CN103698915B

CN103698915B - 一种阵列基板

Info

Publication number: CN103698915B
Application number: CN201310714840.XA
Authority: CN
Inventors: 黄式强; 周纪登
Original assignee: BOE Technology Group Co Ltd; Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: BOE Technology Group Co Ltd; Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date: 2013-12-20
Filing date: 2013-12-20
Publication date: 2017-04-05
Anticipated expiration: 2033-12-20
Also published as: CN103698915A

Abstract

本发明提供一种阵列基板，解决测试面板内的杂质离子时，不同类型的测试信号传输线中的测试信号有差异，导致检测失准，且所用治具探针数量多的问题。本发明包括：设置于阵列基板中不同类型的数据线；测试信号传输线；还包括：开关结构，与测试信号传输线连接；第二测试信号输入端子，与测试信号传输线中的一条电连接；控制信号输入端子，与开关结构连接，用于输出一个控制信号到开关结构，以通过控制信号控制开关结构中开关单元的状态，导通与第二测试信号输入端子电连接的测试信号传输线与其它的测试信号传输线，使得第二测试信号输入端子输入的测试信号能够传输到所有测试信号传输线。本发明降低了测试成本。

Description

一种阵列基板

技术领域

本发明涉及显示技术，特别是涉及一种阵列基板。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器TFT-LCD作为手机、Pad、笔记本电脑、显示器及电视机等产品的显示元件，在现今的生活中已变得不可或缺。

因此，现有的阵列基板中，为测试面板已经预先设置了不同的测试信号输入端子。

如图2所示，现有的阵列基板包括设置于阵列基板中的不同类型的数据线，如红色、绿色和蓝色亚像素对应的数据线；同时，与每一类数据线对应设置的，具有第一测试信号输入端子的测试信号传输线（在图2中，是以双栅结构的阵列基板为例，第一测试信号输入端子分别为DC、DM和DY，而对于单栅结构的阵列基板而言，测试信号传输线也是三条，第一测试信号输入端子的标记相应为DR、DG和DB）。

由于二者对于数据线而言，仅仅是端子标记的不同，因此后续均以DC、DM和DY为例进行说明。

从数据线角度来看，在对面板进行单色测试时，如对红色亚像素进行测试时，只需要向所有的红色亚像素对应的数据线输入信号即可，同理，对绿色亚像素进行测试时，只需要向所有的绿色亚像素对应的数据线输入信号即可，对蓝色亚像素进行测试时，只需要向所有的蓝色亚像素对应的数据线输入信号即可。

因此现有技术总，需要单独测试红色/绿色/蓝色亚像素时，只需要通过DC/DM/DY输入测试信号即可。

然而，对于液晶面板的测试，不仅仅包括上述的针对像素的点亮测试，还包括对液晶层杂质离子的测试就显得尤为重要。

目前液晶层杂质离子的定量测试是在高温条件下进行的。具体测试时，首先通过高温治具向TFT-LCD面板中的连接栅极传输线的端子及连接数据信号传输线的端子DC、DM和DY施加测试信号，同时向连接公共电极的端子施加三角波电压后，测量流入数据端子的电流。

因此，现有技术的对液晶层杂质离子的测试过程中，从数据线角度来看，需要3根探针，同时向DC、DM和DY施加测试信号。

而能够在高温条件下使用的探针价格昂贵，导致测试成本较高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种阵列基板，降低阵列基板进行杂质离子测试时的费用。

为了实现上述目的，本发明提供了一种阵列基板，包括：设置于阵列基板中的不同类型的数据线；

与每一类型数据线对应设置的，具有第一测试信号输入端子的测试信号传输线；

所述阵列基板还包括：

开关结构，与所述测试信号传输线连接；

第二测试信号输入端子，与所述测试信号传输线中的一条电连接；

控制信号输入端子，与所述开关结构连接，用于输出一个控制信号到所述开关结构，以通过所述控制信号控制所述开关结构中开关单元的状态，导通与所述第二测试信号输入端子电连接的测试信号传输线与其它的测试信号传输线，使得第二测试信号输入端子输入的测试信号能够传输到所有测试信号传输线。

其中，上述的阵列基板，所述开关结构包括薄膜晶体管TFT。

其中，上述的阵列基板，所述阵列基板包括N根测试信号传输线，所述开关结构包括N-1个薄膜晶体管，每一个薄膜晶体管的栅极与所述控制信号输入端子连接，所述N大于或等于3。

其中，上述的阵列基板，所述阵列基板包括N根测试信号传输线，测试信号传输线依序排列，所述开关结构包括N-1个薄膜晶体管，相邻的测试信号传输线通过所述薄膜晶体管连接。

