CN104407481A - 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置 - Google Patents

阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104407481A
CN104407481A CN201410748651.9A CN201410748651A CN104407481A CN 104407481 A CN104407481 A CN 104407481A CN 201410748651 A CN201410748651 A CN 201410748651A CN 104407481 A CN104407481 A CN 104407481A
Authority
CN
China
Prior art keywords
array substrate
signal line
line
signal
detection unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201410748651.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104407481B (zh
Inventor
黄小平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Beijing BOE Display Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Beijing BOE Display Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Beijing BOE Display Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201410748651.9A priority Critical patent/CN104407481B/zh
Publication of CN104407481A publication Critical patent/CN104407481A/zh
Priority to US14/806,779 priority patent/US10102783B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN104407481B publication Critical patent/CN104407481B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259—Repairing; Defects
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3685—Details of drivers for data electrodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259—Repairing; Defects
    • G02F1/136272—Auxiliary lines
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/08—Fault-tolerant or redundant circuits, or circuits in which repair of defects is prepared

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)

Abstract

本发明提供一种阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置，属于显示技术领域，其可解决现有的阵列基板在进行Array&Cell Test不良检测时，信号线与修复线由于ESD短接在一起导致显示不良不容易被检测出来的问题。本发明的阵列基板，其包括信号线，与信号线交叉且绝缘设置的修复线，以及检测单元和外加电源电压输入端；其中，所述修复线与所述检测单元电性连接，所述检测单元用于在所述修复线与所述信号线短接时，在信号线的控制下将所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压引入到该修复线中。

