KR100725194B1

KR100725194B1 - 표시 장치

Info

Publication number: KR100725194B1
Application number: KR1020050071667A
Authority: KR
Inventors: 가즈유끼 하라다; 요헤이 기무라; 고지 나까야마
Original assignee: 도시바 마쯔시따 디스플레이 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드
Priority date: 2004-08-06
Filing date: 2005-08-05
Publication date: 2007-06-08
Also published as: TWI269263B; US7038484B2; KR20060050252A; TW200617869A; US20060028417A1

Abstract

표시 장치는 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21) 및 제2 배선군(30)의 제3 배선들(33)에 접속되는 제1 검사용 배선(52), 및 제1 배선들(21)에 인접하는 제1 배선군(20)의 제2 배선들(22) 및 제3 배선들(33)에 인접하는 제2 배선군(30)의 제4 배선들(34)에 접속되는 제2 검사용 배선(53)을 포함한다.

검사용 배선, 배선 불량, 주사선 검사부, 검사 신호, 유효 표시부

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 액정 표시 패널의 구성을 개략적으로 도시하는 도면.

도 2는 도 1에 도시한 액정 표시 패널에 적용 가능한, 제1 실시예에 따른 검사용 배선부의 구성을 개략적으로 도시하는 도면.

도 3은 도 1에 도시한 액정 표시 패널에 적용 가능한, 제1 실시예에 따른 검사 장치의 구성을 개략적으로 도시하는 도면.

도 4는 도 1에 도시한 액정 표시 패널에 적용 가능한, 제1 실시예에 따른 검사 방법을 설명하기 위한 도면.

도 5는 도 1에 도시한 액정 표시 패널에 적용 가능한, 제2 실시예에 따른 검사용 배선부의 구성을 개략적으로 도시하는 도면.

도 6은 도 1에 도시한 액정 표시 패널에 적용 가능한, 제2 실시예에 따른 검사 장치의 구성을 개략적으로 도시하는 도면.

도 7은 도 1에 도시한 액정 표시 패널에 적용 가능한, 제2 실시예에 따른 검사 방법을 설명하기 위한 도면.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

100 : 신호 생성부

103 : 신호 입력부

7 : 스위칭 소자

1 : 액정 표시 패널

5 : 액정층

6 : 유효 표시부

[특허문헌1] Jpn. Pat. Appln. KOKAI 공개 번호 06-160898호

[특허문헌2] Jpn. Pat. Appln. KOKAI 공개 번호 2001-013892호

본 발명은, 배선 불량을 검사하기 위한 검사용 배선을 포함하는 표시 장치, 이 표시 장치의 검사용 배선에 입력되는 검사 신호들에 기초하여 배선 불량을 검사하는 검사 방법, 및 표시 장치의 검사용 배선에 입력되는 검사 신호들을 생성하는 검사 장치에 관한 것이다.

액정 표시 장치 등의 표시 장치는, 매트릭스 형상으로 배치되는 표시 화소들로 구성되는 유효 표시부를 포함하고 있다. 유효 표시부는, 표시 화소들의 행들을 따라 연장하는 복수의 주사선, 표시 화소들의 열들을 따라 연장하는 복수의 신호선, 이들 주사선들과 신호선들 간의 교차부들 부근에 배치되는 스위칭 소자들, 및 스위칭 소자들에 접속되는 화소 전극들을 포함한다.

주사선 구동 회로와 주사선들을 접속시키는 배선군은, 통상적으로, 유효 표시부의 일단측에 배치되어 있다. 홀수번째 주사선들과 짝수번째 주사선들에 검사 신호들을 입력함으로써, 유효 표시부에서의 단락이나 단선 또는 배선군에서의 단락이나 단선과 같은, 패널 상의 배선 불량을 검사하는 것이 가능하다.

한편, 홀수번째 주사선들에 접속되는 배선들을 포함하는 홀수번째 배선군이 유효 표시부의 일단측에 배치되고, 짝수번째 주사선들에 접속되는 배선들을 포함하는 짝수번째 배선군이 유효 표시부의 타단측에 배치되는 레이아웃이 제안되어 있다.(예를 들면, 특허문헌1 및 특허문헌2 참조). 이러한 레이아웃은, 특히 주사선 구동부 및 신호선 구동부가 일체화된 단일의 구동 IC 칩을 채용하는 구성에 최적이다.

이러한 레이아웃의 경우, 홀수번째 주사선들과 짝수번째 주사선들에 검사 신호들을 입력함으로써, 유효 표시부에서의 배선 불량을 검사하는 것은 가능하다. 그러나, 각 배선군에서의 배선 불량을 검사할 수는 없다. 결과적으로, 배선군에서의 검출될 수 없는 배선 불량을 갖는 패널이 후속 제조 단계로 진행할 수 있다. 후속 제조 단계에서, 구동 IC 칩 및 플렉시블 인쇄 회로 기판(FPC) 등의 고가의 부품이 실장된다. 따라서, 불량 패널이 후속 제조 단계로 유출되면, 제조 수율의 저하를 초래한다.

본 발명은, 전술한 문제점 들을 감안하여 이루어진 것이고, 그 목적은, 패널 상의 배선 불량을 확실하게 검출할 수 있고, 제조 수율의 저하를 억제하는 것이 가 능한 표시 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 제1 양태에 따르면, 복수의 표시 화소에 의해서 구성된 유효 표시부; 유효 표시부의 외측에 위치하는 외주부의 일단측에 배치되어, 홀수번째 행들의 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 홀수번째 주사선들에 접속되는 배선들을 포함하는 제1 배선군; 외주부의 타단측에 배치되어, 짝수번째 행들의 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 짝수번째 주사선들에 접속되는 배선들을 포함하는 제2 배선군; 제1 배선군의 제1 배선들 및 제2 배선군의 제3 배선들에 접속되는 제1 검사용 배선; 및 제1 배선들에 인접하는, 제1 배선군의 제2 배선들, 및 제3 배선들에 인접하는, 제2 배선군의 제4 배선들에 접속되는 제2 검사용 배선을 포함하는 표시 장치가 제공된다.

본 발명의 제2 양태에 따르면, 복수의 표시 화소에 의해서 구성된 유효 표시부; 유효 표시부의 외측에 위치하는 외주부의 일단측에 배치되어, 홀수번째 행들의 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 홀수번째 주사선들에 접속되는 배선들을 포함하는 제1 배선군; 외주부의 타단측에 배치되어, 짝수번째 행들의 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 짝수번째 주사선들에 접속되는 배선들을 포함하는 제2 배선군; 제1 배선군의 제1 배선들, 및 제1 배선들에 인접하는, 제1 배선군의 제2 배선들에 접속되는 제1 검사용 배선; 제2 배선군의 제3 배선들, 및 제3 배선들에 인접하는, 제2 배선군의 제4 배선들에 접속되는 제2 검사용 배선; 제1 검사용 배선과 제1 배선들 사이에 배치되는 제1 스위치 소자들 및 제2 검사용 배선과 제3 배선들 사이에 배치되는 제3 스위칭 소자들의 온 /오프를 제어하기 위한 스위칭 신호가 공급되는 제1 스위칭 신호선; 및 제1 검사용 배선과 제2 배선들 사이에 배치되는 제2 스위치 소자들 및 제2 검사용 배선과 제4 배선들 사이에 배치되는 제4 스위치 소자들의 온/오프를 제어하기 위한 스위칭 신호가 공급되는 제2 스위칭 신호선을 포함하는 표시 장치가 제공된다.

본 발명에 따르면, 패널 상의 배선 불량을 확실하게 검출할 수 있고, 제조 수율의 저하를 억제하는 것이 가능한 표시 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 추가 목적 및 이점들은 다음의 상세한 설명에 제시될 것이고, 부분적으로는 상세한 설명으로부터 자명하거나 또는 본 발명의 실시에 의해 이해될 수 있을 것이다. 본 발명의 목적 및 이점들은 이후에 특별히 지시된 수단 및 조합에 의해 실현되고 얻어질 수 있다.

명세서에 포함되고 그 일부를 구성하는 첨부 도면들은 본 발명의 실시예들을 예시하고 위에 제공된 일반적인 설명과 함께 아래에 제공되는 실시예들의 상세한 설명은 본 발명의 원리들을 설명하는 역할을 한다.

본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치들을 첨부 도면들을 참조하여 지금부터 설명할 것이다.

<제1 실시예>

도 1에 도시한 바와 같이, 제1 실시예에 따른 표시 장치의 일례로서의 액정 표시 장치는, 대략 직사각형의 평판형 액정 표시 패널(1)을 포함한다. 액정 표시 패널(1)은, 기판들의 쌍, 즉 어레이 기판(3) 및 대향 기판(4)과, 이들 기판들의 쌍 사이에 광 변조층으로서 사이에 끼워진 액정층(5)을 포함한다. 액정 표시 패널(1)은, 화상을 표시하는 직사각형의 유효 표시부(6)를 포함한다. 유효 표시부(6)는, 매트릭스 형상으로 배치된 복수의 표시 화소 PX에 의해서 구성되어 있다.