其中，上述的阵列基板，所述测试信号传输线中，与所述第二测试信号输入端子连接的第一测试信号传输线与每一条第二测试信号传输线通过所述薄膜晶体管连接，所述第二测试信号传输线为所述测试信号传输线中除第一测试信号传输线之外的测试信号传输线。

本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例的阵列基板，在测试信号传输线之间设置开关结构，由控制信号输入端子输出的控制信号控制开关结构中的开关单元的状态，导通与所述第二测试信号输入端子电连接的测试信号传输线与其它的测试信号传输线，使得第二测试信号输入端子输入的测试信号能够传输到所有测试信号传输线。因此，对于测试信号而言，本发明实施例只需要两根探针即可实现测试信号的输入（一根用于输入开关结构的控制信号，一根用于输入测试信号），减少了昂贵的探针的使用，降低了测试成本。

同时，在本发明具体实施例中，所有数据线的测试信号都是来自同一个信号源，避免了输入到不同数据线的信号的之间的差异导致的测试结果差异，提高了测试的准确度。

附图说明

图1为本发明实施例的第一结构示意图；

图2为一种现有阵列基板的结构示意图；

图3为本发明实施例的第二结构示意图；

图4为本发明实施例的第三结构示意图。

具体实施方式

为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施例及附图进行详细描述。

本发明实施例解决定量测试面板内杂质离子时，不同类型的测试信号传送线中的测试信号有差异，导致检测失准，且所用治具探针数量较多的问题，本发明实施例提供了一种阵列基板，如图1所示，其中，所述阵列基板包括：设置于阵列基板中的不同类型的数据线；

与每一类型数据线对应设置的，具有第一测试信号输入端子（图1中为3种类型的数据线，其对应的第一测试信号输入端子为3个，分别为DC、DM和DY）的测试信号传输线；

所述阵列基板还包括：

开关结构，与所述测试信号传输线连接；

第二测试信号输入端子（图1中DG），与所述测试信号传输线中的一条电连接（图1中为于DC连接的测试信号传输线）；

控制信号输入端子（图中为SW），与所述开关结构连接，用于输出一个控制信号到所述开关结构，以通过所述控制信号控制所述开关结构中开关单元的状态，导通与所述第二测试信号输入端子电连接的测试信号传输线与其它的测试信号传输线，使得第二测试信号输入端子输入的测试信号能够传输到所有测试信号传输线。

在本发明的具体实施例中，通过开关结构，将与DG连接的测试信号传输线与其它的测试信号传输线联通在一起，使得从DG输入的测试信号能够同时传输到所有的测试信号传输线，因此，对于信号的传输，只需要一根探针即可将测试信号同时传输到所有的测试信号传送线，进而传输到所有的数据线。而同时只需要增加一根输入开关结构的控制信号的探针即可。

因此，从探针的使用数量上而言，只需要两根探针，相对于现有技术的需要使用大于或等于3根探针的情况而言，降低了昂贵的探针的使用数量，降低了测试成本。

在图1中，是以双栅结构的阵列基板为例，第一测试信号输入端子分别为DC、DM和DY，而对于单栅结构的阵列基板而言，测试信号传输线也是三条，第一测试信号输入端子的标记相应为DR、DG和DB。由于二者对于数据线而言，仅仅是端子标记的不同，因此后续均以DC、DM和DY为例进行说明。

同时，当进行某些测试时，需要对所有的数据线输入相同的信号，此时，按照如图2所示的现有技术的阵列基板，需要分别向DC、DM和DY输入一个信号，但不管怎样，向DC、DM和DY输入的信号总会存在一些差异，而这些差异将会导致检测结果的不准确。

而本发明实施例的阵列基板中，传输到所有测试信号传输线的测试信号都是来自同一个源头：DG，因此，能够保证传输到所有数据线的测试信号的一致性，能够提高测试的准确度。

本发明具体实施例中，需要使用一个开关结构，该开关结构能够在控制信号的控制下导通一根测试信号线和其它所有的测试信号线，这种开关结构可以通过多种方式实现。

但考虑到阵列基板本身就需要制作TFT，因此考虑到工艺实现的方便性，在本发明的具体实施例中，所述开关结构采用薄膜晶体管TFT来实现。

在本发明的具体实施例中，以TFT实现的开关结构可以使用如下的实现方式。

<方式一>

在方式一中，所述阵列基板包括N根测试信号传输线，测试信号传输线依序排列，所述开关结构包括N-1个薄膜晶体管，相邻的测试信号传输线通过所述薄膜晶体管连接。

方式一中，除了与所述第二测试信号输入端子连接的第一测试信号传输线之外，其它的测试信号传输线都能从与之相邻的测试信号传输线接收到测试信号，测试信号在测试信号传输线之间串行传输。

