JP2008015367A - 表示装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 表示装置において、アクティブエリアの検査を行うための検査部は、アクティブエリアの検査を行う際に検査信号が供給される主要部55A、及び、主要部55Aから離間した島状の電極部55Bを有する検査用配線55と、主要部55Aと信号供給配線との間に配置され電極部55Bをゲート電極とする薄膜トランジスタからなるスイッチング素子61及び62と、検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されるとともに画素電極と同一材料によって形成され絶縁層に形成されたコンタクトホールを介して主要部55Aと電極部55Bとを電気的に接続するジャンバー部Jと、を備えたことを特徴とする。
【選択図】 図4
Description
それぞれ画素電極を備えた複数の画素、及び、各画素に駆動信号を供給するための複数の信号供給配線を有するアクティブエリアと、
前記アクティブエリア外に配置され、前記アクティブエリアの検査を行うための検査部と、を備え、
前記検査部は、
前記アクティブエリアの検査を行う際に検査信号が供給される主要部、及び、主要部から離間した島状の電極部を有する検査用配線と、
前記主要部と前記信号供給配線との間に配置され、前記電極部をゲート電極とする薄膜トランジスタからなるスイッチング素子と、
前記検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されるとともに前記画素電極と同一材料によって形成され、前記絶縁層に形成されたコンタクトホールを介して前記主要部と前記電極部とを電気的に接続するジャンバー部と、
を備えたことを特徴とする。
Claims (6)
- それぞれ画素電極を備えた複数の画素、及び、各画素に駆動信号を供給するための複数の信号供給配線を有するアクティブエリアと、
前記アクティブエリア外に配置され、前記アクティブエリアの検査を行うための検査部と、を備え、
前記検査部は、
前記アクティブエリアの検査を行う際に検査信号が供給される主要部、及び、主要部から離間した島状の電極部を有する検査用配線と、
前記主要部と前記信号供給配線との間に配置され、前記電極部をゲート電極とする薄膜トランジスタからなるスイッチング素子と、
前記検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されるとともに前記画素電極と同一材料によって形成され、前記絶縁層に形成されたコンタクトホールを介して前記主要部と前記電極部とを電気的に接続するジャンバー部と、
を備えたことを特徴とする表示装置。 - 前記絶縁層は、前記検査用配線を覆う無機系材料によって形成された第1絶縁層と、前記第1絶縁層上に配置された前記スイッチング素子のソース電極及びドレイン電極を覆う無機系材料によって形成された第2絶縁層と、からなり、前記コンタクトホールがこれらの第1絶縁層及び第2絶縁層を貫通することを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記検査用配線は、前記スイッチング素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される配線であることを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記アクティブエリアは、アレイ基板と対向基板との間に液晶層を保持した液晶表示パネルに備えられたことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記検査用配線は、前記対向基板の端部より外方に延在した前記アレイ基板の延在部上に配置されたことを特徴とする請求項4に記載の表示装置。
- さらに、前記検査用配線が配置された領域に対応して配置された駆動ICチップを備えたことを特徴とする請求項5に記載の表示装置。
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