어레이 기판(3)은, 유효 표시부(6)에서, 표시 화소 PX의 행방향을 따라 연장하는 복수의 주사선 Y(1, 2, 3, ..., m), 표시 화소 PX의 열방향을 따라 연장하는 복수의 신호선 X(1, 2, 3, ..., n), 주사선 Y와 신호선 X와의 교차부들 부근에서 표시 화소 PX마다 배치된 스위칭 소자들(7), 스위칭 소자들(7)에 접속된 화소 전극들(8)을 포함한다.

스위칭 소자(7)는, 예를 들어 박막 트랜지스터(TFT)로 구성되어 있다. 스위칭 소자(7)는 연관되는 주사선 Y에 전기적으로 접속되어 있는 (혹은 주사선과 일체로 형성되어 있는) 게이트 전극(7G)를 포함한다. 스위칭 소자(7)는 연관되는 신호선 X에 전기적으로 접속되어 있는 (혹은 신호선과 일체로 형성되어 있는) 소스 전극(7S)을 포함한다. 스위칭 소자(7)는 연관되는 표시 화소 PX의 화소 전극(8)에 전기적으로 접속되어 있는 드레인 전극(7D)를 포함한다.

대향 기판(4)은, 유효 표시부(6)에서, 모든 표시 화소 PX에 공통인 대향 전극(9)을 포함한다. 어레이 기판(3) 및 대향 기판(4)은, 화소 전극(8)이 대향 전극(9)에 대향되도록 배치되고, 이들의 사이에 갭을 형성한다. 액정층(5)은, 어레이 기판(3)과 대향 기판(4) 간의 갭에 밀봉된 액정 조성물에 의해서 형성된다.

컬러 표시 타입의 액정 표시 장치에서, 액정 표시 패널(1)은, 복수 종류의 표시 화소, 예를 들면 적색(R)을 표시하는 적색 화소, 녹색(G)을 표시하는 녹색 화 소, 청색(B)을 표시하는 청색 화소를 포함한다. 구체적으로, 적색 화소는, 적색의 주 파장을 갖는 광을 통과시키는 적색 컬러 필터를 포함한다. 녹색 화소는, 녹색의 주 파장을 갖는 광을 통과시키는 녹색 컬러 필터를 포함한다. 청색 화소는, 청색의 주 파장을 갖는 광을 통과시키는 청색 컬러 필터를 포함한다. 이들 컬러 필터들은, 어레이 기판(3) 또는 대향 기판(4)의 주면에 배치된다.

액정 표시 패널(1)은, 유효 표시부(6)의 외측에 위치하는 외주부(10)에 배치되는 구동 IC 칩(11)을 포함한다. 도 1에 도시한 예에서, 구동 IC 칩(11)은, 대향 기판(4)의 단부(4A)보다 외측으로 연장하는, 어레이 기판(3)의 연장부(10A) 상에 배치된다. 구동 IC 칩(11)은, 신호선 X에 구동 신호들(영상 신호들)을 공급하는 신호선 구동부(11X) 및 주사선 Y에 구동 신호들(주사 신호들)을 공급하는 주사선 구동부(11Y)를 포함한다.

주사선 구동부(11Y)는, 홀수번째 주사선 Y(1, 3, 5, ...)에 구동 신호들을 출력하는 제1 구동부(11Y1) 및 짝수번째 주사선 Y(2, 4, 6, ...)에 구동 신호들을 출력하는 제2 구동부(11Y2)를 포함한다. 제1 구동부(11Y1) 및 제2 구동부(11Y2)는, 신호선 구동부(11X)를 사이에 끼우도록 신호선 구동부(11X)의 양측에 배치된다.

보다 구체적으로, 제1 구동부(11Y1)는, 외주부(10)의 일단측(10B)에 배치되는 제1 배선군(20)을 통해 홀수번째 주사선 Y(1, 3, 5, ...)과 전기적으로 접속된다. 제1 배선군(20)은, 홀수번째 주사선 Y(1, 3, 5, ...)에 접속되는 배선 W(1, 3, 5, ...)을 포함한다. 제1 구동부(11Y1)로부터 출력되는 구동 신호들은, 배선 (1, 3, 5, ...)을 통해 연관되는 홀수번째 주사선 Y(1, 3, 5, ...)에 공급되어, 홀수번째 행들의 표시 화소 PX를 온/오프시킨다. 즉, 각 표시 화소 PX에 포함되는 스위칭 소자(7)는, 연관되는 주사선 Y로부터 공급되는 구동 신호에 기초하여 온/오프 제어된다.

제2 구동부(11Y2)는, 외주부(10)의 타단측(10C)에 배치되는 제2 배선군(30)을 통해 짝수번째 주사선 Y(2, 4, 6, ...)와 전기적으로 접속된다. 제2 배선군(30)은, 짝수번째 주사선 Y(2, 4, 6, ...)에 접속되는 배선 W(2, 4, 6, ...)을 포함한다. 제2 구동부(11Y2)로부터 출력되는 구동 신호들은, 배선 W(2, 4, 6, ...)을 통해 연관되는 짝수번째 주사선 Y(2, 4, 6, ...)에 공급되어, 짝수번째 행의 표시 화소 PX를 온/오프시킨다.

도 2에 도시한 바와 같이, 어레이 기판(3)은 외주부(10) 상의 제1 배선군(20)의 배선들 간의 배선 불량, 및 제2 배선군(30)의 배선들 간의 배선 불량, 및 유효 표시부(6)에 있어서의 배선 불량을 검사하기 위한 검사용 배선부(40)를 포함한다. 검사용 배선부(4O)는, 신호선 구동부(11X)와 관련하여 설치되는 신호선 검사부(41), 주사선 구동부(11Y)의 제1 구동부(11Y1)와 관련하여 설치되는 제1 주사선 검사부(42), 주사선 구동부(11Y)의 제2 구동부(11Y2)와 관련하여 설치되는 제2 주사선 검사부(43), 및 각 검사부(41, 42, 43)에 각종 신호를 입력하기 위한 패드부(44)를 포함한다.

신호선 검사부(41)는, 연관되는 신호선 X에 접속되는 신호선 검사용 배선(51)을 포함한다. 본 예에서, 신호선 검사용 배선(51)은 적색 화소에 접속된 신호 선에 검사 신호를 공급하기 위한 적색 검사용 배선(51R), 녹색 화소에 접속된 신호선에 검사 신호를 공급하기 위한 녹색 검사용 배선(51G), 및 청색 화소에 접속된 신호선에 검사 신호를 공급하기 위한 청색 검사용 배선(51B)를 포함한다.

또한, 신호선 검사부(41)는, 신호선들 X(1, 2,…, n)과 신호선 검사용 배선들(51)(R, G, B) 사이에 스위치 소자들(61)을 포함하고 있다. 스위치 소자들(61)의 각각은 박막 트랜지스터에 의해서 구성되어 있다. 스위치 소자(61)의 게이트 전극(61G)은 공통의 스위칭 신호선(55)에 전기적으로 접속되어 있다. 스위치 소자(61)의 소스 전극(61S)은 연관되는 신호선 검사용 배선(51)(R, G, B)에 전기적으로 접속되어 있다. 스위치 소자(61)의 드레인 전극(61D)은 연관되는 신호선 X에 전기적으로 접속되어 있다.

제1 주사선 검사부(42)는, 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21), 예를 들면 배선들 W1, W5, W9,…에 접속된 제1 검사용 배선(52), 및 제1 배선들(21)에 인접하는 제2 배선들(22), 예를 들면 배선들 W3, W7, W11…에 접속된 제2 검사용 배선(53)을 포함하고 있다. 또한, 제1 주사선 검사부(42)는, 제1 배선들(21)과 제1 검사용 배선(52) 사이에 제1 스위치 소자들(62A)을, 제2 배선들(22)과 제2 검사용 배선(53) 사이에 제2 스위치 소자들(62B)을 포함하고 있다. 제1 스위치 소자들(62A) 및 제2 스위치 소자들(62B)은 박막 트랜지스터들에 의해서 구성되어 있다.

구체적으로는, 제1 스위치 소자(62A)의 게이트 전극(62AG)은 공통의 스위칭 신호선(54)에 전기적으로 접속되어 있다. 제1 스위치 소자(62A)의 소스 전극(62AS)은 연관되는 제1 검사용 배선(52)에 전기적으로 접속되어 있다. 제1 스위치 소자(62A)의 드레인 전극(62AD)은 연관되는 제1 배선(21)에 전기적으로 접속되어 있다.

