JP2618042B2 - 画像表示装置の検査方法 - Google Patents
画像表示装置の検査方法Info
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- JP2618042B2 JP2618042B2 JP15342289A JP15342289A JP2618042B2 JP 2618042 B2 JP2618042 B2 JP 2618042B2 JP 15342289 A JP15342289 A JP 15342289A JP 15342289 A JP15342289 A JP 15342289A JP 2618042 B2 JP2618042 B2 JP 2618042B2
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- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、絶縁基板上に薄膜トランジスタを用いて形
成した液晶画像表示装置の検査方法に関するものであ
る。
成した液晶画像表示装置の検査方法に関するものであ
る。
従来の技術 従来、画像表示装置として、バックライトを備えた液
晶による画像表示装置が知られている。
晶による画像表示装置が知られている。
以下に従来の画像表示装置について、第４図を用いて
説明する。第４図において、垂直走査回路11及び水平走
査回路12による駆動回路があり、水平走査回路12の各出
力部には、水平走査回路12の出力により制御される転送
用トランジスタスイッチ群13が形成されている。画素部
14は二次元マトリクス状に配列されたアクティブマトリ
クス方式である。さらに水平走査回路12の出力により制
御される転送用トランジスタスイッチ群13からの出力は
画素部14へ点順次に書き込まれるようになっている。
説明する。第４図において、垂直走査回路11及び水平走
査回路12による駆動回路があり、水平走査回路12の各出
力部には、水平走査回路12の出力により制御される転送
用トランジスタスイッチ群13が形成されている。画素部
14は二次元マトリクス状に配列されたアクティブマトリ
クス方式である。さらに水平走査回路12の出力により制
御される転送用トランジスタスイッチ群13からの出力は
画素部14へ点順次に書き込まれるようになっている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、このような従来の構成では水平走査回
路からの垂直信号線の断線を調べる場合、各垂直信号線
の終端に広いパッド部を形成して１本１本調べるか、回
路作製後に液晶工程を通し、画像を表示させなければな
らず、断線を検査するには多くの工程が必要であるとい
う欠点があった。
路からの垂直信号線の断線を調べる場合、各垂直信号線
の終端に広いパッド部を形成して１本１本調べるか、回
路作製後に液晶工程を通し、画像を表示させなければな
らず、断線を検査するには多くの工程が必要であるとい
う欠点があった。
本発明は上記欠点に鑑み、各信号線を１本１本検査し
なくても、また液晶工程以前に、信号線の断線を知るこ
とができ、さらに断線位置までも知ることができる画像
表示装置の検査方法を提供するものである。
なくても、また液晶工程以前に、信号線の断線を知るこ
とができ、さらに断線位置までも知ることができる画像
表示装置の検査方法を提供するものである。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するために、本発明の画像表示装置の
検査方法は、絶縁基板上に、走査回路と、二次元マトリ
クス状に配列された薄膜トランジスタから成る画素部
と、導電性膜から成る各列の画素に映像信号を供給する
信号線とを備えるとともに、前記走査回路の出力部はこ
の走査回路の出力パルスにより制御される映像信号を前
記画素部の各別の信号線に転送する転送用トランジスタ
スイッチ群を有し、かつ前記画素部の各列の信号線の終
端が検査用スイッチ群のゲートに接続され、かつ前記検
査用スイッチ群のソース・ドレインは各々の共通端子に
それぞれ接続され、さらに前記画素部の各列の信号線の
終端に接続された前記検査用スイッチ群との抵抗とによ
りOR回路が形成されており、前記転送用トランジスタス
イッチ群に検査用パルスを入力し、前記検査用スイッチ
群からの出力波形により、前記画素部の前記信号線を検
査するものである。
検査方法は、絶縁基板上に、走査回路と、二次元マトリ
クス状に配列された薄膜トランジスタから成る画素部
と、導電性膜から成る各列の画素に映像信号を供給する
信号線とを備えるとともに、前記走査回路の出力部はこ
の走査回路の出力パルスにより制御される映像信号を前
記画素部の各別の信号線に転送する転送用トランジスタ
スイッチ群を有し、かつ前記画素部の各列の信号線の終
端が検査用スイッチ群のゲートに接続され、かつ前記検
査用スイッチ群のソース・ドレインは各々の共通端子に
それぞれ接続され、さらに前記画素部の各列の信号線の
終端に接続された前記検査用スイッチ群との抵抗とによ
りOR回路が形成されており、前記転送用トランジスタス
イッチ群に検査用パルスを入力し、前記検査用スイッチ
群からの出力波形により、前記画素部の前記信号線を検
査するものである。
作用 各信号線の終端には各々検査用スイッチが設けられて
おり、各検査用スイッチ群は抵抗とによりOR回路を構成
しているので、走査回路の出力により制御される転送用
トランジスタスイッチ群の入力端子には走査回路の各出
力の選択期間よりも短いパルスを入力すると、もしも信
号線に断線等がなければ、信号線の終端に設けた検査用
