JP4864300B2

JP4864300B2 - 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置

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Publication number: JP4864300B2
Application number: JP2004231110A
Authority: JP
Inventors: 洋平木村; 和幸原田; 浩治中山
Original assignee: Toshiba Mobile Display Co Ltd
Current assignee: Japan Display Central Inc
Priority date: 2004-08-06
Filing date: 2004-08-06
Publication date: 2012-02-01
Anticipated expiration: 2024-08-06
Also published as: CN1749813A; CN100381878C; JP2006047851A

Description

この発明は、配線不良を検査するための検査用配線を備えた表示装置、この表示装置の検査用配線に入力した検査信号に基づき配線不良を検査する検査方法、及び、表示装置の検査用配線に入力する検査信号を生成する検査装置に関する。

液晶表示装置などの表示装置は、マトリクス状の表示画素によって構成された有効表示部を備えている。この有効表示部は、表示画素の行方向に沿って延在する複数の走査線、表示画素の列方向に沿って延在する複数の信号線、これら走査線と信号線との交差部付近に配置されたスイッチング素子、スイッチング素子に接続された画素電極などを備えている。

走査線駆動回路と各走査線との間を接続する配線群は、通常、有効表示部の一端側に配置されている。このため、奇数番走査線と偶数番走査線とにそれぞれ検査信号を入力することにより、配線群でのショートや断線、さらには有効表示部でのショートや断線などのパネル上での配線不良を検査することが可能である。

これに対して、奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群が有効表示部の一端側に配置され、偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群が有効表示部の他端側に配置されるようなレイアウトが提案されている（例えば、特許文献１及び特許文献２参照。）。このようなレイアウトは、特に走査線駆動部及び信号線駆動部を一体化した単一の駆動ＩＣチップを適用するような構成に最適である。

このようなレイアウトの場合、奇数番走査線と偶数番走査線とにそれぞれ検査信号を入力することにより、有効表示部での配線不良を検査することは可能であるが、各配線群での配線不良を検査することはできない。このため、配線群での配線不良を検出できなかったパネルが後工程に流出するおそれがある。この後工程では、駆動ＩＣチップやフレキシブルプリント基板（ＦＰＣ）などの高価な部品が実装されるため、不良パネルの流出は、製造歩留まりの低下を招く。
特開平０６−１６０８９８号公報特開２００１−０１３８９２号公報

この発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することにある。

本実施形態によれば、
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線と、複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線と、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線と、複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線と、を備えたことを特徴とする表示装置が提供される。

本実施形態によれば、
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査方法であって、複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線に第１検査信号を入力し、複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線に第２検査信号を入力し、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線に第３検査信号を入力し、複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線に第４検査信号を入力する工程と、これら第１乃至第４検査信号の入力に基づき、前記奇数番配線群における配線不良、前記偶数番配線群における配線不良、及び、前記有効表示部における前記奇数番走査線及び前記偶数番走査線の配線不良を検査する工程と、を備えたことを特徴とする表示装置の検査方法が提供される。

本実施形態によれば、
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査方法であって、複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線及び複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線に第１検査信号を入力し、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線及び複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線に第２検査信号を入力する工程と、これら第１及び第２検査信号の入力に基づき、前記有効表示部における前記奇数番走査線及び前記偶数番走査線の配線不良を検査する工程と、前記第１検査用配線及び前記第３検査用配線に第１検査信号を入力し、前記第２検査用配線及び前記第４検査用配線に第２検査信号を入力する工程と、これら第１及び第２検査信号の入力に基づき、前記奇数番配線群における配線不良、及び、前記偶数番配線群における配線不良を検査する工程と、を備えたことを特徴とする表示装置の検査方法が提供される。

本実施形態によれば、
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査装置であって、複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線に入力する第１検査信号を生成し、複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線に入力する第２検査信号を生成し、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線に入力する第３検査信号を生成し、複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線に入力する第４検査信号を生成する信号生成手段を備えたことを特徴とする表示装置の検査装置が提供される。

本実施形態によれば、
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査装置であって、第１検査信号及び第２検査信号を生成する信号生成手段と、前記信号生成手段により生成された各検査信号を複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線及び複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線、及び、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線及び複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線にそれぞれ入力する信号入力手段と、を備え、前記信号入力手段は、第１検査工程において、前記第１検査用配線及び前記第２検査用配線に第１検査信号を入力するとともに、前記第３検査用配線及び前記第４検査用配線に第２検査信号を入力し、第２検査工程において、前記第１検査用配線及び前記第３検査用配線に第１検査信号を入力するとともに、前記第２検査用配線及び前記第４検査用配線に第２検査信号を入力することを特徴とする表示装置の検査装置が提供される。

