JP2006078764A - 表示装置 - Google Patents
表示装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006078764A JP2006078764A JP2004262514A JP2004262514A JP2006078764A JP 2006078764 A JP2006078764 A JP 2006078764A JP 2004262514 A JP2004262514 A JP 2004262514A JP 2004262514 A JP2004262514 A JP 2004262514A JP 2006078764 A JP2006078764 A JP 2006078764A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal line
- wiring
- display device
- switch
- switch signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
【課題】パネル上の配線不良を安定して検査することが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、有効表示部に配置された配線Xn、21、及び、31と、これらの配線に接続された検査用配線51、52、及び、53と、各配線と各検査用配線との間に配置されたスイッチ素子61、62、及び、63のオン・オフを制御するためのスイッチ信号が供給されるスイッチ信号線55と、を備え、このスイッチ信号線55は、ループ状に形成されたことを特徴とする。
【選択図】 図2
【解決手段】複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、有効表示部に配置された配線Xn、21、及び、31と、これらの配線に接続された検査用配線51、52、及び、53と、各配線と各検査用配線との間に配置されたスイッチ素子61、62、及び、63のオン・オフを制御するためのスイッチ信号が供給されるスイッチ信号線55と、を備え、このスイッチ信号線55は、ループ状に形成されたことを特徴とする。
【選択図】 図2
Description
この発明は、配線不良を検査するための検査用配線を備えた表示装置に関する。
液晶表示装置などの表示装置は、マトリクス状の表示画素によって構成された有効表示部を備えている。この有効表示部は、表示画素の行方向に沿って延在する複数の走査線、表示画素の列方向に沿って延在する複数の信号線、これら走査線と信号線との交差部付近に配置されたスイッチング素子、スイッチング素子に接続された画素電極などを備えている。
走査線駆動回路と各走査線との間を接続する配線群は、通常、有効表示部の一端側に配置されている。このため、奇数番走査線と偶数番走査線とにそれぞれ検査信号を入力することにより、配線群でのショートや断線、さらには有効表示部でのショートや断線などのパネル上での配線不良を検査することが可能である(例えば、特許文献1及び特許文献2参照。)。
特開平06−160898号公報
特開2001−013892号公報
この発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、パネル上の配線不良を安定して検査することが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することにある。
この発明の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
前記有効表示部に配置された配線と、
前記配線に接続された検査用配線と、
前記配線と前記検査用配線との間に配置されたスイッチ素子のオン・オフを制御するためのスイッチ信号が供給されるスイッチ信号線と、を備え、
前記スイッチ信号線は、ループ状に形成されたことを特徴とする。
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
前記有効表示部に配置された配線と、
前記配線に接続された検査用配線と、
前記配線と前記検査用配線との間に配置されたスイッチ素子のオン・オフを制御するためのスイッチ信号が供給されるスイッチ信号線と、を備え、
前記スイッチ信号線は、ループ状に形成されたことを特徴とする。
この発明によれば、パネル上の配線不良を安定して検査することが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することができる。
以下、この発明の一実施の形態に係る表示装置について図面を参照して説明する。
図1に示すように、表示装置の一例としての液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル1を備えている。この液晶表示パネル1は、一対の基板すなわちアレイ基板3及び対向基板4と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層5と、によって構成されている。この液晶表示パネル1は、画像を表示する矩形状の有効表示部6を備えている。この有効表示部6は、マトリクス状に配置された複数の表示画素PXによって構成されている。
アレイ基板3は、有効表示部6において、表示画素PXの行方向に沿って延在する複数の走査線Y(1、2、3、…、m)、表示画素PXの列方向に沿って延在する複数の信号線X(1、2、3、…、n)、これら走査線Yと信号線Xとの交差部付近において表示画素PX毎に配置されたスイッチング素子7、スイッチング素子7に接続された画素電極8などを備えている。
スイッチング素子7は、薄膜トランジスタ(TFT)などで構成されている。このスイッチング素子7のゲート電極7Gは、対応する走査線Yに電気的に接続されている(あるいは走査線と一体に形成されている)。スイッチング素子7のソース電極7Sは、対応する信号線Xに電気的に接続されている(あるいは信号線と一体に形成されている)。スイッチング素子7のドレイン電極7Dは、対応する表示画素PXの画素電極8に電気的に接続されている。
対向基板4は、有効表示部6において、全表示画素PXに共通の対向電極9などを備えている。これらアレイ基板3及び対向基板4は、画素電極8と対向電極9とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層5は、アレイ基板3と対向基板4とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。
