KR100389605B1

KR100389605B1 - 액티브 매트릭스 표시 장치 및 그 액티브 매트릭스 표시장치의 검사 방법

Info

Publication number: KR100389605B1
Application number: KR10-2001-0011163A
Authority: KR
Inventors: 고다테마나부; 이케다마사토
Original assignee: 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션
Priority date: 2000-03-14
Filing date: 2001-03-05
Publication date: 2003-06-27
Also published as: TW535134B; KR20010091922A; US6784862B2; JP2001265248A; US20010030635A1

Abstract

본 발명은 드라이버 IC가 LC 셀에 접속되기 이전에 LC 셀의 화질 검사를 효율적으로 행할 수 있는 LC 셀 및 그 LC 셀의 검사 방법에 관한 것이다.

LC 셀은 검사용 회로를 갖는다. 검사용 회로는 각 주사 신호선 또는 각 데이터 신호선에 접속된 검사용 TFT와, 주사 신호선에 접속되는 검사용 단자와, 데이터 신호선에 접속되는 검사용 단자를 갖는다. 각 검사용 단자에는 복수의 검사용 TFT가 접속되어 있다. 표시 영역은 복수의 블럭으로 나누어지고, 각 블럭마다 1 세트의 주사 신호측 검사용 단자와, 1 세트의 데이터 신호측 검사용 단자가 접속되어 있다. 각 블럭마다 특정 영역의 주사 신호선과 데이터 신호선이 할당되어 있다. 복수의 데이터 신호선이 검사용 TFT와 검사 단자로 적절히 그룹화되어 있기 때문에, 다핀 프로브 방식을 이용하는 일없이 필요한 화질 검사가 달성될 수 있다.

Description

액티브 매트릭스 표시 장치 및 그 액티브 매트릭스 표시 장치의 검사 방법{ACTIVE MATRIX DISPLAY DEVICE AND INSPECTION METHOD FOR THE SAME}

본 발명은 액티브 매트릭스 표시 장치 및 그 액티브 매트릭스 표시 장치의 검사 방법에 관한 것으로, 특히 표시 장치의 검사용 회로를 갖는 액티브 매트릭스 표시 장치 및 그 액티브 매트릭스 표시 장치의 검사 방법에 관한 것이다.

현재 널리 보급되어 있는 박막 트랜지스터(TFT) 컬러 액정 표시 장치의 제조 공정은 크게 나누어 액정(LC) 셀의 제조 공정, 액정 모듈의 제조 공정 및 액정 모니터의 제조 공정으로 나눌 수 있다. 액정 모듈은 LC 셀에 드라이버 IC와 이 드라이버 IC에 입력되는 제어 신호를 생성하는 구동 회로를 접속하여 백 라이트와 기구 부품을 장착함으로써 완성된다. 또한 액정 모니터는 이 액정 모듈에 입력되는 화상 정보를 포함하는 신호를 생성하는 그래픽 어댑터를 접속하여 기구 부품을 장착함으로써 완성된다.

액정 표시 장치의 제조에서는 제조 효율을 높이기 위해 제조 공정에 있어서의 먼지의 혼입이나 치수 오차에 의해 발생되는 결함을 조기에 발견할 필요가 있다. 이 때문에, 액정 표시 장치의 제조 공정의 각 단계에서 갭 검사나 점등 검사와 같은 각종 검사가 행하여진다.

예컨대, 일본 특허 공개 소화 제60-2989호 공보에는 TFT 어레이의 데이터/주사선의 단선·단락 검출을 행하는 방법이 개시되어 있다. 이 방법에 있어서, 데이터/주사선의 단선이 하나의 X 구동 회로만을 갖는 액정 표시 장치에서 검출될 수 있다. 데이터/주사선의 단선·단락이 X 구동 회로의 반대측에 검사용 트랜지스터군을 설치함으로써 검출된다. 구체적으로는, 구동 회로로부터 입력된 특정한 검사 신호를 검사용 트랜지스터로부터 출력시킴으로써 검사를 행한다. 또한, 일본 특허 공개 평성 제3-18891호, 제3-20721호, 제5-5897호, 제5-11000호 공보에서는, 구동 회로의 반대측에서 검사 신호선 혹은 스위칭 회로를 액티브 매트릭스 어레이에 접속하여 액티브 매트릭스 어레이의 검사를 행하는 기구가 개시되어 있다.

일본 특허 공개 평성 제2-154292호 공보에는 액티브 매트릭스 어레이의 단선 검사가 액티브 매트릭스 어레이에 구동 IC를 접속하기 이전에 아날로그 스위칭 기능을 갖는 선택 회로를 사용함으로써 행하여지는 것이 개시되어 있다.

이들 검사의 하나로는 TFT LC 셀이 완성된 후에 행해지는 화질 검사가 있다. TFT LC 셀의 화질 검사 방법은 여러 가지의 것이 알려져 있지만, 통상적으로 행하여지고 있는 검사 기구는 다핀 프로브 방식(multiple pin probe method)이라고 불리는 검사 방법이다.

이 방법에 따르면, LC 셀 제조의 최종 단계에서, LC 셀의 모든 신호 입력 단자의 각 단자에 각각 독립적으로 다핀 프로브로 접촉하여 액정 모듈에서의 드라이버 IC로부터의 입력 신호와 등가인 전기 신호를 입력함으로써 행하여진다. 이 방법은 최종 제품에 있어서의 LC 셀의 구동을 완전히 재현할 수 있기 때문에, 이 검사가 최종 제품의 표시 화면을 시각적으로 체크함으로써 행하여질 수 있다. 이 경우, 입력 신호를 준비함으로써 모든 종류의 화면을 표시하는 것이 가능해진다. 그러나, 이 다핀 프로브 방식에 의한 검사에는 다음에 기술하는 몇 가지 문제점이 있다.

우선, 다핀 프로브는 고가이고, 그 제조에 많은 시간이 필요하다. 화소수 1024 화소(×3 부 화소) ×768행을 갖는 LC 셀에 있어서는, 예컨대 적어도 3840개의 신호가 입력되는 배선을 갖기 때문에, 화질 검사를 행하기 위해서는 대략 4000개의 신호 입력 단자에 접촉할 수 있는 프로브를 필요로 한다.

또한, 검사의 안정성에도 문제가 있다. 최근 LC 셀의 대형·고선명화에 수반하여, 프로브 개소가 증대하고 그들의 밀도가 고밀도화되고 있기 때문에, 프로브의 전기적 접촉의 불안정성이 고려되어야 한다. 전기적 접촉이 불안정하게 되면, 입력될 신호가 몇몇 신호 입력선을 통하여 전송되지 않아 이러한 배선과 결합된 검사 화면이 표시되지 않는다. 이것은 검사 효율을 현저히 저하시킨다. 이는 화상 처리 등에 의해 자동 검사를 행하는 경우에는 치명적이다. 또한, LC 셀의 고선명화에 대한 개선이 서로 인접한 프로브 사이의 간격을 작게 하기 때문에, 검사 안정성의 저하뿐만 아니라, 이러한 프로브의 준비에 소정의 한계가 있다.

