JPS6352121A - 電気光学装置 - Google Patents

電気光学装置

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JPS6352121A JP62202716A JP20271687A JPS6352121A JP S6352121 A JPS6352121 A JP S6352121A JP 62202716 A JP62202716 A JP 62202716A JP 20271687 A JP20271687 A JP 20271687A JP S6352121 A JPS6352121 A JP S6352121A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は表示装置、プリンタ用ツヤツク等の電気光学袋
;η、特にソフトレジスタ回路を同一基板上に内蔵した
電気光学V fflに関するものである。
〔発明の4Q要〕 シフトレジスタ回路を内蔵したマトリクス電気光学装置
において、線と制41U線の少なくとも一方の終端に検
査用スイッチングトランジスタを設けたものであり、画
素選択トランジスタ駆動用回路の動作試験と同時に信号
線、制御線の断線チェ’)り及び相互の短絡チェ7りを
行えるようにしたものである。
〔従来の技術およびその問題点〕
半専体iW膜を用いた集積回路装置、特にマトリクス配
π型液晶表示装置において、現在シフトレジスタ回路に
代表される画素選択トランジスタ駆動用回路(以下駆動
回路と称す)を画素部と同一基板上に同工程で作り込む
試みが多くなされており、実用化の方向にある。しかし
ながら前記駆動回路を各信号線及び制御線に直結し同一
基板上に作り込んだだけでは、前記駆動回路の動作試験
を行うことが困難でかつ信号線、制御線の断線チェック
及び相互の短絡チェックを別の検査工程で行わなければ
ならず検査コストが増す原因となってしまう。
第1図に示されるのは、駆動回路を画素部の信号線及び
制御線と直接つないで同一基板上に作り込んだだけの駆
動回路内蔵型液晶表示装置の回路図で画素選択トランジ
スタl及び信号線2、制御線3を有する画素部と前記画
素選択トランジスタ1を駆動する駆動回路(画素イ3号
用シフトレジスタ回路4、制御イ8号用シフトレジスタ
回路5に大別される)部が同一基板上に作り込まれてい
る。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、これらの欠点を除去するため、同一基板上に
内蔵された駆動回路、特にシフトレジスタ回路の動作試
験と信号線、制御線の断線チェック及び相互の短絡チェ
ックをより短い検査工程でできる様な構造の電気光学装
置を提供することを目的とする。
〔実施例〕
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す回路図で、第1図に示
されるものと同様に画素部と駆動回路部が同一基板に作
り込まれ直結されているが画素信号用シフトレジスタ回
路4に接続されている信号線2及び制御信号用シフトレ
ジスタ回路5に接続されている制御線3のそれぞれの線
の終端にスイッチングトランジスタ6が設けられており
、前記各スイッチングトランジスタ6のゲート電極は次
段の信号線もしくは制御線に接続されている。
また前記各スイッチングトランジスタ6のソース電極は
信号線側及び制御線側それぞれに共通電極として取り出
されている。前記共通電極及び画素信号用シフトレジス
タ回路4へ入力されるクロック信号とデータ信号、また
制御イ3号用シフトレジスク5へ入力されるクロ7り信
号とデータ13号を使って逐次段作することによって、
前記スイッチングトランジスタ6を信E線もしくは制御
腺ごとにスイッチングすることができ、前記駆動回路の
・■・、!J作試験と同検査工程において、信号線2、
制御線3ぞれぞれの断線チェ、り支び相互の短絡チェッ
クを行うことができる。
また実際、良品表示装置として使用する際には、前記共
11i1電手】を接地電位に接’#’tしていれば動作
に影響を与えることはない。
また第3図は、本発明の他の実施例を示す回路図で前記
本発明の一実施例と構成的には同様であるが、信号線2
もしくは制御線3の終端に設けられたスイッチングトラ
ンジスタ6が画素部の上下及び左右に配され、それに従
って7フトレジスタ回路4及び5を画素部の上下及び左
右に配置したことを特徴とする。これにより前記各シフ
トレジスタ回路4及び5の動作速度は2に軽減され、か
つn’l記スイスイツチングトランジスタ6割配置のた
めレイアウト上無理がない、またこの場合各スイッチン
グトランジスタ6のソース電極をまとめた共1111電
極は画素部の各辺ごとに1められ対応する各シフトレジ
スタ回路の動作試験の際、信号読み取り端子として用い
られる。
〔発明の効果) 以上のごとく本発明によれば、シフトレジスタ回路に代
表される駆動回路の・動作試験と(Δ号〜、7、;fi
l+御線それぞれの断線チェ’7り及び相互の短絡ナエ
ノクを同検査工程で行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は画素部と駆動回路部を同一25板上に作り込み
直結しただけの液晶表示装置の回路図で、第2図は本発
明の一実施例における電気光学装置の回路図で、第3図
は本発明の他の実施例における電気光学装置の回路図で
ある。 1・・・画素選択トランジスタ 2・・・イ言号線 3・・・制御線 4・・・画素信号用シフトレジスタ回路5・・・制御信
号用シフトレジスフ回路6・・・スイッチングトランジ
スタ 以上

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)シフトレジスタ回路を内蔵したマトリクス電気光
    学装置において、信号線と制御線の少なくとも一方の終
    端に検査用スイッチングトランジスタを設けたことを特
    徴とする電気光学装置。
  2. (2)前記検査用スイッチングトランジスタのゲートと
    次段の信号線もしくは制御線とをつないだ特許請求の範
    囲第1項記載の電気光学装置。
  3. (3)前記検査用スイッチングトランジスタのソースが
    共通電極として信号線、制御線について少なくともそれ
    ぞれ独立にとり出されていることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の電気光学装置。
  4. (4)前記シフトレジスタを画素部の上下に配し一前記
    検査用スイッチングトランジスタを信号線もしくは制御
    線において少なくとも一本置きに互い違いに配置したこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の電気光学装
    置。
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