スイッチ群の出力波形は、転送用トランジスタスイッチ
群に入力したパルスと同じ波形となる。
おり、各検査用スイッチ群は抵抗とによりOR回路を構成
しているので、走査回路の出力により制御される転送用
トランジスタスイッチ群の入力端子には走査回路の各出
力の選択期間よりも短いパルスを入力すると、もしも信
号線に断線等がなければ、信号線の終端に設けた検査用
スイッチ群の出力波形は、転送用トランジスタスイッチ
群に入力したパルスと同じ波形となる。
実施例 以下、本発明の第１の実施例について図面を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第１図は本発明の原理を説明するための図を示す。第
１図において、１は垂直走査回路、２は水平走査回路、
３は転送用トランジスタスイッチ群、４は画素部、５は
検査用スイッチ群である。画素部４はアクティブマトリ
クス方式で、スイッチング用薄膜トランジスタを有して
いる。また、水平走査回路２の出力部には、水平走査回
路２の出力により制御される転送用トランジスタスイッ
チ群３が備えられており、画素部４へアルミニウム（A
L）配線により点順次書き込みで信号伝達を行う。
１図において、１は垂直走査回路、２は水平走査回路、
３は転送用トランジスタスイッチ群、４は画素部、５は
検査用スイッチ群である。画素部４はアクティブマトリ
クス方式で、スイッチング用薄膜トランジスタを有して
いる。また、水平走査回路２の出力部には、水平走査回
路２の出力により制御される転送用トランジスタスイッ
チ群３が備えられており、画素部４へアルミニウム（A
L）配線により点順次書き込みで信号伝達を行う。
次に本発明の画素表示装置の検査方法の画素部４を通
るAL配線の垂直信号線の断線を調べる方法について説明
する。
るAL配線の垂直信号線の断線を調べる方法について説明
する。
第２図にその構成図と各点における電圧波形を示す。
第２図において、A,B,Cはそれぞれの垂直信号線を制御
する転送用トランジスタスイッチ群の制御端子及びその
出力波形、Ｄは転送用トランジスタスイッチ群３に入力
する入力端子とその検査用パルスを示している。各垂直
信号線は検査用スイッチ群５のゲートに入力されてお
り、検査用スイッチ群５のソース・ドレインはそれぞれ
共通に接続されている。また、検査用スイッチ群５と抵
抗ＲによりOR回路を形成している。
第２図において、A,B,Cはそれぞれの垂直信号線を制御
する転送用トランジスタスイッチ群の制御端子及びその
出力波形、Ｄは転送用トランジスタスイッチ群３に入力
する入力端子とその検査用パルスを示している。各垂直
信号線は検査用スイッチ群５のゲートに入力されてお
り、検査用スイッチ群５のソース・ドレインはそれぞれ
共通に接続されている。また、検査用スイッチ群５と抵
抗ＲによりOR回路を形成している。
抵抗Ｒの大きさは検査用スイッチのトランジスタのオ
ン抵抗より大きく、オフ抵抗よりも小さく設定される。
ここで垂直信号線に断線がないとすると、Ｅ点における
出力波形は転送用トランジスタスイッチ群３に入力され
る検査用パルスＤと同じ波形が出力される。しかし、例
えば転送用トランジスタスイッチ群３のゲートが制御端
子Ｂに接続された垂直信号線に断線があると、水平走査
回路２の出力により転送用トランジスタ群３に検査用パ
ルスＤを通しても、断線により信号が検査用スイッチの
ゲートにまで伝わらないため、Ｅ′の波形に示すように
出力波形は転送用トランジスタスイッチ群３に入力され
る検査パルスＤとは異なり、断線部分での出力はなくな
る。
ン抵抗より大きく、オフ抵抗よりも小さく設定される。
ここで垂直信号線に断線がないとすると、Ｅ点における
出力波形は転送用トランジスタスイッチ群３に入力され
る検査用パルスＤと同じ波形が出力される。しかし、例
えば転送用トランジスタスイッチ群３のゲートが制御端
子Ｂに接続された垂直信号線に断線があると、水平走査
回路２の出力により転送用トランジスタ群３に検査用パ
ルスＤを通しても、断線により信号が検査用スイッチの
ゲートにまで伝わらないため、Ｅ′の波形に示すように
出力波形は転送用トランジスタスイッチ群３に入力され
る検査パルスＤとは異なり、断線部分での出力はなくな
る。
次に、本発明の第２の実施例について図面を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第３図は第２の実施例における画像表示装置の波形図
と構成図を示す。第２の実施例が上記第１の実施例と異
なる点は、水平走査回路の出力波形が、隣の出力と時間
的に重なっていること、これによって垂直信号線の終端
に設けた検査用スイッチ群５が、二列に分かれており、
検査用スイッチが交互の列に並列に設けられていること
である。
と構成図を示す。第２の実施例が上記第１の実施例と異
なる点は、水平走査回路の出力波形が、隣の出力と時間
的に重なっていること、これによって垂直信号線の終端
に設けた検査用スイッチ群５が、二列に分かれており、
検査用スイッチが交互の列に並列に設けられていること
である。
次に本発明の実施例における画像表示装置の画素部を
通るAL配線の垂直信号線の断線を調べる方法について説
明する。
通るAL配線の垂直信号線の断線を調べる方法について説
明する。
第３図において、F,G,Hはそれぞれの垂直信号線を制
御する転送用トランジスタスイッチ群３の制御端子及び
その出力波形であり、各制御端子の出力波形は隣りの出
力と、時間的に重なっている。Ｉは転送用トランジスタ
スイッチ群３に入力する検査用パルスを示している。検
査用パルスＩは、ある転送用トランジスタスイッチの制
御端子からの出力パルスの立ち上がりから隣の制御端子