<方式二>

在方式二中，所述测试信号传输线中，与所述第二测试信号输入端子连接的第一测试信号传输线与每一条第二测试信号传输线通过所述薄膜晶体管连接，所述第二测试信号传输线为所述测试信号传输线中除第一测试信号传输线之外的测试信号传输线。

方式二中，除与所述第二测试信号输入端子连接的第一测试信号传输线之外，其它的测试信号传输线都是从与所述第二测试信号输入端子连接的第一测试信号传输线接收信号，也就是说，测试信号是以第一测试信号传输线为起点，并行传输到其它的测试信号传输线。

由于需要将DG输入的测试信号传输到所有的测试信号传输线，因此所有的TFT通过一个开关信号控制即可。

下面具体说明上述实施例的实现过程。

如图1所示，假定存在3根测试信号传输线，即：分别与DG、DM和DY连接的3条测试信号传输线。

如图1所示，阵列基板包括薄膜晶体管TFT1与薄膜晶体管TFT2，其中：

薄膜晶体管TFT1的源极和漏极分别与具有第一测试信号输入端子DC的第一测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DM的第二测试信号传输线连接；

薄膜晶体管TFT2的源极和漏极分别与具有第一测试信号输入端子DM的第二测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DY的第三测试信号传输线连接；

TFT1与TFT2的栅极与控制信号输入端子SW连接。

图1所示的阵列基板中包括三种类型的数据线，红色亚像素对应的数据线①；绿色亚像素对应的数据线②；蓝色亚像素对应的数据线③。

具有第一测试信号输入端子DY的测试信号传输线与红色亚像素对应的数据线①连接，而具有第一测试信号输入端子DM的测试信号传输线与绿色亚像素对应的数据线②连接，具有第一测试信号输入端子DC的测试信号传输线与蓝色亚像素对应的数据线③连接。

当进行液晶层杂质离子定量测试时，给控制信号输入端子SW端施加一电压信号，导通TFT1和TFT2。同时给第二测试信号输入端子DG端加一测试信号，此时测试信号通过DG能够传输到具有第一测试信号输入端子DC的测试信号传输线，进而传输到蓝色亚像素对应的数据线。

而由于TFT1和TFT2都处于导通状态，则测试信号同时还能通过TFT1传输到具有第一测试信号输入端子DM的测试信号传输线，同时测试信号通过TFT1和TFT2传输到具有第一测试信号输入端子DY的测试信号传输线，进而传输到绿色亚像素对应的数据线和红色亚像素对应的数据线。

而当需要进行其它测试时，只需要通过SW输入一控制信号关闭TFT1和TFT2即可，此时，具有第一测试信号输入端子DC的测试信号传输线、具有第一测试信号输入端子DM的测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DY的测试信号传输线就相互隔离。

此时通过DY、DM和DC即可分别实现红色亚像素、绿色亚像素以及蓝色亚像素的测试。

由于本发明实施例的阵列基板中，所有的亚像素的测试信号来自于同一个信号，能够更准确的测试杂质离子，且节省了探针的数量。

如图3所示，假定存在3根测试信号传输线，即：分别与DG、DM和DY连接的3条测试信号传输线。

如图3所示，阵列基板包括薄膜晶体管TFT3与薄膜晶体管TFT4，其中：

薄膜晶体管TFT3的源极和漏极分别与具有第一测试信号输入端子DC的第一测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DM的第二测试信号传输线连接；

薄膜晶体管TFT4的源极和漏极分别与具有第一测试信号输入端子DC的第二测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DY的第三测试信号传输线连接；

TFT3与TFT4的栅极与控制信号输入端子SW连接。

图3所示的阵列基板中包括三种类型的数据线：红色亚像素对应的数据线①；绿色亚像素对应的数据线②；蓝色亚像素对应的数据线③。

当进行液晶层杂质离子定量测试时，给控制信号输入端子SW端施加一电压信号，导通TFT3和TFT4。同时给第二测试信号输入端子DG端加一测试信号，此时测试信号通过DG能够传输到具有第一测试信号输入端子DC的测试信号传输线，进而传输到蓝色亚像素对应的数据线。

而由于TFT3和TFT4都处于导通状态，则测试信号同时还能通过TFT3和TFT4传输到具有第一测试信号输入端子DM的测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DY的测试信号传输线，进而传输到绿色亚像素对应的数据线和红色亚像素对应的数据线。

而当需要进行其它测试时，只需要通过SW输入一控制信号关闭TFT3和TFT4即可，此时，具有第一测试信号输入端子DC的测试信号传输线、具有第一测试信号输入端子DM的测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DY的测试信号传输线就相互隔离。