この発明によれば、パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することができる。

以下、この発明の一実施の形態に係る表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置について図面を参照して説明する。

図１に示すように、表示装置の一例としての液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル１を備えている。この液晶表示パネル１は、一対の基板すなわちアレイ基板３及び対向基板４と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層５と、によって構成されている。この液晶表示パネル１は、画像を表示する矩形状の有効表示部６を備えている。この有効表示部６は、マトリクス状に配置された複数の表示画素ＰＸによって構成されている。

アレイ基板３は、有効表示部６において、表示画素ＰＸの行方向に沿って延在する複数の走査線Ｙ（１、２、３、…、ｍ）、表示画素ＰＸの列方向に沿って延在する複数の信号線Ｘ（１、２、３、…、ｎ）、これら走査線Ｙと信号線Ｘとの交差部付近において表示画素ＰＸ毎に配置されたスイッチング素子７、スイッチング素子７に接続された画素電極８などを備えている。

スイッチング素子７は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などで構成されている。このスイッチング素子７のゲート電極７Ｇは、対応する走査線Ｙに電気的に接続されている（あるいは走査線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のドレイン電極７Ｄは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている（あるいは信号線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のソース電極７Ｓは、対応する表示画素ＰＸの画素電極８に電気的に接続されている。

対向基板４は、有効表示部６において、全表示画素ＰＸに共通の対向電極９などを備えている。これらアレイ基板３及び対向基板４は、画素電極８と対向電極９とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層５は、アレイ基板３と対向基板４とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。

カラー表示タイプの液晶表示装置では、液晶表示パネル１は、複数種類の表示画素、例えば赤（Ｒ）を表示する赤色画素、緑（Ｇ）を表示する緑色画素、青（Ｂ）を表示する青色画素を有している。すなわち、赤色画素は、赤色の主波長の光を透過する赤色カラーフィルタを備えている。緑色画素は、緑色の主波長の光を透過する緑色カラーフィルタを備えている。青色画素は、青色の主波長の光を透過する青色カラーフィルタを備えている。これらカラーフィルタは、アレイ基板３または対向基板４の主面に配置される。

液晶表示パネル１は、有効表示部６の外側に位置する外周部１０に配置された駆動ＩＣチップ１１を備えている。図１に示した例では、駆動ＩＣチップ１１は、対向基板４の端部４Ａより外方に延在したアレイ基板３の延在部１０Ａ上に配置されている。この駆動ＩＣチップ１１は、各信号線Ｘに駆動信号（映像信号）を供給する信号線駆動部１１Ｘ、及び、各走査線Ｙに駆動信号（走査信号）を供給する走査線駆動部１１Ｙを有している。

走査線駆動部１１Ｙは、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に対して駆動信号を出力する第１駆動部１１Ｙ１、及び、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に対して駆動信号を出力する第２駆動部１１Ｙ２を含んでいる。これら第１駆動部１１Ｙ１及び第２駆動部１１Ｙ２は、信号線駆動部１１Ｘを挟んだ両側にそれぞれ配置されている。

第１駆動部１１Ｙ１は、外周部１０の一端側１０Ｂに配置された奇数番配線群２０を介して奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）と電気的に接続されている。この奇数番配線群２０は、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（１、３、５、…）によって構成されている。つまり、第１駆動部１１Ｙ１から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（１、３、５、…）を介して対応する奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に供給され、奇数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。

第２駆動部１１Ｙ２は、外周部１０の他端側１０Ｃに配置された偶数番配線群３０を介して偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）と電気的に接続されている。この偶数番配線群３０は、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（２、４、６、…）によって構成されている。つまり、第２駆動部１１Ｙ２から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（２、４、６、…）を介して対応する偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に供給され、偶数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。

アレイ基板３は、図２に示すように、外周部１０における奇数番配線群２０の各配線間の配線不良、偶数番配線群３０の各配線間の配線不良、及び、有効表示部６における配線不良を検査するための検査用配線部４０を備えている。この検査用配線部４０は、信号線駆動部１１Ｘに対応して設けられた信号線検査部４１、走査線駆動部１１Ｙの第１駆動部１１Ｙ１に対応して設けられた第１走査線検査部４２、第２駆動部１１Ｙ２に対応して設けられた第２走査線検査部４３、及び、各検査部４１、４２、４３に各種信号を入力するためのパッド部４４を有している。

