JPS602989A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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JPS602989A
JPS602989A JP11051483A JP11051483A JPS602989A JP S602989 A JPS602989 A JP S602989A JP 11051483 A JP11051483 A JP 11051483A JP 11051483 A JP11051483 A JP 11051483A JP S602989 A JPS602989 A JP S602989A
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JP
Japan
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active matrix
shift register
substrate
matrix display
gate
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Pending
Application number
JP11051483A
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English (en)
Inventor
村田 雅已
健嗣 和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suwa Seikosha KK
Original Assignee
Suwa Seikosha KK
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Publication date
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Publication of JPS602989A publication Critical patent/JPS602989A/ja
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  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は周辺駆動回路を内蔵したアクティブマトリック
ス表示体用IC基板に関する。
従来アクティブマトリックス用工゛C基板は、表示部分
のみで構成され、マトリックスの駆動部分はIC基板と
ポンディング等により接続された外部の0MO8−IO
チップにより構成されていた。第1図はアクティブマト
リックスの表示部分を示し表示部分1は(WXw)コの
セル2が配列されている。各セルにはゲート線G1とデ
ータ線DJが配線されており、この2つの信号線の交点
となるセルを選択してデータ線Djからデータを各セル
に書き込む。各セルはトランジスタT1jとデータ保持
用の客足(31jから構成されて、駆動点Vijから液
晶等の表示体を駆動する。例えばここにテレビの画面表
示を行うとすると、テレビ用の映像信号が各タイミング
に応じてデータ線から、その時の走査線位置にあたるゲ
ー)+Iilを選択することにより各セルに順次データ
を誼いてゆく。このためには走査位置に合致したゲー)
Mを選択する信号を各ゲー)線G1〜GrLに与え、又
その走査位置におけるデータを、横方向へ走査°して書
き込むためにデータ線に送夛込むための周辺回路が必要
となる。
ところが、この周辺回路と、このアクティブマトリック
ス基板の接続は、ル+倶箇所必要となり、実際は400
〜aOO本となりかなり大変でありコスト的にも高くつ
く。又周辺駆動回路自体も通常消費電力を低減する意味
で0MO87−LSIが用いられるが、このために必要
なチップ数が10コ〜20コで、やはり、アセンブルi
; 大変rチップ自体のコストもかなり過ぎる。従って
この周辺回路をIC基板に内蔵することが最もよいが下
に挙げるような問題点がある。。
(リ 外付の場合は0MO8技術が使えるが、一般にマ
トリックスIC基板はN−MOS、又はP−MOEIで
あり、普通に駆動回路を構成すると消費電力か大きすぎ
て使いものにならない。又工C基板を0MO8にすると
、製造プロセスか複雑になりすぎる。
(2)駆動回路外付の場合には、分割されているので歩
留は問題ないが、内蔵すると歩留が100%近くないと
、駆動回路の一部の不良により1工C基板全体が不良と
なる。
このような問題点を解決するためにNチャンネルMOB
