JP3247799B2 - 液晶表示パネルおよびその検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、検査信号専用の入力端
子を備え、容易に表示検査を行うことができる液晶表示
パネルおよびその検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】図７に示すように、一般的なＴＦＴ（Th
in Film Transistor；薄膜トランジスタ）型液晶表示パ
ネル１は、一対の基板部材２ａ，２ｂと、一対の基板部
材２ａ，２ｂを所定の間隔をあけてその周縁部近傍で貼
合わせる封止部材３と、一対の基板部材２ａ，２ｂと封
止部材３とで囲まれた空間内に液晶材料を注入して形成
された液晶層４とを含んで構成されている。

【０００３】一方基板部材２ａは、ガラス、プラスチッ
クなどからなる透光性基板５ａと、透光性基板５ａの一
方表面上に形成される所定の信号線パターン６と、信号
線パターン６を覆うパッシベーション膜７と、パッシベ
ーション膜７を覆う配向膜８ａとを含む。他方基板部材
２ｂは、透光性基板５ｂと、透光性基板５ｂの一方表面
上に形成される共通電極である対向電極９と、対向電極
９を覆う配向膜８ｂとを含む。

【０００４】一方基板部材２ａと他方基板部材２ｂは、
それぞれの配向膜８ａ，８ｂが液晶層４を挟んで対向す
るように配置されている。

【０００５】図８は、液晶表示パネル１の概略的な電気
的構成を示す平面図である。液晶表示パネル１は、ゲー
ト信号線ｇ１，ｇ２，ｇ３，…，ｇｎ（総称するときは
参照符ｇを用いる）と、ソース信号線ｓ１，ｓ２，ｓ
３，…，ｓｍ（総称するときは参照符ｓを用いる）と、
複数のトランジスタ１１と、複数の絵素１２と、複数の
コンデンサ部分１３と、端子Ａ１，Ａ２，…，Ａｎ；Ｂ
１，Ｂ２，…，Ｂｍ；Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３（総称するとき
はそれぞれ端子Ａ，Ｂ，Ｃとする）とが設けられてい
る。さらに、静電気対策として短絡線１４ａ，１４ｂ，
１４ｃが形成されている。

【０００６】ゲート信号線ｇは、水平走査信号を供給
し、一定の間隔で平行に配線されている。ソース信号線
ｓは、前記水平走査信号に同期してデータ信号を供給
し、ゲート信号線ｇと直交して一定の間隔で平行に配線
されている。ゲート信号線ｇとソース信号線ｓとは互い
に絶縁されており、直交している部分でも直接は接触し
ていない。

【０００７】トランジスタ１１は、ゲート信号線ｇとソ
ース信号線ｓとが交差している付近に配置され、各トラ
ンジスタ１１のゲートはゲート信号線ｇに、ソースはソ
ース信号線ｓに、ドレインは絵素１２にそれぞれ接続さ
れている。コンデンサ部分１３は、トランジスタ１１の
ドレインと、当該トランジスタ１１が接続されているゲ
ート信号線に隣接するゲート信号線との間に形成され、
一定の容量を持ち、絵素１２へ供給される電圧を安定化
させる働きを持つ。

【０００８】絵素１２は、等価的にコンデンサとして示
されている。トランジスタのドレインに接続されている
一方電極が、絵素電極であり、他方電極が対向電極９
（図７参照）である。実際には、絵素電極は行列状に複
数個配列され、液晶層４を介在して１つの対向電極９が
配置される。

【０００９】端子Ａはゲート信号線ｇの長手方向の一方
側端部に接続され、端子Ｂはソース信号線ｓの長手方向
の一方側端部に接続されている。端子Ｃはコモン端子と
称され、前記対向電極９に接続され、所定の基準電圧
（一般的には、グランド電位である０Ｖ）が印加され
る。なお、図８においては、端子Ｃをグランド電位に接
続することによって、対向電極９に接続されていること
を示す。

【００１０】短絡線１４ａは、透光性基板５ａ上で端子
Ａよりも基板端部側でゲート信号線ｇを一本置きに接続
し、短絡線１４ｂはゲート信号線ｇの他方端部側で短絡
線１４ａに接続されていないゲート信号線ｇを接続し、
短絡線１４ｃは端子Ｂよりも基板端部側で全てのソース
信号線ｓを接続する。短絡線１４ａ，１４ｂ，１４ｃ
は、液晶表示パネル１が備えるトランジスタ１１が静電
気によって破壊されるのを防いでいる。

【００１１】上述のように構成された液晶表示パネル１
において、トランジスタ１１の動作不良などが原因で発
生する表示欠陥を発見し、修正するために液晶表示パネ
ル１を実際に駆動させて検査を行う必要がある。

【００１２】検査の手順としては、先ず、短絡線１４ｃ
を用いて全てのソース信号線ｓに同一の表示信号を一括
して与え、また端子Ｃから対向電極９に基準信号を供給
しておく。次に、短絡線１４ａ，１４ｂに互いに異なる
タイミングで走査信号を与えることで、奇数番目の絵素
電極行と偶数番目の絵素電極行を一括して駆動し、目視
によって検査を行う。

【００１３】図９は、液晶表示パネル１の検査時に与え
る信号のタイミングを示すタイミングチャートである。
図９（１）に示される信号ｖ１は短絡線１４ａに与えら
れる検査用の走査信号であり、図９（２）に示される信
号ｖ２は短絡線１４ｂに与えられる検査用の走査信号で
ある。図９（３）に示される信号ｖ３は、短絡線１４ｃ
に与えられる検査用の表示信号である。図９（４）に示
される信号ｖ４は、端子Ｃから対向電極９に与えられる
基準信号である。

【００１４】なお、信号ｖ４は、対向電極９の基準電位
である０Ｖから電圧ΔＶだけ下げて設定してある。これ
は、トランジスタ１１の特性に起因して導通状態から遮
断状態になる瞬間にドレイン電圧が下がり、絵素電極の
電位をΔＶだけ下げるからである。したがって信号ｖ４
を予めΔＶだけ下げて設定すれば、液晶に印加される電
圧値を正負対称にすることができる。