제2 스위치 소자(62B)의 게이트 전극(62BG)은 공통의 스위칭 신호선(54)에 전기적으로 접속되어 있다. 제2 스위치 소자(62B)의 소스 전극(62BS)은 연관되는 제2 검사용 배선(53)에 전기적으로 접속되어 있다. 제2 스위치 소자(62B)의 드레인 전극(62BD)은, 연관되는 제2 배선(22)에 전기적으로 접속되어 있다.

제2 주사선 검사부(43)는, 제2 배선군(30)의 제3 배선들(33), 예를 들면 배선들 W2, W6, W10,…에 접속된 제1 검사용 배선(52), 및 제3 배선(33)에 인접하는 제4 배선들(34), 예를 들면 배선들 W4, W8, W12,…에 접속된 제2 검사용 배선(53)을 포함하고 있다. 또한 제2 주사선 검사부(43)는, 제3 배선(33)과 제1 검사용 배선(52) 사이에 제3 스위치 소자(63A), 및 제4 배선(34)과 제2 검사용 배선(53) 사이에 제4 스위치 소자(63B)를 포함하고 있다. 제3 스위치 소자(63A) 및 제4 스위치 소자(63B)는 박막 트랜지스터에 의해서 구성되어 있다.

즉, 제3 스위치 소자(63A)의 게이트 전극(63AG)은, 공통의 스위칭 신호선(54)에 전기적으로 접속되어 있다. 제3 스위치 소자(63A)의 소스 전극(63AS)은, 연관되는 제1 검사용 배선(52)에 전기적으로 접속되어 있으며, 이것은 제1 스위치 소자(62A)에 공통이다. 제3 스위치 소자(63A)의 드레인 전극(63AD)은 연관되는 제3 배선(33)에 전기적으로 접속되어 있다.

제4 스위치 소자(63B)의 게이트 전극(63BG)은 공통의 스위칭 신호선(54)에 전기적으로 접속되어 있다. 제4 스위치 소자(63B)의 소스 전극(63BS)은 연관되는 제2 검사용 배선(53)에 전기적으로 접속되어 있으며, 이것은 제2 스위치 소자(62B)에 공통이다. 제4 스위치 소자(63B)의 드레인 전극(63BD)은, 연관되는 제4 배선(34)에 전기적으로 접속되어 있다.

패드부(44)는, 각각이 연관되는 신호선 검사용 배선(51)(R, G, B)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드들(71)(R, G, B), 제1 검사용 배선(52)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드(72), 제2 검사용 배선(53)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드(73), 및 스위칭 신호선(54)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드(74)를 구비하고 있다.

입력 패드들(71)(R, G, B)로부터 입력되는 구동 신호들은, 검사 단계에서 표시 화소들 PX의 화소 전극들(8)에 기입되는 검사용 영상 신호이다. 입력 패드들(72 및 73)로부터 입력되는 구동 신호들은, 검사 단계에서 표시 화소들 PX의 스위칭 소자(7)를 온/오프 제어하기 위한 검사 신호들이다. 입력 패드(74)로부터 입력되는 구동 신호는, 검사 단계에서 각각의 검사부의 스위치 소자들(61, 62, 63)을 온/오프 제어하기 위한 스위칭 신호이다.

신호선들 X(l, 2,…,n), 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21) 및 제2 배선들(22), 및 제2 배선군(30)의 제3 배선들(33) 및 제4 배선들(34)은, 그들의 중간부에 구동 IC 칩(11)과의 접속을 가능하게 하는 접속 패드들 PD를 포함하고 있다.

전술한 구성을 갖는 액정 표시 장치는, 유효 표시부의 양단들로부터 홀수번째 주사선들 및 짝수번째 주사선들에 구동 신호들을 공급할 수 있는 레이아웃을 갖 는다. 이 레이아웃에서, 홀수번째 주사선들에 구동 신호들을 공급하기 위한 제1 배선군을 구성하는 제1 배선들 및 이것에 인접하는 제2 배선들에 대하여 상이한 타이밍들에서 상이한 검사 신호들을 입력하는 것이 가능하고, 짝수번째 주사선들에 구동 신호들을 공급하기 위한 제2 배선군을 구성하는 제3 배선들 및 이것에 인접하는 제4 배선들에 대하여 상이한 타이밍들에서 상이한 검사 신호들을 입력하는 것이 가능하게 된다. 이 때문에, 제1 배선군의 배선들 사이에서의 단락 또는 각 배선의 단선, 및 제2 배선군의 배선들 사이에서의 단락 또는 각 배선의 단선과 같은, 패널 상에서의 배선 불량을 확실하게 검출할 수 있다.

전술한 바와 같은 구성을 갖는 액정 표시 장치에 따르면, 검사용 배선부 상에 배치된 배선들의 수가 감소할 수 있기 때문에, 제조 비용은 감소되고 외부 주변장치부의 크기가 감소할 수 있다. 따라서, 화상-프레임-유사(picture-frame-like) 주변부의 크기는 좁아질 수 있다.

구동 IC 칩(11)이 배치되어 있는 영역에 대응하는 위치에서 어레이 기판(3)의 연장부(10A) 상에 신호선 검사부(41), 제1 주사선 검사부(42) 및 제2 주사선 검사부(43)를 배치한다. 물론, 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)이 연장부(10A) 상에 배치되어 있다. 제1 검사용 배선(52)과 제2 검사용 배선(53)은 구동 IC 칩(11)의 길이 방향으로 연장되어 있다. 따라서, 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)은 구동 IC 칩(11)이 탑재될 때 구동 IC 칩(11)을 오버랩한다. 즉, 외부 치수를 증가시키지 않으면서 검사용 배선들을 어레이 기판 상에 배치할 수 있다.

(검사 장치)

다음에는, 상술한 구성을 갖는 액정 표시 장치의 액정 표시 패널 상에서의 배선 불량을 검출하기 위한 검사 장치(100)에 대하여 설명한다.

제1 실시예에 적용할 수 있는, 표시 장치를 위한 검사 장치(100)는 다음과 같다:

표시 장치를 위한 검사 장치에 있어서, 상기 표시 장치는,

복수의 표시 화소에 의해서 구성된 유효 표시부;

상기 유효 표시부의 외측에 위치하는 외주부의 일단측에 배치되어, 홀수번째 행들의 상기 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 홀수번째 주사선들에 접속된 배선들로 이루어지는 제1 배선군; 및

상기 외주부의 타단측에 배치되어, 짝수번째 행들의 상기 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 짝수번째 주사선들에 접속된 배선들로 이루어지는 제2 배선군을 포함하며,

상기 검사용 장치는,

상기 제1 배선군의 제1 배선들 및 상기 제2 배선군의 제3 배선들에 접속되어 있는 제1 검사용 배선에 입력되는 제1 검사 신호, 및 상기 제1 배선에 인접한 상기 제1 배선군의 제2 배선들 및 상기 제3 배선들에 인접하는 상기 제2 배선군의 제4 배선들에 접속되어 있는 제2 검사용 배선에 입력되는 제2 검사 신호를 생성하는 신호 생성 수단을 포함한다.

구체적으로, 도 3에 도시한 바와 같이 패드부(44)의 입력 패드들에 접속 가 능한 복수의 프로브(101), 프로브(101)를 통하여 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)에 입력될 검사 신호들 및 프로브(101)를 통하여 스위칭 신호선(54)에 입력될 스위칭 신호들을 포함하는 각종 신호들을 생성하는 신호 생성부(신호 생성 수단)(102), 및 신호 생성부(102)에 의해서 생성된 검사 신호들을, 연관되는 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)에 입력하는 신호 입력부(신호 입력 수단)(103)를 포함한다.

(검사 방법)

제1 실시예에 적용될 수 있는, 표시 장치를 위한 검사 방법은 다음과 같다:

표시 장치를 위한 검사 방법에 있어서, 상기 표시 장치는,

복수의 표시 화소에 의해서 구성된 유효 표시부;

상기 검사 방법은,

상기 제1 배선군의 제1 배선들에 접속되어 있는 제1 검사용 배선에 제1 검사 신호를 입력하고, 상기 제1 배선들에 인접한, 상기 제1 배선군의 제2 배선들에 접속되는 제2 검사용 배선에 제2 검사 신호를 입력하고, 상기 제2 배선군의 제3 배선 들에 접속되어 있는 제1 검사용 배선에 상기 제1 검사 신호를 입력하고, 상기 제3 배선들에 인접한, 상기 제2 배선군의 제4 배선들에 접속되는 상기 제2 검사용 배선에 상기 제2 검사 신호를 입력하는 단계; 및

상기 제1 및 제2 검사 신호들의 입력에 기초하여, 상기 제1 배선군의 배선 불량, 상기 제2 배선군의 배선 불량, 및 상기 유효 표시부 내의 상기 홀수번째 주사선들 및 상기 짝수번째 주사선들의 배선 불량을 검출하는 단계를 포함한다.

