JP2006126619A - 表示装置 - Google Patents

Abstract

【課題】品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線８０と、検査用配線８０とは絶縁層１００を介して異なる層において検査用配線８０と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置された導電層９０と、を備えたことを特徴とする。
【選択図】 図５Ｂ

Description

この発明は、表示装置に係り、特に、品質に関わる検査を行うための検査部を備えた表示装置に関する。

液晶表示装置などの表示装置は、マトリクス状の表示画素によって構成された有効表示部を備えている。この有効表示部は、表示画素の行方向に沿って延在する複数の走査線、表示画素の列方向に沿って延在する複数の信号線、これら走査線と信号線との交差部付近に配置されたスイッチング素子、スイッチング素子に接続された画素電極などを備えている。これら各走査線及び各信号線は、有効表示部の外周部に引き出されている。

近年では、表示画素数の増加に伴い、有効表示部及びその外周部において、走査線や信号線などの各種配線は、細い線幅でしかも僅かな間隔で隣接するように配置されている。このため、配線間でのショートや各配線の断線などといった配線不良を厳密に検査する必要がある。例えば、検査制御回路を液晶表示装置に接続し、隣接する走査線に位相の異なる信号を供給することにより、配線不良を検査する方法が提案されている（例えば、特許文献１。）。また、有効表示部の外周部に検査配線を備えた液晶表示装置も提案されている（例えば、特許文献２参照。）。
特開平０６−１６０８９８号公報 特開２００３−１５７０５３号公報

この発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することにある。

この発明の第１の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、
前記検査用配線とは絶縁層を介して異なる層において、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置された導電層と、
を備えたことを特徴とする。

この発明の第２の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、
前記検査用制御配線とは絶縁層を介して異なる層において、前記検査用制御配線の終端部と所定の間隔をおいて対向するように配置された導電層と、
を備えたことを特徴とする。

この発明によれば、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することができる。

以下、この発明の一実施の形態に係る表示装置について図面を参照して説明する。

図１に示すように、表示装置の一例としての液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル１を備えている。この液晶表示パネル１は、一対の基板すなわちアレイ基板３及び対向基板４と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層５と、によって構成されている。この液晶表示パネル１は、画像を表示する矩形状の有効表示部６を備えている。この有効表示部６は、マトリクス状に配置された複数の表示画素ＰＸによって構成されている。

アレイ基板３は、有効表示部６に配置された配線、例えば、表示画素ＰＸの行方向に沿って延在する複数の走査線Ｙ（１、２、３、…、ｍ）や、表示画素ＰＸの列方向に沿って延在する複数の信号線Ｘ（１、２、３、…、ｎ）などを備えている。また、アレイ基板３は、有効表示部６において、これらの各種配線の他に、これら走査線Ｙと信号線Ｘとの交差部付近において表示画素ＰＸ毎に配置されたスイッチング素子７、スイッチング素子７に接続された画素電極８などを備えている。

スイッチング素子７は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などで構成されている。このスイッチング素子７のゲート電極７Ｇは、対応する走査線Ｙに電気的に接続されている（あるいは走査線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のソース電極７Ｓは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている（あるいは信号線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のドレイン電極７Ｄは、対応する表示画素ＰＸの画素電極８に電気的に接続されている。

対向基板４は、有効表示部６において、全表示画素ＰＸに共通の対向電極９などを備えている。これらアレイ基板３及び対向基板４は、全表示画素ＰＸの画素電極８と対向電極９とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層５は、アレイ基板３と対向基板４とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。

カラー表示タイプの液晶表示装置では、液晶表示パネル１は、複数種類の表示画素、例えば赤（Ｒ）を表示する赤色画素、緑（Ｇ）を表示する緑色画素、青（Ｂ）を表示する青色画素を有している。すなわち、赤色画素は、赤色の主波長の光を透過する赤色カラーフィルタを備えている。緑色画素は、緑色の主波長の光を透過する緑色カラーフィルタを備えている。青色画素は、青色の主波長の光を透過する青色カラーフィルタを備えている。これらカラーフィルタは、アレイ基板３または対向基板４の主面に配置される。

液晶表示パネル１は、有効表示部６の外側に位置する外周部１０に配置された駆動ＩＣチップ１１を備えている。図１に示した例では、駆動ＩＣチップ１１は、対向基板４の端部４Ａより外方に延在したアレイ基板３の延在部１０Ａ上に配置されている。また、液晶表示パネル１は、有効表示部６に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板ＦＰＣを接続可能な接続パッド部ＰＰを備えている。図１に示した例では、接続パッド部ＰＰは、駆動ＩＣチップ１１と同様に延在部１０Ａ上に形成されている。

液晶表示パネル１に実装された駆動ＩＣチップ１１は、有効表示部６の各信号線Ｘに駆動信号（映像信号）を供給する信号線駆動部１１Ｘ、及び、有効表示部６の各走査線Ｙに駆動信号（走査信号）を供給する走査線駆動部１１Ｙを有している。走査線駆動部１１Ｙは、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に対して駆動信号を出力する第１駆動部１１Ｙ１、及び、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に対して駆動信号を出力する第２駆動部１１Ｙ２を含んでいる。これら第１駆動部１１Ｙ１及び第２駆動部１１Ｙ２は、信号線駆動部１１Ｘを挟んだ両側にそれぞれ配置されている。

第１駆動部１１Ｙ１は、外周部１０の一端側１０Ｂに配置された奇数番配線群２０を介して奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）と電気的に接続されている。この奇数番配線群２０は、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（１、３、５、…）によって構成されている。つまり、第１駆動部１１Ｙ１から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（１、３、５、…）を介して対応する奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に供給され、奇数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、奇数行目の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。

第２駆動部１１Ｙ２は、外周部１０の他端側１０Ｃに配置された偶数番配線群３０を介して偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）と電気的に接続されている。この偶数番配線群３０は、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（２、４、６、…）によって構成されている。つまり、第２駆動部１１Ｙ２から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（２、４、６、…）を介して対応する偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に供給され、偶数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、偶数行目の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。

アレイ基板３は、図２に示すように、奇数番配線群２０の配線不良、偶数番配線群３０の配線不良、及び、有効表示部６における配線不良や表示画素ＰＸの表示品位など、有効表示部６での品質に関わる検査を行うための検査部４０を備えている。この検査部４０は、信号線駆動部１１Ｘに対応して設けられた信号線検査部４１、走査線駆動部１１Ｙの第１駆動部１１Ｙ１に対応して設けられた第１走査線検査部４２、第２駆動部１１Ｙ２に対応して設けられた第２走査線検査部４３、及び、各検査部４１、４２、４３に検査用の信号を入力するためのパッド部４４を有している。

信号線検査部４１は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに各信号線Ｘに接続された信号線検査用駆動配線５１を備えている。また、信号線検査部４１は、各信号線Ｘ（１、２、…、ｎ）と信号線検査用駆動配線５１との間にスイッチ素子６１を備えている。さらに、信号線検査部４１は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６１のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。つまり、信号線検査用駆動配線５１及び検査用制御配線５５は、信号線検査部４１において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。

スイッチ素子６１は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６１のゲート電極６１Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６１のソース電極６１Ｓは、信号線検査用駆動配線５１に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６１のドレイン電極６１Ｄは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている。

第１走査線検査部４２は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに奇数番配線群２０の各配線２１、例えば配線Ｗ１、Ｗ３、Ｗ５…に接続された第１検査用駆動配線５２を備えている。また、第１走査線検査部４２は、各配線２１と第１検査用駆動配線５２との間にスイッチ素子６２を備えている。さらに、第１走査線検査部４２は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６２のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。この検査用制御配線５５は、信号線検査部４１と共通である。つまり、第１検査用駆動配線５２及び検査用制御配線５５は、第１走査線検査部４２において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。

スイッチ素子６２は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６２のゲート電極６２Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６２のソース電極６２Ｓは、第１検査用駆動配線５２に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６２のドレイン電極６２Ｄは、対応する配線２１に電気的に接続されている。

第２走査線検査部４３は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに偶数番配線群３０の各配線３１、例えば配線Ｗ２、Ｗ４、Ｗ６…に接続された第２検査用駆動配線５３を備えている。また、第２走査線検査部４３は、各配線３１と第２検査用駆動配線５３との間にスイッチ素子６３を備えている。さらに、第２走査線検査部４３は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６３のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。この検査用制御配線５５は、信号線検査部４１と共通である。つまり、第２検査用駆動配線５３及び検査用制御配線５５は、第２走査線検査部４３において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。

スイッチ素子６３は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６３のソース電極６３Ｓは、第２検査用駆動配線５３に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６３のドレイン電極６３Ｄは、対応する配線３１に電気的に接続されている。

パッド部４４は、信号線検査用駆動配線５１の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７１、第１検査用駆動配線５２の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７２、第２検査用駆動配線５３の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７３、及び、検査用制御配線５５の一端部に検査用の制御信号の入力を可能とする入力パッド７５を備えている。

入力パッド７１から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素ＰＸの画素電極８に書き込まれる検査信号である。入力パッド７２及び７３から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素ＰＸのスイッチング素子７のオン・オフを制御するための検査信号である。入力パッド７５から入力される制御信号は、検査段階において、信号線検査部４１のスイッチ素子６１、第１走査線検査部４２のスイッチ素子６２、及び、第２走査線検査部４３のスイッチ素子６３のオン・オフを制御するための検査信号である。

各信号線Ｘ（１、２、…ｎ）、奇数番配線群２０の各配線２１、及び、偶数番配線群３０の各配線３１は、それぞれの中途部に駆動ＩＣチップ１１との接続を可能とする接続パッドＰＤを備えている。

上述したような構成の表示装置においては、その製造過程において帯電した電荷が比較的設置面積の大きな配線に蓄積しやすい。特に、信号線検査用駆動配線５１、第１検査用駆動配線５２、第２検査用駆動配線５３、検査用制御配線５５、あるいは、対向電極９に対して全表示画素ＰＸに共通の電位を供給するための図示しないコモン配線などの検査用配線は、広い線幅を有し、しかも、長い配線長を有するため、設置面積が大きく、電荷が帯電しやすい。帯電した電荷は、配線の終端部や屈曲部に集中しやすく、隣接する他の導電層（配線や電極など）との間で静電放電を発生する原因となる。このような静電放電は、絶縁状態を維持すべき隣接する配線との間でのショートや、隣接する配線の断線を招くおそれがある。

例えば、図３に示すように、検査用制御配線５５の終端部付近に位置するスイッチ素子６３においては、半導体層６３ＳＣは、ソース電極６３Ｓ及びドレイン電極６３Ｄと電気的に接続されている。このような構成において、検査用制御配線５５に電荷が帯電すると、その終端部付近に配置されたスイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇに電荷が集中しやすく、ゲート電極６３Ｇとソース電極６３Ｓとの間やゲート電極６３Ｇとドレイン電極６３Ｄとの間でのショートを引き起すおそれがある。

また、図４に示すように、コモン配線ＣＯＭに電荷が帯電すると、その屈曲部ＢＤに電荷が集中しやすく、他の電位が供給される配線ＷＸと屈曲部ＢＤとの間でのショートを引き起すおそれがある。また、放電の規模が大きい場合には、隣接する配線ＷＸの断線を招くおそれがある。このようなショートや断線といった配線不良は、完成した液晶表示パネルにおける画素欠陥を生じさせるため、製造歩留まりを低下させる。

そこで、この実施の形態に係る表示装置においては、図５Ａ及び図５Ｂに示すように、検査用配線８０とは絶縁層１００を介して異なる層において、検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向するように配置された導電層９０を備えている。ここでは、特に、図５Ａに示すように、検査用配線８０及び導電層９０は、これらが配置される基板（つまりアレイ基板３）の面内において互いに重ならないように配置されている（すなわち、アレイ基板３の面内において、検査用配線８０と導電層９０との間隔Ｇがゼロとならない）。なお、図５Ｂに示した例では、検査用配線８０を絶縁層１００の下層に配置し、導電層９０を絶縁層１００の上層に配置したが、この例に限定されず、検査用配線８０を絶縁層１００の上層に配置し、導電層９０を絶縁層１００の下層に配置しても良いことは言うまでもない。

この導電層９０は、検査用配線８０に集中した電荷の放電を誘導するものであり、仮に放電が生じたとしても（あるいは、放電の結果としてショートや断線が生じたとしても）完成した液晶表示パネルにおいて何ら影響を及ぼさない導電層である。例えば、導電層９０は、検査用配線８０に対向して島状に配置された（すなわち電気的にフローティングした状態の）導電部材であっても良いし、所定信号（あるいは所定電圧）を供給するための配線などであっても良い。導電層９０が配線である場合、完成した液晶表示パネルにおいて表示に寄与するような信号が入力されない配線を導電層９０として利用することが望ましい。つまり、導電層９０として利用する配線は、フレキシブル配線基板ＦＰＣを実装後には、信号が入力されない、あるいは、検査部４０に設けられた各スイッチ素子６１、６２、６３をオフした状態で固定するような信号が入力される配線であることが望ましい。このような配線や島状の導電部材を導電層９０として利用することにより、例え検査用配線８０とショートしたとしても完成した液晶表示パネルにおいて、表示品位に何ら影響を及ぼすことがない。また、導電層９０が配線である場合、ショートや断線を生ずることなく検査用配線８０の電荷を逃がす程度の小規模の放電に抑制可能であれば、表示に寄与するような信号が入力される配線を導電層９０として利用しても良い。

また、検査用配線８０と導電層９０との間の所定の間隔Ｇとは、これらが配置されるアレイ基板３の面内において、放電を誘導可能な距離であり、できるだけ小さいことが望ましい。

検査用配線８０と導電層９０とを同一層に配置する場合、これらのパターニング工程における解像度限界により、両者の間隔Ｇにはある程度の限界がある。これに対して、検査用配線８０と導電層９０とを異なる層に配置する場合、これらのパターニング工程での制約から解放され、アレイ基板３の面内において実質的に間隔Ｇがゼロとなったとしても、絶縁層１００により両者を電気的に絶縁した状態を形成することが可能となる。つまり、検査用配線８０及び導電層９０を同一層に配置した場合と比較して、検査用配線８０と導電層９０との間隔をより小さくすることが可能となり、より放電を誘導しやすくすることが可能となる。

また、検査用配線８０及び導電層９０を同一層に近接した間隔で形成する場合に、パターニング工程で必要となるフォトマスクを高精度で作成する必要があったり、パターニング工程においてフォトマスクを高精度で位置合わせする必要があったりしたが、検査用配線８０及び導電層９０を異なる層に形成することで、このような要求を満たす必要がなくなり、製造コストを低減することが可能となるとともに製造歩留まりを向上することが可能となる。

さらに、導電層９０は、これと対向した状態で配置すべき検査用配線８０とは異なる層に形成される電極や配線と同一材料を用いて同一工程で形成可能である。例えば、検査用配線８０が検査用制御配線５５である場合、これとは絶縁層１００を介して異なる層に配置されるソース電極やドレイン電極などと同一材料を用いて同一工程で形成可能である。このため、別途に導電層９０を形成する工程が不要であり、製造コストの増大や製造歩留まりの大幅な劣化を招くことはない。

検査用配線８０の対向部８０Ａと導電層９０の対向部９０Ａとを向かい合わせたときのパターンの組み合わせは、図５Ａに示したような矩形状の対向部同士の組み合わせに限定されるものではない。すなわち、検査用配線８０の導電層９０と対向する対向部８０Ａ、及び、導電層９０の検査用配線８０と対向する対向部９０Ａは、図５Ａに示したように、矩形状であっても良いが、電荷が集中しやすいような形状（つまり、鋭利な形状）であることが望ましい。

例えば、検査用配線８０の対向部８０Ａは、導電層９０に向かって突き出した突角部を有することが望ましい。同様に、導電層９０の対向部９０Ａは、検査用配線８０に向かって突き出した突角部を有することが望ましい。図６Ａに示した例では、これらの対向部８０Ａ及び９０Ａが三角形状の突角部（つまり単一の頂角Ｔ）を有している構成を図示している。また、図６Ｂに示した例では、これらの対向部８０Ａ及び９０Ａが連続した三角形からなる鋸歯形状の突角部（つまり複数の頂角Ｔ）を有している構成を図示している。図６Ａ及び図６Ｂに示したように、対向部が突角部を有する場合、所定の間隔Ｇとは、これらが配置されるアレイ基板３の面内において、突角部の先端（つまり頂角Ｔ）と、これに対向する対向部との距離に対応する。

図７Ａに示すように、検査用配線８０と導電層９０とを向かい合わせたとき、一方の対向部が矩形状であって、他方の対向部が三角形状の突角部であるような組み合わせであっても良い。また、図７Ｂに示すように、検査用配線８０と導電層９０とを向かい合わせたとき、一方の対向部が矩形状であって、他方の対向部が鋸歯形状の突角部であるような組み合わせであっても良い。さらに、図７Ｃに示すように、検査用配線８０と導電層９０とを向かい合わせたとき、一方の対向部が三角形状であって、他方の対向部が三角形状の突角部であるような組み合わせであっても良いが、一方の対向部の頂角Ｔが他方の対向部の頂角Ｔと最短距離で対向することがさらに望ましい。またさらに、図７Ｄに示すように、検査用配線８０と導電層９０とを向かい合わせたとき、一方の対向部が鋸歯形状であって、他方の対向部が鋸歯形状の突角部であるような組み合わせであっても良いが、一方の対向部の頂角Ｔが他方の対向部の頂角Ｔと最短距離で対向することがさらに望ましい。

このような構成により、検査用配線８０上で蓄積していた電荷を導電層９０との放電により逃がすことが可能となる。これにより、検査用配線８０に隣接する他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。

したがって、フレキシブル配線基板ＦＰＣや駆動ＩＣチップ１１を実装する前の有効表示部６での品質に関わる検査を行う検査段階において、検査部４０を用いて安定的に各種配線の配線不良を検査することが可能となるとともに、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することができ、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。

（実施例）
この実施例においては、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅでの放電を誘導する構成例について説明する。図８Ａ及び図８Ｂに示すように、導電層９０は、絶縁層１００の下層に配置されている。また、スイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇと一体的な検査用制御配線５５は、絶縁層１００の上層に配置されている。つまり、検査用制御配線５５とは異なる層において、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅは、アレイ基板３の面内において所定の間隔Ｇをおいて導電層９０と対向するように配置されている。検査用制御配線５５の導電層９０と対向する終端部５５Ｅは、導電層９０に向かって突き出した突角部を有している。また、導電層９０の検査用制御配線５５と対向する対向部９０Ａは、検査用制御配線５５に向かって突き出した突角部を有している。

このような構成により、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅに集中した電荷を導電層９０との放電により逃がすことが可能となる。これにより、検査用制御配線５５の終端部付近での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。

以上説明したように、この実施の形態に係る表示装置によれば、検査部を備えたアレイ基板において、検査用配線において、電荷が集中しやすい部位に対向して導電層を配置したことにより、放電を誘導することが可能となる。これにより、検査用配線上において放電規模を拡大するような電荷の集中を防止することができる。このため、検査用配線に近接した他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した配線不良の発生を抑制することが可能となる。

このため、駆動ＩＣチップやフレキシブル配線基板などを実装する前の検査段階において、検査部を用いて有効表示部の品質に関わる検査を安定的に行うことが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となる。また、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することが可能となる。これにより、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。

なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。

例えば、上記実施形態では、走査信号を液晶表示パネルの両側から給電する構成の液晶表示パネルについて述べてきたが、第１駆動部と第２駆動部とでそれぞれ走査信号を給電する配線数が異なっても良いし、第１駆動部若しくは第２駆動部を有さず単一の走査線駆動部により片側のみから各走査線に走査信号を給電するようなレイアウトでも良く、逆に走査線駆動部がさらに第３駆動部及び第４駆動部を有するような構成であっても良い。

また、この発明の表示装置は、上述した液晶表示装置に限定されるものではなく、自己発光素子を表示素子とする有機エレクトロルミネッセンス表示装置など他の表示装置であっても良い。