信号線検査部４１は、各信号線Ｘに接続された信号線検査用配線５１を備えている。ここでは、信号線検査用配線５１は、赤色画素に接続された信号線に検査信号を供給するための赤色検査用配線５１Ｒ、緑色画素に接続された信号線に検査信号を供給するための緑色検査用配線５１Ｇ、及び、青色画素に接続された信号線に検査信号を供給するための青色検査用配線５１Ｂを有している。

また、信号線検査部４１は、各信号線Ｘ（１、２、…、ｎ）と信号線検査用配線５１(Ｒ、Ｇ、Ｂ)との間にスイッチ素子６１を備えている。これらのスイッチ素子６１は、薄膜トランジスタによって構成されている。すなわち、各スイッチ素子６１のゲート電極６１Ｇは、共通のスイッチ信号線５４に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６１のソース電極６１Ｓは、対応する信号線検査用配線５１（Ｒ、Ｇ、Ｂ）に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６１のドレイン電極６１Ｄは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている。

第１走査線検査部４２は、奇数番配線群２０の第１配線２１、例えば配線Ｗ１、Ｗ５、Ｗ９…に接続された第１検査用配線５２Ａと、第１配線２１に隣接する第２配線２２、例えばＷ３、Ｗ７、Ｗ１１…に接続された第２検査用配線５２Ｂと、を備えている。

また、第１走査線検査部４２は、各第１配線２１と第１検査用配線５２Ａとの間にスイッチ素子６２を備えるとともに、各第２配線２２と第２検査用配線５２Ｂとの間に同様のスイッチ素子６２を備えている。これらのスイッチ素子６２は、薄膜トランジスタによって構成されている。

すなわち、各スイッチ素子６２のゲート電極６２Ｇは、共通のスイッチ信号線５４に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６２のソース電極６２Ｓは、対応する第１検査用配線５２Ａまたは第２検査用配線５２Ｂに電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６２のドレイン電極６２Ｄは、対応する第１配線２１または第２配線２２に電気的に接続されている。

第２走査線検査部４３は、偶数番配線群３０の第３配線３３、例えば配線Ｗ２、Ｗ６、Ｗ１０…に接続された第３検査用配線５３Ａと、第３配線３３に隣接する第４配線３４、例えばＷ４、Ｗ８、Ｗ１２…に接続された第４検査用配線５３Ｂと、を備えている。

また、第２走査線検査部４３は、各第３配線３３と第３検査用配線５３Ａとの間にスイッチ素子６３を備えるとともに、各第４配線３４と第４検査用配線５３Ｂとの間に同様のスイッチ素子６３を備えている。これらのスイッチ素子６３は、薄膜トランジスタによって構成されている。

すなわち、各スイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇは、共通のスイッチ信号線５４に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６３のソース電極６３Ｓは、対応する第３検査用配線５３Ａまたは第４検査用配線５３Ｂに電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６３のドレイン電極６３Ｄは、対応する第３配線３３または第４配線３４に電気的に接続されている。

パッド部４４は、信号線検査用配線５１（Ｒ、Ｇ、Ｂ）のそれぞれの一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド７１（Ｒ、Ｇ、Ｂ）、第１乃至第４検査用配線５２Ａ、５２Ｂ、５３Ａ、５３Ｂのそれぞれの一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド７２Ａ、７２Ｂ、７３Ａ、７３Ｂ、スイッチ信号線５４の一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド７４を備えている。

入力パッド７１(Ｒ、Ｇ、Ｂ)から入力される駆動信号は、検査段階において各表示画素ＰＸの画素電極８に書き込まれる検査用映像信号である。入力パッド７２Ａ、７２Ｂ、７３Ａ、７３Ｂから入力される駆動信号は、検査段階において各表示画素ＰＸのスイッチング素子７のオン・オフを制御するための検査信号である。入力パッド７４から入力される駆動信号は、検査段階において各検査部のスイッチ素子６１、６２、６３のオン・オフを制御するためのスイッチ信号である。

各信号線Ｘ（１、２、…ｎ）、奇数番配線群２０の各配線２１、２２、及び、偶数番配線群３０の各配線３３、３４は、それぞれの中途部に駆動ＩＣチップ１１との接続を可能とする接続パッドＰＤを備えている。

上述したような構成の液晶表示装置によれば、有効表示部の両端側から奇数番走査線及び偶数番走査線にそれぞれ駆動信号を供給可能なレイアウトにおいて、奇数番走査線に駆動信号を供給するための奇数番配線群を構成する第１配線及びこれに隣接する第２配線に対してそれぞれ個別の検査信号を入力することが可能となるとともに、偶数番走査線に駆動信号を供給するための偶数番配線群を構成する第３配線及びこれに隣接する第４配線に対してそれぞれ個別の検査信号を入力することが可能となる。このため、奇数番配線群における配線間でのショートや各配線の断線、及び、偶数番配線群における配線間でのショートや各配線の断線といったパネル上での配線不良を確実に検出することが可能となる。