구체적으로, 본 검사 방법에서, 검사 장치(100)의 프로브(101)를 액정 표시 패널(1)의 패드부(44)의 입력 패드들에 접속한다. 소정의 타이밍에서, 신호 입력부(103)는, 신호 생성부(102)에 의해 생성된 스위칭 신호를 스위칭 신호선(54)에 입력한다. 이러한 스위칭 신호의 입력에 의해, 신호선 검사부(41)의 스위치 소자(61), 제1 주사선 검사부(42)의 제1 스위치 소자(62A)와 제2 스위치 소자(62B), 및 제2 주사선 검사부(43)의 제3 스위치 소자(63A)와 제4 스위치 소자(63B)는 적절한 타이밍에서 턴온된다.

신호 입력부(103)는, 제1 스위치 소자(62A)가 턴온되면, 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21)에 접속된 제1 검사용 배선(52)에 제1 검사 신호를 입력한다. 이에 의해, 제1 배선들(21)에 접속된 홀수번째 주사선들에 제1 검사 신호가 공급된다. 이러한 제1 검사 신호의 입력에 의해, 유효 표시부(6) 내의 홀수번째 주사선들에 접속된 스위칭 소자들(7)은 적절한 타이밍에서 턴온된다.

또한, 신호 입력부(103)는, 제2 스위치 소자(62B)가 턴온되면, 제1 배선군(20)의 제2 배선들(22)에 접속된 제2 검사용 배선(53)에 제2 검사 신호를 입력한 다. 이에 의해, 제2 배선들(22)에 접속된 홀수번째 주사선들에 제2 검사 신호가 공급된다. 이러한 제2 검사 신호의 입력에 의해, 유효 표시부(6) 내의 홀수번째 주사선들에 접속된 스위칭 소자들(7)은 적절한 타이밍에서 턴온된다.

한편, 신호 입력부(103)는, 제3 스위치 소자들(63A)이 턴온되면, 제2 배선군(30)의 제3 배선들(33)에 접속된 제1 검사용 배선(52)에 제1 검사 신호를 입력한다. 이에 의해, 제3 배선들(33)에 접속된 짝수번째 주사선들에 제1 검사 신호가 공급된다. 이러한 제1 검사 신호의 입력에 의해, 유효 표시부(6) 내의 짝수번째 주사선들에 접속된 스위칭 소자들(7)은 적절한 타이밍에서 턴온된다.

또한, 신호 입력부(103)는, 제4 스위치 소자들(63B)이 턴온되면, 제2 배선군(30)의 제4 배선들(34)에 접속된 제2 검사용 배선(53)에 제2 검사 신호를 입력한다. 이에 의해, 제4 배선들(34)에 접속된 짝수번째 주사선들에 제2 검사 신호가 공급된다. 이러한 제2 검사 신호의 입력에 의해, 유효 표시부(6) 내의 짝수번째 주사선들에 접속된 스위칭 소자들(7)은 적절한 타이밍에서 턴온된다.

계속해서, 제1 및 제2 검사 신호들의 입력에 기초하여, 제1 배선군(20)의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단락, 제2 배선군(30)의 제3 배선(33)과 제4 배선(34) 사이의 단락 및, 유효 표시부(6)에서의 홀수번째 주사선과 짝수번째 주사선 사이의 단락을 검사한다. 이 검사 단계에서, 신호 생성부(102)는, 유효 표시부(6) 내의 스위칭 소자(7)들이 턴온된 상태에서, 신호선 검사용 배선들(51)(R, G, B)을 통하여 각 신호선들 X에 검사용 영상 신호들을 입력한다. 이에 의해, 액정 표시 패널(1)의 유효 표시부(6)에 있어서의 각 표시 화소들 PX에 검사용 영상 신호들이 기입된다. 검사용 영상 신호들의 기입에 의해, 액정 표시 패널(1) 상의 각종 배선의 배선 불량들이 검사된다.

특히, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21)에 연관되는 홀수번째 주사선들에 신호들이 입력될 수 있는 타이밍에서, 제1 검사용 배선(52)으로부터 제1 검사 신호가 입력됨과 함께, 각 신호선들 X에 검사용 영상 신호들이 입력된다. 이 경우, 제1 배선군(20)에 있어서의 인접하는 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이에 단락이 발생하면, 예를 들어 배선 W1과 배선 W3 사이에 단락이 발생하면, 배선 W1에 접속된 주사선 Y1 뿐만 아니라, 배선 W3에 접속된 주사선 Y3에도 제1 검사 신호가 공급된다. 따라서, 주사선 Y1에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자(7)들 뿐만 아니라, 주사선 Y3에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)도 동시에 턴온된다. 통상의 경우, 주사선 Y1, Y5, Y9, ..., 에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)이 턴온되어야 한다. 그러나, 배선 W1와 배선 W3 사이의 단락 때문에, 주사선 Y1, Y3, Y5, Y9, ..., 에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)이 턴온된다.

이런 방식으로, 각 스위칭 소자들(7)이 턴온된 상태에서, 검사용 영상 신호들이 공급되면, 액정 표시 패널(1)에서, 연관되는 표시 화소들 PX가 턴온된다. 액정 표시 패널(1)에서 표시 화소들 PX의 턴온 상태를 관찰함으로써, 제1 배선군(20)의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단락이 검사 가능하게 된다.

마찬가지로, 제1 배선군(20)의 제2 배선(22)으로부터 연관되는 홀수번째 주사선에 신호들이 입력될 수 있는 타이밍에서, 제2 검사용 배선(53)으로부터 제2 검 사 신호가 입력됨과 함께, 각 신호선들 X에 검사 신호들이 입력된다. 이에 의해, 제1 배선군(20)의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단락이 검사 가능하게 된다.

또한, 도 4에 도시된 바와 같이 제2 배선군(30)의 제3 배선(33)으로부터 연관되는 짝수번째 주사선에 신호가 입력될 수 있는 타이밍에서, 제1 검사용 배선(52)으로부터 제1 검사 신호가 입력됨과 함께, 각 신호선들 X에 검사용 영상 신호들이 입력된다. 이 경우, 제2 배선군(30)의 인접하는 제3 배선(33)과 제4 배선(34) 사이에 단락이 발생하면, 예를 들어 배선 W2와 배선 W4 사이에 단락이 발생하면, 배선 W2에 접속된 주사선 Y2 뿐만 아니라, 배선 W4에 접속된 주사선 Y4에도 제1 검사 신호가 공급된다. 따라서, 주사선 Y2에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자(7)뿐만 아니라, 주사선 Y4에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자(7)도 동시에 턴온된다. 통상의 경우, 주사선 Y2, Y6, Y10, ..., 에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자(7)가 턴온된다. 그러나, 배선 W2와 배선 W4 사이의 단락에 의해, 주사선 Y2, Y4, Y6, Y10, ..., 에 접속된 표시 화소 PX의 스위칭 소자들(7)이 턴온된다. 따라서, 제2 배선군(30)의 제3 배선(33)과 제4 배선(34) 사이의 단락이 검사 가능하게 된다.

마찬가지로, 제2 배선군(30)의 제4 배선들(34)로부터 연관되는 짝수번째 주사선에 신호가 입력될 수 있는 타이밍에서, 제2 검사용 배선(53)으로부터 제2 검사 신호가 입력됨과 함께, 검사 신호들이 각 신호선들 X에 입력된다. 이에 의해, 제2 배선군(30)의 제3 배선(33)과 제4 배선(34) 사이의 단락이 검사 가능하게 된다.

게다가, 제1 배선군(20) 및 제2 배선군(30)의 단락의 검사와 동시에, 유효 표시부(6)의 홀수번째 주사선과 짝수번째 주사선 사이의 단락을 검사하는 것도 가능하다. 이제, 홀수번째 주사선과 짝수번째 주사선 사이, 예를 들어 주사선 Y3과 주사선 Y2 사이에 단락이 발생한다고 가정하자. 이 경우, 제1 배선군(20)의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단락을 검사하는 단계에서, 제2 배선(22)으로부터 연관되는 홀수번째 주사선에 제2 검사 신호가 입력되면, 주사선 Y2 및 주사선 Y3에 제2 검사 신호가 공급된다. 따라서, 주사선 Y3에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7) 뿐만 아니라, 주사선 Y2에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)도 동시에 턴온된다. 통상의 경우, 주사선 Y3, Y7, Y11, ..., 에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)이 턴온되어야 한다. 그러나, 주사선 Y3와 주사선 Y2 사이의 단락 때문에, 주사선 Y2, Y3, Y7 및 Y11, ..., 에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)이 턴온된다.