Description

阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
技术领域
本发明属于显示技术领域，具体涉及一种阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置。 
背景技术
在薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,简称TFT-LCD)制造过程中，Array&Cell Test过程中通常采用短路条(Shorting Bar)检测方式。如图1所示，阵列基板上形成有公共电极线4和分别与红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素对应的三条短路条(即，红色短路条1、绿色短路条2、蓝色短路条3)；其中，每条短路条连接与其对应的子像素(红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素)所连接的数据线5、6、7。通过分别给短路条施加电压，可以检测与短路条连接的数据线是是否存在破损。 
为了避免数据线破损而导致显示面板报废，故在阵列基板的周边区域上还形成有与数据线交叉设置的修复线8，但是在液晶面板生产过程中，很容易在修复线8与数据线交叉的位置产生静电(ESD)(图1中标号9即发生ESD的位置)，从而导致数据线被击穿与修复线8短路，进而导致数据线上的数据电压被拉低(数据线上的电压通常为正，而修复线8电压为零，即无电压)，造成显示不良。然而在通过短路条检测方式检测显示面板上的数据线时，此时与修复线8短路的数据线同时还是与其他数据线连接的，故修复线8将这些数据线上的电压拉低较少部分，也就是说与修复线8短路的数据线相对于为短路的数据线被拉低的电压差异很小，从而被短路的数据线与其他数据线驱动的像素电极的电压差距很小，液晶偏转的差异不明显，显示的颜色的差异也不明 显，因此这种短路不良是不容易检测出来的。 
发明人发现现有技术中至少存在如下问题：模组(Module)阶段时为全接触(Full Contact)检测方式，该数据线不与其他数据线连接，修复线8可以拉低这条数据线的电压，电压会导致液晶偏转的不同于正常的区域，检测表现为两线。此时检测出来该数据线存在问题，若问题严重的将导致整个面板报废，不严重也将会增加额外修复流程。 
发明内容
本发明所要解决的技术问题包括，针对现有的阵列基板存在的上述的问题，提供一种可以检测信号线与修复线短接而导致显示不良的阵列基板、信号下不良的检测方法、显示面板及显示装置。 
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板，其包括信号线，与信号线交叉且绝缘设置的修复线，以及检测单元和外加电源电压输入端；其中， 
所述修复线与所述检测单元电性连接，所述检测单元用于在所述修复线与所述信号线短接时，在信号线的控制下将所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压引入到该修复线中。 
在本发明的阵列基板中，当信号线与修复线由于ESD短接在一起时，检测单元可以将所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压引入到该修复线中，因此根据外加电源电压的大小将与该修复线短接的信号线上的电压拉低或者拉高，以使得该信号线上的电压与其他线号线上的电压有明显的差别，也就说与该信号线对应的像素单元的显示将会明显与其他信号线对应的像素单元的显示不同，从而可以判断是哪一根信号线与修复线发生了短接，进而可以将该短接位置两侧的修复线切断，避免由于修复线拉低信号线的电压，同时解决了信号线于修复线由于ESD短接在一起不容易检测的问题。 
优选的是，所述检测单元包括开关模块， 
所述开关模块的控制端连接信号线，一端与所述外加电源电压的输入端，另一端连接修复线。 
进一步优选的是，所述开关模块为开关晶体管， 
所述开关晶体管的控制极连接信号线，第一极连接外加电源电压的输入端，第二极连接修复线。 
优选的是，所述修复线与所述信号线短接时，给所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压为负向电压。 
进一步优选地是，给所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压的电压值为-20V。 
优选的是，所述信号线为数据线和/或栅线。 
优选的是，所述阵列基板包括用于显示的显示区和将所述显示区包围的周边区，所述检测单元和所述外加电源电压输入端均设置在所述阵列基板的周边区。 
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种信号线不良的检测方法，其包括： 
给检测单元一端施加一外加电源电压，以及给信号线施加一驱动电压，当信号线与修复线短接在一起时，外加电源电压通过检测单元拉低与修复线短路的信号线上的电压，以判断出发生不良的信号线。 
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，其包括上述阵列基板。 
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示装置，其包括上述显示面板。 
附图说明
图1为现有的阵列基板的Shorting bar不良检测的示意图； 
图2为本发明的实施例1的阵列基板的示意图； 
图3为本发明的实施例1的阵列基板上的检测单元为开关晶体管时的示意图。 
其中附图标记为：1、红色短路条；2、绿色短路条；3、蓝色短路条；4、公共电极线；5、与红色子像素连接的数据线；6、与绿色子像素连接的数据线；7、与蓝色子像素连接的数据线；8、修复线；9、发生ESD的位置；10、信号线；11、检测单元部；11-1、第一极；11-2、第二极；11-3、控制极；12、外加电源电压输入端；13、检测信号线；Q1、显示区；Q2、周边区。 
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。 
实施例1： 
如图2所示，本实施例提供一种阵列基板，其包括信号线10，与信号线10交叉且绝缘设置的修复线8，以及检测单元11和外加电源电压输入端12；其中，所述修复线8与所述检测单元11电性连接，所述检测单元11用于在所述修复线8与所述信号线10短接时，在信号线10的控制下将所述外加电源电压输入端12所输入的外加电源电压引入到该修复线8中。 
