CN106128345A - 测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法，在阵列基板的非显示区上设置多个测试电路，每个测试电路包括晶体管以及与晶体管并联的光致导通器件，晶体管的栅极与一开关信号相连接，晶体管的第一电极与一数据信号相连接，晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，光致导通器件的两端分别连接至第一电极与第二电极，通过采用点光源照射光致导通器件，使得晶体管的第一电极与第二电极导通，即数据信号传输至阵列基板显示区域的数据线内，由此判断数据线与显示区内的其他信号线之间是否存在短路，能够快速判断不良失效模式，从而提高了测试效率，节省了测试时间，提高了产品的良率。

Description

测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法

技术领域

本发明涉及显示领域，具体涉及一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法。

背景技术

有源矩阵有机发光二极管(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，简称AMOLED)显示是一种应用于电视和移动设备中的显示技术，以其低功耗、低成本、大尺寸的特点在对功耗敏感的便携式电子设备中有着广阔的应用前景。

随着AMOLED技术的成熟，AMOLED的成本逐步增加，测试、尤其是生产过程中的高效率测试变得尤为重要，及时测试问题及时解决，不仅提高了产品的良率，同时节省了时间，提高了效率。

目前，受限于AMOLED像素电路的技术特点和随着显示面板高解析度PPI的进步。AMOLED像素电路图形越来越精细，图形密度越来越密。从另一方面来讲，对于屏体不良解析的难度也越来越高。主要体现在：1)子像素小，图形复杂，单一缺陷(defect)解析耗时较长；2)不同层(layer)图形交叠面积较大，不良位置容易被掩盖，无法使用显微镜观察到不良位置，从而无法确认不良失效模式。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法，能够快速判断数据线是否与其他信号线存在短路。

为实现上述目的，本发明提供一种测试电路，位于一阵列基板的非显示区，包括：晶体管以及与所述晶体管并联的光致导通器件，所述晶体管的栅极与一开关信号相连接，所述晶体管的第一电极与一数据信号相连接，所述晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，所述光致导通器件的两端分别连接至所述第一电极与第二电极，在点光源照射的情况下所述光致导通器件能够使所述第一电极与第二电极导通。

可选的，所述光致导通器件为光致导通二极管。

可选的，所述光致导通二极管的阳极连接至所述晶体管的第一电极，所述光致导通二极管的阴极连接至所述晶体管的第二电极。

可选的，所述晶体管为薄膜晶体管。

可选的，所述第一电极为源极或漏极中的一个电极，所述第二电极为源极或漏极中的另一个电极。

可选的，所述开关信号与数据信号由一驱动芯片提供。

相应的，本发明还提供一种阵列基板，包括多条数据线，还包括多个上述的测试电路，所述测试电路位于所述阵列基板的非显示区内，每个所述测试电路均与所述阵列基板显示区内的一条数据线连接。

可选的，所述阵列基板还包括多个测试点，与所述阵列基板显示区内的数据线相连通；一个测试点对应一条数据线。

相应的，本发明还提供一种显示面板，包括上述的阵列基板，在所述显示面板上设置有测试端子，与所述阵列基板显示区内的数据线相连通。

相应的，本发明还提供一种显示面板的测试方法，采用上述的显示面板，所述测试方法包括：

采用点光源照射所述显示面板上的某一光致导通器件，使得与所述光致导通器件并联的晶体管的第一电极与第二电极导通；

测量所述显示面板上测试端子的电压或电流，所述测试端子与数据线相连通，以此判断所述数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路。

与现有技术相比，本发明提供的测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法的有益效果如下：

本发明通过在阵列基板的非显示区上设置多个测试电路，每个测试电路包括晶体管以及与所述晶体管并联的光致导通器件，所述晶体管的栅极与一开关信号相连接，所述晶体管的第一电极与一数据信号相连接，所述晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，所述光致导通器件的两端分别连接至所述第一电极与第二电极，通过采用点光源照射所述光致导通器件，使得所述晶体管的第一电极与第二电极导通，即数据信号传输至阵列基板显示区域的数据线内，由此判断所述数据线与显示区内的其他信号线之间是否存在短路，能够快速判断不良失效模式，从而提高了测试效率，节省了测试时间，提高了产品的良率。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的测试电路的结构示意图。

图2为本发明实施例二提供的阵列基板的结构示意图。

图3为本发明实施例四提供的显示面板的测试方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的内容更加清楚易懂，以下结合说明书附图，对本发明的内容做进一步说明。当然本发明并不局限于该具体实施例，本领域的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本发明的保护范围内。

其次，本发明利用示意图进行了详细的表述，在详述本发明实例时，为了便于说明，示意图不依照一般比例局部放大，不应对此作为本发明的限定。

【实施例一】

图1为本发明实施例一所提供的测试电路的结构示意图，如图1所示，本发明提供一种测试电路100，位于一阵列基板的非显示区，包括：晶体管10以及与所述晶体管10并联的光致导通器件20，所述晶体管10的栅极13与一开关信号D-SW相连接，所述晶体管10的第一电极11与一数据信号D-R/G/B相连接，所述晶体管10的第二电极12与所述阵列基板的显示区的某一数据线Vdata相连接，所述光致导通器件20的两端分别连接至所述第一电极11与第二电极12，能够使所述第一电极11与第二电极12导通。