【００１５】時刻ｔ０〜ｔ１で信号ｖ１がオン電圧にな
り、短絡線１４ａに接続されている奇数番目のゲート信
号線に接続されたトランジスタ１１が導通状態となり、
絵素１２にそれぞれ正極性の映像信号が書込まれる。絵
素１２は、書込まれた映像信号の電圧を次に信号ｖ１が
オン電圧になる時刻ｔ５まで保持する。時刻ｔ２〜ｔ３
では、信号ｖ２がオン電圧になり、短絡線１４ｂに接続
されている偶数番目のゲート信号線に接続されているト
ランジスタ１１が導通状態となり、絵素１２にそれぞれ
正極性の映像信号が書込まれる。

【００１６】時刻ｔ４で信号ｖ３の極性が反転する。時
刻ｔ０〜ｔ４と同じように、各絵素１２に映像信号が書
込まれ、書込まれた映像信号を保持する。時刻ｔ５〜ｔ
６で信号ｖ１がオン電圧となり、奇数番目のゲート信号
線に接続されたトランジスタ１１が導通状態となり、絵
素１２にそれぞれ負極性の映像信号が書込まれる。時刻
ｔ７〜ｔ８では、信号ｖ２がオン電圧となり、偶数番目
のゲート信号線に接続されたトランジスタ１１が導通状
態となり、絵素１２にそれぞれ負極性の映像信号が書込
まれる。信号ｖ３は、一定周期（フレーム周期）ごとに
極性を反転し、その度に信号ｖ１とｖ２は異なるタイミ
ングでオン電圧になり、絵素１２に書込みが行われる。
以後、信号ｖ３の極性が反転するごとに同様の動作が繰
返される。このようにして、液晶表示パネル１の全絵素
１２が駆動され、目視による検査が行われる。

【００１７】検査の結果、不良が発見されたときには液
晶表示パネル１の底面側（透光性基板５ａ側）からレー
ザ光を照射し、短絡箇所の切断や断線箇所の接続などの
修正を行う。修正終了後および異常がなかったときに
は、駆動回路が実装された基板等を接続するために、短
絡線１４は削り取られる。

【００１８】端子Ａには、短絡線１４ａが削り取られた
後、ゲート信号線を駆動するＩＣ（Integrated Circui
t）が接続され、端子Ｂには短絡線１４ｃが削り取られ
た後、ソース信号線を駆動するＩＣが接続される。

【００１９】短絡線を削り取った後、液晶表示パネル１
を駆動させて検査を行うには、ゲート端子およびソース
端子１本ごとにコネクタピンを接続して行う方法と、ゲ
ート端子およびソース端子にそれぞれ接続される複数の
信号入力端子を有する検査用フレキシブル基板を用いて
行う方法とがある。

【００２０】図１０において、液晶表示パネル２１は、
液晶表示パネル１から短絡線１４ａ，１４ｂ，１４ｃを
削り取ったものであり、図８と同一の構成要素には同一
の参照符を付す。

【００２１】ゲート信号線用フレキシブル基板２２は、
信号入力用端子２４ａ，２４ｂ，２５と、接続用端子Ｄ
１，Ｄ２，…，Ｄｎ（総称するときは参照符Ｄを用い
る）と、接続用端子Ｅ１とを備える。接続用端子Ｄは、
液晶表示パネル２１に配列されている端子Ａと同じ間隔
で配列されており、パネル２１に基板２２を貼付けたと
きに端子Ａと電気的に接続される。信号入力用端子２４
ａは、フレキシブル基板２２上の配線によって接続用端
子Ｄのうち奇数番目の端子Ｄ１，Ｄ３，Ｄ５，…に共通
に接続されており、信号入力用端子２４ｂは、フレキシ
ブル基板２２上の配線によって接続用端子Ｄのうち残っ
た偶数番目の端子Ｄ２，Ｄ４，Ｄ６，…に共通に接続さ
れる。

【００２２】接続用端子Ｅ１は、端子Ｄ１に対して、液
晶表示パネル２１に配置された端子Ａ１と端子Ｃ１の間
隔と同じ間隔をあけて配置されており、端子Ｄと端子Ａ
とが電気的に接続されたときには、端子Ｃ１と電気的に
接続される。信号入力用端子２５は、フレキシブル基板
２２上の配線によって接続用端子Ｅ１に接続されてい
る。

【００２３】ソース信号線用フレキシブル基板２３は、
信号入力用端子２６，２７と、接続用端子Ｆ１，Ｆ２，
…，Ｆｍ（総称するときは参照符Ｆを用いる）と、接続
用端子Ｅ２，Ｅ３とを備える。接続用端子Ｆは、液晶表
示パネル２１に設けられている端子Ｂと同じ間隔で配列
されており、液晶表示パネル２１にフレキシブル基板２
３を貼付けたときに、端子Ｂと電気的に接続される。信
号入力用端子２６は、フレキシブル基板２３上の配線に
よって接続用端子Ｆとそれぞれ接続されている。

【００２４】接続用端子Ｅ２は、端子Ｆ１に対して、液
晶表示パネル２１に配置された端子Ｂ１と端子Ｃ２の間
隔と同じ間隔をあけて配置されており、同様に接続用端
子Ｅ３は、端子Ｆｍに対して端子Ｂｍと端子Ｃ３の間隔
と同じ間隔をあけて配置されている。そのため、端子Ｆ
と端子Ｂを電気的に接続したときには、端子Ｅ２は端子
Ｃ２と、端子Ｅ３は端子Ｃ３とそれぞれ電気的に接続す
る。

【００２５】ゲート信号線用フレキシブル基板２２の端
子Ｄと端子Ｅ１を、液晶表示パネル２１の端子Ａと端子
Ｃ１へ、それぞれの端子がずれないように貼合わせて電
気的に接続させる。また、ソース信号線用フレキシブル
基板２３の端子Ｆと端子Ｅ２，Ｅ３を、液晶表示パネル
２１の端子Ｂと端子Ｃ２，Ｃ３へ、それぞれの端子がず
れないように貼合わせて電気的に接続させる。