本领域技术人员可以理解的是，阵列基板通常包括用于显示的显示区Q1和将所述显示区Q1包围的周边区Q2，其中为了不影响阵列基板的开口率，修复线8通常是设置在阵列基板的周边区Q2的。同时需要说明的是，在本实施例中主要是解决信号线10不良检测时，也就是Shorting bar不良检测时，当信号线10与修复线8由于ESD而短接在一起不容易检测的问题。 
在本实施例中，当信号线10与修复线8由于ESD短接在一起时，检测单元11可以将所述外加电源电压输入端12所输入的外加电源电压引入到该修复线8中，因此根据外加电源电压的大小将与该修复线8短接的信号线10上的电压拉低或者拉高，以使得该信号线10上的电压与其他信号线上的电压有明显的差别，也 就说与该信号线10对应的像素单元的显示将会明显与其他信号线10对应的像素单元的显示不同，从而可以判断是哪一根信号线10与修复线8发生了短接，进而可以将该短接位置两侧的修复线8切断，避免由于修复线8拉低信号线10的电压，同时解决了信号线10与修复线8由于ESD短接在一起不容易检测的问题。 
优选地，所述检测单元11包括开关模块，所述开关模块的控制端连接信号线10，一端与所述外加电源电压的输入端，另一端连接修复线8。也就是说，信号线10所施加的电压信号可以作为开关模块的控制信号，与开关模块的控制端连接，控制开关模块的开启与关断。具体的，当信号线10上被施加电压时，开关模块被开启，此时外加电源输入端所述输入的电压，可以通过开关模块进入到修复线8中，此时一旦信号线10与修复线8发生短路，那么必然修复线8上的电源电压将同时施加到信号线10上，将信号线10上的电压拉低或者拉高。因此可以判断出哪一根信号线10与修复线8发生了短接。 
进一步优选地，所述开关模块为开关晶体管，所述开关晶体管的控制极11-3连接信号线10，第一极11-1连接外加电源电压的输入端，第二极11-2连接修复线8。开关模块之所以采用开关晶体管是因为，开关晶体管的结构简单，易于控制。特别是，因为阵列基板的显示区Q1上的像素单元中同样包括开关晶体管，此时该开关晶体管可以和像素单元中的开关晶体管采用一次构图工艺形成，因此节省工艺时间，提高生产效率。具体的，开关晶体管的控制极11-3与信号线10连接，因此，信号线10上所施加的电压信号，则作为开关晶体管的导通信号。当开管晶体管导通时，外加电源输入端输入的电压，可以通过开关晶体管引入到修复线8中，此时一旦信号线10与修复线8发生短路，那么必然修复线8上的电源电压将同时施加到信号线10上，将信号线10上的电压拉低或者拉高。因此可以判断出哪一根信号线10与修复线8发生了短接。 
具体的，当检测单元11为开关晶体管时，具体连接方式如图 3所示，其中，开关晶体管的第一极11-1连接检测信号线，检测信号线13的另一端连接外加电源电压信号端，开关晶体管的第二极11-2连接修复线8，控制极11-3连接信号线10。 
在本实施例中，优选地，所述修复线8与所述信号线10短接时，为所述外加电源电压输入端12所输入的外加电源电压为负向电压。由于通常信号线10上通常所施加的电压为正向电压，此时在修复线8与所述信号线10短接时，为所述外加电源电压输入端12所输入的外加电源电压为负向电压，因此将信号线10上的电压拉低，且很容易的检测到是否有信号线10与修复线8短接。进一步优选地，给所述外加电源电压输入端12所输入的外加电源电压的电压值为-20V。主要是因为当信号线10为数据线时，数据线上所施加的电压通常为15V，此时若某一个数据线与修复线8由于ESD短接在一起，该数据线上的电压将会被拉低为负值，因此很容易检测到发生短路的数据线。需要说明的是，为外加电源电压输入端12所输入的外加电源电压也可以是一个正向电压，只要将该被短接的信号线上的电压拉至一个与其他信号线上的电压有明显区别的一个值即可。其中，为外加电源电压输入端12所输入的外加电源电压为负向电压的电压值为-20V，也可以根据具体情况具体限定。 
优选地，在本实施例中的信号线10为数据线和/或栅线。当信号线10为数据线时，正如背景技术中所言，在Shorting bar不良检测时，与信号线10由于ESD发生短接的数据线不容易检测出来，此时由于设置了检测单元11和外加电源电压输入端12，因此可以解决现有技术中存在的问题。可以理解的是，该设置同样可以应用于栅线与其修复线8发生有ESD发生短接的不良检测。 
为了进一步的提高阵列基板的开口率，因此优选地，所述检测单元11和所述外加电源电压输入端12均设置在所述阵列基板的周边区Q2。 
需要说明的是，当对阵列基板上的信号线10是否存在不良进行检测完成以后，可以将检测单元11和外加电源电压输入端12 与修复线8切断，以避免信号线10上的信号流失到外加电源电压输入端12，造成阵列基板不良。 
相应的本实施例的一种信号线不良的检测的方法，其包括：给检测单元11一端施加一外加电源电压，以及给信号线施加一驱动电压，当信号线10与修复线8短接在一起时，外加电源电压通过检测单元11拉低与修复线8短路的信号线10上的电压，以判断出发生不良的信号线10。也就是，当修复线8和信号线10之间由于ESD短接在一起时，信号线10上施加的驱动电压同时将检测单元11开启，将外加电源电压引入该短接的修复线8上，通过修复线8拉低信号线10上的电压，使得该信号线10与其他信号线上的电压明显不同，因此可以直接观察出发生不良信号线10的位置。 
具体的，以检测单元为开关晶体管为例进行说明，开关晶体管的控制极11-3与信号线10连接，第一极11-1连接外加电源电压输入端12，第二极11-2连接修复线8，因此，信号线10上所施加的电压信号，则作为开关晶体管的导通信号。当开管晶体管导通时，外加电源输入端所述输入的电压，可以通过开关晶体管引入到修复线8中，此时一旦信号线10与修复线8发生短路，那么必然修复线8上的电源电压将同时施加到信号线10上，将信号线10上的电压拉低或者拉高。因此可以判断出哪一根信号线10与修复线8发生了短接。 
相应的本实施例中提供了一种显示面板，其包括上述阵列基板，因此，该显示面板具有较高的良品率。 
相应的本实施例还提供了一种显示装置，其包括上述显示面板。该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。 
当然，本实施例的显示装置中还可以包括其他常规结构，如 显示驱动单元等。 
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。 