からの出力パルスの立ち上がりの間にのみ出力があるパ
ルスとなっている。各垂直信号線は検査用スイッチのゲ
ートに入力されており、各検査用スイッチは、垂直信号
線の奇数段出力と、偶数段出力とに分かれており、各検
査用スイッチ群５はソース，ドレインはそれぞれ共通と
なっている。また各検査用スイッチ群５と抵抗Ｒにより
OR回路を形成している。ここで垂直信号線に断線がない
とすると、Ｊ点における出力波形は共に転送用トランジ
スタスイッチ群３に入力されるパルスＩと同じ波形が出
力される。しかし、例えば転送用トランジスタスイッチ
群３のゲートが制御端子Ｇに接続された垂直信号線に断
線があると、水平走査回路の出力により転送用トランジ
スタスイッチ群３が検査用パルスを通しても、断線によ
り信号が検査用スイッチ５のゲートに伝わらないため、
波形Ｊ′に示すように、波形Ｇのパルスの選択期間中に
ある検査用のパルスのみが出力されない波形となり、垂
直信号線の断線及びその位置が判定できる。
御する転送用トランジスタスイッチ群３の制御端子及び
その出力波形であり、各制御端子の出力波形は隣りの出
力と、時間的に重なっている。Ｉは転送用トランジスタ
スイッチ群３に入力する検査用パルスを示している。検
査用パルスＩは、ある転送用トランジスタスイッチの制
御端子からの出力パルスの立ち上がりから隣の制御端子
からの出力パルスの立ち上がりの間にのみ出力があるパ
ルスとなっている。各垂直信号線は検査用スイッチのゲ
ートに入力されており、各検査用スイッチは、垂直信号
線の奇数段出力と、偶数段出力とに分かれており、各検
査用スイッチ群５はソース，ドレインはそれぞれ共通と
なっている。また各検査用スイッチ群５と抵抗Ｒにより
OR回路を形成している。ここで垂直信号線に断線がない
とすると、Ｊ点における出力波形は共に転送用トランジ
スタスイッチ群３に入力されるパルスＩと同じ波形が出
力される。しかし、例えば転送用トランジスタスイッチ
群３のゲートが制御端子Ｇに接続された垂直信号線に断
線があると、水平走査回路の出力により転送用トランジ
スタスイッチ群３が検査用パルスを通しても、断線によ
り信号が検査用スイッチ５のゲートに伝わらないため、
波形Ｊ′に示すように、波形Ｇのパルスの選択期間中に
ある検査用のパルスのみが出力されない波形となり、垂
直信号線の断線及びその位置が判定できる。
以上のように、画像表示装置の垂直信号線の終端に、
検査用スイッチ群５を設け、転送用トランジスタスイッ
チ群３に適当な検査パルスを入力することにより、従来
各信号線を１本１本調べるか、または液晶工程を経て画
像を表示させるまで不明であった垂直信号線の断線等及
びその位置を液晶工程以前に簡単に知ることができる。
また検査用スイッチ群５は実施例では薄膜トランジスタ
により形成したが、この検査用スイッチ群は水平，垂直
各回路を形成する場合と同時に作製することができるの
で、新たにプロセスを増やす必要がない。
検査用スイッチ群５を設け、転送用トランジスタスイッ
チ群３に適当な検査パルスを入力することにより、従来
各信号線を１本１本調べるか、または液晶工程を経て画
像を表示させるまで不明であった垂直信号線の断線等及
びその位置を液晶工程以前に簡単に知ることができる。
また検査用スイッチ群５は実施例では薄膜トランジスタ
により形成したが、この検査用スイッチ群は水平，垂直
各回路を形成する場合と同時に作製することができるの
で、新たにプロセスを増やす必要がない。
なお、本実施例では、検査用スイッチ群としてトラン
ジスタを用いたが、他の構成にしてもよい。また抵抗Ｒ
は外付けにしても、内蔵してもよく、トランジスタによ
る抵抗を用いてもよい。さらに、転送用トランジスタス
イッチ群はｎチャネルトランジスタでもＰチャネルトラ
ンジスタでもよい。
ジスタを用いたが、他の構成にしてもよい。また抵抗Ｒ
は外付けにしても、内蔵してもよく、トランジスタによ
る抵抗を用いてもよい。さらに、転送用トランジスタス
イッチ群はｎチャネルトランジスタでもＰチャネルトラ
ンジスタでもよい。
発明の効果 以上のように本発明の画像表示装置の検査方法は、信
号線の終端に検査用スイッチ群を設け、この検査用スイ
ッチ群と抵抗とによりOR回路を形成するという簡単な回
路構成で画素部の信号線の検査を行うので、チップサイ
ズが大きくなることなく、画素部の信号線の検査を簡単
かつ確実に行い、断線等の位置までも知ることができる
ものである。
号線の終端に検査用スイッチ群を設け、この検査用スイ
ッチ群と抵抗とによりOR回路を形成するという簡単な回
路構成で画素部の信号線の検査を行うので、チップサイ
ズが大きくなることなく、画素部の信号線の検査を簡単
かつ確実に行い、断線等の位置までも知ることができる
ものである。
第１図は本発明の原理を説明するための図、第２図は本
発明の第１の実施例における断線の検査例の波形と構成
図、第３図は本発明の第２の実施例における断線の検査
例の波形と構成図、第４図は従来の画像表示装置の構成
図である。 １……垂直走査回路、２……水平走査回路、３……転送
用トランジスタスイッチ群、４……画素部、５……検査
用スイッチ群。
発明の第１の実施例における断線の検査例の波形と構成
図、第３図は本発明の第２の実施例における断線の検査
例の波形と構成図、第４図は従来の画像表示装置の構成
図である。 １……垂直走査回路、２……水平走査回路、３……転送
用トランジスタスイッチ群、４……画素部、５……検査