이런 방식으로, 각 스위칭 소자들(7)이 턴온된 상태에서, 각 신호선들 X에 검사용 영상 신호들이 공급되면, 액정 표시 패널(1)에서, 연관되는 표시 화소들 PX가 턴온된다. 액정 표시 패널(1)에 있어서의 표시 화소들 PX의 턴온 상태들을 관찰함으로써, 인접하는 주사선들 간의 단락이 검사 가능하게 된다.

또한, 전술한 검사 방법에 따르면, 배선들 간의 단락의 검사 외에 추가로, 액정 표시 패널(1)에 있어서의 표시 화소 PX의 턴온 상태를 관찰함으로써, 구동 IC 칩(11)과의 접속을 가능하게 하는 접속 패드 PD와, 각 배선의 종단 사이의 단선을 검사하는 것도 가능하다. 특히, 각종 검사 신호의 입력에 기초하여, 표시 화소들 PX의 턴온 상태를 관찰함으로써, 제1 배선군(20)을 구성하는 제1 배선(21) 및 제2 배선(22) 사이의 단선, 제2 배선군(30)을 구성하는 제3 배선(33) 및 제4 배선(34) 사이의 단선, 및 유효 표시부(6)에 있어서의 주사선들 Y 및 신호선들 X의 종단들까지의 길이 위의 점들에서 발생하는 단선을 검사하는 것이 가능하다(단선이 발생하면, 연관되는 표시 화소 PX가 턴온되지 않는다).

전술한 바와 같이, 검사 방법에 의하면, 유효 표시부의 양단측으로부터 홀수번째 주사선들 및 짝수번째 주사선들에 구동 신호들을 공급할 수 있는 레이아웃을 갖는 액정 표시 장치에 있어서, 검사 장치는, 제1 배선군의 제1 배선들에 제1 검사 신호를 입력하고, 상이한 타이밍에서, 제1 배선들에 인접하는 제2 배선들에 제2 검사 신호를 입력한다. 검사 신호들의 입력에 기초하여, 제1 배선군에서의 배선 불량을 확실하게 검출하는 것이 가능하게 된다. 또한, 검사 장치는, 제2 배선군의 제3 배선들에 제1 검사 신호를 입력하고, 상이한 타이밍에서, 제3 배선들에 인접하는 제4 배선들에 제2 검사 신호를 입력한다. 검사 신호들의 입력에 기초하여, 제2 배선군에서의 배선 불량을 확실하게 검출하는 것이 가능하게 된다. 동시에, 유효 표시부에서의 홀수번째 주사선과 짝수번째 주사선 사이의 단락과, 주사선 및 신호선의 단선 등의 배선 불량도 확실하게 검출하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 배선 불량을 갖는 액정 표시 패널가 후공정으로 진행하는 것을 방지하는 것이 가능해지고, 제조 수율의 저하를 억제하는 것이 가능하게 된다.

<제2 실시예>

본 발명의 제2 실시예의 설명에서는, 제1 실시예와 공통인 구성 요소들은 유 사한 참조 부호로 표기된다. 제2 실시예에 적용가능한 액정 표시 패널(1)의 구성은, 제1 실시예와 동일하므로, 그 설명을 생락한다.

제2 실시예에서, 어레이 기판(3)은, 도 5에 도시한 바와 같이 외주부(10)에 있어서의 제1 배선군(20)의 배선들 간의 배선 불량, 제2 배선군(30)의 배선들 간의 배선 불량, 및 유효 표시부(6)에 있어서의 배선 불량을 검사하기 위한 검사용 배선부(4O)를 구비하고 있다. 검사용 배선부(4O)는, 신호선 구동부(11X)와 관련하여 설치된 신호선 검사부(41), 주사선 구동부(11Y)의 제1 구동부(11Y1)와 관련하여 설치된 제1 주사선 검사부(42), 주사선 구동부(11Y)의 제2 구동부(11Y2)와 관련하여 설치된 제2 주사선 검사부(43), 및 각 검사부(41, 42, 43)에 각종 신호를 입력하기 위한 패드부(44)를 갖고 있다.

신호선 검사부(41)는, 연관되는 신호선들 X에 접속된 신호선 검사용 배선들(51)을 구비하고 있다. 본 예에서, 신호선 검사용 배선들(51)은, 적색 화소에 접속된 신호선에 검사 신호를 공급하기 위한 적색 검사용 배선(51R), 녹색 화소에 접속된 신호선에 검사 신호를 공급하기 위한 녹색 검사용 배선(51G), 및 청색 화소에 접속된 신호선에 검사 신호를 공급하기 위한 청색 검사용 배선(51B)을 갖고 있다.

또한, 신호선 검사부(41)는, 신호선들 X(1,2,…, n)과 신호선 검사용 배선들(51)(R, G, B) 사이에 스위치 소자들(61)을 구비하고 있다. 각각의 스위치 소자들(61)은, 박막 트랜지스터에 의해서 구성되어 있다. 스위치 소자(61)의 게이트 전극(61G)은, 공통의 스위칭 신호선(55)에 전기적으로 접속되어 있다. 스위치 소자(61)의 소스 전극(61S)은, 연관되는 신호선 검사용 배선(51)(R, G, B)에 전기적으 로 접속되어 있다. 또한, 스위치 소자(61)의 드레인 전극(61D)은, 연관되는 신호선 X에 전기적으로 접속되어 있다.

제1 주사선 검사부(42)는, 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21), 예를 들면 배선들 W1, W5, W9,..., 및 제1 배선들(21)에 인접하는 제2 배선들(22), 예를 들면 배선들 W3, W7, W11,...에 접속된 제1 검사용 배선(52)을 구비하고 있다. 또한, 제1 주사선 검사부(42)는, 제1 배선들(21)과 제1 검사용 배선(52) 사이에 제1 스위치 소자들(62A)을 구비함과 함께, 제2 배선들(22)과 제1 검사용 배선(52) 사이에 제2 스위치 소자들(62B)을 구비하고 있다. 제1 스위치 소자들(62A) 및 제2 스위치 소자들(62B)은, 박막 트랜지스터에 의해서 구성되어 있다.

특히, 제1 스위치 소자(62A)의 게이트 전극(62AG)은, 제1 스위칭 신호선(44A)에 전기적으로 접속되어 있다. 제1 스위치 소자(62A)의 소스 전극(62AS)은, 연관되는 제1 검사용 배선(52)에 전기적으로 접속되어 있다. 제1 스위치 소자(62A)의 드레인 전극(62AD)은, 연관되는 제1 배선(21)에 전기적으로 접속되어 있다.

제2 스위치 소자(62B)의 게이트 전극(62BG)은, 제2 스위칭 신호선(54B)에 전기적으로 접속되어 있다. 제2 스위치 소자(62B)의 소스 전극(62BS)은, 연관되는 제1 검사용 배선(52)에 전기적으로 접속되어 있다. 제2 스위치 소자(62B)의 드레인 전극(62BD)은 연관되는 제2 배선(22)에 전기적으로 접속되어 있다.

제2 주사선 검사부(43)는, 제2 배선군(30)의 제3 배선들(33), 예를 들면 배선들 W2, W6, W10,... 및 제3 배선들(33)에 인접하는 제4 배선들(34), 예를 들면 배선들 W4, W8, W12,...에 접속된 제2 검사용 배선(53)을 구비하고 있다. 또한, 제2 주사선 검사부(43)는, 제3 배선들(33)과 제2 검사용 배선(53) 사이에 제3 스위치 소자들(63A)을 구비함과 함께, 제4 배선들(34)과 제2 검사용 배선(53) 사이에 제4 스위치 소자들(63B)을 구비하고 있다. 이들 제3 스위치 소자들(63A) 및 제4 스위치 소자들(63B)은, 박막 트랜지스터에 의해서 구성되어 있다.

특히, 제3 스위치 소자(63A)의 게이트 전극(63AG)은, 제1 스위치 소자들(62A)과 공통인 제1 스위칭 신호선(54A)에 전기적으로 접속되어 있다. 제3 스위치 소자(63A)의 소스 전극(63AS)은, 연관되는 제2 검사용 배선(53)에 전기적으로 접속되어 있다. 제3 스위치 소자(63A)의 드레인 전극(63AD)은, 연관되는 제3 배선(33)에 전기적으로 접속되어 있다.

제4 스위치 소자(63B)의 게이트 전극(63BG)은, 제2 스위치 소자(62B)와 공통인 제2 스위칭 신호선(54B)에 전기적으로 접속되어 있다. 제4 스위치 소자(63B)의 소스 전극(63BS)는, 연관되는 제2 검사용 배선(53)에 전기적으로 접속되어 있다. 제4 스위치 소자(63B)의 드레인 전극(63BD)은, 연관되는 제4 배선(34)에 전기적으로 접속되어 있다.

