CN201314985Y - 液晶显示装置 - Google Patents

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CN201314985Y CNU2008201573513U CN200820157351U CN201314985Y CN 201314985 Y CN201314985 Y CN 201314985Y CN U2008201573513 U CNU2008201573513 U CN U2008201573513U CN 200820157351 U CN200820157351 U CN 200820157351U CN 201314985 Y CN201314985 Y CN 201314985Y
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田广彦
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Nanjing CEC Panda LCD Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种液晶显示装置，包括彼此相对的一彩膜基板和一阵列基板，所述阵列基板上设置有相互交叉的栅极线和数据线，其中，所述阵列基板边缘处设置有测试焊盘，所述栅极线和/或数据线的输入端和输出端分别通过接触孔和所述测试焊盘相连。本实用新型提供的液晶显示装置，测量配线延迟时可降低测量误差，且不损坏液晶显示装置。

Description

液晶显示装置
技术领域
本实用新型涉及一种液晶显示装置，特别是涉及一种测量配线延迟时可降低测量误差液晶显示装置。
背景技术
液晶显示器(LCD)是目前被广泛使用的一种平面显示器，跟其他显示方式相比，具有低功耗、外型薄、重量轻、无辐射等优点。一般而言，LCD包括有阵列下基板、彩膜(CF)上基板及填充在上下基板之间的液晶层；阵列下基板上的显示区域包含多个子像素区域，每个子像素区域一般为两条栅极线(Gate Line，又称扫描线)与两条数据线(Data Line)交叉所形成的矩形或者其他形状区域，其内设置有薄膜晶体管(TFT)以及像素电极，薄膜晶体管充当开关元件；CF上基板上的共通电极与阵列下基板上的像素电极之间的电场强度调制着液晶分子的偏转方向。
随着液晶显示面板尺寸的增加及分辨率的提高，LCD的配线，包括数据线、栅极线、修复线等的RC Delay也会随之增大。RC Delay中的R指配线上电阻、C指该层配线和阵列下基板其它导电层间的电容以及该层配线与彩膜上基板上的共通电极之间形成的电容。而过大的RC Delay会影响液晶显示器的亮度、对比度等，从而降低显示品质。如在栅极线打开TFT开关以及数据线对像素充电的过程中，栅极线上的RC delay会影响TFT的开关特性，数据线上的RC Delay则会影响加在液晶层上的信号电压，从而影响显示特性。因此在设计和制造液晶显示器的过程中，需要测试并尽量降低栅极线和数据线等配线的信号延迟。
图1是现有液晶显示装置示意图，请参见图1，图中所示的液晶显示装置的阵列基板上设置有垂直交叉排列的栅极线14和数据线13。图2a是现有液晶显示装置的配线输入端测试示意图，图2b是现有液晶显示装置的配线输出端测试示意图。请继续参见图2a和图2b，现有测量栅极线的信号延迟常用的方法如下：
1)将第一根Gate Line和最后一根Data Line在交叉位置用激光短接(LaserWelding)，形成如图1所示的激光短接点11；2)在第一根Gate Line和最后一根DataLine在交叉位置远离Source Driver的一侧将Data Line切断，形成如图1所示的激光切断处12；3)将Source Driver上最后一根Data Line和Source Driver之间的连接线切断，形成如图2a所示的输出端切断处21，避免Source Driver输出信号干扰；4)在Scan Driver端的输入端测试点24上输入方波信号，用示波器检测SourceDriver端的输出端测试点22的信号。最后，比较输入信号和输出信号的差异就可以计算出栅极线的信号延迟。
以上测量方法存在下列一些问题：1)测量之前需要激光短接和激光切断，操作复杂；2)测量过程中，激光短接位置到Source Driver的Testing Point部分的R、C不可避免会影响到栅极线信号延迟的测量，也就是说这种方法测量误差比较大；3)必须借助Source Driver和Scan Driver上的Testing Point才能测量配线的信号延迟。如果Source Driver和Scan Driver上没有对应的输入信号的Testing Point，则无法用这种方法测量栅极线的信号延迟。此外，这种方法属于破坏性测量，测量以后被测量液晶显示器就不能正常使用了。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种液晶显示装置，测量配线延迟时可降低测量误差，且不损坏液晶显示装置。
