置
US20100006838A1 (en) Active matrix substrate, display device, and active matrix substrate inspecting method
JP2007298791A (ja) 液晶表示装置及びその欠陥修復方法
WO2006064789A1 (ja) 液晶表示装置および液晶表示装置の欠陥修正方法
JPH06110069A (ja) 電子部品の欠陥修復方法および欠陥修復装置
CN104793366A (zh) 经亮点修复后的液晶面板及其亮点修复方法
JP2004212931A (ja) 表示装置用基板及びその製造方法
CN104407481A (zh) 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
CN104880876A (zh) 阵列基板、阵列基板的数据线开路修复方法以及显示装置
CN105047163A (zh) 栅极驱动电路结构及其修复方法、阵列基板
CN108957804A (zh) 一种阵列基板及其维修方法、显示面板和显示装置
CN102798999A (zh) 一种阵列基板十字线修复方法、阵列基板和液晶显示器
CN102004335A (zh) 线路修复结构及其修复方法
CN101576690A (zh) 液晶显示装置及其修复方法
CN108594553A (zh) 一种阵列基板、其修复方法及显示装置
CN108010475B (zh) 一种显示面板
US10168592B2 (en) Display panel
US7532302B2 (en) Method of repairing gate line on TFT array substrate
CN105572989A (zh) Tft阵列基板、液晶显示面板及其修复方法
KR101157248B1 (ko) 액정표시장치의 mps 검사배선 구조
CN105632439A (zh) Tft结构及其修复方法、goa电路

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20150121