패드부(44)는, 연관되는 신호선 검사용 배선(51)(R, G, B)의 일단부에 구동 신호의 입력을 각각 가능하게 하는 입력 패드들(71)(R, G, B), 제1 검사용 배선(52)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드(72), 제2 검사용 배선(53)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드(73), 제1 스위칭 신호선(54A)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드(74A), 제2 스위칭 신호선(54B)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드(74B), 및 스위칭 신호선(55)의 일단부에 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드(75)를 포함한다.

입력 패드들(71)(R, G, B)로부터 입력되는 구동 신호들은, 검사 단계에서 표시 화소들 PX의 화소 전극들(8)에 기입되는 검사용 영상 신호들이다. 입력 패드들(72 및 73)로부터 입력되는 구동 신호들은, 검사 단계에서 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)의 ON/OFF를 제어하기 위한 검사 신호들이다. 입력 패드들(74A 및 74B)로부터 입력되는 구동 신호들은, 검사 단계에서 제1 주사선 검사부(42)의 제1 스위치 소자들(62A) 및 제2 스위치 소자들(62B)과, 제2 주사선 검사부(43)의 제3 스위치 소자들(63A) 및 제4 스위치 소자들(63B)의 ON/OFF를 제어하기 위한 스위칭 신호들이다. 입력 패드(75)로부터 입력되는 구동 신호는, 신호선 검사부(41)의 스위치 소자들(61)의 ON/OFF를 제어하기 위한 스위칭 신호이다.

신호선들 X(1, 2,…, n), 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21) 및 제2 배선들(22), 및 제2 배선군(30)의 제3 배선들(33) 및 제4 배선들(34)은, 각각의 중간부들에 구동 IC 칩(11)과의 접속을 가능하게 하는 접속 패드들 PD를 포함한다.

전술한 구성의 액정 표시 장치는, 유효 표시부의 양단측으로부터 홀수번째 주사선들 및 짝수번째 주사선들에 구동 신호들을 공급할 수 있는 레이아웃을 갖는다. 이러한 레이아웃에서, 홀수번째 주사선들에 구동 신호들을 공급하기 위한 제1 배선군의 제1 배선들 및 이것에 인접하는 제2 배선들에 대하여 상이한 타이밍에서 검사 신호를 입력하는 것이 가능하게 되는 것과 함께, 짝수번째 주사선들에 구동 신호들을 공급하기 위한 제2 배선군의 제3 배선들 및 이것에 인접하는 제4 배선들에 대하여 상이한 타이밍에서 검사 신호를 입력하는 것이 가능하게 된다. 이 때문에, 제1 배선군의 배선들 간에서의 단락이나 각 배선의 단선, 및 제2 배선군의 배선들 간에서의 단락이나 각 배선의 단선과 같은, 패널 상에서의 배선 불량을 확실하게 검출하는 것이 가능하게 된다.

신호선 검사부(41), 제1 주사선 검사부(42) 및 제2 주사선 검사부(43)는 구동 IC 칩(11)이 배치되는 영역에 대응하는 위치에서 어레이 기판(3)의 연장부(10A) 상에 배치되어 있다. 물론, 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)은 연장부(10A) 상에 배치되어 있다. 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)은 구동 IC 칩(11)의 길이 방향으로 연장한다. 따라서, 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)은 구동 IC 칩(11)이 실장된 경우에 구동 IC 칩(11)에 오버랩(overlap)된다. 간단히 말해서, 검사용 배선들은 외부 치수(outer dimensions)를 증가시킴이 없이 어레이 기판상에 배치될 수 있다.

(검사 장치)

다음으로, 전술한 바와 같은 구성의 액정 표시 장치에서, 액정 표시 패널 상에서의 배선 불량을 검출하기 위한 검사 장치(100)에 대하여 설명한다.

제2 실시예에 적용가능한, 표시 장치를 위한 검사 장치는 다음과 같다.

표시 장치를 위한 검사 장치로서,

표시 장치는,

복수의 표시 화소로 구성된 유효 표시부;

상기 유효 표시부의 외측에 위치하는 외주부의 일단측에 배치되어, 홀수번째 행들의 상기 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 홀수번째 주사선들에 접속된 배선들을 포함하는 제1 배선군;

상기 외주부의 타단측에 배치되어, 짝수번째 행들의 상기 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 짝수번째 주사선들에 접속된 배선들을 포함하는 제2 배선군;

상기 제1 배선군의 제1 배선들 및 상기 제1 배선들에 인접하는 상기 제1 배선군의 제2 배선들에 접속된 제1 검사용 배선; 및

상기 제2 배선군의 제3 배선들 및 상기 제3 배선들에 인접하는 상기 제2 배선군의 제4 배선들에 접속된 제2 검사용 배선

을 포함하고,

검사 장치는,

상기 제1 검사용 배선과 상기 제1 배선들 사이에 배치된 제1 스위치 소자들 및 상기 제2 검사용 배선과 상기 제3 배선들 사이에 배치된 제3 스위치 소자들에 입력되는 공통의 제1 스위칭 신호, 상기 제1 검사용 배선과 상기 제2 배선들 사이에 배치된 제2 스위치 소자들 및 상기 제2 검사용 배선과 상기 제4 배선들 사이에 배치된 제4 스위치 소자들에 입력되는 공통의 제2 스위칭 신호, 상기 제1 검사용 배선에 입력되는 제1 검사 신호, 및 상기 제2 검사용 배선에 입력되는 제2 검사 신호를 생성하기 위한 신호 생성 수단을 포함한다.

검사 장치는, 제1 스위칭 신호의 입력에 기초하여 제1 스위치 소자들 및 제3 스위치 소자들이 턴온(turn on)되는 타이밍에서 신호 생성 수단에 의해 생성된 제1 검사 신호를 제1 검사용 배선에 입력함과 함께 신호 생성 수단에 의해 생성된 제2 검사 신호를 제2 검사용 배선에 입력하고, 제2 스위칭 신호의 입력에 기초하여 제2 스위치 소자들 및 제4 스위치 소자들이 턴온되는 타이밍에서 신호 생성 수단에 의해 생성된 제1 검사 신호를 제1 검사용 배선에 입력함과 함께 신호 생성 수단에 의해 생성된 제2 검사 신호를 제2 검사용 배선에 입력하기 위한 신호 입력 수단을 더 포함할 수 있다.

구체적으로는, 도 6에 도시된 바와 같이, 검사 장치(100)는 패드부(44)의 입력 패드들에 접속가능한 복수의 프로브들(101), 프로브들(101)을 통하여 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)에 입력되는 검사 신호들과 프로브들(101)을 통하여 제1 스위칭 신호선(54A) 및 제2 스위칭 신호선(54B)에 입력되는 스위칭 신호들을 포함하는 다양한 신호들을 생성하는 신호 생성부(신호 생성 수단)(102), 및 신호 생성부(102)에 의해서 생성된 검사 신호들을 연관되는 제1 검사용 배선(52) 및 제2 검사용 배선(53)에 입력함과 함께 신호 생성부(102)에 의해서 생성된 스위칭 신호들을 연관되는 제1 스위칭 신호선(54A) 및 제2 스위칭 신호선(54B)에 입력하는 신호 입력부(신호 입력 수단)(103)를 포함한다.

(검사 방법)

제2 실시예에 적용가능한, 표시 장치를 위한 검사 방법은 다음과 같다.

표시 장치를 위한 검사 방법으로서,

표시 장치는,

복수의 표시 화소로 구성된 유효 표시부;

을 포함하고,

검사 방법은,

제1 검사용 배선과 제1 배선들 사이에 배치된 제1 스위치 소자들 및 제2 검사용 배선과 제3 배선들 사이에 배치된 제3 스위치 소자들이 공통의 제1 스위칭 신호에 기초하여 턴온된 타이밍에서, 제1 검사용 배선에 제1 검사 신호를 입력함과 함께 제2 검사용 배선에 제2 검사 신호를 입력하는 단계;

제1 검사용 배선과 제2 배선들 사이에 배치된 제2 스위치 소자들 및 제2 검사용 배선과 제4 배선들 사이에 배치된 제4 스위치 소자들이 공통의 제2 스위칭 신호에 기초하여 턴온된 타이밍에서, 제1 검사용 배선에 제1 검사 신호를 입력함과 함께 제2 검사용 배선에 제2 검사 신호를 입력하는 단계; 및

제1 및 제2 검사 신호들의 입력에 기초하여, 제1 배선군, 제2 배선군 및 유효 표시부에서의 배선 불량을 검사하는 단계

를 포함한다.