本发明的阵列基板在测试信号传输线之间设置开关结构，由控制信号输入端子输出的控制信号控制开关结构中的开关单元的状态，导通与所述第二测试信号输入端子电连接的测试信号传输线与其它的测试信号传输线，使得第二测试信号输入端子输入的测试信号能够传输到所有测试信号传输线。本发明阵列基板的测试信号传输线中为同一测试信号，能够更准确的测试杂质离子，提高更好的画面品质，且节省了探针的数量。

以上的图1和图3是以红绿蓝RGB液晶面板为例进行的说明，但现有的液晶面板中已经出现红绿蓝黄RGBY和红绿蓝白RGBW的液晶面板，本发明实施例同样可以适用于上述的液晶面板，说明如下。

如图4所示，此时阵列基板中的数据线包括四种类型，与红色亚像素对应的数据线①；与绿色亚像素对应的数据线②；与蓝色亚像素对应的数据线③；与黄色亚像素对应的数据线④，还包括与四类数据线对应设置的，具有第一测试信号输入端子的四条测试信号传输线，图4中的DC、DY、DM、DN均为第一测试信号输入端子即测试用焊点。

如图4所示的阵列基板包括薄膜晶体管TFT5、薄膜晶体管TFT6以及薄膜晶体管TFT7，其中：

薄膜晶体管TFT5的源极和漏极分别与具有第一测试信号输入端子DC的第一测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DM的第二测试信号传输线连接；

薄膜晶体管TFT6的源极和漏极分别与具有第一测试信号输入端子DM的第二测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DY的第三测试信号传输线连接；

薄膜晶体管TFT7的源极和漏极分别与具有第一测试信号输入端子DY的第二测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DN的第三测试信号传输线连接；

TFT5、TFT6和TFT7的栅极与控制信号输入端子SW连接。

图4所示的阵列基板中包括四种类型的数据线：红色亚像素对应的数据线①；绿色亚像素对应的数据线②；蓝色亚像素对应的数据线③；和黄色/白色亚像素对应的数据线④。

当进行液晶层杂质离子定量测试时，给控制信号输入端子SW端施加一电压信号，导通TFT5、TFT6和TFT7。同时给第二测试信号输入端子DG端加一测试信号，此时测试信号通过DG能够传输到具有第一测试信号输入端子DC的测试信号传输线，进而传输到黄/白色亚像素对应的数据线。

而由于TFT5、TFT6和TFT7都处于导通状态，则测试信号同时还能通过TFT5传输到具有第一测试信号输入端子DY的测试信号传输线，进而传输到蓝亚像素对应的数据线。

测试信号同时还能通过TFT6传输到具有第一测试信号输入端子DM的测试信号传输线，进而传输到绿亚像素对应的数据线。

测试信号同时还能通过TFT7传输到具有第一测试信号输入端子DN的测试信号传输线，进而传输到红亚像素对应的数据线。

而当需要进行其它测试时，只需要通过SW输入一控制信号关闭TFT5、TFT6和TFT7即可，此时，具有第一测试信号输入端子DC的测试信号传输线、具有第一测试信号输入端子DM的测试信号传输线、具有第一测试信号输入端子DY的测试信号传输线和具有第一测试信号输入端子DN的测试信号传输线就相互隔离。

此时通过DN、DY、DM和DC即可分别实现红色亚像素、绿色亚像素、蓝色亚像素以及黄色/白色亚像素的测试。

需要说明的是，如图1、图3和图4中，为测试需要，设置了一个导电银胶区，在单元测试完成后需要将该区域剪掉。

本发明实施例的阵列基板，通过在测试信号传输线之间设置开关结构，实现给液晶面板中所有数据端子加上同一直流信号的功能，能够更准确地测试面板中的杂质离子，提供更好的画面品质，并且节省了治具的探针数量。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

1.一种阵列基板，包括：

设置于阵列基板中的不同类型的数据线；

其特征在于，所述阵列基板还包括：

开关结构，与所述测试信号传输线连接；

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述开关结构包括薄膜晶体管TFT。

3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括N根测试信号传输线，所述开关结构包括N-1个薄膜晶体管，每一个薄膜晶体管的栅极与所述控制信号输入端子连接，所述N大于或等于3。

4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括N根测试信号传输线，测试信号传输线依序排列，所述开关结构包括N-1个薄膜晶体管，相邻的测试信号传输线通过所述薄膜晶体管连接。

5.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述测试信号传输线中，与所述第二测试信号输入端子连接的测试信号传输线与其他测试信号传输线均通过所述薄膜晶体管连接。