用スイッチ群。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 英治 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (72)発明者 中村 晃 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (72)発明者 上本 康裕 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−52121（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−116190（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】絶縁基板上に、走査回路と、二次元マトリ
クス状に配列された薄膜トランジスタから成る画素部
と、導電性膜から成る各列の画素に映像信号を供給する
信号線とを備えるとともに、前記走査回路の出力部はこ
の走査回路の出力パルスにより制御される映像信号を前
記画素部の各列の信号線に転送する転送用トランジスタ
スイッチ群を有し、かつ前記画素部の各列の信号線の終
端が検査用スイッチ群のゲートに接続され、かつ前記検
査用スイッチ群のソース・ドレインは各々の共通端子に
それぞれ接続され、さらに前記画素部の各列の信号線の
終端に接続された前記検査用スイッチ群と抵抗とにより
OR回路が形成されており、前記転送用トランジスタスイ
ッチ群に検査用パルスを入力し、前記検査用スイッチ群
からの出力波形により前記画素部の前記信号線を検査す
ることを特徴とする画像表示装置の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15342289A JP2618042B2 (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 画像表示装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15342289A JP2618042B2 (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 画像表示装置の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0318891A JPH0318891A (ja) | 1991-01-28 |
| JP2618042B2 true JP2618042B2 (ja) | 1997-06-11 |
Family
ID=15562161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15342289A Expired - Fee Related JP2618042B2 (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 画像表示装置の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2618042B2 (ja) |
Cited By (5)
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| US7053649B1 (en) | 2002-12-06 | 2006-05-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image display device and method of testing the same |
| US7187204B2 (en) | 2003-03-25 | 2007-03-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Circuit for inspecting semiconductor device and inspecting method |
| US7205986B2 (en) | 2002-12-18 | 2007-04-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image display device and testing method of the same |
| US7265572B2 (en) | 2002-12-06 | 2007-09-04 | Semicondcutor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image display device and method of testing the same |
| US7518602B2 (en) | 2004-12-06 | 2009-04-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Test circuit and display device having the same |
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| US5453991A (en) * | 1992-03-18 | 1995-09-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Integrated circuit device with internal inspection circuitry |
| JP2001265248A (ja) | 2000-03-14 | 2001-09-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法 |