이제, 전술한 바와 같은 구성의 액정 표시 장치에서, 액정 표시 패널 상에서의 배선 불량을 검사하기 위한 검사 방법에 대하여 보다 상세하게 설명한다. 검사 방법은, 액정 표시 패널(1)을 형성한 후 및 구동 IC 칩(11)을 액정 표시 패널(1)에 실장하기 전의 처리 단계에서 실행된다. 이 검사 방법에 적용되는 검사 장치(100)에서는, 신호 생성부(102)는, 독립적인 2종류의 검사 신호 즉, 제1 검사 신호 및 제2 검사 신호를 생성함과 함께, 2종류의 스위칭 신호 즉, 제1 스위칭 신호 및 제2 스위칭 신호를 생성한다.

구체적으로는, 이 검사 방법에서는, 검사 장치(100)의 프로브들(101)을, 액정 표시 패널(1)의 패드부(44)의 입력 패드들에 접속한다. 소정의 타이밍에서, 신호 입력부(103)는, 신호 생성부(102)에 의해 생성된 제1 스위칭 신호를 제1 스위칭 신호선(54A)에 입력한다. 제1 스위칭 신호의 입력에 의해, 제1 주사선 검사부(42)의 제1 스위치 소자들(62A) 및 제2 주사선 검사부(43)의 제3 스위치 소자들(63A)은 적절한 타이밍에서 턴온된다. 또한, 신호 입력부(103)는, 신호 생성부(102)에 의해 생성된 제2 스위칭 신호를 제2 스위칭 신호선(54B)에 입력한다. 제2 스위칭 신호의 입력에 의해, 제1 주사선 검사부(42)의 제2 스위치 소자들(62B) 및 제2 주사선 검사부(43)의 제4 스위치 소자들(63B)은 적절한 타이밍에서 턴온된다. 또한, 신호 입력부(103)는, 신호 생성부(102)에 의해 생성된 스위칭 신호를 스위칭 신호선(55)에 입력한다. 이러한 스위칭 신호의 입력에 의해, 신호선 검사부(41)의 스위치 소자들(61)은 적절한 타이밍에서 턴온된다.

제1 스위치 소자들(62A)이 턴온하면, 신호 입력부(103)는 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21)에 접속된 제1 검사용 배선(52)에 제1 검사 신호를 입력한다. 이에 의해, 제1 배선들(21)에 접속된 홀수번째 주사선들에 제1 검사 신호가 공급된다. 제1 검사 신호의 입력에 의해, 유효 표시부(6) 내의 홀수번째 주사선들에 접속된 스위칭 소자들(7)은 적절한 타이밍에서 턴온된다.

또한, 제3 스위치 소자들(63A)이 턴온되면, 신호 입력부(103)는 제2 배선군(30)의 제3 배선들(33)에 접속된 제2 검사용 배선(53)에 제2 검사 신호를 입력한다. 이에 의해, 제3 배선들(33)에 접속된 짝수번째 주사선들에 제2 검사 신호가 공급된다. 제2 검사 신호의 입력에 의해, 유효 표시부(6) 내의 짝수번째 주사선들에 접속된 스위칭 소자들(7)은 적절한 타이밍에서 턴온된다.

후속하여, 제1 및 제2 검사 신호들의 입력에 기초하여, 제1 배선군(20)에 있어서의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단락, 제2 배선군(30)에 있어서의 제3 배선(33)과 제4 배선(34) 사이의 단락, 및 유효 표시부(6)에 있어서의 홀수번째 주사선과 짝수번째 주사선 사이의 단락을 검사한다. 이러한 검사 단계에서는, 신호 생성부(102)는 유효 표시부(6) 내의 스위칭 소자들(7)이 턴온된 상태에서, 신호선 검사용 배선들(51)(R, G, B)을 통하여 각 신호선들 X에 검사용 영상 신호들을 입력한다. 이에 의해, 액정 표시 패널(1)의 유효 표시부(6)에 있어서의 표시 화소들 PX에 검사용 영상 신호들이 기입된다. 검사용 영상 신호들의 기입에 의해, 액정 표시 패널(1) 상의 각종 배선들의 배선 불량들이 검사된다.

구체적으로는, 도 7에 도시한 바와 같이, 제1 배선군(20)의 제1 배선들(21)로부터 연관되는 홀수번째 주사선들에 신호들이 입력될 수 있는 타이밍에서, 제1 검사용 배선(52)으로부터 제1 검사 신호를 입력함과 함께, 각 신호선들 X에 검사용 영상 신호들을 입력한다. 이 경우, 제1 배선군(20)에 있어서 인접하는 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이에서 단락이 발생하면, 예를 들어, 배선 W1과 배선 W3 사이에서 단락가 발생하면, 배선 W1에 접속된 주사선 Y1 뿐만 아니라, 배선 W3에 접속된 주사선 Y3에도 제1 검사 신호가 공급된다. 따라서, 주사선 Y3에 접속되는 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7) 뿐만 아니라 주사선 Y1에 접속되는 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)은 동시에 턴온된다. 통상의 경우, 주사선 Y1, Y5, Y9, ...에 접속되는 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)은 턴온될 것이다. 그러나, 배선들 W1과 W3 사이의 단락 때문에, 주사선 Y1, Y3, Y5 및 Y9,...에 접속되는 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)은 턴온된다.

이러한 방식으로, 검사용 영상 신호들이 각각의 스위칭 소자들(7)이 턴온되는 상태에서 공급되면, 액정 표시 패널(1) 상의 연관되는 표시 화소들 PX이 턴온된다. 액정 표시 패널(1) 상의 표시 화소들 PX의 턴온 상태들을 관찰함으로써, 제1 배선군(20)에 있어서의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단락이 검사될 수 있다.

마찬가지로, 제1 배선군(20)의 제2 배선들(22)로부터 연관되는 홀수번째 주 사선들에 신호들이 입력될 수 있는 타이밍에서, 제1 검사 신호가 제1 검사용 배선(52)로부터 입력되고, 검사 신호들은 각각의 신호선들 X에 입력된다. 이에 의해, 제1 배선군(20)에 있어서의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단락이 검사될 수 있다.

또한, 도 7에 도시된 바와 같이, 제2 배선군(30)의 제3 배선들(33)로부터 연관되는 짝수번째 주사선들에 신호들이 입력될 수 있는 타이밍에서, 제2 검사 신호가 제2 검사용 배선(53)으로부터 입력되고 검사용 영상 신호들이 각각의 신호선 X에 입력된다. 이 경우, 제2 배선군(30)에 있어서의 인접하는 제3 배선(3)과 제4 배선(34) 사이에 단락이 발생하면, 예를 들어 배선 W2와 배선 W4 사이에 단락이 발생하면, 제1 검사 신호는 주사선 W2에 접속되는 주사선 Y2 뿐만 아니라 배선 W4에 접속되는 주사선 Y4에 공급된다. 따라서, 주사선 Y2에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7) 뿐만 아니라 주사선 Y4에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)은 동시에 턴온된다. 통상의 경우, 주사선들 Y2, Y6, Y10,...에 접속되는 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)은 턴온되어야 한다. 그러나, 배선들 W2와 W4 사이의 단락 때문에, 주사선들 Y2, Y4, Y6 및 Y10,...에 접속된 표시 화소 PX의 스위칭 소자들(7)은 턴온된다. 따라서, 제2 배선군(30)에 있어서의 제3 배선(33)과 제4 배선(34) 사이의 단락이 검사될 수 있다.

마찬가지로, 제2 배선군(30)의 제4 배선들(34)로부터 연관되는 짝수번째 주사선들에 신호들이 입력될 수 있는 타이밍에서, 제2 검사 신호가 제2 검사 배선(53)으로부터 입력되고, 검사 신호들이 각각의 신호선들 X에 입력된다. 이에 의 해, 제2 배선군(30)에 있어서의 제3 배선(33)과 제4 배선(34) 사이의 단락이 검사될 수 있다.

또한, 제1 배선군(20) 및 제2 배선군(30)에 있어서의 단락의 검사와 동시에, 유효 표시부(6)에 있어서의 홀수번째 주사선과 짝수번째 주사선 사이의 단락을 검사하는 것도 가능하다. 이제, 홀수번째 주사선과 짝수번째 주사선 사이, 예를 들면 주사선 Y3와 주사선 Y2 사이에 단락이 발생한다고 가정하자. 이 경우, 제1 배선군(20)의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단락을 검사하는 단계에서 제2 배선(22)으로부터 연관되는 홀수번째 주사선에 제1 검사 신호를 입력하면, 주사선 Y2 및 주사선 Y3에 제1 검사 신호가 공급된다. 이에 따라, 주사선 Y3에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7) 뿐만 아니라, 주사선 Y2에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)도 동시에 턴온된다. 통상의 경우, 주사선 Y3, Y7, Y11···에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)이 턴온 되어야 한다. 그러나, 주사선 Y3과 주사선 Y2 사이의 단락에 의해, 주사선 Y2, Y3, Y7, Y11···에 접속된 표시 화소들 PX의 스위칭 소자들(7)이 턴온된다.