또한, 이러한 다핀 프로브는 다품종에 대응할 수 없기 때문에, 비용의 증대와 검사 효율의 저하를 초래하고 있다. 이것은 LC 셀의 다품종 제조 때문으로, 각품종의 사양의 차이로 인해 프로브 배치에 관한 품종간의 공통화가 곤란하기 때문에, 품종마다 프로브 세트를 준비하여, 또 다른 품종 세트에 대해 검사 장치에 장착된 하나의 프로브 세트를 변경할 필요가 있다.

이로 인해, 표시될 검사용 화면의 종류가 한정되었다고 해도, 다핀 프로브를 사용하지 않고서 행할 수 있는 검사 방법이 요구되고 있다.

본 발명의 목적은 화질 검사를 효율적으로 행할 수 있는 표시 장치 및 그 표시 장치의 검사 방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 많은 화질 검사에 대응할 수 있는 검사용 회로를 구비한 표시 장치 및 그 표시 장치의 검사 방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 또 다른 목적은 표시 장치를 확실하게 검사하는 것을 가능하게 하는 표시 장치 및 그 표시 장치의 검사 방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 또 다른 목적은 대형·고선명화된 표시 장치의 검사를 안정적으로 행할 수 있는 장치 및 그 장치의 검사 방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 또 다른 목적은 드라이버 IC가 표시 장치에 접속되기 이전에 표시 장치의 화질 검사를 효율적으로 행할 수 있는 표시 장치 및 그 표시 장치의 검사 방법을 제공하는 것이다.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 LC 셀의 구성을 도시한 개략도.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 LC 셀의 회로 구조를 도시한 개략도.

도 3은 본 실시예에 따른 화질 검사 신호를 도시한 개략도.

도 4는 본 실시예에 따른 검사 화면을 도시한 개략도.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉

1 : LC 셀

2 : 박막 트랜지스터(TFT) 어레이 기판

3 : 대향 기판

4, 5 : 검사용 회로

6 : 외주 영역

7 : 표시 화소 영역

11 : 주사 신호선

12 : 데이터 신호선

13 : 부 화소부

15 : 화소 전극(ITO 막)

18 : 부가 용량(Cs)

22 : 검사용 TFT

23 : 소스 전극

24 : 드레인 전극

25 : 게이트 전극

31 내지 35, 41 내지 53 : 검사용 단자

본 발명 및 본 발명의 잇점을 보다 완전히 이해하기 위해, 이하 다음의 상세한 설명이 첨부된 도면을 참조하여 기술된다.

본 발명에 따른 액티브 매트릭스 표시 장치는 화질 검사를 행하기 위한 검사용 회로를 갖는다. 이 검사용 회로는 검사 신호를 입력하기 위한 복수의 입력 단자와, 각 입력 단자에 접속된 복수의 검사용 트랜지스터를 구비한다. 각 입력 단자로부터 부 화소부로 전송되는 입력 검사 신호가 결합된 검사용 트랜지스터에 의해 제어되어 원하는 검사 화면을 표시한다. 검사용 트랜지스터는 비정질 실리콘 TFT가 바람직하다.

복수의 검사용 트랜지스터가 하나의 입력 단자에 접속되어 있다. 검사용 트랜지스터의 모든 게이트 전극이 하나의 입력 단자에 접속되는 것이 바람직하다. 다른 입력 단자가 검사용 트랜지스터의 소스 전극에 접속된다. 인접하는 부 화소부열에 접속되는 이들 검사용 트랜지스터가 상이한 입력 단자에 접속되는 것이 바람직하다. 또, 상이한 색의 부 화소부열에 접속되는 이들 검사용 트랜지스터가 상이한 입력 단자에 접속된다.

검사용 회로가 데이터 신호선측과 주사 신호선측 양쪽 모두에 형성되어 있는 것이 바람직하다. 한쪽에 형성된 검사용 회로가 적어도 3개의 입력 단자를 구비하는 것이 더욱 바람직하다. 입력 단자 중 하나에는 모든 검사용 트랜지스터의 게이트 전극이 접속되고, 다른 2개의 입력 단자에는 인접하는 부 화소부열에 접속된 검사용 트랜지스터가 교대로 별도의 단자에 접속되도록 접속된다. 다른 한쪽에 형성된 검사용 회로는 적어도 7개의 입력 단자를 구비하고, 입력 단자 중 하나가 모든 검사용 트랜지스터의 게이트 전극에 접속되어 있다. 다른 입력 단자에 대해서는, RGB의 상이한 색을 갖는 부 화소열에 접속된 이들 검사용 트랜지스터는 상이한 단자에 접속된다. 또한, 인접하는 부 화소부열에 접속된 이들 검사용 트랜지스터가 상이한 입력 단자에 접속된다. 즉, 다른 검사용 회로의 다른 입력 단자의 수는 총 6개로, 부 화소부의 홀수열을 위한 각 RGB색에 대해 3개이고, 부 화소부의 짝수열을 위한 각 RGB색에 대해 3개이다.

LC 셀

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 LC 셀의 전체 구조를 도시한 개략도이다. 도면에 있어서, 참조부호(1)는 액정 셀(LC), 참조부호(2)는 박막 트랜지스터(TFT) 어레이 기판, 참조부호(3)는 박막 트랜지스터(TFT) 어레이 기판(2)과 서로 평행하게 배치된 대향 기판이다. 여기에는 도시하지 않았지만, 액정이 TFT 어레이 기판(2)과 대향 기판(3) 사이에는 시일 부재와 밀봉 수지로 봉입되어 있다. 또, LC 셀(1)에는 배향막, 트랜스퍼, 편광 필름 등이 형성되고, 양 기판 사이의 거리는 그 사이에 설치된 스페이서 볼에 의해서 유지되고 있다. 이 실시예에 따르면, 대향 기판(3)은 RGB의 컬러 필터가 형성된 컬러 필터 기판이다.