カラー表示タイプの液晶表示装置では、液晶表示パネル1は、複数種類の表示画素、例えば赤(R)を表示する赤色画素、緑(G)を表示する緑色画素、青(B)を表示する青色画素を有している。すなわち、赤色画素は、赤色の主波長の光を透過する赤色カラーフィルタを備えている。緑色画素は、緑色の主波長の光を透過する緑色カラーフィルタを備えている。青色画素は、青色の主波長の光を透過する青色カラーフィルタを備えている。これらカラーフィルタは、アレイ基板3または対向基板4の主面に配置される。
液晶表示パネル1は、有効表示部6の外側に位置する外周部10に配置された駆動ICチップ11を備えている。図1に示した例では、駆動ICチップ11は、対向基板4の端部4Aより外方に延在したアレイ基板3の延在部10A上に配置されている。また、液晶表示パネル1は、有効表示部6に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板FPCを接続可能な接続パッド部PPを備えている。図1に示した例では、接続パッド部PPは、駆動ICチップ11と同様に延在部10A上に形成されている。
液晶表示パネル1に実装された駆動ICチップ11は、有効表示部6の各信号線Xに駆動信号(映像信号)を供給する信号線駆動部11X、及び、有効表示部6の各走査線Yに駆動信号(走査信号)を供給する走査線駆動部11Yを有している。
走査線駆動部11Yは、奇数番走査線Y(1、3、5、…)に対して駆動信号を出力する第1駆動部11Y1、及び、偶数番走査線Y(2、4、6、…)に対して駆動信号を出力する第2駆動部11Y2を含んでいる。これら第1駆動部11Y1及び第2駆動部11Y2は、信号線駆動部11Xを挟んだ両側にそれぞれ配置されている。
第1駆動部11Y1は、外周部10の一端側10Bに配置された奇数番配線群20を介して奇数番走査線Y(1、3、5、…)と電気的に接続されている。この奇数番配線群20は、奇数番走査線Y(1、3、5、…)のそれぞれに接続された配線W(1、3、5、…)によって構成されている。つまり、第1駆動部11Y1から出力された駆動信号は、各配線W(1、3、5、…)を介して対応する奇数番走査線Y(1、3、5、…)に供給され、奇数行目の表示画素PXをオン・オフさせる。すなわち、奇数行目の各表示画素PXに含まれるスイッチング素子7は、対応する走査線Yから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
第2駆動部11Y2は、外周部10の他端側10Cに配置された偶数番配線群30を介して偶数番走査線Y(2、4、6、…)と電気的に接続されている。この偶数番配線群30は、偶数番走査線Y(2、4、6、…)のそれぞれに接続された配線W(2、4、6、…)によって構成されている。つまり、第2駆動部11Y2から出力された駆動信号は、各配線W(2、4、6、…)を介して対応する偶数番走査線Y(2、4、6、…)に供給され、偶数行目の表示画素PXをオン・オフさせる。すなわち、偶数行目の各表示画素PXに含まれるスイッチング素子7は、対応する走査線Yから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
アレイ基板3は、図2に示すように、外周部10における奇数番配線群20の各配線間の配線不良、偶数番配線群30の各配線間の配線不良、及び、有効表示部6における配線不良を検査するための検査用配線部40を備えている。この検査用配線部40は、信号線駆動部11Xに対応して設けられた信号線検査部41、走査線駆動部11Yの第1駆動部11Y1に対応して設けられた第1走査線検査部42、第2駆動部11Y2に対応して設けられた第2走査線検査部43、及び、各検査部41、42、43に各種信号を入力するためのパッド部44を有している。
信号線検査部41は、各信号線Xに接続された信号線検査用配線51を備えている。また、信号線検査部41は、各信号線X(1、2、…、n)と信号線検査用配線51(R、G、B)との間にスイッチ素子61を備えている。これらのスイッチ素子61は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。
すなわち、各スイッチ素子61のゲート電極61Gは、共通のスイッチ信号線55に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子61のソース電極61Sは、対応する信号線検査用配線51(R、G、B)に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子61のドレイン電極61Dは、対応する信号線Xに電気的に接続されている。
第1走査線検査部42は、奇数番配線群20の各配線21、例えば配線W1、W3、W5…に接続された第1検査用配線52を備えている。また、第1走査線検査部42は、各配線21と第1検査用配線52との間にスイッチ素子62を備えている。これらのスイッチ素子62は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。
すなわち、各スイッチ素子62のゲート電極62Gは、共通のスイッチ信号線55に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子62のソース電極62Sは、対応する第1検査用配線52に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子62のドレイン電極62Dは、対応する配線21に電気的に接続されている。
第2走査線検査部43は、偶数番配線群30の各配線31、例えば配線W2、W4、W6…に接続された第2検査用配線53を備えている。また、第2走査線検査部43は、各配線31と第2検査用配線53との間にスイッチ素子63を備えている。これらのスイッチ素子63は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。
すなわち、各スイッチ素子63のゲート電極63Gは、共通のスイッチ信号線55に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子63のソース電極63Sは、対応する第2検査用配線53に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子63のドレイン電極63Dは、対応する配線31に電気的に接続されている。