通过采用点光源照射所述光致导通器件20，使所述光致导通器件20导通，从而使得与所述光致导通器件20并联的所述晶体管10的第一电极11与第二电极12导通，数据信号D-R/G/B传输至所述阵列基板的显示区内的某一数据线Vdata，从而判断该数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路。

本实施例中，所述光致导通器件20为光致导通二极管，如图1所示，所述光致导通二极管的阳极连接至所述晶体管的第一电极11，所述光致导通二极管的阴极连接至所述晶体管的第二电极12，当所述第一电极11与所述第二电极12导通时，与所述第一电极11相连接的数据信号D-R/G/B传输至与所述第二电极相连接的数据线Vdata。优选的，所述晶体管10为薄膜晶体管，所述第一电极11为源极或漏极中的一个电极，所述第二电极12为源极或漏极中的另一个电极。即所述第一电极11为漏极，则所述第二电极12为源极，若所述第一电极11为源极，则所述第二电极12为漏极。

所述开关信号D-SW与数据信号D-R/G/B由一驱动芯片提供，所述驱动芯片形成于显示面板上，因此所述测试电路可以在显示面板上进行测试，或者在阵列基板上设置测试点，直接向阵列基板的晶体管上的第一电极提供数据信号D-R/G/B，向栅极提供开关信号D-SW，然后测量测试点的电压或电流，从而判断与所述测试点相连接的数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路。在哪一步骤进行测量，可以根据实际的需要进行选择，在此不作限定。

【实施例二】

图2为本发明实施例二所提供的阵列基板的结构示意图，如图2所示，本发明提供一种阵列基板200，包括多条数据线201，还包括多个如实施例一所述的测试电路100，所述测试电路100位于所述阵列基板200的非显示区200a内，每个所述测试电路100均与所述阵列基板200显示区200b内的一条数据线201连接，即所述阵列基板200显示区200b内的数据线201与所述测试电路100是一一对应的关系，采用点光源照射每个所述光致导通器件，则可以得出显示区200b内的所有数据线与显示区200b内的其他信号线是否存在短路，例如所述数据线201与扫描线、第一功率电源ELVDD、第二功率电源ELVSS，或显示区内的其他信号线之间是否存在短路，从而快速判断不良失效模式，提高了测试效率，节省了测试时间，提高了产品的良率。

另外，所述阵列基板200还包括多个测试点202，设置于所述阵列基板的非显示区200a内，所述测试点202与所述显示区202b内的数据线以及显示区202b内的其余信号线相连通，在采用点光源对所述光致导通器件照射后，测量所述测试点202的电压或电流，则可以判断所述数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路。一个所述测试点202可以对应一条数据线，但是也不排除一个测试点202对应显示区内的一组数据线，所有的测试点202可以对应所有的数据线。

需要说明的是，可以采用点光源依次照射每个光致导通器件，得出每个数据线的连接情况，也可以采用多个点光源同时照射多个光致导通器件，一次得出多个数据线的连接情况，但是需要多个所述数据线彼此之间不相互影响，以免无法确认测试结果。例如对每组数据线中的某一数据线对应的光致导通器件同时进行点光源照射，则可以测量所有的测试点，得到多个数据线的信息，然后重复照射与测量，得到所有的数据线的信息，从而可以节约测试的时间，提高测量效率。

【实施例三】

本发明提供一种显示面板，包含如实施例二所述的阵列基板。所述显示面板还包括驱动芯片。

所述阵列基板的非显示区上设置有多个测试电路，所述每个测试电路均包括：晶体管以及与所述晶体管并联的光致导通器件，所述晶体管的栅极与一开关信号D-SW相连接，所述晶体管的第一电极与一数据信号D-R/G/B相连接，所述晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线Vdata相连接，所述光致导通器件的两端分别连接至所述第一电极与第二电极，所述驱动芯片提供所述开关信号D-SW与所述数据信号D-R/G/B，所述光致导通器件能够使所述第一电极与第二电极导通，使得所述数据信号D-R/G/B传输至所述数据线。

所述显示面板上设置有测试端子，与所述阵列基板显示区内的数据线相连通，与所述阵列基板上的测试点相类似，用于测试显示区内的数据线与其他信号线是否存在短路。每个所述测试电路均与所述阵列基板显示区内的一条数据线连接，即所述阵列基板显示区内的数据线与所述测试电路是一一对应的关系，采用点光源照射每个所述光致导通器，通过测量显示面板测试端子的电压或电流，则可以得出显示区内的所有数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路。