배향막은 액정의 초기 배향을 결정하기 위해서, 2개의 기판 각각의 마주 보는 면에 형성된다. 시일 부재는 2개의 기판을 접착하고, 액정을 기판 사이에 가두어 두기 위해 표시 화소 영역(7)의 외측에 형성된다. 또, 밀봉 수지는 주입구라고 불리우는 미리 설치된 시일 부재가 형성되지 않은 영역에서 2개의 기판 사이에 액정을 주입한 후, 그 곳을 밀폐하기 위해 형성된다. 스페이서 볼은 2개의 기판 사이의 간격을 결정하기 위한 구형상의 절연물로, 기판의 한 쪽에 살포된다. 표시 화소 영역(7)의 외측에 형성되는 트랜스퍼(transfer)는 TFT 어레이 기판(2) 상의 단자로부터 입력된 공통 전극 전위를 대향 기판(3) 상의 공통 전극에 인가하기 위한 전도성 물질이다. 편광 필름은 접합된 2개의 기판 외측 각 면에 형성되어 LC 셀 상으로 입사되는 빛의 편광을 제어한다.

도 1에 있어서, LC 셀의 화질 검사를 행하기 위한 검사용 회로(4, 5)가 TFT 어레이 기판(2) 상에 형성되어 있다. 표시 화소 영역(7)은 LC 셀에 있어서 실제로 표시를 행하는 표시 영역이다. 영역(6)은 표시 영역의 외주 영역으로 표시 신호 입력 단자(16)가 형성된다. 표시 영역에 화면 표시 신호를 입력하는 드라이버 IC가 접속되는 표시 신호 입력 단자(16)가 형성된다.

TFT 어레이 회로

도 2는 TFT 어레이 기판(2)의 회로 구조를 도시한 개략도이다. 도면에 있어서, 복수의 주사 신호선(11)은 한 방향으로 서로 평행하게 연장되어 주사 신호가 공급되고, 복수의 데이터 신호선(12)은 주사 신호선(11)과 교차하는 방향으로 서로 평행하게 연장되어 영상 신호가 공급된다. TFT 어레이 기판(2)은 표시 화소 영역(7) 내에 매트릭스형으로 배열된 복수의 부 화소부(13)를 구비하고, 각 부 화소부(13)는 주사 신호선(11)과 데이터 신호선(12)에 의해 둘러싸여 있다. 각 부 화소부(13)는 액정에 전계를 인가하는 화소 전극[15: ITO 막], 화소 전극의 유지 능력을 보완하는 부가 용량[18: Cs] 및 결합된 주사 신호선(11) 및 데이터 신호선(12)에 화소 전극(15)을 접속하여 스위칭 기능을 갖는 TFT(14)를 갖고 있다. 표시 영역(7)의 외측에는 LC 셀의 화질 검사용 회로(4, 5) 및 배선(11, 12)에 전기 신호를 제공하기 위한 표시 신호 입력 단자(16)가 형성되어 있다. 화질 검사용 회로(4, 5)의 구조는 이하에 상세히 설명한다.

컬러 필터 기판[3: 도시하지 않음] 상에는 백색광을 각 RGB색으로 분리하기 위한 컬러 필터, 및 공통 전극(17)과 TFT 어레이 기판(2) 상의 각 화소 전극(15) 사이에서 인가되는 전계에 기초하여 액정의 배향을 제어하기 위한 공통 전극(17)이 형성되어 있다. 각 부 화소부는 RGB색 중 어느 한 색의 컬러 필터를 갖는다. LC 셀의 표시는 각 화소 전극(15)과 공통 전극(17) 간의 전위차에 기초하여 봉입된 액정의 배향을 제어함으로써 행할 수 있다. 이 전위차 제어는 TFT(14)에 의해서 입력되는 신호가 조작됨으로써 행하여진다. 액정의 배향에 의해 LC 셀을 투과하는 빛의 양이 제어된다. 3개의 RGB의 부 화소부가 하나의 화소를 형성한다는 것을 주목하자.

이 실시예에 있어서, TFT(14)는 비정질 실리콘에 의해 형성되고, 화질 검사용 회로(4, 5)도 마찬가지로 비정질 실리콘 TFT를 구비한다. 따라서, 화질 검사용 회로(4, 5)는 TFT(14)가 포토마스크 상에 그들의 패턴을 추가함으로써 형성될 때 동시에 형성될 수 있다. 또한, 화질 검사용 회로(4, 5)의 배선 및 검사용 단자도 액정 표시 회로의 배선이나 표시 신호 입력 단자(16)가 형성될 때 동시에 형성될 수 있다. 그 결과, 이 화질 검사용 회로(4, 5)를 형성하기 위해 부가적인 제조 공정을 필요로 하지 않는다. 또한, TFT 어레이 기판의 제조 공정은 포토레지스트를 이용한 증착 및 에칭 프로세스와 같은 잘 알려진 기술에 의해 행하여지고, 여기서는 상세한 설명을 하지 않는다.

검사용 회로

이하, 화질 검사용 회로(4, 5)에 대해서 설명한다. 도 2는 이 실시예에 있어서의 TFT 어레이 기판(2) 상에 형성되는 회로를 도시한 개략적인 회로도이다. 또한, 설명의 편의상, 도면은 회로의 부분적인 구조만을 도시하고, 전체적인 구조는 도시되어 있지 않다. 도면에 있어서, 검사용 TFT(22)는 각 주사 신호선 또는 각 데이터 신호선에 접속된다. 각 검사용 TFT(22)는 소스 전극(23), 드레인 전극(24) 및 게이트 전극(25)을 갖고 있다. 참조부호(31 내지 35)는 주사 신호선(11)에 접속되는 검사용 단자이며, 참조부호(41 내지 53)는 데이터 신호선(12)에 접속되는 검사용 단자이다. 이 회로에 입력되는 검사용 입력 신호는 주사 신호선측에 입력되는 5종과, 데이터 신호선측에 입력되는 13종을 합쳐 합계 18종류이다.

표시 영역은 복수의 블럭으로 나누어지고, 각 블럭마다 1 세트의 주사측 검사용 단자와, 1 세트의 데이터 신호측 검사용 단자가 접속되어 있다. 각 블럭마다 특정 영역의 주사 신호선과 데이터 신호선이 할당되어 있다. 검사용 단자(31, 32) 및 검사용 단자(33, 34)가 각각 1 세트로 구성되고, 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)에 접속되어 있다. 검사용 단자(35)는 모든 주사측 검사용 TFT(22)의 게이트 전극(25)에 접속되어 있다. 또, 검사용 단자(41 내지 46 및 47 내지 52)가 각각 1 세트로 구성되고, 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)에 공통 소스 배선을 통하여 접속되어 있다. 검사용 단자(53)는 모든 데이터 신호측 검사용 TFT(22)의 게이트 전극(25)에 공통 게이트 배선을 통하여 접속되어 있다. 또한, 이 소스 전극 및 드레인 전극은 역으로 할 수 있는 것은 물론 말할 필요도 없다.