이와 같이, 각 스위칭 소자(7)가 턴온된 상태에서, 신호선들 X에 검사용 영상 신호가 공급되면, 액정 표시 패널(1)에서, 연관되는 표시 화소들 PX가 턴온된다. 액정 표시 패널(1)에 있어서의 표시 화소들 PX의 턴온 상태를 관찰함으로써, 인접하는 주사선들 사이의 단락이 검사될 수 있다.

또한, 전술한 검사 방법에 따르면, 배선들 사이의 단락의 검사 외에 추가로, 액정 표시 패널(1)에 있어서의 표시 화소 PX의 턴온 상태를 관찰함으로써, 구동 IC 칩(11)과의 접속을 가능하게 하는 접속 패드 PD와 각 배선의 종단 사이의 단선(line breakage)을 검사하는 것도 가능하다. 특히, 각종 검사 신호들의 입력에 기초하여, 표시 화소들 PX의 턴온 상태를 관찰함으로써, 제1 배선군(20)의 제1 배선(21)과 제2 배선(22) 사이의 단선, 제2 배선군(30)의 제3 배선(33)과 제4 배선(34) 사이의 단선, 및 유효 표시부(6)에 있어서의 주사선 Y 및 신호선 X의 종단들까지의 길이 위의 점에서 발생하는 단선을 검사할 수 있다(단선이 발생하면, 연관되는 표시 화소 PX가 턴온되지 않는다).

전술한 바와 같이, 검사 방법에 따르면, 유효 표시부의 양단측으로부터 홀수번째 주사선들 및 짝수번째 주사선들에 구동 신호들을 공급할 수 있는 레이아웃을 갖는 액정 표시 장치에 있어서, 검사 장치는, 상이한 타이밍에서 제1 배선군의 상호 인접하는 제1 배선들 및 제2 배선들에 제1 검사 신호를 입력한다. 검사 신호의 입력에 기초하여, 제1 배선군에서의 배선 불량을 확실하게 검출하는 것이 가능하게 된다. 또한, 검사 장치는, 제2 배선군의 상호 인접하는 제3 배선 및 제4 배선에 대하여 상이한 타이밍에서 제2 검사 신호를 입력한다. 검사 신호의 입력에 기초하여, 제2 배선군에서의 배선 불량을 확실하게 검출하는 것이 가능하게 된다. 동시에, 유효 표시부에서의 홀수번째 주사선과 짝수번째 주사선 사이의 단락, 및 주사선 및 신호선의 단선 등의 배선 불량도 확실하게 검출하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 배선 불량을 갖는 액정 표시 패널이 후공정으로 진행하는 것을 방지하는 것이 가능해지고, 제조 수율의 저하를 억제하는 것이 가능하게 된다.

본 발명은, 상기 실시예들에 한정되는 것이 아니다. 실제로, 본 발명의 정 신에서 벗어나지 않고 구성 요소를 변형할 수 있다. 상기 실시예들에 개시되어 있는 구성 요소들을 적절히 조합하여 여러가지의 발명을 형성할 수 있다. 예를 들면, 실시예들에 도시되는 전 구성 요소로부터 몇몇 구성 요소를 삭제하여도 된다. 또한, 다른 실시예들에서의 구성 요소를 적절하게 조합할 수 있다.

본 발명의 표시 장치는, 전술한 액정 표시 장치에 한정되지 않는다. 본 발명은, 유효 표시부의 양단측에 제1 배선군 및 제2 배선군이 각각 제공되는 레이아웃을 갖는 각종 표시 장치에 적용 가능하다. 예를 들어, 본 발명은, 자기 발광 소자를 표시 소자로서 포함하는 유기 일렉트로루미네센스 표시 장치 등에 적용가능하다.

상술된 실시예들에서, 제1 검사 신호 및 제2 검사 신호는 상이한 신호들일 수 있고 또는 동일한 신호일 수 있다. 또한, 제1 검사 신호와 제2 검사 신호중 적어도 하나는 검사 단계 동안 항상 OFF 레벨에 있는 검사 신호일 수 있다.

Claims

복수의 표시 화소를 포함하는 유효 표시부;

상기 유효 표시부의 외측에 위치하는 외주부의 일단측에 배치되어, 홀수번째 행들의 상기 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 홀수번째 주사선들에 접속된 배선들을 포함하는 제1 배선군;

상기 외주부의 타단측에 배치되어, 짝수번째 행들의 상기 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 짝수번째 주사선들에 접속된 배선들을 포함하는 제2 배선군;

상기 제1 배선군의 제1 배선들 및 상기 제2 배선군의 제3 배선들에 접속된 제1 검사용 배선; 및

상기 제1 배선들에 인접하는, 상기 제1 배선군의 제2 배선들 및 상기 제3 배선들에 인접하는, 상기 제2 배선군의 제4 배선들에 접속된 제2 검사용 배선;

을 포함하는 표시 장치.
제1항에 있어서,

상기 제1 검사용 배선 및 상기 제2 검사용 배선 각각의 일단부는, 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드가 제공되는 표시 장치.
제1항에 있어서,

상기 유효 표시부는, 어레이 기판과 대향 기판 사이에 액정층이 개재되는 액정 표시 패널 상에 제공되는 표시 장치.
제3항에 있어서,

상기 제1 검사용 배선 및 상기 제2 검사용 배선은, 상기 대향 기판의 단부보다 외부로 연장하는, 상기 어레이 기판의 연장부 상에 배치되는 표시 장치.
제4항에 있어서,

상기 제1 검사용 배선 및 상기 제2 검사용 배선이 배치되는 영역에 대응하는 위치에 배치되는 구동 IC 칩을 더 포함하는 표시 장치.
제5항에 있어서,

상기 구동 IC 칩은 상기 홀수번째 주사선들에 상기 구동 신호들을 공급하는 제1 구동부, 상기 짝수번째 주사선들에 상기 구동 신호들을 공급하는 제2 구동부, 및 상기 제1 구동부와 상기 제2 구동부 사이에 개재되는 신호선 구동부를 포함하는 표시 장치.
복수의 표시 화소를 포함하는 유효 표시부;

상기 유효 표시부의 외측에 위치하는 외주부의 일단측에 배치되어, 홀수번째 행들의 상기 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 홀수번째 주사선들에 접속된 배선들을 포함하는 제1 배선군;

상기 외주부의 타단측에 배치되어, 짝수번째 행들의 상기 표시 화소들을 온/오프시키기 위한 구동 신호들이 공급되는 짝수번째 주사선들에 접속된 배선들을 포함하는 제2 배선군;

상기 제1 배선군의 제1 배선들, 및 상기 제1 배선들에 인접하는, 상기 제1 배선군의 제2 배선들에 접속된 제1 검사용 배선;

상기 제2 배선군의 제3 배선들, 및 상기 제3 배선들에 인접하는, 상기 제2 배선군의 제4 배선들에 접속된 제2 검사용 배선;

상기 제1 검사용 배선과 상기 제1 배선들 사이에 배치된 제1 스위치 소자들 및 상기 제2 검사용 배선과 상기 제3 배선들 사이에 배치된 제3 스위치 소자들의 온/오프를 제어하기 위한 스위칭 신호가 공급되는 제1 스위칭 신호선; 및

상기 제1 검사용 배선과 상기 제2 배선들 사이에 배치된 제2 스위치 소자들 및 상기 제2 검사용 배선과 상기 제4 배선들 사이에 배치된 제4 스위치 소자들의 온/오프를 제어하기 위한 스위칭 신호가 공급되는 제2 스위칭 신호선

을 포함하는 표시 장치.
제7항에 있어서,

상기 제1 검사용 배선, 상기 제2 검사용 배선, 상기 제1 스위칭 신호선 및 상기 제2 스위칭 신호선 각각의 일단부는, 구동 신호의 입력을 가능하게 하는 입력 패드가 제공되는 표시 장치.
제7항에 있어서,

상기 유효 표시부는, 어레이 기판과 대향 기판 사이에 액정층이 개재되는 액정 표시 패널 상에 제공되는 표시 장치.
제9항에 있어서,

상기 제1 검사용 배선 및 상기 제2 검사용 배선은, 상기 대향 기판의 단부보다 외부로 연장하는 상기 어레이 기판의 연장부 상에 배치되는 표시 장치.
제10항에 있어서,

상기 제1 검사용 배선 및 상기 제2 검사용 배선이 배치되는 영역에 대응하는 위치에 배치되는 구동 IC 칩을 더 포함하는 표시 장치.
제11항에 있어서,

상기 구동 IC 칩은 상기 홀수번째 주사선들에 상기 구동 신호들을 공급하는 제1 구동부, 상기 짝수번째 주사선들에 상기 구동 신호들을 공급하는 제2 구동부, 및 상기 제1 구동부와 상기 제2 구동부 사이에 개재되는 신호선 구동부를 포함하는 표시 장치.