【００２６】各フレキシブル基板２２，２３を液晶表示
パネル２１に電気的に接続したので、信号入力用端子２
４ａ，２４ｂから入力された信号は、端子Ｄを経て端子
Ａからゲート信号線ｇへ与えられ、信号入力用端子２６
から入力された信号は、端子Ｆを経て端子Ｂからソース
信号線ｓに与えられる。信号入力用端子２５，２７から
入力された信号は、端子Ｅを経て端子Ｃから対向電極９
に与えられる。

【００２７】図９（１）に示される信号ｖ１を入力端子
２４ａへ、図９（２）に示される信号ｖ２を入力端子２
４ｂへそれぞれ入力する。この２つの信号は、検査用の
走査信号である。また、図９（３）に示される信号ｖ３
は入力端子２６から入力される検査用の表示信号であ
り、図９（４）に示される信号ｖ４は入力端子２５，２
７から入力される基準信号である。信号ｖ１〜ｖ４を入
力することにより、液晶表示パネル２１を駆動させるこ
とができる。

【００２８】各フレキシブル基板２２，２３を用いるこ
とで、短絡線を削り取った後でも液晶表示パネル２１を
駆動させて目視による検査が行えるが、各端子同士を電
気的に接続させるには精密な位置合わせが必要となる。

【００２９】

【発明が解決しようとする課題】上述のように、一度短
絡線を削り取ってしまうと、検査や修正を簡単に行うこ
とができなくなる。なぜなら、パネルを駆動させて検査
を行うためには、信号を入力するためにゲート端子やソ
ース端子１本ごとにコネクタピンを接続しなければなら
なかったり、信号を一括して供給できる検査用基板を用
いる場合でも、検査用基板を液晶表示パネルに正確に貼
合わせなければ端子同士が電気的に接続せず、信号が供
給できないからである。

【００３０】また、欠陥を発見し、修正を行うには、パ
ネル裏面からレーザ光を照射できる装置が必要となる
が、欠陥の位置を確認しながら修正を行うには両方の機
能を持った大掛かりな装置が必要となる。

【００３１】本発明の目的は、外部から容易に検査用信
号を入力することができ、検査の際の手間を省くことが
できる液晶表示パネルおよびその検査方法を提供するこ
とである。

【００３２】

【００３３】

【００３４】

【課題を解決するための手段】本発明は、行列状に配列
される複数の絵素電極と、前記複数の絵素電極との間に
液晶層を介在させて配置される１つの共通電極と、各絵
素電極に個別に接続される複数のスイッチング素子と、
絵素電極の各列ごとに設けられ、前記スイッチング素子
を介して絵素電極に与えられる表示信号が供給される複
数のデータ信号線と、絵素電極の各行ごとに設けられ、
前記スイッチング素子を導通・遮断する走査信号が供給
される複数の走査信号線と、前記複数のデータ信号線に
個別に接続され、前記表示信号が入力される複数の表示
信号入力端子と、前記複数の走査信号線に個別に接続さ
れ、前記走査信号が入力される複数の走査信号入力端子
と、前記複数のデータ信号線に個別に接続される第１の
トランジスタ群と、奇数番目の絵素電極行に対応する走
査信号線に個別に接続される第２のトランジスタ群と、
偶数番目の絵素電極行に対応する走査信号線に個別に接
続される第３のトランジスタ群と、第１、第２および第
３トランジスタ群に共通に接続され、トランジスタを導
通・遮断する制御信号が入力される第１の検査用入力端
子と、前記第１のトランジスタ群に接続され、検査用の
表示信号が入力される第２の検査用入力端子と、前記第
２のトランジスタ群に接続され、検査用の走査信号が入
力される第３の検査用入力端子と、前記第３のトランジ
スタ群に接続され、検査用の走査信号が入力される第４
の検査用入力端子と、前記共通電極に接続され、基準信
号が入力される第５の検査用入力端子とを含み、前記第
１のトランジスタ群は前記表示信号入力端子側に配置さ
れるとともに、前記第２および第３トランジスタ群は前
記走査信号入力端子側に配置され、前記第１〜第５の検
査用入力端子は、前記表示信号入力端子と同一側であっ
て、かつ前記走査信号入力端子と同一側に配置されると
ともに、前記表示信号入力端子および前記走査信号入力
端子よりも大きく形成されることを特徴とする液晶表示
パネルである。

【００３５】また本発明は、行列状に配列される複数の
絵素電極と、前記複数の絵素電極との間に液晶層を介在
させて配置される１つの共通電極と、各絵素電極に個別
に接続される複数のスイッチング素子と、絵素電極の各
列ごとに設けられ、前記スイッチング素子を介して絵素
電極に与えられる表示信号が供給される複数のデータ信
号線と、絵素電極の各行ごとに設けられ、前記スイッチ
ング素子を導通・遮断する走査信号が供給される複数の
走査信号線と、前記複数のデータ信号線に個別に接続さ
れ、前記表示信号が入力される複数の表示信号入力端子
と、前記複数の走査信号線に個別に接続され、前記走査
信号が入力される複数の走査信号入力端子と、前記複数
のデータ信号線に個別に接続される第１のトランジスタ
群と、奇数番目の絵素電極行に対応する走査信号線に個
別に接続される第２のトランジスタ群と、偶数番目の絵
素電極行に対応する走査信号線に個別に接続される第３
のトランジスタ群と、第１、第２および第３トランジス
タ群に共通に接続され、トランジスタ群を導通・遮断す
る制御信号が入力される第１の検査用入力端子と、前記
第１のトランジスタ群に接続され、検査用の表示信号が
入力される第２の検査用入力端子と、前記第２のトラン
ジスタ群に接続され、検査用の走査信号が入力される第
３の検査用入力端子と、前記第３のトランジスタ群に接
続され、検査用の走査信号が入力される第４の検査用入
力端子と、前記共通電極に接続され、基準信号が入力さ
れる第５の検査用入力端子とを含み、前記第１のトラン
ジスタ群は前記表示信号入力端子側に配置されるととも
に、前記第２および第３トランジスタ群は前記走査信号
入力端子側に配置され、前記第１〜第５の検査用入力端
子は、前記表示信号入力端子と同一側であって、かつ前
記走査信号入力端子と同一側に配置されるとともに、前
記表示信号入力端子および前記走査信号入力端子よりも
大きく形成される液晶表示パネルを準備し、第１の検査
用入力端子にトランジスタ群を導通させる制御信号を供
給し、第２の検査用入力端子に表示信号を供給するとと
もに、第５の検査用入力端子に基準信号を供給し、第３
および第４の検査用入力端子に異なるタイミングで走査
信号を供給して、液晶表示パネルを駆動させることを特
徴とする液晶表示パネルの検査方法である。