Claims (10)

1.一种阵列基板，其包括信号线，以及与信号线交叉且绝缘设置的修复线，其特征在于，所述阵列基板还包括：检测单元和外加电源电压输入端；其中，
所述修复线与所述检测单元电性连接，所述检测单元用于在所述修复线与所述信号线短接时，在信号线的控制下将所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压引入到该修复线中。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述检测单元包括开关模块，
所述开关模块的控制端连接信号线，一端与所述外加电源电压的输入端，另一端连接修复线。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述开关模块为开关晶体管，
所述开关晶体管的控制极连接信号线，第一极连接外加电源电压的输入端，第二极连接修复线。
4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述修复线与所述信号线短接时，给所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压为负向电压。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，给所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压的电压值为-20V。
6.根据权利要求1-5中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述信号线为数据线和/或栅线。
7.根据权利要求1-5中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括用于显示的显示区和将所述显示区包围的周边区，所述检测单元和所述外加电源电压输入端均设置在所述阵列基板的周边区。
8.一种信号线不良的检测方法，其特征在于，包括：
给检测单元一端施加一外加电源电压，以及给信号线施加一驱动电压，当信号线与修复线短接在一起时，外加电源电压通过检测单元拉低与修复线短路的信号线上的电压，以判断出发生不良的信号线。
9.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括权利要求1至7中任意一项所述的阵列基板。
10.一种显示装置，其特征在于，所述显示面板权利要求9所述的显示面板。
CN201410748651.9A 2014-12-09 2014-12-09 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置 Active CN104407481B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410748651.9A CN104407481B (zh) 2014-12-09 2014-12-09 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
US14/806,779 US10102783B2 (en) 2014-12-09 2015-07-23 Array substrate and detecting method for an array substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410748651.9A CN104407481B (zh) 2014-12-09 2014-12-09 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104407481A true CN104407481A (zh) 2015-03-11
CN104407481B CN104407481B (zh) 2017-05-10