| JP2003029296A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Toshiba Corp | アレイ基板及びその検査方法並びに液晶表示装置 |
| JP3880416B2 (ja) | 2002-02-13 | 2007-02-14 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板 |
| JP4610886B2 (ja) * | 2002-12-06 | 2011-01-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 画像表示装置、電子機器 |
| JP2005043661A (ja) * | 2003-07-22 | 2005-02-17 | Sony Corp | 検査方法、半導体装置、及び表示装置 |
| WO2007037043A1 (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示パネル及び表示装置 |
| US8882662B2 (en) | 2012-06-27 | 2014-11-11 | Camplex, Inc. | Interface for viewing video from cameras on a surgical visualization system |
| US9642606B2 (en) | 2012-06-27 | 2017-05-09 | Camplex, Inc. | Surgical visualization system |
| WO2014189969A1 (en) | 2013-05-21 | 2014-11-27 | Camplex, Inc. | Surgical visualization systems |
| US10881286B2 (en) | 2013-09-20 | 2021-01-05 | Camplex, Inc. | Medical apparatus for use with a surgical tubular retractor |
| WO2016090336A1 (en) | 2014-12-05 | 2016-06-09 | Camplex, Inc. | Surgical visualization systems and displays |
| WO2016154589A1 (en) | 2015-03-25 | 2016-09-29 | Camplex, Inc. | Surgical visualization systems and displays |
| WO2017091704A1 (en) | 2015-11-25 | 2017-06-01 | Camplex, Inc. | Surgical visualization systems and displays |
| JP6653593B2 (ja) * | 2016-02-29 | 2020-02-26 | パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 | 表示装置及び表示装置の検査方法 |
| JP2018132744A (ja) * | 2017-02-17 | 2018-08-23 | パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 | 表示装置 |
| WO2018208691A1 (en) | 2017-05-08 | 2018-11-15 | Camplex, Inc. | Variable light source |
| JP7076991B2 (ja) * | 2017-12-04 | 2022-05-30 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
| JP7217650B2 (ja) | 2019-03-18 | 2023-02-03 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
| JP2020154251A (ja) * | 2019-03-22 | 2020-09-24 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置及び検査方法 |
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| JPH0827463B2 (ja) * | 1986-11-05 | 1996-03-21 | セイコーエプソン株式会社 | アクテイブマトリクスパネル |
| JPH067239B2 (ja) * | 1987-08-14 | 1994-01-26 | セイコー電子工業株式会社 | 電気光学装置 |
-
1989
- 1989-06-15 JP JP15342289A patent/JP2618042B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| US7518602B2 (en) | 2004-12-06 | 2009-04-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Test circuit and display device having the same |
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| JPH0318891A (ja) | 1991-01-28 |
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