（検査装置）
次に、上述したような構成の液晶表示装置において、液晶表示パネル上での配線不良を検出するための検査装置１００について説明する。すなわち、検査装置１００は、図３に示すように、パッド部４４の各入力パッドに接続可能な複数のプローブ１０１と、プローブ１０１を介して第１乃至第４検査用配線に入力する検査信号を含む各種信号を生成する信号生成部１０２と、信号生成部１０２によって生成された各検査信号を対応する第１乃至第４検査用配線に入力する信号入力部１０３と、を備えている。

（第１検査方法）
次に、上述したような構成の液晶表示装置において、液晶表示パネル上での配線不良を検出するための第１検査方法について説明する。なお、この第１検査方法は、液晶表示パネル１を形成した後の工程であって、駆動ＩＣチップ１１を液晶表示パネル１に実装する前の工程として行われるものである。また、この第１検査方法に適用される検査装置１００では、信号生成部１０２は、独立した４種類の検査信号すなわち第１検査信号、第２検査信号、第３検査信号、及び、第４検査信号を生成する。

すなわち、この第１検査方法では、まず、検査装置１００のプローブ１０１を、液晶表示パネル１のパッド部４４における対応する入力パッドに接続する。そして、所定のタイミングにおいて、信号生成部１０２は、スイッチ信号線５４に対してスイッチ信号を入力する。このようなスイッチ信号の入力により、信号線検査部４１の各スイッチ素子６１、第１走査線検査部４２の各スイッチ素子６２、及び、第２走査線検査部４３の各スイッチ素子６３は、適時オン状態となる。

続いて、信号入力部１０３は、スイッチ素子６２がオンしたのに基づいて、奇数番配線群２０の第１配線２１に接続された第１検査用配線５２Ａに第１検査信号を入力し、また、第２配線２２に接続された第２検査用配線５２Ｂに第２検査信号を入力する。これにより、奇数番走査線のそれぞれに奇数番配線群２０を介して第１検査信号または第２検査信号が供給される。このような第１検査信号及び第２検査信号の入力により、有効表示部６内の奇数番走査線に接続された各スイッチング素子７は、適時オン状態となる。

また、信号入力部１０３は、スイッチ素子６３がオンしたのに基づいて、偶数番配線群３０の第３配線３３に接続された第３検査用配線５３Ａに第３検査信号を入力し、また、第４配線３４に接続された第４検査用配線５３Ｂに第４検査信号を入力する。これにより、偶数番走査線のそれぞれに偶数番配線群３０を介して第３検査信号または第４検査信号が供給される。このような第３検査信号及び第４検査信号の入力により、有効表示部６内の偶数番走査線に接続された各スイッチング素子７は、適時オン状態となる。

続いて、これら第１乃至第４検査信号の入力に基づき、奇数番配線群２０における第１配線２１と第２配線２２との間のショート、偶数番配線群３０における第３配線３３と第４配線３４との間のショート、及び、有効表示部６における奇数番走査線と偶数番走査線との間のショートを検査する。この第１検査方法では、この検査工程において、信号生成部１０２は、有効表示部６内の各スイッチング素子７がオンした状態において、信号線検査用配線５１（Ｒ、Ｇ、Ｂ）を介して各信号線Ｘに検査用映像信号を入力する。これにより、液晶表示パネル１の有効表示部６における各表示画素ＰＸに検査用映像信号が書き込まれる。このような検査用映像信号の書き込みにより、液晶表示パネル１上の各種配線の配線不良を検査する。

すなわち、図４に示すように、奇数番配線群２０の第１配線２１から対応する奇数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第１検査用配線５２Ａから第１検査信号を入力するとともに、各信号線Ｘに検査用映像信号を入力する。このとき、奇数番配線群２０において隣接する第１配線２１と第２配線２２との間でショートが発生していた場合、例えば配線Ｗ１と配線Ｗ３との間でショートが発生していた場合、配線Ｗ１に接続された走査線Ｙ１のみならず、配線Ｗ３に接続された走査線Ｙ３にも第１検査信号が供給される。このため、走査線Ｙ１に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７のみならず、走査線Ｙ３に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Ｙ１、Ｙ５、Ｙ９…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となるべきところ、配線Ｗ１と配線Ｗ３との間のショートにより、走査線Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５、Ｙ９…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となる。