【００３６】

【００３７】

【００３８】

【００３９】

【００４０】

【作用】本発明に従えば、液晶表示パネルには液晶層を
挟んで複数の絵素電極と１つの共通電極とが配置されて
いる。各絵素電極には、スイッチング素子と、スイッチ
ング素子を介して絵素電極に与えられる表示信号が供給
され、絵素電極の各列ごとに設けられている複数のデー
タ信号線と、スイッチング素子を導通・遮断する走査信
号が供給され、絵素電極の各行ごとに設けられている複
数の走査信号線とが接続されている。複数のデータ信号
線には、前記表示信号が入力される複数の表示信号入力
端子が個別に接続され、複数の走査信号線には、前記走
査信号が入力される複数の走査信号入力端子が個別に接
続される。さらに、前記液晶表示パネルには、３つのト
ランジスタ群と５つの検査用入力端子とが含まれてい
る。

【００４１】前記３つのトランジスタ群として、各デー
タ信号線に個別に接続される第１のトランジスタ群と、
奇数番目の絵素電極行に対応する走査信号線に個別に接
続される第２のトランジスタ群と、偶数番目の絵素電極
行に対応する走査信号線に個別に接続される第３のトラ
ンジスタ群とが形成されている。第１のトランジスタ群
は前記表示信号入力端子側に配置され、第２および第３
のトランジスタ群は前記走査信号入力端子側に配置され
ている。

【００４２】前記５つの検査用入力端子として、第１、
第２および第３トランジスタ群に共通に接続され、トラ
ンジスタを導通・遮断する制御信号が入力される第１の
検査用入力端子と、前記第１のトランジスタ群に接続さ
れ検査用の表示信号が入力される第２の検査用入力端子
と、前記第２のトランジスタ群に接続され検査用の走査
信号が入力される第３の検査用入力端子と、前記第３の
トランジスタ群に接続され検査用の走査信号が入力され
る第４の検査用入力端子と、共通電極に接続され基準信
号が入力される第５の検査用入力端子とが形成されてい
る。第１〜第５の検査用入力端子は、前記表示信号入力
端子と同一側であって、かつ前記走査信号入力端子と同
一側に形成されるとともに、前記表示信号入力端子およ
び前記走査信号入力端子よりも大きく形成されている。

【００４３】したがって、絵素電極やスイッチング素子
に不良がないか検査するとき、検査信号を入力するため
の検査用入力端子が設けられているため信号の入力が容
易である。また、トランジスタ群を介して検査用入力端
子が形成されているため、検査用入力端子から不所望な
信号が誤って入力されることがなく、液晶表示パネルの
誤動作を防止できる。さらに、第１の検査用入力端子に
入力される１つの制御信号で３つのトランジスタ群すべ
てを制御するので、消費電力の低減が可能である。ま
た、第１〜第５の検査用入力端子は、前記表示信号入力
端子および前記走査信号入力端子よりも大きく形成され
ているので、検査信号を入力するための端子を接続する
際の精密な位置合わせが不要となり、作業が簡単にな
る。さらに、第１〜第３のトランジスタ群はそれぞれ前
記表示信号入力端子側および走査信号入力端子側に配置
され、第１〜第５の入力端子は表示信号入力端子および
走査信号入力端子と同一側に配置されるので、反対側に
配置される場合に比べてトランジスタ群および検査用入
力端子を形成する基板の省スペース化を図ることができ
る。これによって、液晶表示パネルの小型化および軽量
化が可能となる。さらに、第１〜第５の検査用入力端子
と第１〜第３のトランジスタ群とが近接して配置されて
いるので、検査用入力端子とトランジスタ群とを接続す
る配線を短くできるため、検査信号の遅延などを防止で
き、適正な検査を行うことができる。

【００４４】また本発明に従えば、第１の検査用入力端
子にトランジスタ群を導通する制御信号を入力すること
で第１、第２および第３トランジスタ群のトランジスタ
が導通する。第５の検査用入力端子に基準信号を入力し
て、共通電極を基準電位にする。第２の検査用入力端子
に表示信号として所定の映像信号を入力すると、表示信
号がデータ信号線に供給される。第３および第４の検査
用入力端子に走査信号を互いに異なるタイミングで入力
すると、走査信号が走査信号線に供給され、各絵素電極
に接続されているスイッチング素子が導通状態になる。
これによって、データ信号線から表示信号が絵素電極へ
印加され、絵素電極と共通電極との間に所定の電位差が
生じ、液晶層の液晶が駆動される。

【００４５】したがって、表示信号入力端子および走査
信号入力端子の１本ずつに検査信号入力用の端子を接続
しなくても、検査用入力端子に検査信号を入力すること
で液晶表示パネルを駆動でき、目視の検査を容易に行う
ことができる。

【００４６】

【実施例】図１は、本発明の一実施例である液晶表示パ
ネル５１の電気的構成を示す等価回路図であり、図２は
図１に示される一絵素部６０の拡大図である。図２は図
１の一部であり対応する構成には同一の参照符を付す。

【００４７】液晶表示パネル５１は、複数（本実施例で
は５）のゲート信号線ｇ１，ｇ２，ｇ３，…，ｇ５（総
称するときは参照符ｇを用いる）と、複数（本実施例で
は６）のソース信号線ｓ１，ｓ２，ｓ３，…，ｓ６（総
称するときは参照符ｓを用いる）と、複数（本実施例で
は３０）の絵素部６０と、走査信号入力端子ｐ１〜ｐ５
と、表示信号入力端子ｑ１〜ｑ６と、基準信号入力端子
ｒと、第１〜第５の検査用入力端子Ｚ１〜Ｚ５と、信号
線ｘ１，ｘ２，…，ｘ７（総称するときは参照符ｘを用
いる）と、トランジスタ６６ａ〜６６ｅ，６７ａ〜６７
ｆとを含む。