주사 신호선측의 검사용 단자(31 내지 34)는 다음과 같이 접속되어 있다. 검사용 단자(31, 32)는 각각 소정 블럭에 대응하는 영역(61)의 주사 신호선(11)에 검사용 TFT(22)를 통하여 교대로 접속되어 있다. 즉, 검사용 단자(31)는 영역(61)의 (2m+1: m은 정수)번째 주사 신호선(11)에 접속되는 한편, 검사용 단자(32)는 영역(61)의 (2m+2)번째 주사 신호선(11)에 접속되어 있다.

마찬가지로, 검사용 단자(33, 34)는 상기 영역(61)과는 다른 별도의 영역(62)의 주사 신호선(11)에 검사용 TFT(22)를 통하여 교대로 접속되어 있다. 즉, 검사용 단자(33)는 영역(62)의 (2n+1: n은 정수)번째 주사 신호선(11)에 접속되고, 검사용 단자(34)는 영역(62)의 (2n+2)번째 주사 신호선(11)에 접속되어 있다. 또한, 도면에 있어서, 각 영역에는 4행의 부 화소열만이 포함되어 있지만, 실제로는 더 많은 부 화소행이 하나의 영역에 포함되어 있다.

주사선측 검사용 회로(5)가 상기한 바와 같이 구성됨으로써, 검사 신호가 각 블럭의 주사 신호선의 홀수번째 주사 신호선과 짝수번째 주사 신호선을 상이한 타이밍으로 선택함으로써 입력될 수 있다. 그 결과, 데이터 신호선에 인가되는 전위에 따라 액정에 인가되는 전압을 프레임마다 극성 반전하여 교류 구동하는 방법의 일종인 행 반전 구동이나 화소 반전(도트 반전) 구동에도 대응 가능해진다. 또한, 주사 신호선의 홀수번째 주사 신호선과 짝수번째 주사 신호선이 동시에 선택되더라도 데이터 신호선에 입력되는 전위를 프레임마다 반전함으로써 프레임 반전 구동이 수행될 수 있다.

또한, 이러한 접속 방법에 의해 영역(61)과 영역(62)의 주사 신호선이 상이한 타이밍으로 선택될 수 있다. 그 결과, 데이터 신호선에 인가되는 전위에 따라표시 화면에 영역(61)과 영역(62)에서 상이한 패턴이 표시되는 것이 가능해진다.

데이터 신호선측의 1 세트 검사용 단자(41 내지 46)는 다음과 같이 접속되어 있다. 검사용 단자(41, 42)는 각각 소정 영역(63)의 데이터 신호선(12)의 (6p+1)번째와 (6p+4)번째(p는 정수)에 검사용 TFT(22)를 통하여 접속되어 있다. 이 때 검사용 단자(41, 42)는 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)에 접속되고, 데이터 신호선(12)은 드레인 전극(24)에 접속되어 있다. 또한, 이 소스 전극과 드레인 전극이 역으로 될 수 있는 것은 물론 말할 필요가 없다.

검사용 단자(43, 44)는 각각 영역(63)의 데이터 신호선(12)의 (6p+5)번째와 (6p+2)번째(p는 정수)에 검사용 TFT(22)를 통하여 접속되어 있다. 이 때 검사용 단자(43, 44)는 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)에 접속되고, 데이터 신호선(12)은 드레인 전극(24)에 접속되어 있다. 또, 검사용 단자(45, 46)는 각각 영역(63)의 데이터 신호선(12)의 (6p+3)번째와 (6p+6)번째(p는 정수)에 검사용 TFT(22)를 통하여 접속되어 있다. 이 때 검사용 단자(45, 46)는 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)에 접속되고, 데이터 신호선(12)은 드레인 전극(24)에 접속되어 있다.

데이터 신호선측의 또 다른 1 세트의 검사용 단자(47 내지 52)는 상기 영역(63)과는 상이한 영역(64)의 데이터 신호선(12)에 접속되어 있다. 검사용 단자(47, 48)는 각각 영역(64)의 데이터 신호선(12)의 (6q+4)번째와 (6q+1)번째(q는 정수)에 검사용 TFT(22)를 통하여 접속되어 있다. 이 때 검사용 단자(47, 48)는 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)에 접속되고, 데이터 신호선(12)은 드레인 전극(24)에 접속되어 있다.

검사용 단자(49, 50)는 각각 영역(64)의 데이터 신호선(12)의 (6q+2)번째와 (6q+5)번째(q는 정수)에 검사용 TFT(22)를 통하여 접속되어 있다. 이 때 검사용 단자(49, 50)는 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)에 접속되고, 데이터 신호선(12)은 드레인 전극(24)에 접속되어 있다. 또, 검사용 단자(51, 52)는 각각 영역(64)의 데이터 신호선(12)의 (6q+6)번째와 (6q+3)번째(q는 정수)에 검사용 TFT(22)를 통하여 접속되어 있다. 이 때 검사용 단자(51, 52)는 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)에 접속되고, 데이터 신호선(12)은 드레인 전극(24)에 접속되어 있다. 각 영역은 4개의 부 화소열만을 갖고 있지만, 실제로는 더 많은 연속하는 부 화소열을 갖고 있다.

이 실시예의 LC 셀(1)은 수직 스트라이프형으로 배열된 RGB의 부 화소부를 갖고 있다. 즉, 데이터 신호선에 의해 정의되는 부 화소열(도 2에서의 수직열)이 순서대로 RGB의 컬러 필터를 갖고 있다. 상기한 바와 같이 데이터 신호선측 검사용 회로(4)를 구성함으로써, 인접하는 부 화소열에 있어서 서로 역극성이 되는 전압이 액정에 인가될 수 있다. 또한, 전압이 R, G 및 B의 각 부 화소열에 독립적으로 인가될 수 있기 때문에, 표시 영역 전체에 임의의 색을 표시할 수 있다. 또한, 영역(63)과 영역(64)의 데이터 신호선에 인가되는 전위를 변경함으로써 표시 화면 상의 영역(63)과 영역(64)에 상이한 패턴이 표시될 수 있다.

화질 검사

이 실시예에 있어서의 LC 셀(1)의 화질 검사 방법을 설명한다. 이 화질 검사 방법에 따르면, 화상 출력이 주사 신호 및 영상 데이터 신호(영상 신호)를 제공하는 프로브를 LC 셀(1)의 전극 단자(16)에 접촉시킴으로써 검사되는 종래의 방법 대신에, 화상 출력이 검사 신호를 제공하는 프로브를 검사용 단자(31 내지 35 및 41 내지 53)에 접촉시킴으로써 검사된다. 검사용 단자로부터 부 화소부로 전송되는 신호는 검사용 TFT를 조작함으로써 제어될 수 있다.

도 3은 이 실시예에 있어서의 검사용 회로(4, 5)에 인가되는 검사용 구동 파형의 예를 도시한다. 이 실시예에 있어서, 검사용 윈도우가 화소 반전(도트 반전) 구동에 의해 표시된다. 이 윈도우 표시는 도 4에 도시되어 있다. 도 3은 인가되는 검사용 구동 신호의 일부를 도시한 것에 지나지 않는다. 실제로는 이들 도시된 파형과 동일한 파형을 갖는 신호가 연속하여 LC 셀(1)에 입력된다. 도 3에 있어서, 가로 좌표는 시간 축을 나타낸다. 기간 T(1) 및 기간 T(2)는 1 프레임의 기간을 나타낸다. 기간 T(1) 및 기간 T(2)와 기간 T(3) 및 기간 T(4)의 차이는 신호 S(k) 및 신호 S(k+1)이 각각 역위상으로 되어 있는 점이다. 이들 기간 T(1) 내지 기간 T(4)를 1 주기로 하여 1개의 검사 화면을 표시하고 있는 동안 이들 신호가 반복적으로 연속하여 LC 셀(1)에 입력된다.

이 밖의 구동 예는 행 반전 구동, 열 반전 구동이 있다. 이들 필요한 구동 방법이 입력 신호 파형의 변경에 의해 용이하게 실현될 수 있다. 또한, 임의의 계조 레벨이 입력 신호 전압을 변경함으로써 표시된다.

이 실시예에 있어서, R, G 및 B의 신호가 독립적으로 입력될 수 있기 때문에 임의의 색이 표시될 수 있다.

도 4는 검사용 표시 화면의 일례로서의 검사용 윈도우 표시를 도시한 도면이다. 표시 화면은 복수의 블럭으로 구성되어 있다. 여기서, 도 4의 검사용 화면 표시를 얻기 위해서 도 2의 회로에 도 3의 신호를 어떻게 입력하는가를 설명한다. 또한, 이 LC 셀(1)은 노멀리 화이트 모드(normally white mode)이다.

우선, 이 실시예에 있어서의 도 2와 도 4의 각 영역의 대응을 설명한다. 도 2의 영역(61)은 도 4의 영역(72)에 대응하고, 또한 영역(62)은 영역(71) 및 영역(73)에 대응한다. 마찬가지로 도 2의 영역(63)은 도 4의 영역(74) 및 영역(76)에 대응하고, 영역(64)은 영역(75)에 대응한다. 이들 영역에 따라 표시 화면에서의 블럭이 특정된다.

도 3의 신호 G(i) 및 신호 G(i+1)는 도 2의 단자(34, 33)에 각각 입력된다. 마찬가지로, 신호 G(j) 및 신호 G(j+1)는 단자(32, 31)에 각각 입력된다. 또한, 신호 S(k)는 단자(47, 49 및 51)에 입력되고, 마찬가지로 신호 S(k+1)는 단자(48, 50 및 52)에 입력된다. 단자(41, 43 및 45)에는 기간 T(1) 및 기간 T(3) 동안에 도 3의 신호 S(k)의 신호가 입력되고, 또한 기간 T(2) 및 기간 T(4) 동안에 각각 기간 T(1) 및 기간 T(3)에서와 동일한 전압 진폭을 갖는 신호 파형이 입력된다. 마찬가지로, 단자(42, 44 및 46)에는 기간 T(1) 및 기간 T(3) 동안에 도 3의 신호 S(k+1)의 신호가 입력되고, 또한 기간 T(2) 및 기간 T(4) 동안에 각각 기간 T(1) 및 긱간 T(3)에서와 동일한 전압 진폭을 갖는 신호 파형이 입력된다.

LC 셀의 표시 검사를 행할 때, 검사용 TFT(22)가 항상 온(ON)으로 되도록 단자(35, 53)에는 충분히 높은 전위가 연속하여 입력되어야 한다. 그렇게 하면, 표시 화면은 도 4와 같이 영역(72)과 영역(75)에 의해 특정되는 블럭에서는, 노멀리 화이트 모드의 LC 셀에 있어서는 검은 색 표시(black display)가 되고, 그 밖의 블럭에 있어서는 회색 표시(gray display)가 되는 윈도우 표시가 실현된다.

또, 다른 검사용 표시 화면의 예로서, 예컨대 청색(B)이 전체 화면 상에 표시될 수 있다. 도 2에 있어서, 좌측으로부터 R, G 및 B의 순서로 부 화소열이 정열되어 있다. 따라서, (3r)번째(r은 정수)의 데이터 신호선(12)에 밝은 표시(bright display)를 나타내는 구동 신호를 인가하고, 그 밖의 데이터 신호선(12)에 검은 표시(black display)를 나타내는 구동 신호를 인가함으로써, 청색(B)이 전체 화면 상에 표시될 수 있다. 구체적으로는, 단자(45, 46, 51 및 52)에는 도 3의 신호 S(k) 및 신호 S(k+1)의 기간 T(1) 및 기간 T(3)보다도 더욱 작은 진폭의 전압(진폭이 0이라도 좋음)을 인가하고, 단자(41 내지 44 및 47 내지 50)에는 신호 S(k) 및 신호 S(k+1)의 기간 T(2) 및 기각 T(4)에서와 동일한 진폭의 전압을 인가함으로써 실현될 수 있다. 마찬가지로, 적색(R) 또는 녹색(G)의 단색 표시도 달성될 수 있고, 모든 중간색이 인가 전압 진폭에 따라 R, G 및 B의 조합에 의해 표시될 수 있다.

LC 셀의 표시 화면 검사에서는 상기와 같은 방법을 취하면, 매우 적은 신호 입력 단자수로 검사에 필요한 표시 패턴을 표시할 수 있고, 저비용으로 안정된 검사를 실현할 수 있다.

상기한 화질 검사가 행하여진 후, 이 LC 셀에 드라이버 IC와 그것에 입력하는 제어 신호를 생성하는 구동 회로를 접속하고, 백 라이트와 기구 부품을 장착함으로써 액정 모듈이 완성된다. 검사용 TFT는 최종 제품의 구동시에는 사용 불가능하게 되도록 설계된다. 이것은 검사시에 다발지어진 입력을 안정적으로 분리하는것을 목적으로 한다.

이상과 같이, 이 실시예는 상기와 같은 구성의 검사용 회로를 갖기 때문에, 화질 검사에 필요한 신호를 다핀 프로브를 이용하는 일없이, LC 셀에 입력할 수 있어 LC 셀의 화질 검사를 효율적으로 행하는 것이 가능해진다.

또한, 이 실시예에서는 주사 신호선과 데이터 신호선 양쪽 모두에 검사용 회로를 형성하였지만, 그 한 쪽에만 검사용 회로를 설치하고, 다른 쪽에는 종래의 다핀 프로브를 검사 신호에 입력하는 것도 가능하다. 예컨대, 주사 신호선측의 검사용 회로 대신에 다핀 프로브를 접속할 수 있다.