このように、各スイッチング素子７がオンした状態において、検査用映像信号が供給されると、液晶表示パネル１において、対応する表示画素ＰＸが点灯する。このため、液晶表示パネル１における表示画素ＰＸの点灯状態を観察することにより、奇数番配線群２０における第１配線２１と第２配線２２との間のショートが検査可能となる。

同様に、奇数番配線群２０の第２配線２２から対応する奇数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第２検査用配線５２Ｂから第２検査信号を入力するとともに、各信号線Ｘに検査信号を入力する。これにより、奇数番配線群２０における第１配線２１と第２配線２２との間のショートが検査可能となる。

また、図４に示すように、偶数番配線群３０の第３配線３３から対応する偶数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第３検査用配線５３Ａから第３検査信号を入力するとともに、各信号線Ｘに検査用映像信号を入力する。このとき、偶数番配線群３０において隣接する第３配線３３と第４配線３４との間でショートが発生していた場合、例えば配線Ｗ２と配線Ｗ４との間でショートが発生していた場合、配線Ｗ２に接続された走査線Ｙ２のみならず、配線Ｗ４に接続された走査線Ｙ４にも第３検査信号が供給される。このため、走査線Ｙ２に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７のみならず、走査線Ｙ４に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Ｙ２、Ｙ６、Ｙ１０…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となるべきところ、配線Ｗ２と配線Ｗ４との間のショートにより、走査線Ｙ２、Ｙ４、Ｙ６、Ｙ１０…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となる。これにより、偶数番配線群３０における第３配線３３と第４配線３４との間のショートが検査可能となる。

同様に、偶数番配線群３０の第４配線３４から対応する偶数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第４検査用配線５３Ｂから第４検査信号を入力するとともに、各信号線Ｘに検査信号を入力する。これにより、偶数番配線群３０における第３配線３３と第４配線３４との間のショートが検査可能となる。

加えて、これら奇数番配線群２０及び偶数番配線群３０におけるショートの検査と同時に、有効表示部６における奇数番走査線と偶数番走査線との間のショートを検査することも可能である。すなわち、奇数番走査線と偶数番走査線との間でショートが発生していた場合、例えば走査線Ｙ１と走査線Ｙ２との間でショートが発生していた場合、奇数番配線群２０の第１配線２１と第２配線２２との間のショートを検査する工程において、第１配線２１から対応する奇数番走査線に第１検査信号を入力すると、走査線Ｙ１及び走査線Ｙ３に第１検査信号が供給される。このため、走査線Ｙ１に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７のみならず、走査線Ｙ２に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Ｙ１、Ｙ５、Ｙ９…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となるべきところ、走査線Ｙ１と走査線Ｙ２との間のショートにより、走査線Ｙ１、Ｙ２、Ｙ５、Ｙ９…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となる。

このように、各スイッチング素子７がオンした状態において、各信号線Ｘに検査用映像信号が供給されると、液晶表示パネル１において、対応する表示画素ＰＸが点灯する。このため、液晶表示パネル１における表示画素ＰＸの点灯状態を観察することにより、隣接する走査線間のショートが検査可能となる。

さらに、上述した第１検査方法によれば、配線間のショートの検査に加えて、液晶表示パネル１における表示画素ＰＸの点灯状態を観察することにより、駆動ＩＣチップ１１との接続を可能とする接続パッドＰＤから各配線の終端までの断線を検査することも可能である。すなわち、各種検査信号の入力に基づき、表示画素ＰＸの点灯状態を観察することにより、奇数番配線群２０を構成する第１配線２１及び第２配線２２、偶数番配線群３０を構成する第３配線３３及び第４配線３４、さらには、有効表示部６における走査線Ｙ及び信号線Ｘのそれぞれの終端までの断線を検査するが可能である（断線を生じていた場合、対応する表示画素ＰＸが点灯しない）。

上述したように、第１検査方法によれば、有効表示部の両端側から奇数番走査線及び偶数番走査線にそれぞれ駆動信号を供給可能なレイアウトの液晶表示装置に対して、検査装置は、４種類の検査信号を生成し、奇数番配線群を構成する第１配線に対して第１検査信号を入力するとともに第１配線に隣接する第２配線に対して第２検査信号を入力する。このような検査信号の入力に基づき、奇数番配線群での配線不良、及び、偶数番配線群での配線不良を確実に検出することが可能となる。また、同時に、有効表示部における奇数番走査線と偶数番走査線との間のショートや走査線及び信号線の断線などの配線不良も確実に検出することが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となり、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。