Family

ID=52645123

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410748651.9A Active CN104407481B (zh) 2014-12-09 2014-12-09 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10102783B2 (zh)
CN (1) CN104407481B (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106098007A (zh) * 2016-08-16 2016-11-09 武汉华星光电技术有限公司 液晶面板及其控制方法液晶面板
CN106952933A (zh) * 2015-12-29 2017-07-14 乐金显示有限公司 具有显示面板的显示装置及其制造方法
CN109727562A (zh) * 2019-01-25 2019-05-07 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 一种面板检测装置及检测方法
CN110289225A (zh) * 2019-06-28 2019-09-27 京东方科技集团股份有限公司 测试装置及方法、显示装置
WO2019184371A1 (zh) * 2018-03-27 2019-10-03 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其检测方法、显示装置
WO2020093582A1 (zh) * 2018-11-08 2020-05-14 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 检测电路及显示装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104407481B (zh) * 2014-12-09 2017-05-10 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
CN105590573B (zh) * 2016-03-24 2018-03-30 深圳市华星光电技术有限公司 Amoled显示面板线缺陷的修复结构及修复方法
CN107728395B (zh) * 2017-10-31 2020-07-03 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法
CN108493226B (zh) * 2018-05-14 2021-04-30 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种电子设备、显示面板及其制备方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060187722A1 (en) * 2005-02-07 2006-08-24 Hye-Rhee Han Panel assembly for display device, display device including the same, and repairing method for display device
KR20080017732A (ko) * 2006-08-22 2008-02-27 삼성전자주식회사 액정표시장치 및 그 제조 방법
CN101408681A (zh) * 2008-11-21 2009-04-15 友达光电（苏州）有限公司 显示面板
KR100919192B1 (ko) * 2002-12-28 2009-09-28 엘지디스플레이 주식회사 리페어 배선을 포함하는 액정표시장치와 그 제조방법
CN102116950A (zh) * 2009-12-30 2011-07-06 上海天马微电子有限公司 具有触控功能的显示面板及其检测方法
CN103399422A (zh) * 2013-07-31 2013-11-20 合肥京东方光电科技有限公司 信号线和修复线短路检测方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101364022B (zh) * 2008-09-12 2011-11-16 昆山龙腾光电有限公司 阵列基板及其缺陷检测方法
KR102132458B1 (ko) * 2013-08-21 2020-08-06 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
CN104407481B (zh) * 2014-12-09 2017-05-10 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100919192B1 (ko) * 2002-12-28 2009-09-28 엘지디스플레이 주식회사 리페어 배선을 포함하는 액정표시장치와 그 제조방법
US20060187722A1 (en) * 2005-02-07 2006-08-24 Hye-Rhee Han Panel assembly for display device, display device including the same, and repairing method for display device
KR20080017732A (ko) * 2006-08-22 2008-02-27 삼성전자주식회사 액정표시장치 및 그 제조 방법
CN101408681A (zh) * 2008-11-21 2009-04-15 友达光电（苏州）有限公司 显示面板
CN102116950A (zh) * 2009-12-30 2011-07-06 上海天马微电子有限公司 具有触控功能的显示面板及其检测方法
CN103399422A (zh) * 2013-07-31 2013-11-20 合肥京东方光电科技有限公司 信号线和修复线短路检测方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106952933A (zh) * 2015-12-29 2017-07-14 乐金显示有限公司 具有显示面板的显示装置及其制造方法
CN106952933B (zh) * 2015-12-29 2020-05-19 乐金显示有限公司 具有显示面板的显示装置及其制造方法
CN106098007A (zh) * 2016-08-16 2016-11-09 武汉华星光电技术有限公司 液晶面板及其控制方法液晶面板
CN106098007B (zh) * 2016-08-16 2019-03-01 武汉华星光电技术有限公司 液晶面板及其控制方法
WO2019184371A1 (zh) * 2018-03-27 2019-10-03 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其检测方法、显示装置
WO2020093582A1 (zh) * 2018-11-08 2020-05-14 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 检测电路及显示装置
CN109727562A (zh) * 2019-01-25 2019-05-07 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 一种面板检测装置及检测方法
CN110289225A (zh) * 2019-06-28 2019-09-27 京东方科技集团股份有限公司 测试装置及方法、显示装置
CN110289225B (zh) * 2019-06-28 2022-04-15 京东方科技集团股份有限公司 测试装置及方法、显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN104407481B (zh) 2017-05-10
US20160163244A1 (en) 2016-06-09
US10102783B2 (en) 2018-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104407481B (zh) 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
CN103217844B (zh) 一种显示面板和显示装置
WO2016061922A1 (zh) 一种检测电路和液晶显示面板及其制造方法
US9470943B2 (en) Array substrate, display panel and display device
US20120169346A1 (en) Test device for liquid crystal display device and test method thereof
CN103399422B (zh) 信号线和修复线短路检测方法
KR101113340B1 (ko) 액정 표시장치 및 그의 검사방법
CN110136618B (zh) 一种显示面板检测电路、显示装置和显示面板检测方法
US9886879B2 (en) Liquid crystal display and method for testing liquid crystal display
CN107728395B (zh) 阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法
US9898944B2 (en) Detecting circuit, detecting method and display device
WO2016165248A1 (zh) 一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置
CN103208264A (zh) 一种用于阵列基板行驱动线路的测试方法
CN102692774A (zh) 液晶显示面板
CN106952576B (zh) 阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置
EP3779942A1 (en) Display substrate and detection method thereof, and display device
CN100568059C (zh) 液晶显示面板的检测电路与方法及其液晶显示面板
CN102213739B (zh) 线路检测结构和线路检测方法
WO2018152884A1 (zh) 一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法
CN103513484A (zh) 液晶阵列基板及液晶阵列基板测试方法
WO2017197979A1 (zh) 有机电致发光显示面板、老化测试装置、方法及显示装置
EP2722838A1 (en) Method for detecting the bright point in the liquid crystal display panel
CN104777635A (zh) 液晶面板的像素缺陷修复方法及液晶面板
CN104483795A (zh) 阵列基板及其检测方法、显示面板和显示装置
CN103149713A (zh) 阵列面板检测电路结构

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant