CN1881060A

CN1881060A - 液晶显示器件及其测试方法

Info

Publication number: CN1881060A
Application number: CNA2005101322164A
Authority: CN
Inventors: 郑埙; 金相浩
Original assignee: LG Philips LCD Co Ltd
Current assignee: LG Display Co Ltd
Priority date: 2005-06-15
Filing date: 2005-12-22
Publication date: 2006-12-20
Anticipated expiration: 2025-12-22
Also published as: US20060285053A1; US7701542B2; KR101137885B1; US8264661B2; CN100422834C; KR20060131315A; US20110057679A1

Abstract

本发明公开了一种液晶显示器件，其包括：其中多条栅线和多条数据线彼此交叉并且设置有多个液晶单元的像素矩阵、分别连接到第一组数据线中的数据线的多个第一数据开关薄膜晶体管；以及分别连接到第二组数据线中的数据线的多个第二数据开关薄膜晶体管。

Description

液晶显示器件及其测试方法

本申请要求享有2005年6月15日递交的韩国专利申请P2005-051650号的权益，在此引用其全部内容作为参考。

技术领域

本发明涉及一种液晶显示器件，尤其涉及一种液晶显示器件及其测试方法。尽管本发明适于更广范围的应用，但是尤其适用于通过防止不必要的部件浪费而提高产率。

背景技术

随着信息社会的发展，作为视觉信息转输媒介的显示器件的重要性日益增加。阴极射线管(CRT)或布劳恩管是目前常用的显示器件。然而，CRT具有重量和体积大的问题。与CRT不同，各种平板显示器件已经发展到重量轻和外形薄。这些类型的平板显示器件包括市场中实际使用的液晶显示器件(LCD)、场发射显示器FED、等离子体显示面板PDP、电致发光EL和其它类型的平板显示器件。

液晶显示器件可以满足目前电子器件外形薄、重量轻和体积小的趋势。随着LCD器件产率的提高，LCD器件在许多应用中已经代替阴极射线管。

通常，有两类LCD。第一类是有源矩阵型LCD，而第二类是无源矩阵型LCD。在无源矩阵型LCD中，各单元在外部切换。在有源矩阵型LCD中，各单元通过薄膜晶体管(TFT)在内部切换。有源矩阵型LCD具有图像质量好和功耗低的优点。此外，由于近来研发所带来的在大规模生产技术上的发展，可以制造具有大尺寸和高分辨率的有源矩阵型LCD。制造有源矩阵型LCD的工序可以分为基板清洗、基板构图、形成/摩擦定向膜、基板粘接/液晶注入、安装、检查和修复。在基板清洗工序中，用清洗液去除污染基板表面的杂质。

基板构图工序分为构图上基板(滤色片阵列基板)和构图下基板(或TFT阵列基板)。在构图上基板时形成滤色片、公共电极和黑矩阵。在构图下基板时在下基板上形成诸如数据线和栅线的信号线以及在靠近数据线和栅线交叉处形成薄膜晶体管(以下，称为“单元TFT”)。并且，在栅线和连接到单元TFT的源极的数据线之间的像素区处形成像素电极。

在定向膜形成/摩擦工序中，在上基板和下基板至少其中之一上形成定向膜。然后，用橡皮布摩擦定向膜。如果在两基板上都形成定向膜，那么沿相同方向摩擦该定向膜。

在基板粘接/液晶注入工序中，上基板和下基板通过密封剂粘接在一起。然后，通过密封剂中的液晶注入孔注入液晶和衬垫料。接着，对该液晶注入孔执行密封工序。

在液晶显示面板的安装工序中，其上装有诸如栅驱动集成电路和数据驱动集成电路的集成电路的载带封装(以下，称为“TCP”)连接到下基板的焊盘部分。驱动集成电路也可以通过玻上芯片(以下，称为“COG”)法代替载带自动粘接法而直接安装在下基板上。

检查工序包括在下基板上形成各种信号线和像素电极之后进行的电检查；在基板粘接/液晶注入工序之后进行的电检查；以及肉眼检查。

修复工序执行对在检查工序中认为可修复的基板或面板的修补。另一方面，在检查工序中认为不可修复的缺陷基板作为废品处理。

在基板粘接/液晶注入工序之后的电检查主要包括图像质量检查，该图像质量检查包括串扰检查和各灰度级的亮度检查。如图1和图2所示，当数据驱动电路和栅驱动电路连接到TFT阵列基板的信号线之后进行电检查。

如图1所示，现有技术的检查方法将数据开关TFT(以下称为“Tdata”)连接到数据线DL的下端。此外，现有技术的检查方法同时在栅线GL上粘接用于向栅线提供检查栅脉冲的栅开关TFT(以下称为“Tgate”)。此外，另一开关(以下，称为“Tmux”)连接到像素矩阵阵列中数据线DL的上端以提供由TCP或COG的数据驱动电路10的输出端子提供的数据电压，其中在像素矩阵阵列中形成有液晶单元Clc和单元TFT。一组外部接触焊盘11包括用于控制Tmux的MUX1焊盘、MUX2焊盘和MUX3焊盘；用于向Tgate的栅端提供电压的VEGATE焊盘；用于向Tgate的源端提供栅高压和栅低压的VGATE焊盘；用于向Tdata的栅端提供电压的VEDATA焊盘；以及用于向Tdata的源端提供测试数据电压的VDATA焊盘。

如果该组外部接触焊盘11连接到测试夹具的输出端，测试数据电压通过VDATA焊盘经过Tdata施加到数据线DL，而栅高压通过VGATE焊盘经过Tgate施加到栅线GL。因此，像素阵列的TFT导通以将测试数据电压施加到液晶单元，从而能够检查在任一液晶单元中是否存在灰度级表示缺陷。

在这种检查方法中，如图2所示，栅驱动电路13通过栅焊盘组12接收高电势电压VDD、低电势电压VSS、时钟信号GCLKS和起始脉冲GVST以向栅线GL提供栅高压的扫描脉冲，从而导通连接到栅线GL的单元TFT以选择要显示数据的一条水平线上的液晶单元Clc。此外，如图3所示，为了检查串扰，现有技术的检查方法在液晶显示面板的像素矩阵阵列中在外周围显示中间灰色调而在内部显示黑色接着再显示白色。这样，向数据线DL施加至少两种不同的测试数据，但是由VDATA经过在图1和图2所述的液晶显示面板中形成的Tdata不能向数据线施加相同的数据。因此，数据驱动电路10连接到COG或TCP形式的液晶显示面板的Tmux。换句话说，根据现有技术的检查方法，当执行串扰检查时，数据驱动电路必须以COG或TCP形式连接到液晶显示面板以判断是否存在串扰缺陷。然而，无法避免的是那些粘接到通过串扰检查判断为有缺陷的液晶显示面板的TCP或COG由于已经粘接到该有缺陷的液晶显示面板上而不得不被丢弃。从而浪费数据驱动电路，并且除低了数据驱动电路的整个产量。

发明内容

因此，本发明涉及一种液晶显示器件及其测试方法，其基本上克服了由于现有技术的限制和缺点而产生的一个或者多个问题。

本发明的目的是提供一种通过防止用于串扰检查的部件的不必要浪费来增加产率的液晶显示器件。

本发明的附加优点、目的和特征将在后面的描述中得以阐明，通过以下描述，将使其对本领域技术人员来说显而易见，或者可通过实践本发明来认识。本发明的这些目的和其它优点可通过说明书及其权利要求以及附图中具体指出的结构来实现和得到。

为了实现这些目的和其它优点，按照本发明的目的，作为具体和广义的描述，一种液晶显示器件，包括：其中多条栅线和多条数据线彼此交叉并且设置有多个液晶单元的像素矩阵、分别连接到第一组数据线中的数据线的多个第一数据开关薄膜晶体管；以及分别连接到第二组数据线中的数据线的多个第二数据开关薄膜晶体管。

