CN102654659B - 一种检测液晶基板的设备及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种检测液晶基板的设备及方法，涉及液晶显示技术领域，能够对FFS型液晶基板进行加载电信号的检测，提高了良品率。本发明实施例提供的设备包括：透明载台、第一偏光片、第二偏光片和背光源，还包括：第一透明电极层，位于所述透明载台上方；第二透明电极层，位于所述透明载台下方；信号加载单元，与所述第一透明电极层、第二透明电极层电连接，用于向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电信号，以使所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间具有使所述透明载台上的待测液晶基板的液晶分子偏转的电场。本发明实施例用于检测FFS型液晶基板。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种检测液晶基板的设备及方法。
背景技术
液晶显示面板主要包括对盒成型的彩膜基板和TFT(Thin FilmTransistor薄膜场效应晶体管)阵列基板，以及位于所述彩膜基板和所述TFT阵列基板之间的液晶层，在液晶显示面板的生产过程中，为了及早发现液晶显示面板中的质量问题，会对液晶显示面板是制造过程中的Q-panel(1/4面板)基板进行检测。对于Q-panel基板主要利用的是光学检测法进行检测，即在对于Q-panel基板上下分别添加偏光片，并在该基板的像素电极上加载电压，使得Q-panel基板中的TFT基板与彩膜基板之间产生电场，从而液晶分子在电场的作用下发生偏转，当有背光源从射入时，检测人员就能够看到光线通过Q-panel基板，进而对基板进行检测。
但是，由于设计上的缺陷，目前FF S(Fringe Field Switching，边缘电场驱动)型的Q-panel(1/4面板)基板没有预留电极边，所以不能像留有电极边的TN(Twisted Nematic扭曲向列)型Q-panel基板那样，在Cell工序段利用电极边进行加载电信号的检测，只能在2nd Cutting(2次切割)之后进行ET(Electrical Test，电学测试)检测，这样的局限性大大地增加了FFS型Q-panel基板的生产的风险，有可能造成重大的损失。
发明内容
本发明的实施例提供一种检测液晶基板的设备及方法，能够对FFS型液晶基板进行加载电信号的检测，提高了良品率。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
一种检测液晶基板的设备，包括：
透明载台，用于承载待测液晶基板；
第一偏光片，位于所述透明载台上方；
第二偏光片，位于所述透明载台下方；
背光源，位于所述第二偏光片下方，所述背光源发出的光线穿过所述第二偏光片、所述透明载台到达所述第一偏光片；其特征在于，所述设备还包括：
第一透明电极层，位于所述透明载台上方；
第二透明电极层，位于所述透明载台下方；
信号加载单元，与所述第一透明电极层、第二透明电极层电连接，用于向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电信号，以使所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间具有使所述透明载台上的待测液晶基板的液晶分子偏转的电场。
一种检测液晶基板的方法，在透明载台上方，设有第一偏光片，在所述透明载台下方设有第二偏光片，在所述第二偏光片下方设有背光源，在所述透明载台上方设有第一透明电极层，在所述透明载台下方设有第二透明电极层，并且，设置信号加载单元与所述第一透明电极层、第二透明电极层连接；
该检测方法包括：
在所述透明载物台上承载待测液晶基板；
通过所述信号加载单元向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电信号，以使得所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间形成使液晶分子发生偏转的电场；
将所述背光源的光线透过第二偏光片、所述透明载台，到达所述第一偏光片；
通过到达所述第一偏光片的光线对所述液晶基板进行检测。
本发明实施例提供的检测液晶基板的设备及方法，在该设备上引入平面电场，对FFS型液晶基板进行检测时，在液晶上下加载电信号形成平面电场，使液晶中的液晶分子偏转，以使得背光源发出的光可以通过液晶，从而实现了对液晶基板的检测，提高了良品率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的检测设备的结构示意图；