【００４８】水平走査信号を供給するゲート信号線ｇ
は、一定の間隔で平行に配線されており、データ信号を
供給するソース信号線ｓは、ゲート信号線ｇと直交する
ように一定の間隔で平行に配線されている。ソース信号
線ｓとゲート信号線ｇとは、互いに絶縁されていて直交
部分でも接触していない。

【００４９】図２に示すように、絵素部６０は、トラン
ジスタ６１と、コンデンサ部分６３と、絵素６４とを含
む。ゲート信号線ｇ１とソース信号線ｓ１とが交差して
いる付近に、スイッチング素子であるトランジスタ６１
が形成され、トランジスタ６１のドレインＤに絵素電極
６２が、ゲートＧにゲート信号線ｇ１が、ソースＳにソ
ース信号線ｓ１がそれぞれ接続されている。ドレインＤ
とゲート信号線ｇ２との間に形成されるコンデンサ部分
６３は、絵素６４から放電される電荷を補って表示を安
定させる働きをする。コンデンサ部分６３の持つ容量を
補助容量と称する。

【００５０】絵素６４は、電気的に等価であるコンデン
サとして示されている。トランジスタ６１のドレインＤ
側に接続されているコンデンサの一方側電極が絵素電極
６２であり、コンデンサの内部にあたるのが液晶層５４
であり、コンデンサの他方側電極が対向電極５９であ
る。対向電極５９は、予め定める基準電位、たとえばグ
ランド電位（０Ｖ）に設定される。

【００５１】図１に示される走査信号入力端子ｐ１，ｐ
２，…，ｐ５（総称するときは参照符ｐを用いる）は、
ゲート信号線ｇの長手方向の一方端部に接続されてお
り、ゲート信号線駆動用ＩＣが接続される端子である。
また、表示信号入力端子ｑ１，ｑ２，…，ｑ６（総称す
るときは参照符ｑを用いる）は、ソース信号線ｓの長手
方向の一方端部に接続されており、ソース信号線駆動用
のＩＣが接続される端子である。基準信号入力端子ｒ
は、基準信号が入力される端子であり、対向電極５９に
接続されており、表示信号入力端子ｑに隣接して平行に
設けられている。

【００５２】液晶表示パネル５１を構成する透光性基板
の周縁部近傍表面に第１〜第５の検査用入力端子Ｚ１〜
Ｚ５が互いに近接して配置されている。それぞれの検査
用入力端子に、信号線ｘが接続されている。信号線ｘ
１，ｘ２，ｘ３は、全てのゲート信号線ｇと直交するよ
うに配線され、信号線ｘ１は第１の検査用入力端子Ｚ１
に、信号線ｘ２は第２の検査用入力端子Ｚ２に、信号線
ｘ３は第３の検査用入力端子Ｚ３にそれぞれ接続されて
いる。信号線ｘ４，ｘ５は、全てのソース信号線ｓと直
交するように配線され、信号線ｘ４は第４の検査用入力
端子Ｚ４に、信号線ｘ５は信号線ｘ１とともに第１の検
査用入力端子Ｚ１にそれぞれ接続されている。第５の検
査用入力端子Ｚ５は、信号線ｘ６によって対向電極５９
（図１ではグランド電位で示す）と接続され、対向電極
５９は信号線ｘ７によって透光性基板上の基準信号入力
端子ｒと接続されている。

【００５３】トランジスタ６６ａ，６６ｃ，６６ｅは、
ゲートが信号線ｘ１に、ソースが信号線ｘ２にそれぞれ
接続され、ドレインについてはトランジスタ６６ａはゲ
ート信号線ｇ１に、トランジスタ６６ｃはゲート信号線
ｇ３に、トランジスタ６６ｅはゲート信号線ｇ５にそれ
ぞれ接続されている。トランジスタ６６ｂ，６６ｄは、
ゲートが信号線ｘ１に、ソースが信号線ｘ３にそれぞれ
接続され、ドレインについてはトランジスタ６６ｂはゲ
ート信号線ｇ２に、トランジスタ６６ｄはゲート信号線
ｇ４にそれぞれ接続されている。

【００５４】トランジスタ６７ａ，６７ｂ，…，６７ｆ
は、ゲートが信号線ｘ５に、ソースが信号線ｘ４にそれ
ぞれ接続され、ドレインについてはソース信号線ｓ１，
ｓ２，…，ｓ６にそれぞれ接続されている。

【００５５】信号線ｘ１，ｘ５には、第１の検査用入力
端子Ｚ１からトランジスタ群６６，６７を導通・遮断す
る制御信号が供給される。信号線ｘ２には、第２の検査
用入力端子Ｚ２からトランジスタ６６ａ，６６ｃ，６６
ｅを介して絵素部６０へ送られる検査用の走査信号が供
給され、信号線ｘ３には、第３の検査用入力端子Ｚ３か
らトランジスタ６６ｂ，６６ｄを介して絵素部６０へ送
られる検査用の走査信号が供給される。信号線ｘ４に
は、第４の検査用入力端子Ｚ４からトランジスタ群６７
を介して絵素部６０へ与えられる検査用の表示信号が供
給される。

【００５６】検査用入力端子Ｚは、他の端子ｐ，ｑ，ｒ
より大きく形成される。したがって、検査信号を入力す
るための端子が接続しやすい。そのため、検査を行うと
き、それほど精密な位置合わせを必要としない。

【００５７】図３は、液晶表示パネル５１の断面図であ
る。液晶表示パネル５１は、一対の基板部材５２ａ，５
２ｂと、一対の基板部材５２ａ，５２ｂを所定の間隔を
あけてその周縁部近傍表面で貼合わせる封止部材５３
と、一対の基板部材５２ａ，５２ｂと封止部材５３とで
囲まれた空間内に液晶材料を注入して形成された液晶層
５４とを含んで構成されている。