【实施例四】

图3为本发明实施例四所提供的显示面板的测试方法的流程图，如图3所示，本发明提供一种显示面板的测试方法，采用实施例三所述的显示面板，所述显示面板的测试方法包括：

步骤S01：采用点光源照射所述显示面板上的某一光致导通器件，使得与所述光致导通器件并联的晶体管的第一电极与第二电极导通；

步骤S02：然后测量所述显示面板上测试端子的电压或电流，所述测试端子与数据线相连通，以此判断所述数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路。

具体的，在步骤S01中，采用点光源照射所述显示面板上的某一光致导通器件，使得与所述光致导通器件并联的晶体管的第一电极与第二电极导通，所述数据信号传输至所述数据线。

在步骤S02中，测量所述显示面板上测试端子的电压或电流，以此判断与所述第二电极连接的数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路，例如所述数据线与扫描线、第一功率电源ELVDD、第二功率电源ELVSS，或显示区内的其他信号线之间是否存在短路。从而快速判断不良失效模式，提高了测试效率，节省了测试时间，提高了产品的良率。

然后需要重复步骤S01与步骤S02，直至显示区内所有的数据线都测试完为止。或者，在步骤S01中，也可以采用多个点光源同时照射多个光致导通器件，使得与所述光致导通器件并联的每个晶体管的第一电极与第二电极均导通；然后在步骤S02中，测量所述显示面板上不同的测试端子的电压或电流，以此判断与之对应的数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路。需要说明的是，所述显示面板上的某一测试端子可以对应一组数据线，所有的测试端子对应所有的数据线，因此可以每组数据线中的一个数据线对应的光致导通器件同时进行点光源照射，测量所有的测试端子上的电压或电路，得出多个数据线的信息。例如所述数据线分为6组。每组数据线对应一个测试端子，采用点光源照射每组数据线中的一个数据线对应的光致导通器件，然后测量所有的测试端子的电压或电流，得出6条数据线的信息，然后更换每组数据线中的另一个数据线对应的测试器件进行照射并测量，得出另外6条数据线的信息，不断重复，直至得出所有的数据线信息，其重复的次数与每组数据线中含有的数据线的数量相同。从而节约测量时间，提高测量的效率。当然也可以采取抽检的方式，对其中某几条数据线对应的测试电路进行测试，得到该数据线的不良信息。如果没有不良，则可以测量下一个显示面板，若有不良，则对该显示面板的所有的测试电路进行测量，或者对同一批次的显示面板上的测试电路进行测量。当然，如果所述显示面板的端子数量允许的话，也可以每个测试端子对应所述显示区内的一条数据线。

综上所述，本发明提供的测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法，通过在阵列基板的非显示区上设置多个测试电路，每个测试电路包括晶体管以及与所述晶体管并联的光致导通器件，所述晶体管的栅极与一开关信号相连接，所述晶体管的第一电极与一数据信号相连接，所述晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，所述光致导通器件的两端分别连接至所述第一电极与第二电极，通过采用点光源照射所述光致导通器件，使得所述晶体管的第一电极与第二电极导通，即数据信号传输至阵列基板显示区域的数据线内，由此判断所述数据线与显示区内的其他信号线之间是否存在短路，能够快速判断不良失效模式，从而提高了测试效率，节省了测试时间，提高了产品的良率。

上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试电路，位于一阵列基板的非显示区，其特征在于，包括：晶体管以及与所述晶体管并联的光致导通器件，所述晶体管的栅极与一开关信号相连接，所述晶体管的第一电极与一数据信号相连接，所述晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接，所述光致导通器件的两端分别连接至所述第一电极与第二电极，在点光源照射的情况下所述光致导通器件能够使所述第一电极与第二电极导通。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述光致导通器件为光致导通二极管。

3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述光致导通二极管的阳极连接至所述晶体管的第一电极，所述光致导通二极管的阴极连接至所述晶体管的第二电极。

4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述晶体管为薄膜晶体管。

5.如权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述第一电极为源极或漏极中的一个电极，所述第二电极为源极或漏极中的另一个电极。

6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述开关信号与数据信号由一驱动芯片提供。

7.一种阵列基板，包括多条数据线，其特征在于，还包括多个如权利要求1～6中任一项所述的测试电路，所述测试电路位于所述阵列基板的非显示区内，每个所述测试电路均与所述阵列基板显示区内的一条数据线连接。

8.如权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括多个测试点，与所述阵列基板显示区内的数据线相连通；一个测试点对应一条数据线。

9.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求7～8中任一项所述的阵列基板，在所述显示面板上设置有测试端子，与所述阵列基板显示区内的数据线相连通。

10.一种显示面板的测试方法，其特征在于，采用如权利要求9所述的显示面板，所述测试方法包括：

采用点光源照射所述显示面板上的某一光致导通器件，使得与所述光致导通器件并联的晶体管的第一电极与第二电极导通；

测量所述显示面板上测试端子的电压或电流，所述测试端子与数据线相连通，以此判断所述数据线与显示区内的其他信号线是否存在短路。