图2为本发明另一实施例提供的检测设备的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的检测设备的方法流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供的检测液晶基板的设备，如图1所示，包括：
透明载台101，用于承载待测液晶基板100。
第一偏光片102，位于该透明载台101上方。
第二偏光片103，位于该透明载台101下方。
背光源104，位于第二偏光片103下方，该背光源104发出的光线穿过第二偏光片103、透明载台101到达第一偏光片102。
该设备还包括：第一透明电极层105，位于透明载台101上方。
第二透明电极层106，位于透明载台101下方。
信号加载单元109，与第一透明电极层105、第二透明电极层106电连接，用于向第一透明电极层105、第二透明电极层106加载电信号，以使该第一透明电极层105和第二透明电极层106之间具有使透明载台101上的待测液晶基板100的液晶分子偏转的电场。
在本发明实施例中，所述第一偏光片和所述第二偏光片分设于所述待测液晶基板的上下两侧。示例性的，在检测FFS型液晶基板时，液晶基板未施加电场的液晶分子是平行基板配向(homogeneous)，第一偏光片与第二偏光片的吸收轴是90度交叉配置。第二偏光片的吸收轴与液晶分子的配像相同，入射光经由平行配列的液晶层，直线前进不改变行进方向，射出光无法通过第一偏光片，所以呈现不透光的黑色状态，施加电场后，液晶分子会扭转，在液晶层产生双折射现象，改变入射光行进的方向，通过第一偏光片，呈现透光状态。
在图1所示的本实施例中，示例性的，该第一透明电极层105可以为涂覆在第一偏光片102上的一层透明导电膜，如ITO(Indium Tin Oxides，纳米铟锡金属氧化物)薄膜，同时该第一偏光片102上设有信号接点1021。第二透明电极层106可以为涂覆在第二偏光片103上的一层透明导电膜，如ITO薄膜，同时第二偏光片103上设有信号接点1031。由于ITO薄膜具有透明导电性，所以，将ITO薄膜涂覆在偏光片上后，不会影响偏光片的工作。
检测时，将没有电极边的待测的FFS型液晶基板100置于透明载台101上；开启背光源104；向第一偏光片102上的信号接点1021和第二偏光片103的信号接点1031加载电信号，使得第一偏光片102上的第一透明电极层105和第二偏光片103上的第二透明电极层106之间产生平面电场，使位于其中的液晶基板100的液晶发生偏转。这样，背光源104发出的光可以通过液晶基板100，进而可以通过目视检测来发现产品可能存在的不良，加强了对FFS型产品的质量管理。
优选的，在本发明另一实施例中，如图2所示，该第一透明电极层可以为涂覆有透明导电膜，如ITO薄膜的的第一透明玻璃基板107，该第一透明玻107可以位于透明载台101与第一偏光片102之间，且该第一透明玻璃基板107的面积大于或等于待测液晶基板100的面积，第一透明玻璃基板107上设有信号接点1071。第二透明电极层可以为涂覆有透明导电膜，如ITO薄膜的第二透明玻璃基板108，该第二透明玻108可以位于透明载台101与第二偏光片103之间，且该第二透明玻璃基板108的面积大于或等于待测液晶基板100的面积，第二透明玻璃基板108上设有信号接点1081。
与上一实施例类似，检测时，将没有电极边的待测的FFS型液晶基板100置于透明载台101上；开启背光源104；向第一透明玻璃基板107上的信号接点1071和第二透明玻璃基板108的信号接点1081加载电信号，使得第一透明玻璃基板107和第二透明玻璃基板108之间产生平面电场，使位于其中的液晶基板100的液晶发生偏转。这样，背光源104发出的光可以通过液晶基板100，进而可以通过目视检测来发现产品可能存在的不良，加强了对FFS型产品的质量管理。
需要说明的是，利用涂覆ITO薄膜的透明玻璃基板作为电极层，不会影响偏光片制作，不会使偏光片的制作过程变得复杂，同时也不会影响偏光片的光学效应，且作为电极层的透明玻璃基板制作极为简单，在检测过程中，只需将直接将设置有加载信号的ITO薄膜的透明玻璃基板添加到原有的检测设备中，使得检测成本降低。在本发明实施例中，薄膜的透明玻璃基板也可以是其他自身可以导电的透明基板，且要求越薄越好。
本发明实施例提供的一种检测液晶基板的方法，在透明载台上方，设有第一偏光片，在所述透明载台下方设有第二偏光片，在所述第二偏光片下方设有背光源，在所述透明载台上方设有第一透明电极层，在所述透明载台下方设有第二透明电极层，并且，设置信号加载单元与所述第一透明电极层、第二透明电极层连接；
如图3所示，该检测方法步骤包括：
S301、在所述透明载物台上承载待测液晶基板。