【００５８】一方基板部材５２ａは、ガラス、プラスチ
ックなどから成る透光性基板５５ａと、透光性基板５５
ａの一方表面上に形成される所定の信号線パターン５６
と、信号線パターン５６を覆うパッシベーション膜５７
と、パッシベーション膜５７を覆う配向膜５８とを含
む。信号線パターン５６として、前述した基板上の各信
号線や絵素電極６２、コンデンサ部分６３、トランジス
タ群、端子などが形成されている。他方基板部材５２ｂ
は、透光性基板５５ｂと、透光性基板５５ｂの液晶層５
４側表面に形成される共通電極である対向電極５９と、
対向電極５９を覆うように形成される配向膜５８ｂとを
含む。

【００５９】基板部材５２ａ，５２ｂは、互いに配向膜
５８ａ，５８ｂが液晶層５４を挟んで対向するように配
置されている。

【００６０】図４は、液晶表示パネル５１の平面図であ
り、図１と対応する構成には同一の参照符を付す。絵素
電極６２は、矩形状の電極であり行列状に配置され、全
ての絵素電極６２を覆うように対向電極５９が配置され
ている。図４では、コンデンサ部分６３は省略されてい
る。また、第５の検査用入力端子Ｚ５が信号線ｘ６によ
って対向電極５９と接続されているのが示されている。

【００６１】上述のように構成された液晶表示パネル５
１において、トランジスタ６１の動作不良等が原因で発
生する表示欠陥を発見し、修正するために液晶表示パネ
ル５１を実際に駆動させて検査を行う必要がある。

【００６２】検査の手順は、先ず、第１の検査用入力端
子Ｚ１からトランジスタ群６６，６７のそれぞれのゲー
トに制御信号（トランジスタを導通するオン電圧）を入
力しておき、第４の検査用入力端子Ｚ４に所定の電位の
映像信号を入力する。次に、第２および第３の検査用入
力端子Ｚ２，Ｚ３から互いに異なったタイミングで走査
信号を入力し、液晶表示パネル５１を駆動させる。駆動
させた状態で目視の検査を行い、不良があった場合には
液晶表示パネル５１の底面側からレーザ光を照射し、短
絡箇所の切断や断線箇所の接続などの修正を行う。

【００６３】偶数番目のゲート信号線と、奇数番目のゲ
ート信号線にタイミングをずらして走査信号を入力して
いるのは、コンデンサ部分６３が両方の信号線が同電位
であると電荷を蓄積できないからである。図２で示され
るように、コンデンサ部分６３は、ゲート信号線ｇ１に
接続されているトランジスタ６１のドレインと、ゲート
信号線ｇ２とに接続されている。そのため、偶数番目の
ゲート信号線にオン電圧が印加されるときには、奇数番
目のゲート信号線にはオフ電圧を印加して両信号線の間
に電位差が生じるようにしなければならない。また奇数
番目のゲート信号線にオン電圧を印加したときには、偶
数番目のゲート信号線にはオフ電圧を印加して電位差が
生じるようにする。

【００６４】なお、液晶表示パネル５１には偏光板が装
着されていないが、検査の際には、検査装置によって液
晶表示パネル５１の一方表面側と他方表面側とにそれぞ
れ偏光板を配置し、偏光板装着時と同じ状態にして行
う。液晶表示パネル５１に偏光板を取付けた後の検査で
は、検査装置側の偏光板は必要ないので取除いて検査を
行う。

【００６５】図５は、本実施例における液晶表示パネル
５１の検査時に検査用入力端子Ｚに与える信号のタイミ
ングチャートである。図５（１）に示される信号ｖ１１
は、第１の検査用入力端子Ｚ１から入力され信号線ｘ１
と信号線ｘ５に供給される。信号ｖ１１によってトラン
ジスタ群６６，６７の導通・遮断を制御できる。

【００６６】図５（２）に示される信号ｖ１２は、第２
の検査用入力端子Ｚ２から入力され奇数行目の絵素列に
対応したトランジスタ１１を導通させたり、遮断させた
りする。図５（３）に示される信号ｖ１３は、第３の検
査用入力端子Ｚ３から入力され偶数行目の絵素列に対応
したトランジスタ１１を導通させたり、遮断させたりす
る。信号ｖ１２と信号ｖ１３は、ともに検査用の走査信
号である。

【００６７】図５（４）に示される信号ｖ１４は、第４
の検査用入力端子Ｚ４から入力される検査用の映像信号
であり、一定周期（フレーム周期）ごとに極性が反転す
る。

【００６８】図５（５）に示される信号ｖ１５は、第５
の検査用入力端子Ｚ５から入力され、対向電極５９に与
えられる基準信号である。図５において、信号ｖ１５
は、対向電極５９の基準電位として、グランド電位であ
る０Ｖより低く設定されている。これは、トランジスタ
６１が導通状態から遮断状態になる瞬間に絵素電極６２
の電位が電圧ΔＶだけ下がるので、液晶に印加される電
圧を正負対称にするため、シフトした電圧ΔＶだけ下げ
る必要があるからである。

【００６９】タイミングチャートを参照して、時刻ｔ１
０以降、信号ｖ１１はオン電圧が保持されるためトラン
ジスタ群６６，６７は、常時導通状態になる。時刻ｔ１
０〜ｔ１１で信号ｖ１２がオン電圧になり、奇数行目の
絵素列に対応したトランジスタ１１が導通する。これに
よって、奇数行目の絵素電極６２にそれぞれ正極性の映
像信号が書込まれる。絵素電極６２は、書込まれた映像
信号の電圧を次に信号ｖ１２がオン電圧になる時刻ｔ１
５まで保持する。時刻ｔ１２〜ｔ１３で信号ｖ１３がオ
ン電圧になり、偶数行目の絵素列に対応したトランジス
タ１１が導通する。これによって、偶数行目の絵素電極
６２にそれぞれ正極性の映像信号が書込まれる。絵素電
極６２は、書込まれた映像信号の電圧を次に信号ｖ１３
がオン電圧になる時刻ｔ１６まで保持する。