パッド部44は、信号線検査用配線51の一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド71、第1検査用配線52の一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド72、第2検査用配線53の一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド73、及び、スイッチ信号線55の一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド75を備えている。
入力パッド71から入力される駆動信号は、検査段階において各表示画素PXの画素電極8に書き込まれる検査用映像信号である。入力パッド72及び73から入力される駆動信号は、検査段階において各表示画素PXのスイッチング素子7のオン・オフを制御するための検査信号である。入力パッド75から入力される駆動信号は、検査段階において、信号線検査部41のスイッチ素子61、第1走査線検査部42のスイッチ素子62、及び、第2走査線検査部43のスイッチ素子63のオン・オフを制御するためのスイッチ信号である。
各信号線X(1、2、…n)、奇数番配線群20の各配線21、及び、偶数番配線群30の各配線31は、それぞれの中途部に駆動ICチップ11との接続を可能とする接続パッドPDを備えている。
上述したような構成の表示装置において、検査用配線部40におけるスイッチ信号線55の終端部に電荷が蓄積しやすい。このように蓄積された電荷は、付近のスイッチ素子におけるゲート電極とソース電極との間やゲート電極とドレイン電極との間でのショートを引き起すおそれがある。このようなショートは、完成した液晶表示パネルにおける線欠陥を生じさせるため、製造歩留まりを低下させる。
そこで、この実施の形態に係る表示装置においては、図2に示したように、スイッチ信号線55は、ループ状に形成されている。このような構成により、通常、終端部で蓄積していた電荷を逃がすことができる。これにより、検査用配線部40に配置されたスイッチ素子におけるゲート電極とソース電極との間やゲート電極とドレイン電極との間でのショートを抑制することが可能となる。したがって、検査用配線部40を用いて安定的に各種配線の配線不良を検査することが可能となるとともに、完成した液晶表示パネルにおける線欠陥不良の発生を防止することができ、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。
このようなスイッチ信号線55のループは、アレイ基板3上で形成しても良い。すなわち、図3に示すように、アレイ基板3の延在部10Aにおいて、ループ状のスイッチ信号線55を配置しても良い。
また、スイッチ信号線55のループは、アレイ基板3及びフレキシブル配線基板FPCを介して形成しても良い。すなわち、図4に示すように、アレイ基板3は、延在部10Aにおいて、接続パッド部PPを備えている。また、アレイ基板3は、スイッチ信号線55のループの一部に相当する第1信号線55Aを備えている。第1信号線55Aの一端部は、接続パッド部PPの第1接続パッドPD1に接続されている。また、第1信号線55Aの他端部は、接続パッド部PPの第2接続パッドPD2に接続されている。
一方で、フレキシブル配線基板FPCは、アレイ基板3の接続パッド部PPと接続可能な接続パッド部PP’を備えている。また、フレキシブル配線基板FPCは、スイッチ信号線55のループの一部に相当する第2信号線55Bを備えている。第2信号線55Bの一端部は、接続パッド部PP’の第3接続パッドPD3に接続されている。また、第2信号線55Bの他端部は、接続パッド部PP’の第4接続パッドPD4に接続されている。
このような構成において、アレイ基板3の接続パッド部PPとフレキシブル配線基板FPCの接続パッド部PP’とを電気的に接続したとき、第1接続パッドPD1と第3接続パッドPD3とが電気的に接続されるとともに、第2接続パッドPD2と第4接続パッドPD4とが電気的に接続される。これにより、第1信号線55Aの一端部と第2信号線55Bの一端部とが電気的に接続されるとともに、第1信号線55Aの他端部と第2信号線55Bの他端部とが電気的に接続され、スイッチ信号線55のループが形成される。
さらに、液晶表示パネル1がマザー基板を用いて形成される場合、スイッチ信号線55のループは、マザー基板上で形成しても良い。すなわち、図5に示すように、アレイ基板用のマザー基板Mは、複数のアレイ基板形成領域3−1、3−2…を有している。各アレイ基板形成領域3−1…は、延在部10Aにおいて、接続パッド部PPを備えている。また、各アレイ基板形成領域3−1…は、スイッチ信号線55のループの一部に相当する第1信号線55Aを備えている。第1信号線55Aの一端部は、接続パッド部PPの第1接続パッドPD1に接続されている。また、第1信号線55Aの他端部は、接続パッド部PPの第2接続パッドPD2に接続されている。
一方で、マザー基板Mは、アレイ基板形成領域3−1…の外側に位置する周辺部MAにおいて、複数のアレイ基板形成領域3−1…に対して共通に設けられた共通信号線55Mを備えている。各アレイ基板形成領域3−1…に設けられた第1接続パッドPD1及び第2接続パッドPD2は、ともに共通信号線55Mと電気的に接続されている。これにより、マザー基板M上において、第1信号線55Aと共通信号線55Mとでスイッチ信号線55のループが形成される。
なお、このような構成の場合、マザー基板Mから各アレイ基板形成領域3−1…を切り出した際、アレイ基板上に残るスイッチ信号線55は、第1信号線55Aのみとなる。しかしながら、図4を参照して説明したような構造のフレキシブル配線基板FPCを接続パッド部PPに接続することにより、再びスイッチ信号線55のループを形成することが可能である。
つまり、マザー基板Mから切り出される前であっても、各アレイ基板に切り出されたあとであっても、スイッチ信号線55のループを形成可能であるため、検査段階及び製品として出荷後の段階のいずれでもスイッチ素子におけるショートの発生を抑制することが可能となる。