S302、通过所述信号加载单元向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电信号，以使得所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间形成使液晶分子发生偏转的电场。
具体的，可以通过所述信号加载单元向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电压，使得第一透明电极层和第二透明电极层之间形成3V～8V左右的电压差，则所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间形成使液晶分子发生偏转的电场，进而使得液晶在该电场的作用下发生偏转整齐排列，从而可以使光线通过。
S303、将所述背光源的光线透过第二偏光片、所述透明载台，到达所述第一偏光片。
第一偏光片滤出的偏振光与第二偏光片滤出的偏振光的振动方向平行，当液晶分子在电场的作用下发生偏转整齐排列时，光线能够通过第二偏光片后，再所述透明载台，到达所述第一偏光片。
S304、通过到达所述第一偏光片的光线对所述液晶基板进行检测。
当背光源的光线到达所述第一偏光片时，液晶偏转的不同，到达第一偏光片光也就不同，如果液晶基板的像素存在不良，影响像素开口率，背光源发出的光线在通过该不良像素时，透过的光线会比正常的光线要多或少，出现显示光强的差异，因此，可以根据所接收到光的亮暗不同来判断是否不良。
本发明实施例提供的检测液晶基板的方法，在该设备上引入平面电场，对FFS型液晶基板进行检测时，在液晶基板上下加载电信号形成平面电场，使液晶基板中的液晶分子偏转，以使得背光源发出的光可以通过液晶，从而实现了对液晶基板的检测，提高了良品率。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (9)
1.一种检测液晶基板的设备，包括：
透明载台，用于承载待测液晶基板；
第一偏光片，位于所述透明载台上方；
第二偏光片，位于所述透明载台下方；
背光源，位于所述第二偏光片下方，所述背光源发出的光线穿过所述第二偏光片、所述透明载台到达所述第一偏光片；
第一透明电极层，位于所述透明载台上方；
其特征在于，所述设备还包括，
第二透明电极层，位于所述透明载台下方；
信号加载单元，与所述第一透明电极层、第二透明电极层电连接，用于向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电信号，以使所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间具有使所述透明载台上的待测液晶基板的液晶分子偏转的电场。
2.根据权利要求1所述的检测液晶基板的设备，其特征在于，所述第一偏光片和所述第二偏光片分设于所述待测液晶基板的上下两侧，第一偏光片与第二偏光片的吸收轴是90度交叉配置。
3.根据权利要求1所述的检测液晶基板的设备，其特征在于，所述第一透明电极层为涂覆在所述第一偏光片上的透明导电膜；所述第一偏光片上设有信号接点。
4.根据权利要求1或3所述的检测液晶基板的设备，其特征在于，所述第二透明电极层为涂覆在所述第二偏光片上的透明导电膜；所述第二偏光片上设有信号接点。
5.根据权利要求1所述的检测液晶基板的设备，其特征在于，所述第一透明电极层为涂覆有透明导电膜的第一透明玻璃基板；所述第一透明玻璃基板的面积大于或等于所述待测液晶基板的面积；所述第一透明玻璃基板上设有信号接点。
6.根据权利要求5所述的检测液晶基板的设备，其特征在于，所述第一透明玻璃基板位于所述透明载台与所述第一偏光片之间。
7.根据权利要求1或5所述的检测液晶基板的设备，其特征在于，所述第二透明电极层为涂覆有透明导电膜的第二透明玻璃基板；所述第二透明玻璃基板的面积大于或等于所述待测液晶基板的面积；所述第二透明玻璃基板上设有信号接点。
8.根据权利要求7所述的检测液晶基板的设备，其特征在于，所述第二透明玻璃基板位于所述透明载台与所述第二偏光片之间。
9.一种检测液晶基板的方法，在透明载台上方，设有第一偏光片，在所述透明载台下方设有第二偏光片，在所述第二偏光片下方设有背光源，在所述透明载台上方设有第一透明电极层，其特征在于，在所述透明载台下方设有第二透明电极层，并且，设置信号加载单元与所述第一透明电极层、第二透明电极层连接；
该检测方法包括：
在所述透明载物台上承载待测液晶基板；
通过所述信号加载单元向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电信号，以使得所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间形成使液晶分子发生偏转的电场；