【００７０】時刻ｔ１４で信号ｖ１４の極性が反転す
る。時刻ｔ１５〜ｔ１６で信号ｖ１２がオン電圧にな
り、奇数行目の絵素列に対応したトランジスタ１１が導
通する。これによって、奇数行目の絵素電極６２にそれ
ぞれ負極性の映像信号が書込まれる。絵素電極６２は、
書込まれた映像信号の電圧を次に信号ｖ１２がオン電圧
になる時刻ｔ１９まで保持する。時刻ｔ１７〜ｔ１８で
信号ｖ１３がオン電圧になり、偶数行目の絵素列に対応
したトランジスタ１１が導通する。これによって、偶数
行目の絵素電極６２にそれぞれ負極性の映像信号が書込
まれる。絵素電極６２は、書込まれた映像信号の電圧を
次に信号ｖ１３がオン電圧になる時刻ｔ２０まで保持す
る。

【００７１】このように、信号ｖ１４は、一定周期（フ
レーム周期）ごとに極性反転し、その度に信号ｖ１２と
ｖ１３は異なるタイミングでオン電圧になり、絵素電極
６２に書込みが行われる。以後、信号ｖ１４の極性が反
転するごとに同様の動作が繰返される。

【００７２】図６は、液晶表示パネルを製造工程の進行
段階別に示したものである。図６（１）の段階の液晶表
示パネル７１には、基板上の素子を静電気から守るため
に基板周縁部に短絡線７２ａ，７２ｂ，７２ｃが形成さ
れている。図６（２）の段階の液晶表示パネル５１で
は、駆動回路が実装された基板を接続するために短絡線
７２が削除されている。図６（３）の段階の液晶表示パ
ネル７５には、ゲート信号線用の駆動回路７６と、ソー
ス信号線用の駆動回路７７の２つの駆動回路が接続され
ている。

【００７３】検査用入力端子Ｚは、図６（１）の段階で
既に設けられており、駆動回路が接続された図６（３）
の段階でも削除されずに残っている。そのため、どの段
階の液晶表示パネルであっても検査用入力端子Ｚから信
号を入力するだけで検査を行うことができる。

【００７４】以上のように本実施例によれば、予め設け
られた検査用入力端子から信号を入力するだけで、液晶
表示パネルを駆動することができるので検査が行い易
く、また同時に修正を行うにも大掛かりな装置を必要と
しない。

【００７５】また、検査用入力端子Ｚは、基板周辺部に
配置されていて削除されないために、駆動回路等の接続
後でも駆動回路を用いることなく駆動させることがで
き、駆動回路を用いると与えることのできない検査用の
信号をいつでも入力できるので、不良原因の解析が行い
やすい。

【００７６】また、液晶表示パネルの特性を安定させる
ために行われるエージング検査においても、検査用入力
端子に検査用基板または接続ピンを接続するだけで駆動
させることができるので、液晶表示パネルの端子全部を
覆う検査用基板を用いて検査を行う場合に比べて少ない
スペースで実施できる。これによって、より多くの液晶
表示パネルの検査を同時に行えるため、効率的でもあ
る。

【００７７】なお、本実施例ではゲート信号線が５本、
ソース信号線が６本の場合の説明を行ったが、ゲート信
号線がｎ本、ソース信号線がｍ本の場合でもゲート信号
線およびソース信号線の増加によって制御用のトランジ
スタの数が増えるだけで、信号線ｘの数や検査用入力端
子Ｚの数は変わらないため、同様に適用できる。

【００７８】また本実施例では、各トランジスタのソー
スをトランジスタ６６ａ，６６ｃ，６６ｅは信号線ｘ２
に、トランジスタ６６ｂ，６６ｄは信号線ｘ３にとそれ
ぞれ接続していたが、トランジスタ６６ａ，６６ｃ，６
６ｅが信号線ｘ３と、トランジスタ６６ｂ，６６ｄが信
号線ｘ２と接続していても同様である。

【００７９】また本実施例では、信号の制御にトランジ
スタを用いたが、同様の働きをする素子によって実現し
ても本発明の範囲内に属する。

【００８０】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、絵素電極
やスイッチング素子に不良がないか検査するとき、それ
ぞれの信号線に検査用入力端子が設けられているため、
信号線１本ずつに個別に信号を供給する必要がなく、検
査用の信号を一括して入力できるので検査の際の手間が
省ける。

【００８１】また、各検査用入力端子から一括して検査
用の信号を入力できるので、信号入力のため信号線１本
ごとに対応した端子を有する基板を用いなくても、検査
用入力端子に接続するだけで検査できるためスペースを
とらない。

【００８２】さらに、検査用入力端子は、他の端子等の
形成・削除に影響を受けないので、どのような状態の液
晶表示パネルでも検査を行うことができる。たとえば、
素子等を静電気から保護する目的で作られる短絡線が削
除された後でも検査用入力端子に検査用の信号を入力す
るだけで検査が行える。また、たとえば駆動回路が接続
されていても、検査用入力端子に検査用の信号を入力す
るだけで検査が行える。さらに、絵素電極に直接検査用
の信号を入力できるので、駆動回路が接続されても絵素
電極を直接制御して検査を行うことができる。さらに、
第１の検査用入力端子に入力される１つの制御信号で３
つのトランジスタ群すべてを制御するので、消費電力の
低減が可能である。また、第１〜第５の検査用入力端子
は、前記表示信号入力端子および前記走査信号入力端子
よりも大きく形成されているので、検査信号を入力する
ための端子を接続する際の精密な位置合わせが不要とな
り、作業が簡単になる。さらに、第１〜第３のトランジ
スタ群はそれぞれ前記表示信号入力端子側および走査信
号入力端子側に配置され、第１〜第５の検査用入力端子
は表示信号入力端子および走査信号入力端子と同一側に
配置されるので、反対側に配置される場合に比べてトラ
ンジスタ群および検査用入力端子を形成する基板の省ス
ペース化を図ることができる。これによって、液晶表示
パネルの小型化および軽量化が可能となる。さらに、第
１〜第５の検査用入力端子と第１〜第３のトランジスタ
群とが近接して配置されているので、検査用入力端子と
トランジスタ群とを接続する配線を短くできるため、検
査信号の遅延などを防止でき、適正な検査を行うことが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例である液晶表示パネル５１の
電気的構成を示す等価回路図である。