以上説明したように、この実施の形態によれば、検査用配線部を備えたアレイ基板において、検査用配線部におけるスイッチ信号線の終端部を形成することなしにループを形成したことにより、スイッチ信号線上の電荷の集中を防止することができる。このため、検査用配線部におけるスイッチ素子のゲート電極とソース電極との間あるいはゲート電極とドレイン電極との間でのショートの発生を抑制することが可能となる。
このため、検査用配線部を用いて液晶パネル上の各種配線の配線不良を安定的に検査することが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となる。また、完成した液晶表示パネルにおける線欠陥不良の発生を防止することが可能となる。これにより、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
この発明の表示装置は、上述した液晶表示装置に限定されるものではなく、有効表示部の両端側から奇数番走査線及び偶数番走査線にそれぞれ駆動信号を供給可能なレイアウトの表示装置であれば適用可能であり、自己発光素子を表示素子とする有機エレクトロルミネッセンス表示装置などであっても良い。
PX…表示画素、FPC…フレキシブル配線基板、PP…接続パッド部、PP’…接続パッド部、M…マザー基板、1…液晶表示パネル、3…アレイ基板、6…有効表示部、10…外周部、10A…延在部、11…駆動ICチップ、20…奇数番配線群、21…配線、30…偶数番配線群、31…配線、40…検査用配線部、41…信号線検査部、42…第1走査線検査部、43…第2走査線検査部、44…パッド部、51…信号線検査用配線、52…第1検査用配線、53…第2検査用配線、55…スイッチ信号線、55A…第1信号線、55B…第2信号線、55M…共通信号線、61…スイッチ素子、61G…ゲート電極、62…スイッチ素子、62G…ゲート電極、63…スイッチ素子、63G…ゲート電極
Claims (7)
- 複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
前記有効表示部に配置された配線と、
前記配線に接続された検査用配線と、
前記配線と前記検査用配線との間に配置されたスイッチ素子のオン・オフを制御するためのスイッチ信号が供給されるスイッチ信号線と、を備え、
前記スイッチ信号線は、ループ状に形成されたことを特徴とする表示装置。 - 前記スイッチ信号線は、アレイ基板上でループを形成したことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- さらに、前記有効表示部に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板を備え、
前記スイッチ信号線は、アレイ基板及び前記フレキシブル配線基板を介してループを形成したことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。 - 前記表示装置は、マザー基板を用いて形成され、
前記スイッチ信号線は、マザー基板上でループを形成したことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。 - 前記配線は、走査線及び信号線の少なくとも一方に接続されたことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記スイッチ素子は、薄膜トランジスタであり、そのゲート電極が前記スイッチ信号線と接続されたことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- さらに、前記有効表示部に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板を接続するための接続パッド部を備え、
前記スイッチ信号線の一端部は前記接続パッド部の第1接続パッドに接続され、前記スイッチ信号線の他端部は前記接続パッド部の第2接続パッドに接続されたことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004262514A JP2006078764A (ja) | 2004-09-09 | 2004-09-09 | 表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004262514A JP2006078764A (ja) | 2004-09-09 | 2004-09-09 | 表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006078764A true JP2006078764A (ja) | 2006-03-23 |
Family
ID=36158270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004262514A Pending JP2006078764A (ja) | 2004-09-09 | 2004-09-09 | 表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006078764A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009288371A (ja) * | 2008-05-28 | 2009-12-10 | Epson Imaging Devices Corp | 電気光学パネル、電気光学装置およびこれを搭載した電子機器 |
KR20150101066A (ko) * | 2014-02-25 | 2015-09-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01303416A (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-07 | Mitsubishi Electric Corp | マトリクス型表示装置 |
JPH0651347A (ja) * | 1992-06-03 | 1994-02-25 | Alps Electric Co Ltd | マトリクス配線基板およびその製造方法 |
JPH06317810A (ja) * | 1993-05-07 | 1994-11-15 | Mitsubishi Electric Corp | マトリックス配線基板 |