（第２検査方法）
次に、上述したような構成の液晶表示装置において、液晶表示パネル上での配線不良を検出するための第２検査方法について説明する。なお、この第２検査方法も同様に、液晶表示パネル１を形成した後の工程であって、駆動ＩＣチップ１１を液晶表示パネル１に実装する前の工程として行われるものである。また、この第２検査方法に適用される検査装置１００では、信号生成部１０２は、独立した２種類の検査信号すなわち第１検査信号及び第２検査信号を生成する。

すなわち、この第２検査方法では、まず、検査装置１００のプローブ１０１を、液晶表示パネル１のパッド部４４における対応する入力パッドに接続する。そして、所定のタイミングにおいて、信号生成部１０２は、スイッチ信号線５４に対してスイッチ信号を入力する。このようなスイッチ信号の入力により、信号線検査部４１の各スイッチ素子６１、第１走査線検査部４２の各スイッチ素子６２、及び、第２走査線検査部４３の各スイッチ素子６３は、適時オン状態となる。

続いて、第１検査工程においては、信号入力部１０３は、スイッチ素子６２がオンしたのに基づいて、奇数番配線群２０の第１配線２１に接続された第１検査用配線５２Ａ及び第２配線２２に接続された第２検査用配線５２Ｂに第１検査信号を入力する。これにより、奇数番走査線のそれぞれに奇数番配線群２０を介して第１検査信号が供給される。このような第１検査信号の入力により、有効表示部６内の奇数番走査線に接続された各スイッチング素子７は、適時オン状態となる。

また、信号入力部１０３は、スイッチ素子６３がオンしたのに基づいて、偶数番配線群３０の第３配線３３に接続された第３検査用配線５３Ａ及び第４配線３４に接続された第４検査用配線５３Ｂに第２検査信号を入力する。これにより、偶数番走査線のそれぞれに偶数番配線群３０を介して第２検査信号が供給される。このような第２検査信号の入力により、有効表示部６内の偶数番走査線に接続された各スイッチング素子７は、適時オン状態となる。
続いて、これら第１及び第２検査信号の入力に基づき、有効表示部６における奇数番走査線と偶数番走査線との間のショートを検査する。

続いて、第２検査工程において、信号入力部１０３は、スイッチ素子６２がオンしたのに基づいて、第１検査用配線５２Ａ及び第３検査用配線５３Ａに第１検査信号を入力する。これにより、奇数番走査線のそれぞれに奇数番配線群２０の第１配線２１を介して第１検査信号が供給されるとともに、偶数番走査線のそれぞれに偶数番配線群３０の第３配線３３を介して第１検査信号が供給される。このような第１検査信号の入力により、有効表示部６内の奇数番走査線及び偶数番走査線に接続された各スイッチング素子７は、適時オン状態となる。

また、信号入力部１０３は、スイッチ素子６３がオンしたのに基づいて、第２検査用配線５２Ｂ及び第４検査用配線５３Ｂに第２検査信号を入力する。これにより、奇数番走査線のそれぞれに奇数番配線群２０の第２配線２２を介して第２検査信号が供給されるとともに、偶数番走査線のそれぞれに偶数番配線群３０の第４配線３４を介して第２検査信号が供給される。このような第２検査信号の入力により、有効表示部６内の奇数番走査線及び偶数番走査線に接続された各スイッチング素子７は、適時オン状態となる。

続いて、これら第１及び第２検査信号の入力に基づき、奇数番配線群２０における第１配線２１と第２配線２２との間のショート、及び、偶数番配線群３０における第３配線３３と第４配線３４との間のショートを検査する。この第２検査方法における第１検査工程及び第２検査工程では、信号生成部１０２は、有効表示部６内の各スイッチング素子７がオンした状態において、信号線検査用配線５１（Ｒ、Ｇ、Ｂ）を介して各信号線Ｘに検査用映像信号を入力する。これにより、液晶表示パネル１の有効表示部６における各表示画素ＰＸに検査用映像信号が書き込まれる。このような検査用映像信号の書き込みにより、液晶表示パネル１上の配線間のショートを検査する。

すなわち、図５に示すように、第１検査工程においては、奇数番配線群２０の第１配線２１及び第２配線２２から対応する奇数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第１検査信号を入力するとともに、各信号線Ｘに検査用映像信号を入力する。このとき、奇数番走査線と偶数番走査線との間でショートが発生していた場合、例えば走査線Ｙ１と走査線Ｙ２との間でショートが発生していた場合、第１配線２１及び第２配線２２から対応する奇数番走査線に第１検査信号を入力すると、奇数番走査線Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５…のみならず、走査線Ｙ２に第１検査信号が供給される。このため、奇数番走査線に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７のみならず、走査線Ｙ２に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となるべきところ、走査線Ｙ１と走査線Ｙ２との間のショートにより、走査線Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ５…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となる。