按照另一方面，一种液晶显示器件，包括：其中多条栅线和多条数据线彼此交叉并且设置有多个液晶单元的像素矩阵、用于向所述栅线提供扫描脉冲的栅驱动电路、分别连接到第一组数据线中的数据线的多个第一数据开关薄膜晶体管、分别连接到第二组数据线中的数据线的多个第二数据开关薄膜晶体管、连接到所述第一数据开关薄膜晶体管的数据输入端的第一外部引线、连接到所述第二数据开关薄膜晶体管的数据输入端的第二外部引线、连接到所述第一和第二数据开关薄膜晶体管的控制端的第三外部引线、用于向所述第一外部引线提供第一数据的第一外部焊盘、用于向所述第二外部引线提供第二数据的第二外部焊盘、以及用于向所述第三外部引线提供控制数据的第三外部焊盘。

根据本发明的又一方面，一种液晶显示器件的检查方法，包括步骤：形成像素矩阵、分别连接到第一组数据线中的数据线的多个第一数据开关薄膜晶体管、分别连接到第二组数据线中的数据线的多个第二数据开关薄膜晶体管、连接到所述第一数据开关薄膜晶体管的数据输入端的第一外部引线、连接到所述第二数据开关薄膜晶体管的数据输入端的第二外部引线、连接到所述第一和第二数据开关薄膜晶体管的控制端的第三外部引线、用于向所述第一外部引线提供第一数据的第一外部焊盘、用于向所述第二外部引线提供第二数据的第二外部焊盘、以及用于向所述第三外部引线提供控制数据的第三外部焊盘，其中在所述像素矩阵中多条栅线和多条数据线彼此交叉并且设置有多个液晶单元；将用于向所述栅线提供扫描脉冲的栅驱动电路连接到所述栅线；以及向所述外部焊盘提供所述第一数据和第二数据以在像素矩阵上显示窗口图案并且判断是否存在串扰缺陷。

应该理解，本发明上面的概述和下面的详细说明都是示例性和解释性的，意欲对所要求保护的本发明提供进一步解释。

附图说明

所包括的用于提供对本发明进一步解释并引入构成本申请一部分的附图说明了本发明的实施方式，并与说明书一起用于说明本发明的原理。在附图中：

图1所示为按照现有技术的液晶显示面板的平面图；

图2所示为按照另一现有技术的液晶显示面板的平面图；

图3所示为用于串扰检查的测试窗图案；

图4所示为根据本发明实施方式的液晶显示面板的平面图；

图5所示为根据本发明实施方式的测试窗图案；

图6所示为用于实现图5所示的测试窗图案的线反转驱动波形图；以及

图7所示为用于实现图5所示测试窗图案的点反转驱动波形图。

具体实施方式

以下将参照附图中所示的实施例来详细描述本发明的优选实施方式。下面参照图4到图7说明本发明的实施方式。

如图4所示，根据本发明实施方式的液晶显示面板包括像素矩阵阵列；连接到各数据线DL下端的数据开关TFT Tdata；连接到栅线GL一端的栅TFTTgate；以TCP或COG形式连接到栅线GL另一端的栅驱动电路7；以及用于从测试夹具接收测试信号的一组外部接触焊盘1，在该像素矩阵阵列中多条数据线DL和多条栅线GL彼此交叉，多个单元TFT设置在交叉处附近，并且液晶单元以矩阵型排列。

该组外部接触焊盘1包括用于控制Tmux的MUX1焊盘、MUX2焊盘和MUX3焊盘；用于向Tgate的栅端提供电压的VEGATE焊盘；用于向Tgate的源端提供栅高压和栅低压的VGATE焊盘；用于向Tdata的栅端提供电压的VEDATA焊盘；以及用于向Tdata的源端提供测试数据电压的分为两部分的VDATA1焊盘和VDATA2焊盘。

栅驱动电路7包括具有用于将扫描脉冲的摆幅宽度转换到适于驱动液晶单元Clc的电平的电平移位器和输出缓冲器的移位寄存器。栅驱动电路7通过栅焊盘组8接收高电势电压VDD、低电势电压VSS、时钟信号GCLKS和起始脉冲GVST以向栅线GL提供栅高压的扫描脉冲，从而导通连接到栅线GL的单元TFT以选择要显示数据的一条水平线上的液晶单元Clc。

液晶显示面板的基板包括用于将MUX1焊盘、MUX2焊盘和MUX3焊盘连接到Tmux的栅端的第一外部引线6；用于将VEGATE焊盘连接到Tgate的栅端的第二外部引线5；用于将VGATE焊盘连接到Tgate的源端的第三控制引线4；用于将VEDATA焊盘连接到Tdata的栅端的第三外部引线3；用于将VDATA1焊盘连接到液晶显示面板侧面的Tdata的源端的第四外部引线2a，其中该Tdata的源端连接到液晶显示面板侧面的数据线DL；以及用于将VDATA2焊盘连接到液晶显示面板中部的Tdata的源端的第五外部引线2b，其中该Tdata的源端连接到像素矩阵的中部数据线DL。

为了检查各灰度级的表现能力，测试夹具向VDATA1焊盘和VDATA2焊盘提供相同的测试灰度级数据。并且，为了选择要向其提供测试灰度级数据的水平线，Tgate由测试夹具产生的栅高压和栅控制电压导通或者由栅驱动电路将栅高压顺序提供给栅线GL。然后，像素矩阵中的液晶单元显示测试灰度级数据，并且由图像获取器件自动检测或肉眼检查输出光的表现能力。

对于串扰检查，产生如图5所示的窗口图案的测试串扰数据。图5中“V”表示垂直方向，并且“H”表示水平方向。在线反转驱动中，图5中测试串扰数据的驱动波形如图6所示。线反转驱动向同一水平线上的液晶单元提供相同极性的数据，但是另一方面，向相邻水平线上的液晶单元提供彼此极性不同的数据。在线反转驱动中，AC公共电压VCOM施加到与液晶单元中像素电极相对的公共电极。在点反转驱动下，图5中测试串扰数据的驱动波形如图7所示。在点反转驱动下，向相邻垂直线上的液晶单元提供彼此不同极性的数据，并且向相邻水平线上的液晶单元提供彼此不同极性的数据。在点反转驱动下，公共电压VCOM是直流电流。

对于串扰检查，测试夹具向在像素矩阵边缘的液晶单元Clc种的VDTA1焊盘和VDATA2焊盘提供相同的中间灰色调(A和C区域的中间灰度级)，同时测试夹具向像素矩阵中中间部分的液晶单元Clc的VDATA2焊盘提供白色峰值或黑色峰值数据(B区域)。为了选择要向其提供测试灰度级数据的水平线，通过栅驱动电路向栅线GL顺序施加栅高压。然后，像素矩阵中的液晶单元显示图5所示的窗口图案，并且通过图像获取装置自动检测输出光或者用肉眼检查各灰度级的表现能力。

最后，根据本发明的实施方式，即使在检查串扰以及在评估各灰度级的表现能力时也可以在不用数据驱动电路的情况下实现检查。在检查之后，通过划线(scribing)去除该组外部接触焊盘1和外部引线2a到6。如上所述，根据本发明实施方式的液晶显示器件及其检查方法通过独立的外部焊盘和引线向像素矩阵显示的中间部分的像素矩阵阵列提供彼此不同的数据电压，从而可以防止浪费数据驱动电路。

虽然通过上述附图所示的实施方式说明了本发明，但是可以理解本领域的熟练技术人员并不限于这些实施方式，而是可以在不脱离本发明的精神或者范围内对本发明进行各种的修改和改进。因此，本发明的范围仅有所附权利要求及其等同物限定。

Claims

1、一种液晶显示器件，包括：

像素矩阵，其中多条栅线和多条数据线彼此交叉并且设置有多个液晶单元；

多个第一数据开关薄膜晶体管，分别连接到第一组数据线中的数据线；以及

多个第二数据开关薄膜晶体管，分别连接到第二组数据线中的数据线。

2、根据权利要求1所述的液晶显示器件，其特征在于，还包括：

多个栅线驱动薄膜晶体管，分别连接到所述栅线。

3、根据权利要求2所述的液晶显示器件，其特征在于，所述栅线驱动薄膜晶体管与所述第一和第二数据开关薄膜晶体管形成在同一基板上。

4、根据权利要求1所述的液晶显示器件，其特征在于，所述第一组数据线连接在一起以接收第一数据，并且所述第二组数据线连接在一起以接收第二数据。

5、根据权利要求1所述的液晶显示器件，其特征在于，所述第一组数据线位于所述像素矩阵的中间，而所述第二组数据线沿着所述像素矩阵的侧面。

6、一种液晶显示器件，包括：

栅驱动电路，用于向所述栅线提供扫描脉冲；

多个第一数据开关薄膜晶体管，分别连接到第一组数据线中的数据线；

多个第二数据开关薄膜晶体管，分别连接到第二组数据线中的数据线；

第一外部引线，连接到所述第一数据开关薄膜晶体管的数据输入端；

第二外部引线，连接到所述第二数据开关薄膜晶体管的数据输入端；

第三外部引线，连接到所述第一和第二数据开关薄膜晶体管的控制端；

第一外部焊盘，用于向所述第一外部引线提供第一数据；

第二外部焊盘，用于向所述第二外部引线提供第二数据；以及

第三外部焊盘，用于向所述第三外部引线提供控制数据。

7、根据权利要求6所述的液晶显示器件，其特征在于，还包括：

多个栅线驱动薄膜晶体管，分别连接到所述栅线；

第四外部引线，连接到所述栅线驱动薄膜晶体管的输入端；

第五外部引线，连接到所述栅线驱动薄膜晶体管的控制端；

第四外部焊盘，用于向所述第四外部引线提供栅电压；以及

第五外部焊盘，用于向所述第五外部引线提供控制信号。

8、根据权利要求7所述的液晶显示器件，其特征在于，所述数据开关薄膜晶体管、栅线驱动薄膜晶体管、外部引线和外部焊盘形成在同一基板上。

9、根据权利要求6所述的液晶显示器件，其特征在于，所述第一组数据线连接在一起以接收第一数据，并且所述第二组数据线连接在一起以接收第二数据。

10、根据权利要求6所述的液晶显示器件，其特征在于，所述第一组数据线位于所述像素矩阵的中间，而所述第二组数据线沿着所述像素矩阵的侧面。

11、一种液晶显示器件的检查方法，包括如下步骤：

形成像素矩阵、分别连接到第一组数据线的多个第一数据开关薄膜晶体管、分别连接到第二组数据线的多个第二数据开关薄膜晶体管、连接到所述第一数据开关薄膜晶体管的数据输入端的第一外部引线、连接到所述第二数据开关薄膜晶体管的数据输入端的第二外部引线、连接到所述第一和第二数据开关薄膜晶体管的控制端的第三外部引线、用于向所述第一外部引线提供第一数据的第一外部焊盘、用于向所述第二外部引线提供第二数据的第二外部焊盘、用于向所述第三外部引线提供控制数据的第三外部焊盘，其中在所述像素矩阵中多条栅线和多条数据线彼此交叉并且设置有多个液晶单元；

将用于向所述栅线提供扫描脉冲的栅驱动电路连接到所述栅线；以及

向所述外部焊盘提供所述第一数据和第二数据以在像素矩阵上显示窗口图案并且判断是否存在串扰缺陷。

12、根据权利要求11所述的检查方法，其特征在于，还包括步骤：

在所述液晶显示面板上形成分别连接到所述栅线的多个栅线驱动薄膜晶体管、连接到所述栅线驱动薄膜晶体管的栅电压输入端的第四外部引线、连接到所述栅线驱动薄膜晶体管的控制端的第五外部引线，用于向所述第四外部引线提供栅电压的第四外部焊盘、以及用于向所述第五外部引线提供控制信号的第五外部焊盘。

13、根据权利要求12所述的检查方法，其特征在于，所述数据开关薄膜晶体管、栅线驱动薄膜晶体管、外部引线和外部焊盘形成在同一基板上。

14、根本权利要求11所述的检查方法，其特征在于，所述第一组数据线连接在一起以接收第一数据，并且所述第二组数据线连接在一起以接收第二数据。

15、根据权利要求12所述的检查方法，其特征在于，所述第一组数据线位于所述像素矩阵的中间，而所述第二组数据线沿着所述像素矩阵的侧面。