또한, 표시 화면 종류나 구동 조건의 필요에 따라 입력 단자수를 증감시키는 것도 가능하다. 구체적으로는, 이 실시예에서는 데이터 신호선(12)에 접속된 접속 단자는 2 세트이지만, 이것을 더욱 증가시킴으로써 보다 미세한 블럭 표시를 보증할 수 있다. 또한, 이 실시예에서는 모든 검사용 TFT의 게이트 전극이 하나의 공통 게이트 배선에 접속되었지만, 이것을 결합된 공통 게이트 배선에 접속되는 복수의 그룹으로 나누는 것도 물론 가능하다.

반대로 입력 단자수가 감소될 수 있다. 화질 검사로서 전체 화면의 색 표시 검사만을 행하는 경우에는, 예컨대 주사 신호선측의 검사용 회로에는 하나의 공통 게이트 단자와 하나의 공통 소스 단자만이 제공된다. 데이터 신호선측의 검사용 회로에는 R, G 및 B 각각에 대응하는 3개의 공통 소스 단자와, 모든 검사용 TFT에 공통하는 하나의 게이트 단자만이 제공된다. 이 검사용 회로에 의해 인가 전압을 제어함으로써 적어도 모든 색의 전체 화면 표시가 나타날 수 있다.

또, 이 실시예에서는 표시 영역이 9개의 블럭으로 분할되었지만, 표시 영역은 각 영역에 포함되는 부 화소부를 적게 하고, 각 영역을 입력 단자의 이 실시예에서의 각 세트에 교대로 접속시킴으로써 더욱 많은 블럭으로 분할될 수 있다. 블럭수를 증가시킴으로써 보다 상세한 검사를 보증할 수 있다. 또한, 상기 실시예에서는, 검사용 TFT(22)의 소스 전극(23)이 복수 종류의 검사용 단자[단자(31 내지 34) 또는 단자(41 내지 52)] 중 하나에 접속되고, 게이트 전극은 공통의 검사용 단자[단자(35) 또는 단자(53)]에 접속되어 있다. 그러나, 이와 반대로, 구성은 검사용 TFT의 게이트 전극을 표시 패턴에 의해 결정되는 복수 종류의 검사용 단자 중 하나에 접속하고, 소스 전극을 하나의 공통하는 검사용 단자에 접속하는 방식으로 수정될 수 있다. 이와 달리, 검사용 TFT가 일부 신호 배선에만 접속될 수 있다.

또한, 본 발명의 검사용 회로는 LC 셀을 사용하는 표시 장치뿐만 아니라, 다른 액티브 소자를 사용하는 표시 장치나 컬러 필터를 사용하지 않은 액정 표시 장치에도 적용될 수 있다. 이러한 적용 가능한 표시 장치의 일례로서는 유기 고분자막에 인가하는 전압을 액티브 소자를 사용하여 조작함으로써, 그 발광을 제어하는 액티브 매트릭스-폴리머 발광 다이오드(AM-PLED), 또는 액티브 매트릭스-유기 발광 다이오드(AM-OLED)를 사용하는 자기 발광형 디스플레이이다.

이하에, 본 발명의 요지를 기술한다.

(1) 액티브 매트릭스 표시 장치에 있어서,

스위칭 소자를 갖는 각각의 부 화소부가 매트릭스형으로 배열된 어레이 기판과;

상기 어레이 기판과 대향하는 대향 기판을 포함하고,

상기 어레이 기판은,

상기 부 화소부로 신호를 전송하는 복수의 데이터 신호선 및 복수의 주사 신호선과;

상기 각 복수의 데이터 신호선에 접속된 검사용 트랜지스터와;

검사 신호를 입력하는 복수의 입력 단자를 구비하며,

상기 검사용 트랜지스터의 드레인 또는 소스는 상기 데이터 신호선에 접속되고,

복수의 상기 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 복수의 입력 단자 중 제1 입력 단자에 접속되며,

복수의 상기 검사용 트랜지스터의 소스 또는 드레인은 상기 복수의 입력 단자 중 제2 입력 단자에 접속되고,

상기 검사용 트랜지스터는 상기 부 화소부로의 검사 신호의 입력을 제어하는 액티브 매트릭스 표시 장치.

(2) 액티브 매트릭스 표시 장치에 있어서,

상기 어레이 기판과 대향하는 대향 기판을 포함하고,

상기 어레이 기판은,

상기 각 복수의 주사 신호선에 접속된 검사용 트랜지스터와;

검사 신호를 입력하는 복수의 입력 단자를 구비하며,

상기 검사용 트랜지스터의 드레인 또는 소스는 상기 주사 신호선에 접속되고,

(3) 상기 부 화소부의 스위칭 소자와 상기 검사용 트랜지스터는 비정질 실리콘에 의해 형성된 박막 트랜지스터인 것인 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(4) 상기 각 부 화소부는 단일색을 표시할 수 있고,

상기 제2 입력 단자에 접속된 상기 복수의 검사용 트랜지스터 모두는 동일 색의 부 화소부에 접속되어 있는 것인 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(5) 상기 각 부 화소부는 단일색을 표시할 수 있고,

상기 제1 입력 단자에 접속된 상기 복수의 검사용 트랜지스터 모두는 동일색을 표시하는 부 화소부에 접속되어 있는 것인 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(6) 상기 데이터 신호선 중 인접하는 데이터 신호선에 접속된 상기 검사용 트랜지스터의 소스 또는 드레인은 상기 복수의 입력 단자 중 상이한 입력 단자에 접속되는 것인 상기 (1) 또는 (4)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(7) 상기 주사 신호선 중 인접하는 주사 신호선에 접속된 상기 검사용 트랜지스터의 소스 또는 드레인은 상기 복수의 입력 단자 중 상이한 입력 단자에 접속되는 것인 상기 (2) 또는 (4)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(8) 상기 어레이 기판 상의 상기 데이터 신호선에 접속된 모든 상기 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 제1 입력 단자에 접속되어 있는 것인 상기 (1)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(9) 상기 어레이 기판 상의 상기 주사 신호선에 접속된 모든 상기 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 제1 입력 단자에 접속되어 있는 것인 상기 (2)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(10) 상기 각 부 화소부는 단일색을 표시할 수 있고,

상기 제2 입력 단자에 접속된 모든 상기 복수의 검사용 트랜지스터는 동일 색을 표시하는 부 화소부에 접속되고,

상기 어레이 기판 상의 상기 데이터 신호선에 접속된 모든 상기 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 제1 입력 단자에 접속되며,

상기 데이터 신호선 중 인접하는 데이터 신호선에 접속된 상기 검사용 트랜지스터의 소스 또는 드레인은 상기 복수의 입력 단자 중 상이한 입력 단자에 접속되는 것인 상기 (1)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(11) 상기 어레이 기판은 상기 각 복수의 주사 신호선에 접속된 주사선 검사용 트랜지스터와, 상기 주사선에 검사 신호를 입력하기 위한 복수의 주사선 입력 단자를 더 포함하고,

상기 주사선 검사용 트랜지스터의 드레인 또는 소스는 상기 주사 신호선에 접속되며,

복수의 상기 주사선 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 복수의 주사선 입력 단자 중 제1 주사선 입력 단자에 접속되고,

복수의 상기 주사선 검사용 트랜지스터의 소스 또는 드레인은 상기 복수의 주사선 입력 단자 중 제2 주사선 입력 단자에 접속되며,

상기 주사선 검사용 트랜지스터는 상기 부 화소부로의 검사 신호의 입력을 제어하는 것인 상기 (1)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(12) 상기 주사 신호선 중 인접하는 주사 신호선에 접속된 상기 주사선 검사용 트랜지스터의 소스 또는 드레인은 상기 복수의 주사선 입력 단자 중 상이한 주사선 입력 단자에 접속되는 것인 상기 (10)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(13) 상기 액티브 매트릭스 표시 장치는,

상기 복수의 데이터 신호선 및 상기 복수의 주사 신호선에 접속된 구동 회로를 더 포함하고,

상기 구동 회로가 화면 표시 신호의 입력을 제어할 때, 모든 상기 검사용 트랜지스터는 오프 상태로 유지되어 있는 것인 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치.

(14) 스위칭 소자를 갖는 부 화소부가 매트릭스형으로 배열된 어레이 기판과, 상기 어레이 기판과 대향하는 대향 기판을 갖는 액티브 매트릭스 표시 장치의 화질 검사 방법에 있어서,

제1 입력 단자로부터 검사 신호를 입력하는 제1 단계와;

제2 입력 단자로부터 검사 신호를 입력하는 제2 단계와;

상기 제1 입력 단자로부터 입력된 상기 검사 신호를 상기 제1 입력 단자에 접속된 복수의 제1 검사용 트랜지스터의 소스 전극으로 전송하는 제3 단계와;

상기 제2 입력 단자로부터 입력된 상기 검사 신호를 상기 제2 입력 단자에 접속된 상기 복수의 제1 검사용 트랜지스터의 게이트 전극으로 전송하는 제4 단계와;

상기 검사 신호를 상기 복수의 검사용 트랜지스터로부터 상기 복수의 검사용 트랜지스터 각각에 접속된 데이터 신호선을 통하여 상기 부 화소부로 전송하는 제5 단계를 포함하고,

상기 복수의 검사용 트랜지스터에 의해 상기 검사 신호의 부 화소부로의 입력을 제어함으로써 원하는 표시 화면을 표시하는 액티브 매트릭스 표시 장치의 화질 검사 방법.

(15) 스위칭 소자를 갖는 부 화소부가 매트릭스형으로 배열된 어레이 기판과, 상기 어레이 기판과 대향하는 대향 기판을 갖는 액티브 매트릭스 표시 장치의화질 검사 방법에 있어서,

입력 단자로부터 검사 신호를 입력하는 제1 단계와;

상기 입력된 검사 신호를 상기 입력 단자에 접속된 복수의 검사용 트랜지스터로 전송하는 제2 단계와;

상기 검사 신호를 상기 복수의 검사용 트랜지스터로부터 상기 복수의 검사용 트랜지스터 각각에 접속된 주사 신호선을 통하여 상기 부 화소부로 전송하는 제3 단계를 포함하고,

(16) 상기 제5 단계는 상기 검사용 신호를 동일색으로 표시하는 상기 부 화소부로 전송하는 것인 상기 (14)에 기재된 액티브 매트릭스 표시 장치의 화질 검사 방법.

본 발명에 따르면, 화질 검사를 효율적으로 행할 수 있는 표시 장치 및 그 표시 장치의 검사 방법을 제공할 수 있다.

본 발명에 따르면, 많은 화질 검사에 대응할 수 있는 검사용 회로를 구비한 표시 장치 및 그 표시 장치의 검사 방법을 제공할 수 있다.

본 발명에 따르면, 표시 장치를 확실하게 검사하는 것을 가능하게 하는 표시 장치 및 그 표시 장치의 검사 방법을 제공할 수 있다.

본 발명에 따르면, 대형·고선명화된 표시 장치의 검사를 안정적으로 행할 수 있는 장치 및 그 장치의 검사 방법을 제공할 수 있다.

본 발명에 따르면, 드라이버 IC가 접속되기 이전에 표시 장치의 화질 검사를 효율적으로 행할 수 있는 표시 장치 및 그 표시 장치의 검사 방법을 제공할 수 있다.

본 발명의 바람직한 실시예가 상세한 설명에 상세히 기술되었지만, 다양한 변경, 치환 및 교체가 첨부된 특허 청구 범위에 의해 정의된 바와 같이 본 발명의 정신 및 범주로부터 벗어나는 일없이 상세한 설명내에서 이루어질 수 있다는 것을 이해해야 한다.

Claims

스위칭 소자를 갖는 부 화소부가 매트릭스형으로 배열된 표시 영역을 갖는 액티브 매트릭스 표시 장치에 있어서,

상기 부 화소부로 신호를 전송하는 복수의 데이터 신호선 및 복수의 주사 신호선과;

상기 복수의 데이터 신호선 중 하나에 각각 접속된 검사용 트랜지스터와;

복수의 상기 검사용 트랜지스터 중 하나에 각각 접속된 복수의 입력 단자를 포함하고,

각각의 상기 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 입력 단자 중 하나에 접속되며,

상기 검사용 트랜지스터는 상기 부 화소부로의 검사 신호의 입력을 제어하고,

상기 표시 영역은 복수의 블럭으로 구성되며,

상기 복수의 블럭 중 제1 블럭에 포함된 상기 데이터 신호선은 상기 검사용 트랜지스터의 소스/드레인을 통하여 상기 입력 단자의 제1 세트에 접속되고,

상기 복수의 블럭 중 제2 블럭에 포함된 상기 데이터 신호선은 상기 검사용 트랜지스터의 상기 소스/드레인을 통하여 상기 입력 단자의 상기 제1 세트와는 상이한 상기 입력 단자의 제2 세트에 접속되는 액티브 매트릭스 표시 장치.
스위칭 소자를 갖는 부 화소부가 매트릭스형으로 배열된 표시 영역을 갖는 액티브 매트릭스 표시 장치에 있어서,

상기 부 화소부로 신호를 전송하는 복수의 데이터 신호선 및 복수의 주사 신호선과;