プロセスを用いたダイナミック型のシフトレジスタが採
用されている。第2図及び第3図はゲートライン駆動用
のシフトレジスタ回路の回路図及びタイミング図である
シフトレジスタセル5は4つのトランジスタ7〜10と
1つのプートストラップ容量6より構成される。クロッ
クはφ1とφ2の2相でありスタートパルスEIF入力
により“1”電位が順次クロックに同期して転送してゆ
く。各シフトレジスタの出力D1〜D%がゲート線に入
力されて、この結果、tg 31xiに示す如く、順次
各ゲート線を選択していく。
第4図は本発ψlによるデータ線側の駆動回路の一例で
ある。シフトレジスタセル14はブートストラップ容量
16と動作に必要なトランジスタ17.18により構成
され、初段へは入力ゲート15を介してスタートパルス
spを印加する。°又各シフトレジスタ出力81〜8t
hはサンプルホールドトランジスタH1〜Hmに入力さ
れ、走査信号に同期してビデオ人力V、S、(映像信号
又はデータ書き込み信号)をデータ線に寄生する容量C
D、〜cBgB にサンプルホールドさせる。データ線
側駆動回路は一走査線内で全ての処理を行うため高速で
あり、リーク電流の考慮は余りしなくてよいが逆に高速
動作を確保することと、高速のために増大する消費電力
を押えることを考慮する必要がある。このために、シフ
トレジスタのクロックは2相でなく4相以上を用いるの
がよい。同一の転送率で同一のビット数を確保するため
にはクロックが2相から4相になればり゛ロックライン
φ1〜φ4で消費する電力は半分になる。又8相になれ
ばその半分となる。このシフトレジスタは惧ビット中1
ビットしか′1#になっていないのでクロック以外での
電力消費は少ない。従って本方式の採用により、IN辺
駆動回路はモノチャネル構成にもかかわらず0M0B並
の低電力とすることが可能である。シフトレジスタの出
力81〜smはサンプルホールドトランジスタH1〜H
mに入力されるのみでここに寄生する容量・はそう大き
くない。従って81〜8mに直接小面積で構成されるプ
ートストラップ容量16を接線することが可能となる。
サンプル・ホールドトランジスタH8〜Hm19はかな
りの高速スイッチングが要求されるが、そのゲート入力
にはプートストラップ動作により、第5図に示す如くク
ロック信号の2倍近い振幅で印加されるので、非常に高
速でスイッチングできるという利点がある。以上のX、
Yシフトレジスタを実際に配置する場合であるが、従来
は各データ線及びゲートaの断線による欠陥を救済する
ためにX、Yシフトレジスタを上下、左右に2系統づつ
設けた。第6図はこの従来例を示す図であり実際にアク
ティブ・マトリックス基板に配置した場合を示している
。データ1lIxシフトレジスタ35.36と及び最終
段の帰還信号を形成するダミーセル57.58とサンプ
ルホールド用トランジスタH1〜Hmがあり上下対照に
配列される。又ゲート側Yシントレジスタ31.3”2
とダミー33.34は左右対照に配列される。
ところが、パターンルールが10μ怖程度のゆるい場合
には、各ゲート線及びデータ線の断線のある確率は低い
ために、歩留り向上の効果は余りない。逆に、上下左右
の2系統のX、Y駆動回路が完全に無欠陥でなければな
らない場合には歩留り低下になる。また、同じ機能の回
路を並列に動かすために、消g&電力を余分に使うこと
になる。
特に、X駆動回路は、1水平走査期間(65,5μ8)
に同期して、ゲー)Mが選択されている間に、左から右
へと点順次走査により1行の200個程鹿の両案に信号
を書き込んで行くことになり、第4図の4相クロツクの
回路を使っても、クロック信号φ、〜φ、の周波数は7
50に〜1− M HZとなり、消費を力が多くなる。
以上の理由により、X駆動回路については、上下どちら
か1系統とした方が良くなる。Y駆wJ回路については
、クロックφ1 、φ2の周波数は、水平同期周波数の
半分の約7.8 K HZとXに比較して、約/’io
oと小さく、消費電力も少ないため、2系統のシフトレ
ジスタを設けても良い。
ところが、X駆動回路を1系統の、みにすると、データ
線の片端から信号を供給するのみであるのでデータ線に
断線があるかどうかの検査ができなくなり、品質管理上
重要な問題となる。このために、データ線のX駆動回路
と反対側にブロービング用のパッドを設ける方法がある
が、100〜200μ怖程度のピッチで200個程鹿の
パッド列となるために、検査時の位置出し工数がかかる
ことになる。本発明はかかる問題点を鑑みて行なわれた
ものであり、データ線の検査を容易にすることを目的と
する。
以上の欠点を解決するために、データ線のX駆動回路と
反対側に検査用のトランジスタを複数ケ設けるものであ
る。第7図は本発明の具体例の1つであり、下側のX駆