JPH07333275A (ja) * | 1994-06-09 | 1995-12-22 | Sharp Corp | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
JPH1184353A (ja) * | 1997-09-12 | 1999-03-26 | Sharp Corp | 液晶パネルの製造方法 |
JPH11142888A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-05-28 | Sharp Corp | 液晶表示装置及びその検査方法 |
JP2003121867A (ja) * | 2001-10-11 | 2003-04-23 | Samsung Electronics Co Ltd | ビジュアルインスペクション手段を備えた薄膜トランジスタ基板及びビジュアルインスペクション方法 |
-
2004
- 2004-09-09 JP JP2004262514A patent/JP2006078764A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01303416A (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-07 | Mitsubishi Electric Corp | マトリクス型表示装置 |
JPH0651347A (ja) * | 1992-06-03 | 1994-02-25 | Alps Electric Co Ltd | マトリクス配線基板およびその製造方法 |
JPH06317810A (ja) * | 1993-05-07 | 1994-11-15 | Mitsubishi Electric Corp | マトリックス配線基板 |
JPH07333275A (ja) * | 1994-06-09 | 1995-12-22 | Sharp Corp | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
JPH1184353A (ja) * | 1997-09-12 | 1999-03-26 | Sharp Corp | 液晶パネルの製造方法 |
JPH11142888A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-05-28 | Sharp Corp | 液晶表示装置及びその検査方法 |
JP2003121867A (ja) * | 2001-10-11 | 2003-04-23 | Samsung Electronics Co Ltd | ビジュアルインスペクション手段を備えた薄膜トランジスタ基板及びビジュアルインスペクション方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009288371A (ja) * | 2008-05-28 | 2009-12-10 | Epson Imaging Devices Corp | 電気光学パネル、電気光学装置およびこれを搭載した電子機器 |
KR20150101066A (ko) * | 2014-02-25 | 2015-09-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법 |
KR102174368B1 (ko) | 2014-02-25 | 2020-11-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7038484B2 (en) | Display device | |
KR100736279B1 (ko) | 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법, 및 표시 장치의 검사장치 | |
JP2006209089A (ja) | 表示装置 | |
KR20060074854A (ko) | 디스플레이 장치 | |
JP4886278B2 (ja) | 表示装置 | |
JP2007310130A (ja) | 表示素子 | |
JP4864300B2 (ja) | 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置 | |
JP2009093023A (ja) | 表示装置 | |
JP4298726B2 (ja) | 表示装置 | |
JP4476737B2 (ja) | 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置 | |
JP4834477B2 (ja) | 表示装置 | |
JP2006317763A (ja) | 液晶表示装置 | |
JP4836431B2 (ja) | 表示装置 | |
JP4945070B2 (ja) | 表示装置 | |
JP5127124B2 (ja) | 表示装置 | |
JP2008015373A (ja) | 表示装置 | |
JP2006078764A (ja) | 表示装置 | |
JP2006227291A (ja) | 表示装置 | |
JP4630598B2 (ja) | 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置 | |
JP4744824B2 (ja) | 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置 | |
JP4901176B2 (ja) | 表示装置 | |
JP4955983B2 (ja) | 表示装置 | |
JP2007027387A (ja) | 表示装置 | |
JP2006227290A (ja) | 表示装置 | |
JP2006126619A (ja) | 表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070820 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100916 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101026 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110405 |