상기 복수의 주사 신호선 중 하나에 각각 접속된 검사용 트랜지스터와;

복수의 상기 검사용 트랜지스터 각각에 접속된 복수의 입력 단자를 포함하고,

각각의 상기 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 입력 단자 중 하나에 접속되며,

상기 검사용 트랜지스터는 상기 부 화소부로의 검사 신호의 입력을 제어하고,

상기 표시 영역은 복수의 블럭으로 구성되며,

상기 복수의 블럭 중 제1 블럭에 포함된 상기 주사 신호선은 상기 검사용 트랜지스터의 소스/드레인을 통하여 상기 입력 단자의 제1 세트에 접속되고,

상기 복수의 블럭 중 제2 블럭에 포함된 상기 주사 신호선은 상기 검사용 트랜지스터의 상기 소스/드레인을 통하여 상기 입력 단자의 상기 제1 세트와는 상이한 상기 입력 단자의 제2 세트에 접속되는 액티브 매트릭스 표시 장치.
제1항에 있어서, 상기 주사 신호선 중 하나에 각각 접속된 검사용 트랜지스터와; 상기 입력 단자의 제3 세트와, 상기 입력 단자의 제3 세트와는 상이한 상기입력 단자의 제4 세트를 더 포함하고, 상기 복수의 블럭 중 상기 제1 블럭에 포함된 상기 주사 신호선은 상기 검사용 트랜지스터의 상기 소스/드레인을 통하여 상기 입력 단자의 제3 세트에 접속되고, 상기 복수의 블럭 중 상기 제2 블럭에 포함된 상기 주사 신호선은 상기 검사용 트랜지스터의 상기 소스/드레인을 통하여 상기 입력 단자의 제4 세트에 접속되는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제1 블럭 및 상기 제2 블럭은 서로 인접하게 배열되어 있는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치.
제1항에 있어서, 상기 주사 신호선이 연장되는 방향으로 서로 인접하는 상기 블럭들은 상기 입력 단자 중 상이한 세트에 접속되는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치.
제2항에 있어서, 상기 데이터 신호선이 연장되는 방향으로 서로 인접하는 상기 블럭들은 입력 단자 중 상이한 세트에 접속되는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치.
제1, 2, 3, 5 및 6 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 입력 단자 중 동일한 세트에 접속되는 상기 부 화소부 중 동일색을 표시하는 상기 부 화소부는 동일 입력 단자에 접속되는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치.
스위칭 소자를 갖는 부 화소부가 매트릭스형으로 배열된 표시 영역을 갖는 액티브 매트릭스 표시 장치에 있어서,

상기 부 화소부로 신호를 전송하는 복수의 데이터 신호선 및 복수의 주사 신호선과;

상기 복수의 데이터 신호선 중 하나에 각각 접속된 검사용 트랜지스터와;

복수의 상기 검사용 트랜지스터 중 하나에 각각 접속된 복수의 입력 단자를 포함하고,

각각의 상기 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 복수의 입력 단자 중 하나에 접속되며,

각 복수의 상기 검사용 트랜지스터의 소스/드레인은 상기 데이터 신호선 중 하나 및 상기 입력 단자 중 하나에 접속되고,

상기 검사용 트랜지스터는 상기 부 화소부로의 검사 신호의 입력을 제어하며,

n번째 데이터 신호선 및 n+3번째 데이터 신호선은 상기 검사용 트랜지스터를 통하여 상이한 입력 단자에 접속되는 액티브 매트릭스 표시 장치.
스위칭 소자를 갖는 부 화소부가 매트릭스형으로 배열된 표시 영역을 갖는 액티브 매트릭스 표시 장치에 있어서,

상기 부 화소부로 신호를 전송하는 복수의 데이터 신호선 및 복수의 주사 신호선과;

상기 복수의 데이터 신호선 중 하나에 각각 접속된 검사용 트랜지스터와;

복수의 상기 검사용 트랜지스터 각각에 접속된 복수의 입력 단자를 포함하고,

각각의 상기 검사용 트랜지스터의 게이트는 상기 복수의 입력 단자 중 하나에 접속되며,

각 복수의 상기 검사용 트랜지스터의 소스/드레인은 상기 데이터 신호선 중 하나 및 상기 입력 단자 중 하나에 접속되고,

상기 검사용 트랜지스터는 상기 부 화소부로의 검사 신호의 입력을 제어하며,

각각의 상기 부 화소부열은 단일색을 표시하고,

동일색을 표시하며 서로 인접하는 상기 부 화소부열의 상기 데이터 신호선은 상기 검사용 트랜지스터를 통하여 상이한 입력 단자에 접속되는 액티브 매트릭스 표시 장치.
제1항에 있어서, 어레이 기판 상에 상기 데이터 신호선과 접속된 상기 검사용 트랜지스터의 모든 상기 게이트는 상기 제1 입력 단자에 접속되는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치.
제2항에 있어서, 어레이 기판 상에 상기 주사 신호선과 접속된 상기 검사용트랜지스터의 모든 상기 게이트는 상기 제1 입력 단자에 접속되는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치.
제1항 및 제2항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 복수의 데이터 신호선 및 상기 복수의 주사 신호선에 접속된 구동 회로를 포함하고, 상기 구동 회로가 화면 표시 신호의 입력을 제어할 때 모든 상기 검사용 트랜지스터는 오프 상태를 유지하는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치.
부 화소부가 매트릭스형으로 배열된 표시 영역을 갖는 액티브 매트릭스 표시 장치의 화질 검사 방법에 있어서,

입력 단자의 제1 세트로 검사 신호를 입력하는 단계와;

입력 단자의 제2 세트로 검사 신호를 입력하는 단계와;

상기 입력된 검사 신호를 상기 입력 단자의 상기 제1 세트의 상기 입력 단자에 접속된 복수의 검사용 트랜지스터로 전송하는 단계와;

상기 입력된 검사 신호를 상기 입력 단자의 상기 제2 세트의 상기 입력 단자에 접속된 상기 복수의 검사용 트랜지스터로 전송하는 단계와;

상기 표시 영역에서 제1 블럭으로의 상기 검사 신호의 입력은 상기 입력 단자의 상기 제1 세트에 접속된 상기 검사용 트랜지스터에 의해 제어되고,

상기 표시 영역에서 제2 블럭으로의 상기 검사 신호의 입력은 상기 입력 단자의 상기 제2 세트에 접속된 상기 검사용 트랜지스터에 의해 제어되는 액티브 매트릭스 표시 장치의 화질 검사 방법.
제13항에 있어서, 상기 제1 블럭 및 제2 블럭은 각각 3개의 부 화소부열로 구성되고 서로 인접하게 배열되는 것인 액티브 매트릭스 표시 장치의 화질 검사 방법.