CN106340261A - 阵列基板测试电路及显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种阵列基板测试电路及显示面板。阵列基板测试电路包括第一及第二控制端，接收第一及第二控制信号；第一及第二电压端，接收第一及第二电压；若干第一及第二可控开关，每一第一可控开关的第一端连接第一控制端，每一第二可控开关的第一端连接第二控制端，每一第一及第二可控开关的控制端连接第一及第二电压端；第一及第二显示区域，包括若干第一、若干第二及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接第一显示区域的一个子像素；每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的一个子像素，从而实现将存在串扰的产品提前检验出来，以防流入制程后段，造成成本及人力的浪费。

Description

阵列基板测试电路及显示面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种阵列基板测试电路及显示面板。
背景技术
随着液晶显示技术的发展，人们对于显示面板的要求越来越高，液晶面板行业的竞争也越来越激烈，这就要求面板业者要有精湛的技术和过高的良率。
目前面板厂为保证良率都会做阵列基板测试，其目的是检测显示面板中的各个薄膜晶体管是否正常运行、数据线和扫描线是否正常以及面板内部有无缺陷，这样可以防止一定的不良比例流入后段模组制程，造成成本的浪费。然而目前的阵列基板架构由于其所有奇数线或所有偶数线均连接在一起，所以其只能显示及测试一些简单的画面，例如纯色画面或者横向的彩条图像，这些图案不能检测面板的串扰状态，这样的话将会使得存在串扰风险的面板流入后段制程，最终会被判定为不良品，从而造成后段成本以及人力的浪费。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种阵列基板测试电路及显示面板，从而将存在串扰的产品提前检验出来，以防流入制程后段，造成成本及人力的浪费。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种阵列基板测试电路，包括：
第一控制端，用于从测试设备接收第一控制信号；
第二控制端，用于从测试设备接收第二控制信号；
第一电压端，用于从测试设备接收第一电压；
第二电压端，用于从测试设备接收第二电压；
若干第一可控开关，每一第一可控开关的第一端连接所述第一控制端，每一第一可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；
若干第二可控开关，每一第二可控开关的第一端连接所述第二控制端，每一第二可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；
第一显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接所述第一显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；及
第二显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。
其中，所述第一及第二可控开关均为N型薄膜晶体管，所述第一及第二可控开关的控制端、第一端及第二端分别对应所述N型薄膜晶体管的栅极、源极及漏极。
其中，所述阵列基板测试电路还包括驱动芯片，所述驱动芯片包括若干输出引脚，每一输出引脚连接所述第一可控开关的第二端或所述第二可控开关的第二端。
其中，所述第一电压为低电平信号，所述第二电压为高电平信号，所述第二显示区域位于所述第一显示区域的中心位置，所述第一显示区域显示灰色画面，所述第二显示区域显示白色画面，所述第二显示区域的长度为所述第一显示区域的长度的二分之一或者三分之一，所述第二显示区域的宽度为所述第一显示区域的宽度的二分之一或者三分之一。
其中，所述若干第一子像素为红色子像素，所述若干第二子像素为绿色子像素，所述第三子像素为蓝色子像素。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示面板，所述显示面板包括阵列基板测试电路，所述阵列基板测试电路包括：
第一控制端，用于从测试设备接收第一控制信号；
第二控制端，用于从测试设备接收第二控制信号；
第一电压端，用于从测试设备接收第一电压；
第二电压端，用于从测试设备接收第二电压；
若干第一可控开关，每一第一可控开关的第一端连接所述第一控制端，每一第一可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；
若干第二可控开关，每一第二可控开关的第一端连接所述第二控制端，每一第二可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；
第一显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接所述第一显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；及
第二显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。
其中，所述第一及第二可控开关均为N型薄膜晶体管，所述第一及第二可控开关的控制端、第一端及第二端分别对应所述N型薄膜晶体管的栅极、源极及漏极。
其中，所述阵列基板测试电路还包括驱动芯片，所述驱动芯片包括若干输出引脚，每一输出引脚连接所述第一可控开关的第二端或所述第二可控开关的第二端。
其中，所述第一电压为低电平信号，所述第二电压为高电平信号，所述第二显示区域位于所述第一显示区域的中心位置，所述第一显示区域显示灰色画面，所述第二显示区域显示白色画面，所述第二显示区域的长度为所述第一显示区域的长度的二分之一或者三分之一，所述第二显示区域的宽度为所述第一显示区域的宽度的二分之一或者三分之一。
其中，所述若干第一子像素为红色子像素，所述若干第二子像素为绿色子像素，所述第三子像素为蓝色子像素。
本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明的所述阵列基板测试电路及显示面板依据检测面板串扰画面将数据线进行分组连接，即将对应串扰画面的中间白色画面区域的数据线短接在一起，将边框灰色画面区域对应的数据线短接在一起，已在阵列基本测试阶段，保证可以产生原有的画面的前提下又可以产生串扰画面，从而将存在串扰的产品提前检验出来，以防流入制程后段，造成成本及人力的浪费。
附图说明
图1是现有技术的阵列基板测试电路的电路图；
图2是现有技术的面板驱动架构图；
图3是本发明的阵列基板测试电路的电路图；
图4是本发明的显示面板的结构示意图。
具体实施方式
请参阅图1，是现有技术中阵列基板测试电路的电路图。其中驱动芯片在阵列基板测试阶段没有被焊接在所述阵列基板测试电路上，即所述驱动芯片与所有薄膜晶体管均未连接，此阶段需要利用阵列基板测试治具提供控制信号DO、DE以及第一及第二电压VGLO、VGHO。其中，控制信号DO信号提供所有奇数数据线的电压，控制信号DE提供所有偶数电源线的电压，第二电压VGHO(一般为9V)为高电平，此时所有薄膜晶体管处于开启状态，以得到需要显示的画面。在阵列基板测试完成之后进入后段模组阶段，此时所述驱动芯片被焊接至所述阵列基板测试电路上，且所述驱动芯片的每一输出引脚均连接薄膜晶体管的漏极，此时所述驱动芯片工作，而控制信号DO、DE以及第二电压VGHO均为断开状态，不再起作用。此阶段因为第一电压VGLO(一般为-7V)为低电平，所以薄膜晶体管会处于关闭状态，所述驱动芯片提供电压给每一子像素。
请参阅图2，是现有技术的面板驱动架构的示意图。其中，横向走线为扫描线，纵向走线为数据线。给面板充电过程如下：第一条扫描线G1打开，第一行子像素充电，其它行不受影响，然后，第一条扫描线G1关闭；第二条扫描线G2打开，第二行子像素充电，其他行不受影响，然后第二条扫描线G2关闭······依次直到第n条扫描线Gn充电完成，如此便可得到所要显示的画面。以现有的面板驱动架构来说，由于其所有奇数线或所有偶数线均连接在一起，所以其只能实现一些简单的画面，例如纯色画面或者横向的彩条图像，然而检测面板的一个重要画面如图3中所示，其中间有个白色画面，边缘为灰色画面，用来检测面板的串扰状况，但是现有的奇偶线分开的面板驱动架构无法显示此类图像，这样的话将会使得存在串扰风险的面板流入后段制程，最终会被判定为不良品，从而造成后段成本以及人力的浪费。
请继续参考图3，是本发明的阵列基板测试电路的电路图。所述阵列基板测试电路包括第一控制端D1，用于从测试设备接收第一控制信号；第二控制端D2，用于从测试设备接收第二控制信号；第一电压端VGLO，用于从测试设备接收第一电压；第二电压端VGHO，用于从测试设备接收第二电压；若干第一可控开关K1，每一第一可控开关K1的第一端连接所述第一控制端D1，每一第一可控开关K1的控制端连接所述第一电压端VGLO及所述第二电压端VGHO；若干第二可控开关K2，每一第二可控开关K2的第一端连接所述第二控制端D2，每一第二可控开关K2的控制端连接所述第一电压端VGLO及所述第二电压端VGHO；第一显示区域20，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关K1的第二端连接所述第一显示区域20的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；第二显示区域30，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关K2的第二端连接所述第二显示区域30的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。在本实施例中，所述第一电压为低电平信号(如-7V)，所述第二电压为高电平信号(如+9V)。
在本实施例中，所述第一及第二可控开关K1、K2均为N型薄膜晶体管，所述第一及第二可控开关K1、K2的控制端、第一端及第二端分别对应所述N型薄膜晶体管的栅极、源极及漏极。在其他实施例中，所述第一及第二可控开关也可为其他类型的开关，只要能实现本发明的目的即可。
所述阵列基板测试电路还包括驱动芯片10，所述驱动芯片10包括若干输出引脚，每一输出引脚连接所述第一可控开关K1的第二端或所述第二可控开关K2的第二端。
所述第二显示区域30位于所述第一显示区域20的中心位置，所述第一显示区域20显示灰色画面，所述第二显示区域30显示白色画面，所述第二显示区域30的长度为所述第一显示区域20的长度的二分之一或者三分之一，所述第二显示区域30的宽度为所述第一显示区域20的宽度的二分之一或者三分之一。
所述若干第一子像素为红色子像素，所述若干第二子像素为绿色子像素，所述第三子像素为蓝色子像素。
所述阵列基板测试电路的工作过程如下：
其中，在测试阶段，所述驱动芯片10没有被焊接在所述阵列基板测试电路上，即所述驱动芯片10与所有第一及第二可控开关K1、K2均未连接，此阶段需要利用阵列基板测试治具为所述第一及第二控制端D1、D2提供第一及第二控制信号，以及为所述第一及第二电压端VGLO、VGHO提供第一及第二电压。其中，所述第一控制端D1输出的第一控制信号提供给第一显示区域20的子像素，所述第二控制端D2输出的第二控制信号提供给第二显示区域30的子像素，此时所述第二电压VGHO(一般为9V)为高电平，则所有第一及第二可控开关K1、K2均处于开启状态，以使得所述第一显示区域20显示方形灰色画面且所述第二显示区域30显示方形白色画面，以此得到需要显示的检测面板串扰状态的画面。在阵列基板测试完成之后进入后段模组阶段，此时所述驱动芯片10被焊接至所述阵列基板测试电路上，且所述驱动芯片10的每一输出引脚均连接每一第一可控开关K1的第二端或者每一第二可控开关K2的第二端，此时所述驱动芯片10工作，而所述第一及第二控制端D1、D2以及第一及第二电压端VGLO、VGHO均与外部连接的阵列基板测试治具断开，因此不再输出第一及第二控制信号以及第二电压给所述阵列基板测试电路，此阶段因为所述第一电压端VGLO(一般为-7V)输出低电平信号，所以所述第一及第二可控开关K1、K2均处于关闭状态，所述驱动芯片10提供电压给所述第一显示区域20及所述第二显示区域30的每一子像素，如此便可得到所要显示的画面。
请参阅图4，为本发明一种显示面板的结构示意图。所述显示面板包括前述的阵列基板测试电路，所述显示面板中的其他器件及功能与现有显示面板的器件及功能相同，在此不再赘述。
所述阵列基板测试电路及显示面板依据检测面板串扰画面将数据线进行分组连接，即将对应串扰画面的中间白色画面区域的数据线短接在一起，将边框灰色画面区域对应的数据线短接在一起，已在阵列基本测试阶段，保证可以产生原有的画面的前提下又可以产生串扰画面，从而将存在串扰的产品提前检验出来，以防流入制程后段，造成成本及人力的浪费。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种阵列基板测试电路，其特征在于，所述阵列基板测试电路包括：
第一控制端，用于从测试设备接收第一控制信号；
第二控制端，用于从测试设备接收第二控制信号；
第一电压端，用于从测试设备接收第一电压；
第二电压端，用于从测试设备接收第二电压；
若干第一可控开关，每一第一可控开关的第一端连接所述第一控制端，每一第一可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；
若干第二可控开关，每一第二可控开关的第一端连接所述第二控制端，每一第二可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；
第一显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接所述第一显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；及
第二显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。
2.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第一及第二可控开关均为N型薄膜晶体管，所述第一及第二可控开关的控制端、第一端及第二端分别对应所述N型薄膜晶体管的栅极、源极及漏极。
3.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述阵列基板测试电路还包括驱动芯片，所述驱动芯片包括若干输出引脚，每一输出引脚连接所述第一可控开关的第二端或所述第二可控开关的第二端。
4.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第一电压为低电平信号，所述第二电压为高电平信号，所述第二显示区域位于所述第一显示区域的中心位置，所述第一显示区域显示灰色画面，所述第二显示区域显示白色画面，所述第二显示区域的长度为所述第一显示区域的长度的二分之一或者三分之一，所述第二显示区域的宽度为所述第一显示区域的宽度的二分之一或者三分之一。
5.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述若干第一子像素为红色子像素，所述若干第二子像素为绿色子像素，所述第三子像素为蓝色子像素。
6.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板测试电路，所述阵列基板测试电路包括：
第一控制端，用于从测试设备接收第一控制信号；
第二控制端，用于从测试设备接收第二控制信号；
第一电压端，用于从测试设备接收第一电压；
第二电压端，用于从测试设备接收第二电压；
若干第一可控开关，每一第一可控开关的第一端连接所述第一控制端，每一第一可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；
若干第二可控开关，每一第二可控开关的第一端连接所述第二控制端，每一第二可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；
第一显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接所述第一显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；及
第二显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一及第二可控开关均为N型薄膜晶体管，所述第一及第二可控开关的控制端、第一端及第二端分别对应所述N型薄膜晶体管的栅极、源极及漏极。
8.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板测试电路还包括驱动芯片，所述驱动芯片包括若干输出引脚，每一输出引脚连接所述第一可控开关的第二端或所述第二可控开关的第二端。
9.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一电压为低电平信号，所述第二电压为高电平信号，所述第二显示区域位于所述第一显示区域的中心位置，所述第一显示区域显示灰色画面，所述第二显示区域显示白色画面，所述第二显示区域的长度为所述第一显示区域的长度的二分之一或者三分之一，所述第二显示区域的宽度为所述第一显示区域的宽度的二分之一或者三分之一。
10.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述若干第一子像素为红色子像素，所述若干第二子像素为绿色子像素，所述第三子像素为蓝色子像素。
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