JP5127124B2 - 表示装置 - Google Patents
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Description
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部に配置された複数の配線からなる配線群と、
前記有効表示部及び前記配線群における配線不良を検査するための検査用配線部と、を備え、
前記検査用配線部は、
第1配線パターンと、
前記第1配線パターンとは離間した第2配線パターンと、
検査用配線部のほぼ全体を覆うように島状に配置された平坦化膜と、
前記平坦化膜上に配置され、前記平坦化膜に形成されたコンタクトホール及び前記平坦化膜のエッジを経由して前記第1配線パターンと前記第2配線パターンとを電気的に接続する第3配線パターンと、を備え、
前記第3配線パターンの周囲に沿って前記平坦化膜を貫通するダミー開口部が配置されたことを特徴とする。
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部に配置された複数の配線からなる配線群と、
前記有効表示部及び前記配線群における配線不良を検査するための検査用配線部と、を備え、
前記検査用配線部は、
第1配線パターンと、
前記第1配線パターンとは離間した第2配線パターンと、
検査用配線部のほぼ全体を覆うように島状に配置された平坦化膜と、
前記平坦化膜上に配置され、前記平坦化膜に形成されたコンタクトホール及び前記平坦化膜のエッジを経由して前記第1配線パターンと前記第2配線パターンとを電気的に接続する第3配線パターンと、を備え、
前記第3配線パターンの下地となる前記平坦化膜の表面にディンプルパターンが配置されたことを特徴とする。
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部に配置された複数の配線からなる配線群と、
前記有効表示部及び前記配線群における配線不良を検査するための検査用配線部と、を備え、
前記検査用配線部は、
第1配線パターンと、
前記第1配線パターンとは離間した第2配線パターンと、
検査用配線部のほぼ全体を覆うように島状に配置され、前記第1配線パターンと前記第2配線パターンとをつなぐ開口部を有する平坦化膜と、
前記平坦化膜の開口部に配置され、前記第1配線パターンと前記第2配線パターンとを電気的に接続する第3配線パターンと、を備えたことを特徴とする。
第1構造例に係る検査用配線部40においては、図5に示すように、第3配線パターンWP3の周囲に沿って平坦化膜130を貫通するダミー開口部130Dを配置している。望ましくは、ダミー開口部130Dは、平坦化膜130のエッジ130Eに沿って配置されている。
第2構造例に係る検査用配線部40においては、図9に示すように、第3配線パターンWP3の下地となる平坦化膜130の表面にディンプルパターンDPを配置している。
第3構造例に係る検査用配線部40においては、図11及び図12に示すように、平坦化膜130は、第1配線パターンWP1と第2配線パターンWP2とをつなぐ開口部APを有しており、第3配線パターンWP3は、平坦化膜130の開口部APに配置され第1配線パターンWP1と第2配線パターンWP2とを電気的に接続している。
Claims (5)
- 複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部に配置された複数の配線からなる配線群と、
前記有効表示部及び前記配線群における配線不良を検査するための検査用配線部と、を備え、
前記検査用配線部は、
第1配線パターンと、
前記第1配線パターンとは離間した第2配線パターンと、
検査用配線部のほぼ全体を覆うように島状に配置された平坦化膜であって、そのエッジよりも内側で前記第1配線パターンと前記第2配線パターンとをつなぐ開口部を有する平坦化膜と、
前記平坦化膜の開口部に配置され、前記第1配線パターンと前記第2配線パターンとを電気的に接続する第3配線パターンと、を備えたことを特徴とする表示装置。 - 前記有効表示部は、アレイ基板と対向基板との間に液晶層を保持した液晶表示パネルに備えられたことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記検査用配線部は、対向基板の端部より外方に延在したアレイ基板の延在部上に配置されたことを特徴とする請求項2に記載の表示装置。
- さらに、前記検査用配線部が配置された領域に対応して島状に配置された前記平坦化膜上に駆動ICチップを備えたことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記駆動ICチップは、前記有効表示部の信号線に映像信号を供給する信号線駆動部、及び、前記有効表示部の走査線に駆動信号を供給する走査線駆動部を備えたことを特徴とする請求項4に記載の表示装置。
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