【図２】図１に示される液晶表示パネル５１の一絵素部
６０の拡大図である。

【図３】本発明の一実施例である液晶表示パネル５１の
断面図である。

【図４】本発明の一実施例である液晶表示パネル５１の
平面図である。

【図５】本発明の一実施例である液晶表示パネル５１の
検査を行う際、端子Ｚから入力される信号のタイミング
チャートである。

【図６】製造工程段階別の液晶表示パネルの平面図であ
る。

【図７】典型的な従来例であるＴＦＴ型液晶表示パネル
１の断面図である。

【図８】典型的な従来例であるＴＦＴ型液晶表示パネル
１の平面図である。

【図９】典型的な従来例であるＴＦＴ型液晶表示パネル
１の検査を行う際、入力される信号のタイミングチャー
トである。

【図１０】短絡線を削除したＴＦＴ型液晶表示パネル１
と、検査用のフレキシブル基板とを示す平面図である。

【符号の説明】

５１，７１，７５ 液晶表示パネル ５２ａ，５２ｂ 基板部材 ５３ 封止部材 ５４ 液晶層 ５５ａ，５５ｂ 透光性基板 ５６ 信号線パターン ５７ パッシベーション膜 ５８ａ，５８ｂ 配向膜 ５９ 対向電極 ６１ トランジスタ ６２ 絵素電極 ６３ コンデンサ部 ６６ａ〜６６ｅ，６７ａ〜６７ｆ トランジスタ ７２ 短絡線 ７６ ゲート信号線用駆動回路 ７７ ソース信号線用駆動回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−82817（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−2989（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−5897（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−307192（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−82836（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 31/00 G02F 1/133 550 G02F 1/1368 G09G 3/20 G01R 31/02

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 行列状に配列される複数の絵素電極と、 前記複数の絵素電極との間に液晶層を介在させて配置さ
   れる１つの共通電極と、 各絵素電極に個別に接続される複数のスイッチング素子
   と、 絵素電極の各列ごとに設けられ、前記スイッチング素子
   を介して絵素電極に与えられる表示信号が供給される複
   数のデータ信号線と、 絵素電極の各行ごとに設けられ、前記スイッチング素子
   を導通・遮断する走査信号が供給される複数の走査信号
   線と、 前記複数のデータ信号線に個別に接続され、前記表示信
   号が入力される複数の表示信号入力端子と、 前記複数の走査信号線に個別に接続され、前記走査信号
   が入力される複数の走査信号入力端子と、 前記複数のデータ信号線に個別に接続される第１のトラ
   ンジスタ群と、 奇数番目の絵素電極行に対応する走査信号線に個別に接
   続される第２のトランジスタ群と、 偶数番目の絵素電極行に対応する走査信号線に個別に接
   続される第３のトランジスタ群と、 第１、第２および第３トランジスタ群に共通に接続さ
   れ、トランジスタを導通・遮断する制御信号が入力され
   る第１の検査用入力端子と、 前記第１のトランジスタ群に接続され、検査用の表示信
   号が入力される第２の検査用入力端子と、 前記第２のトランジスタ群に接続され、検査用の走査信
   号が入力される第３の検査用入力端子と、 前記第３のトランジスタ群に接続され、検査用の走査信
   号が入力される第４の検査用入力端子と、 前記共通電極に接続され、基準信号が入力される第５の
   検査用入力端子とを含み、 前記第１のトランジスタ群は前記表示信号入力端子側に
   配置されるとともに、前記第２および第３トランジスタ
   群は前記走査信号入力端子側に配置され、 前記第１〜第５の検査用入力端子は、前記表示信号入力
   端子と同一側であって、かつ前記走査信号入力端子と同
   一側に配置されるとともに、前記表示信号入力端子およ
   び前記走査信号入力端子よりも大きく形成されることを
   特徴とする液晶表示パネル。
2. 【請求項２】 行列状に配列される複数の絵素電極と、 前記複数の絵素電極との間に液晶層を介在させて配置さ
   れる１つの共通電極と、 各絵素電極に個別に接続される複数のスイッチング素子
   と、 絵素電極の各列ごとに設けられ、前記スイッチング素子
   を介して絵素電極に与えられる表示信号が供給される複
   数のデータ信号線と、 絵素電極の各行ごとに設けられ、前記スイッチング素子
   を導通・遮断する走査信号が供給される複数の走査信号
   線と、 前記複数のデータ信号線に個別に接続され、前記表示信
   号が入力される複数の表示信号入力端子と、 前記複数の走査信号線に個別に接続され、前記走査信号
   が入力される複数の走査信号入力端子と、 前記複数のデータ信号線に個別に接続される第１のトラ
   ンジスタ群と、 奇数番目の絵素電極行に対応する走査信号線に個別に接
   続される第２のトランジスタ群と、 偶数番目の絵素電極行に対応する走査信号線に個別に接
   続される第３のトランジスタ群と、 第１、第２および第３トランジスタ群に共通に接続さ
   れ、トランジスタ群を導通・遮断する制御信号が入力さ
   れる第１の検査用入力端子と、 前記第１のトランジスタ群に接続され、検査用の表示信
   号が入力される第２の検査用入力端子と、 前記第２のトランジスタ群に接続され、検査用の走査信
   号が入力される第３の検査用入力端子と、 前記第３のトランジスタ群に接続され、検査用の走査信
   号が入力される第４の検査用入力端子と、 前記共通電極に接続され、基準信号が入力される第５の
   検査用入力端子とを含み、 前記第１のトランジスタ群は前記表示信号入力端子側に
   配置されるとともに、前記第２および第３トランジスタ
   群は前記走査信号入力端子側に配置され、 前記第１〜第５の検査用入力端子は、前記表示信号入力
   端子と同一側であって、かつ前記走査信号入力端子と同
   一側に配置されるとともに、前記表示信号入力端子およ
   び前記走査信号入力端子よりも大きく形成される液晶表
   示パネルを準備し、 第１の検査用入力端子にトランジスタ群を導通させる制
   御信号を供給し、 第２の検査用入力端子に表示信号を供給するとともに、
   第５の検査用入力端子に基準信号を供給し、 第３および第４の検査用入力端子に異なるタイミングで
   走査信号を供給して、液晶表示パネルを駆動させること
   を特徴とする液晶表示パネルの検査方法。