このように、各スイッチング素子７がオンした状態において、各信号線Ｘに検査用映像信号が供給されると、液晶表示パネル１において、対応する表示画素ＰＸが点灯する。このため、液晶表示パネル１における表示画素ＰＸの点灯状態を観察することにより、有効表示部６内における隣接する走査線間のショートが検査可能となる。

同様に、偶数番配線群３０の第３配線３３及び第４配線３４から対応する偶数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第２検査信号を入力するとともに、各信号線Ｘに検査用映像信号を入力する。これにより、有効表示部６内における隣接する走査線間のショートが検査可能となる。

また、図５に示すように、第２検査工程においては、奇数番配線群２０の第１配線２１及び偶数番配線群３０の第３配線３３から対応する走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第１検査信号を入力するとともに、各信号線Ｘに検査用映像信号を入力する。

このとき、奇数番配線群２０において隣接する第１配線２１と第２配線２２との間でショートが発生していた場合、例えば配線Ｗ１と配線Ｗ３との間でショートが発生していた場合、配線Ｗ１に接続された走査線Ｙ１のみならず、配線Ｗ３に接続された走査線Ｙ３にも第１検査信号が供給される。このため、走査線Ｙ１に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７のみならず、走査線Ｙ３に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Ｙ１、Ｙ５、Ｙ９…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となるべきところ、配線Ｗ１と配線Ｗ３との間のショートにより、走査線Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５、Ｙ９…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となる。これにより、奇数番配線群２０における第１配線２１と第２配線２２との間のショートが検査可能となる。

また、このとき、偶数番配線群３０において隣接する第３配線３３と第４配線３４との間でショートが発生していた場合、例えば配線Ｗ２と配線Ｗ４との間でショートが発生していた場合、配線Ｗ２に接続された走査線Ｙ２のみならず、配線Ｗ４に接続された走査線Ｙ４にも第１検査信号が供給される。このため、走査線Ｙ２に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７のみならず、走査線Ｙ４に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Ｙ２、Ｙ６、Ｙ１０…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となるべきところ、配線Ｗ２と配線Ｗ４との間のショートにより、走査線Ｙ２、Ｙ４、Ｙ６、Ｙ１０…に接続された表示画素ＰＸのスイッチング素子７がオンした状態となる。これにより、偶数番配線群３０における第３配線３３と第４配線３４との間のショートが検査可能となる。

同様に、奇数番配線群２０の第２配線２２及び偶数番配線群３０の第４配線３４から対応する走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第２検査信号を入力するとともに、各信号線Ｘに検査用映像信号を入力する。これにより、奇数番配線群２０における第１配線２１と第２配線２２との間のショート、及び、偶数番配線群３０における第３配線３３と第４配線３４との間のショートが検査可能となる。

さらに、上述した第２検査方法によれば、配線間のショートの検査に加えて、液晶表示パネル１における表示画素ＰＸの点灯状態を観察することにより、駆動ＩＣチップ１１との接続を可能とする接続パッドＰＤから各配線の終端までの断線を検査することも可能である。すなわち、各種検査信号の入力に基づき、表示画素ＰＸの点灯状態を観察することにより、奇数番配線群２０を構成する第１配線２１及び第２配線２２、偶数番配線群３０を構成する第３配線３３及び第４配線３４、さらには、有効表示部６における走査線Ｙ及び信号線Ｘのそれぞれの終端までの断線を検査するが可能である（断線を生じていた場合、対応する表示画素ＰＸが点灯しない）。

上述したように、第２検査方法によれば、有効表示部の両端側から奇数番走査線及び偶数番走査線にそれぞれ駆動信号を供給可能なレイアウトの液晶表示装置に対して、検査装置は、２種類の検査信号を生成し、第１検査工程においては、奇数番配線群を構成する第１配線及び第２配線に対して第１検査信号を入力するとともに偶数番配線群を構成する第３配線及び第４配線に対して第２検査信号を入力する。このような検査信号の入力に基づき、有効表示部における奇数番走査線と偶数番走査線との間のショートや走査線及び信号線の断線などの配線不良を確実に検出することが可能となる。また、第２検査工程においては、第１配線及び第３配線に対して第１検査信号を入力するとともに第２配線及び第４配線に対して第２検査信号を入力する。このような検査信号の入力に基づき、奇数番配線群での配線不良、及び、偶数番配線群での配線不良を確実に検出することが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となり、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。