動回路の代わりに、データmD1〜Dyaとドレインを
結ばれたテスト用トランジスタに、〜K x 39が設
けられている。テスト用トランジスタに、〜Kmは奇数
番号と偶数番号の群に分けられ、各群のトランジスタは
、シース及びゲートを共通になっている。各群のソース
及びゲートは各々801 e 802 e Gl m 
”2と呼ばれる端子からチップの外へ取り出される。ま
た、ゲート端子G1 、G、は通常は、テスト用トラン
ジスタに1〜Kmのドレイン−ソース間をハイインピー
ダンスとするためにプルダウン抵抗Rs * Rt 4
0により基板準位になっている。テスト用トランジスタ
に1〜Kmは奇数番号と偶数番号の群に分けであるのは
、第5図のタイミング図かられかるように、サンプルホ
ールドトランジスタH1〜Hfiは間接する2つが同時
に選択される。このため、もし、テスト用トランジスタ
に1〜KfAが一系統のみの場合はソース線に断線かあ
っても、隣接するソース線が正常な場合は断線が発見で
きなくなる。このことを防止するために、隣接するソー
ス線に継がるテスト用トランジス表□ を奇数と偶数の群に分けているのである。即ち、テスト
用トランジスタのゲートG1と02を独立に制御して、
ソース端子so、、8o、から信号を検出することによ
り、各ソースHD1〜Dmの断線チェックが可能になる
のである。例えば、XシフトレジスタのVよりEOmf
fl子fH1ghレベルにして、かつ、テスト用トラン
ジスタのソース端子s’o、、so2を抵抗で基板準位
へプルダウンした時のタイミング図を第8園に示す。s
1〜Bmは第5図に示したXシフトレジスタの出力であ
りサンプルホールドトランジスタH8〜amのゲート信
号であり、これと同期してテスト用トランジスタのゲー
ト端子G1*G2に図のような信号を加えるとソース端
子so1 、so、には図のような信号が得られ、D1
〜DmのソースM1が断線していないことがわかるので
ある。もし、断線があった場合は、例えば、Dsが断線
している場合には801のように対応するパルスが欠落
して、断線している箇所がわかるのである。
以上のように、本発明によればアクティブマトリックス
表示体用IC基板の検査が容易になり、品質の向上が図
かれ、その効果は非常に大きい。
なお、本願の実施例は単結晶シリコンを用いたアクティ
ブマトリックス表示体としたが、ガラズ基板上に薄膜ト
ランジスタを形成したTPTについても適用できるもの
である。
【図面の簡単な説明】
第1図・・・・・・アクティブマトリックスの表示部の
等価回路図 1・・・・・・表示部 2・・・・・・セ ル 第2図・・・・・・ゲート線駆動用のXシフトレジスタ
の等価回路図 5・・・・・・シフトしlラスタセル 6・・・・・・プートストラップ容量 7〜10・・・・・・トランジスタ 第3図・・・・・・ゲート線駆動用のXシフトレジスタ
のタイミング図 第4図・・・・・・ソース線駆動用のXシフトレジスタ
の等価回路図 14・・・・・・シフトレジスタセル 15・・・・・・入力ゲート 16・・・・・・プートストラップ容量17〜18・・
・・・・トランジスタ 19・・・・・・サンプルホールドトランジスタ 第5図・・・・・・ソース線駆動用のXシフトレジスタ
のタイミング図 第6図・・・・・・従来例のアクティブマトリックス表
示体用工C基板 35.56・・・・・・データ1ilJ Xシフトレジ
スタ 37.38・・・・・・ダミーセル 31.32・・・・・・ゲート側Xシフトレジスタ 33.54・・・・・・ダミーセル 第7図・・・・・・本発明の実施例のアクティブマトリ
ックス用Xa基板の図 39・・自・・テスト用トランジスタ 40・・・・・・プルダウン抵抗

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)複数本のデータ線と複数本のゲート線をマトリック
    ス状に形成し、各交点に画素トランジスタ、液晶駆動電
    極を設けた画素部と前記データ線又はゲート線を駆動す
    るためのX、Y周辺駆動回路部から構成されるアクティ
    ブマトリックス表示体用IC基板において、X、Y周辺
    駆動回路のうち少なくとも一方は、1系統しか設けず、
    かつ、該1系統の周辺回路と反対の辺にゲートに複数の
    共通ラインが入力したトランジスタ群を配置しタコとを
    特徴とするアクティブマトリックス表示体用IC基板。
JP11051483A 1983-06-20 1983-06-20 液晶表示装置 Pending JPS602989A (ja)

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