図１は、この発明の一実施の形態に係る液晶表示装置の液晶表示パネルの構成を概略的に示す図である。 図２は、図１に示した液晶表示パネルの検査部の構成を概略的に示す図である。 図３は、検査用制御配線の終端部付近に位置するスイッチ素子での放電に起因したショートの発生を説明するための図である。 図４は、コモン配線の屈曲部付近での放電に起因した断線の発生を説明するための図である。 図５Ａは、検査用配線とこれに対向する導電層との配置例を概略的に示す平面図である。 図５Ｂは、図５Ａに示した検査用配線及び導電層をＡ−Ａ’線で切断したときの断面構造を概略的に示す断面図である。 図６Ａは、検査用配線及び導電層の対向部の形状例を概略的に示す平面図である。 図６Ｂは、検査用配線及び導電層の対向部の形状例を概略的に示す平面図である。 図７Ａは、検査用配線と導電層とを向かい合わせたときのパターンの組み合わせ例を示す平面図である。 図７Ｂは、検査用配線と導電層とを向かい合わせたときのパターンの組み合わせ例を示す平面図である。 図７Ｃは、検査用配線と導電層とを向かい合わせたときのパターンの組み合わせ例を示す平面図である。 図７Ｄは、検査用配線と導電層とを向かい合わせたときのパターンの組み合わせ例を示す平面図である。 図８Ａは、実施例に係る検査用制御配線とこれに対向する導電層との配置を概略的に示す平面図である。 図８Ｂは、図８Ａに示した検査用制御配線及び導電層をＢ−Ｂ’線で切断したときの断面構造を概略的に示す断面図である。

符号の説明

ＰＸ…表示画素、ＦＰＣ…フレキシブル配線基板、ＰＰ…接続パッド部、１…液晶表示パネル、３…アレイ基板、６…有効表示部、１０…外周部、１０Ａ…延在部、１１…駆動ＩＣチップ、２０…奇数番配線群、２１…配線、３０…偶数番配線群、３１…配線、４０…検査部、４１…信号線検査部、４２…第１走査線検査部、４３…第２走査線検査部、４４…パッド部、５１…信号線検査用駆動配線、５２…第１検査用駆動配線、５３…第２検査用駆動配線、５５…検査用制御配線、６１…スイッチ素子、６１Ｇ…ゲート電極、６２…スイッチ素子、６２Ｇ…ゲート電極、６３…スイッチ素子、６３Ｇ…ゲート電極

Claims (12)

1. 複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
   前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、
   前記検査用配線とは絶縁層を介して異なる層において、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置された導電層と、
   を備えたことを特徴とする表示装置。
2. 前記導電層の前記検査用配線と対向する対向部は、前記検査用配線に向かって突き出した突角部を有することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
3. 前記検査用配線の前記導電層と対向する対向部は、前記導電層に向かって突き出した突角部を有することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
4. 前記検査用配線は、前記有効表示部において複数の表示画素に共通の電位を供給する配線であることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
5. 複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
   前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
   前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
   前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、
   前記検査用制御配線とは絶縁層を介して異なる層において、前記検査用制御配線の終端部と所定の間隔をおいて対向するように配置された導電層と、
   を備えたことを特徴とする表示装置。
6. 前記導電層の前記検査用制御配線と対向する対向部は、前記検査用制御配線に向かって突き出した突角部を有することを特徴とする請求項５に記載の表示装置。
7. 前記検査用制御配線の前記導電層と対向する終端部は、前記導電層に向かって突き出した突角部を有することを特徴とする請求項５に記載の表示装置。
8. 前記配線は、走査線及び信号線の少なくとも一方であることを特徴とする請求項５に記載の表示装置。
9. 前記スイッチ素子は、薄膜トランジスタであり、そのゲート電極が前記検査用制御配線と接続されたことを特徴とする請求項５に記載の表示装置。
10. 前記導電層は、島状に配置された導電部材であることを特徴とする請求項１または５に記載の表示装置。
11. 前記導電層は、信号供給可能な配線であることを特徴とする請求項１または５に記載の表示装置。
12. 前記有効表示部は、一対の基板間に液晶層を保持することによって構成された液晶表示パネルに備えられたことを特徴とそる請求項１または５に記載の表示装置。

Images