このような第２検査方法は、有効表示部内の隣接する走査線間の配線不良を検査する工程と、有効表示部外の配線群を構成する配線間の配線不良を検査する工程との２工程を必要とするが、２種類の検査信号を生成できる検査装置を用意すれば良いため、検査装置のコストを低減することができ、有効である。

なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。

この発明の表示装置は、上述した液晶表示装置に限定されるものではなく、有効表示部の両端側から奇数番走査線及び偶数番走査線にそれぞれ駆動信号を供給可能なレイアウトの表示装置であれば適用可能であり、自己発光素子を表示素子とする有機エレクトロルミネッセンス表示装置などであっても良い。

図１は、この発明の一実施の形態に係る液晶表示装置の液晶表示パネルの構成を概略的に示す図である。図２は、図１に示した液晶表示パネルの検査用配線部の構成を概略的に示す図である。図３は、図１に示した液晶表示パネルに適用可能な検査装置の構成を概略的に示す図である。図４は、図１に示した液晶表示パネルに適用可能な第１検査方法を説明するための図である。図５は、図１に示した液晶表示パネルに適用可能な第２検査方法を説明するための図である。

符号の説明

１…液晶表示パネル、２０…奇数番配線群、３０…偶数番配線群、４０…検査用配線部、１００…検査装置、ＰＸ…表示画素、Ｘ…信号線、Ｙ…走査線、Ｗ…配線

Claims

複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、
前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、
複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線と、
複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線と、
複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線と、
複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線と、
を備えたことを特徴とする表示装置。
前記第１乃至第４検査用配線は、それぞれの一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッドを有することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、
前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査方法であって、
複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線に第１検査信号を入力し、複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線に第２検査信号を入力し、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線に第３検査信号を入力し、複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線に第４検査信号を入力する工程と、
これら第１乃至第４検査信号の入力に基づき、前記奇数番配線群における配線不良、前記偶数番配線群における配線不良、及び、前記有効表示部における前記奇数番走査線及び前記偶数番走査線の配線不良を検査する工程と、
を備えたことを特徴とする表示装置の検査方法。
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、
前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査方法であって、
複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線及び複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線に第１検査信号を入力し、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線及び複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線に第２検査信号を入力する工程と、
これら第１及び第２検査信号の入力に基づき、前記有効表示部における前記奇数番走査線及び前記偶数番走査線の配線不良を検査する工程と、
前記第１検査用配線及び前記第３検査用配線に第１検査信号を入力し、前記第２検査用配線及び前記第４検査用配線に第２検査信号を入力する工程と、
これら第１及び第２検査信号の入力に基づき、前記奇数番配線群における配線不良、及び、前記偶数番配線群における配線不良を検査する工程と、
を備えたことを特徴とする表示装置の検査方法。
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、
前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査装置であって、
複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線に入力する第１検査信号を生成し、複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線に入力する第２検査信号を生成し、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線に入力する第３検査信号を生成し、複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線に入力する第４検査信号を生成する信号生成手段を備えたことを特徴とする表示装置の検査装置。
複数の表示画素によって構成された有効表示部に備えられ、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の奇数番走査線と、
前記有効表示部に備えられ、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される複数の偶数番走査線と、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、前記奇数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第１配線及び前記第１配線と交互に配置され前記第１配線に隣接する第２配線とからなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、前記偶数番走査線にそれぞれ接続された配線であって、複数の第３配線及び前記第３配線と交互に配置され前記第３配線に隣接する第４配線とからなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査装置であって、
第１検査信号及び第２検査信号を生成する信号生成手段と、
前記信号生成手段により生成された各検査信号を複数の前記第１配線に接続された第１検査用配線及び複数の前記第２配線に接続された第２検査用配線、及び、複数の前記第３配線に接続された第３検査用配線及び複数の前記第４配線に接続された第４検査用配線にそれぞれ入力する信号入力手段と、を備え、
前記信号入力手段は、第１検査工程において、前記第１検査用配線及び前記第２検査用配線に第１検査信号を入力するとともに、前記第３検査用配線及び前記第４検査用配線に第２検査信号を入力し、第２検査工程において、前記第１検査用配線及び前記第３検査用配線に第１検査信号を入力するとともに、前記第２検査用配線及び前記第４検査用配線に第２検査信号を入力することを特徴とする表示装置の検査装置。
さらに、前記第１検査用配線の一端部の入力パッドに接続可能な第１プローブと、
前記第２検査用配線の一端部の入力パッドに接続可能な第２プローブと、
前記第３検査用配線の一端部の入力パッドに接続可能な第３プローブと、
前記第４検査用配線の一端部の入力パッドに接続可能な第４プローブと、
を備えたことを特徴とする請求項５または６に記載の表示装置の検査装置。