本实用新型为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种液晶显示装置，包括彼此相对的一彩膜基板和一阵列基板，所述阵列基板上设置有相互交叉的栅极线和数据线，其中，所述阵列基板边缘处设置有测试焊盘，所述栅极线和/或数据线的输入端和输出端分别通过接触孔和所述测试焊盘相连。
上述的液晶显示装置，其中，所述测试焊盘位于所述彩膜基板的外侧。
上述的液晶显示装置，其中，所述与测试焊盘相连的栅极线为第一根栅极线。
上述的液晶显示装置，其中，所述与测试焊盘相连的数据线为第一根数据线。
本实用新型对比现有技术有如下的有益效果：本实用新型提供的液晶显示装置，通过在阵列基板边缘处设置测试焊盘，并将需要测试配线的输入端和输出端通过接触孔引出到所述测试焊盘上，测量配线延迟时操作简单，测量误差比较小，且不损坏液晶显示装置。
附图说明
图1是现有液晶显示装置示意图。
图2a是现有液晶显示装置的配线输入端测试示意图。
图2b是现有液晶显示装置的配线输出端测试示意图。
图3是本实用新型的液晶显示装置的配线测试示意图。
图中：
11 激光短接点              12 激光切断处              13 数据线
14 栅极线                  21 输出端切断处            22 输出端测试点
23 输入端切断处            24 输入端测试点            31 阵列基板
32 彩膜基板                33 第一根栅极线            34，35 接触孔
36 输入端测试焊盘          37 输出端测试焊盘          38 第一根数据线
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。
图3是本实用新型的液晶显示装置的配线测试示意图。
请参见图3，本实用新型公开了一种液晶显示装置，包括彼此相对的一彩膜基板32和一阵列基板31，阵列基板31上设置有垂直交叉排列的栅极线和数据线，如位于液晶显示装置最上面的第一根栅极线37和位于液晶显示装置最左面的第一根数据线38。阵列基板31边缘处分别设置有输入端测试焊盘(Pad)36和输出端测试焊盘37，其中，第一根栅极线33的输入端通过接触孔34和输入端测试焊盘36相连，第一根栅极线33的输出端通过接触孔35和输出端测试焊盘37相连。输入端测试焊盘36和输出端测试焊盘37位于彩膜上基板32的外侧。
测量栅极线信号延迟时，通过在输入端测试焊盘36上输入方波信号，用示波器检测输出端测试焊盘37上的信号，比较输入信号和输出信号的差异就可以计算出第一根栅极线33的信号延迟。由于每条栅极线的信号延迟差不多，所以一般只需要测试第一根栅极线33的信号延迟即可。同理，将第一根数据线38的输入端和输出端分别通过接触孔引到输入端测试焊盘36和输出端测试焊盘37，即可相应地测量数据线的信号延迟。
栅极线的输入端和输出端通过接触孔后可以用透明电极引出来，也可以通过第二金属层(跟数据线相同的金属层)将栅极线的输入端和输出端引出来，再通过接触孔和透明电极将信号电学连接到测试焊盘上。此外，为了避免引出线对第一根栅极线33的影响，第二金属层和栅极线之间也可以只交叠一部分，先不用接触孔和透明电极导通，而是在测量前通过激光短接方式引出信号。
综上所述，本实用新型提供的液晶显示装置，因为栅极线输入端和输出端信号通过接触孔被引出到阵列基板边缘处的测试焊盘上，且该测试焊盘位于彩膜基板的外侧。因此可以直接通过在输入端测试焊盘36上输入方波信号，用示波器检测输出端测试焊盘37上的信号，比较输入信号和输出信号的差异就可以计算出栅极线的信号延迟。
相比现有栅极线信号延迟方法，本实用新型提供的液晶显示装置具有以下优点：1)测量之前不需要激光短接和激光切断，操作简单；2)测量过程中，栅极线输入端和输出端到测试焊盘部分的R、C都比较小，对栅极线信号延迟的测量的影响也比较小，测量误差比较小；3)无需借助Source Driver和Scan Driver上的测试点(TestingPoint)就可以测量配线的信号延迟，可测量的液晶显示器种类比较多。此外本实用新型提供的液晶显示装置不会增加额外的工序，这种方法属于非破坏性测量，测量以后的液晶显示装置仍然可以正常使用。
虽然本实用新型已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本实用新型，任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本实用新型的保护范围当以权利要求书所界定的为准。

Claims (4)

1、一种液晶显示装置，包括彼此相对的一彩膜基板和一阵列基板，所述阵列基板上设置有相互交叉的栅极线和数据线，其特征在于，所述阵列基板边缘处设置有测试焊盘，所述栅极线和/或数据线的输入端和输出端分别通过接触孔和所述测试焊盘相连。
2、如权利要求1所述的液晶显示装置，其特征在于，所述测试焊盘位于所述彩膜基板的外侧。
3、如权利要求1或者2所述的液晶显示装置，其特征在于，所述与测试焊盘相连的栅极线为第一根栅极线。
4、如权利要求1或者2所述的液晶显示装置，其特征在于，所述与测试焊盘相连的数据线为第一根数据线。
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