将所述背光源的光线透过第二偏光片、所述透明载台，到达所述第一偏光片；
通过到达所述第一偏光片的光线对所述液晶基板进行检测。
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| CN108681114A (zh) * | 2018-05-17 | 2018-10-19 | 福建师范大学 | 一种小尺寸lcd字符显示缺陷的检测装置和方法 |
| CN110429123B (zh) * | 2019-08-12 | 2022-03-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及其制造方法、显示装置 |
| CN111024726B (zh) * | 2019-12-16 | 2023-02-10 | 广东谨诺科技有限公司 | 一种背光源模组以及大尺寸tft或oled显示面板检测平台 |
| CN114578591A (zh) * | 2020-12-01 | 2022-06-03 | 群创光电股份有限公司 | 封装电路的制造方法 |
| CN113281942A (zh) * | 2021-04-20 | 2021-08-20 | 信利（惠州）智能显示有限公司 | 一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法 |
| WO2023023900A1 (zh) * | 2021-08-23 | 2023-03-02 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 背板检测系统及其检测方法 |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3726584A (en) * | 1971-05-28 | 1973-04-10 | Xerox Corp | Light modulation system |
| US3711180A (en) * | 1971-08-24 | 1973-01-16 | Univ Mississippi | Optical switching and video devices using organo-substituted carboranes |
| JPS5638327U (zh) * | 1979-08-30 | 1981-04-11 | ||
| CN1335943B (zh) * | 1999-11-02 | 2010-05-26 | 精工爱普生株式会社 | 反射型及半透射反射型液晶装置以及电子设备 |
| JP2002022789A (ja) * | 2000-07-05 | 2002-01-23 | Oht Inc | 検査装置及び検査方法 |
| JP2002340989A (ja) | 2001-05-15 | 2002-11-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 測定方法、検査方法及び検査装置 |
| CN1580891A (zh) * | 2003-08-12 | 2005-02-16 | 友达光电股份有限公司 | 液晶显示器亮点缺陷的修补方法 |
| JP2005338261A (ja) * | 2004-05-25 | 2005-12-08 | Seiko Epson Corp | 液晶パネルの検査装置および検査方法 |
| US20100194414A1 (en) * | 2007-04-17 | 2010-08-05 | Jin Kook Jun | Electro optical detector |
| KR101286530B1 (ko) * | 2007-06-01 | 2013-07-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치용 기판 검사장치 및 이를 이용한액정표시장치용 기판 검사방법 |
| DE102008030545A1 (de) * | 2008-06-27 | 2010-01-07 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur berührungslosen Ankontaktierung von leitfähigen Strukturen, insbesondere von Dünnschicht-Transistor-Flüssigkristallanzeigen (Thin Film Transistor Liquid Crystal Displays) |
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