WO2019242243A1 - 一种显示面板及显示装置 - Google Patents

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WO2019242243A1
WO2019242243A1 PCT/CN2018/118442 CN2018118442W WO2019242243A1 WO 2019242243 A1 WO2019242243 A1 WO 2019242243A1 CN 2018118442 W CN2018118442 W CN 2018118442W WO 2019242243 A1 WO2019242243 A1 WO 2019242243A1
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胡云钦
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惠科股份有限公司
重庆惠科金渝光电科技有限公司
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Definitions

  • a plurality of first test pads are disposed on the array substrate and are located outside the coverage of the opposite substrate, and the plurality of first test pads are electrically coupled to the shift register;
  • a shift register is disposed on the array substrate and is located on one side of the array substrate;
  • a plurality of second test pads disposed on the array substrate
  • a plurality of active switches disposed on the array substrate.
  • FIG. 3 is a schematic diagram of a wiring structure of a first display panel provided by an embodiment of the present application.
  • FIG. 8 is a schematic diagram of a wiring structure of a display device according to an embodiment of the present application.
  • the plurality of first test pads 108 and the plurality of second test pads 112 are respectively disposed on the sides of the array substrate 103.
  • the free line arrangement area and test pad on the array substrate 103 can be effectively used, the production cost is reduced, and the overall structure is more compact.
  • the plurality of first test pads 108, the plurality of second test pads 112, and the tester 111 may be respectively disposed on the test pads.
  • the other positions of the array substrate 103 are not limited here.
  • the tester 111 is also disposed beside the array substrate 103, and an input end of the tester 111 is electrically coupled to the plurality of first test pads 108.
  • the output terminal of the tester 111 is electrically connected to the plurality of second test pads 112.
  • the input end of the tester 111 is connected to all or a part of the plurality of first test pads 108, so as to be electrically coupled to the shift register 105b.

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Abstract

一种显示面板，其中，显示面板包括阵列基板（103）、对向基板（104）、多个主动开关、移位暂存器（105b）、多个第一测试衬垫（108）、多个第二测试衬垫（112）、以及测试器（111），测试器（111）的输入端连接多个第一测试衬垫（108），测试器（111）的输出端连接多个第二测试衬垫（112）。这样，通过在显示面板显露表面配置连接衬垫的测试器（111），无需撬开面板即可直接检测移位暂存器（105b），较能避免损伤阵列基板（103）上的电路，有助于电路问题的解析和改进。

Description

一种显示面板及显示装置 技术领域
本申请涉及面板检测领域的检测电路技术领域，尤其涉及一种显示面板及显示装置。
背景技术
近年来，随着科技的进步，平面液晶显示器逐渐普及化，其具有轻薄等优点。目前平面液晶显示器驱动电路主要是由面板外连接IC(Integrated Circuit，集成电路)来组成，但是此方法无法将产品的成本降低、也无法使面板更薄型化。
液晶显示设备中通常具有栅极驱动电路、源极驱动电路和画素阵列。画素阵列中具有多个画素电路，每一个画素电路依据栅极驱动电路提供的扫描讯号开启和关闭，并依据源极驱动电路提供的数据讯号，显示数据画面。以栅极驱动电路来说，栅极驱动电路通常具有多级移位寄存器，并藉由一级移位寄存器传递至下一级移位寄存器的方式，来输出扫描讯号到画素阵列中，以依序地开启画素电路，使画素电路接收数据讯号。
因此在驱动电路的制程中，便直接将栅极驱动电路制作在阵列基板上，来取代由外连接IC制作的驱动芯片，此种被称为栅极阵列驱动(Gate On Array，GOA)技术的应用可直接做在面板周围，减少制作程序、降低产品成本且使面板更薄型化。
显示装置在生产过程中，显示面板经常出现与栅极阵列驱动电路有关的不良问题。在解析问题过程中需要测试栅极阵列驱动电路的节点和栅极阵列驱动 电路的输出信号，以确认不良发生的原因。在测试栅极阵列驱动电路的输出信号时，必须将阵列基板的对向基板(如彩膜基板或是对向配置的玻璃基板)撬开再进行测试。此方法成功率相对较低，经常损伤阵列基板侧的相关电路而造成无法再进行测试的问题。
申请内容
本申请一目的在于提供一种显示面板，包括但不限于解决无需撬开面板即可检测移位暂存器的技术问题。
本申请实施例采用的技术方案是：一种显示面板，包括：
阵列基板；
对向基板，与所述阵列基板相对设置；
多个主动开关，设置于所述阵列基板上；
移位暂存器，设置于所述阵列基板上，位于所述阵列基板的一侧；
多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，并位于所述对向基板的涵盖范围之外，所述多个第一测试衬垫电性耦接所述移位暂存器；
多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上；以及
测试器，设置于所述阵列基板上，所述测试器包括输入端与输出端，所述测试器的输入端连接多个第一测试衬垫以电性耦接所述移位暂存器，所述测试器的输出端连接多个第二测试衬垫。
本申请的另一目的在于提供一种显示面板，包括：
阵列基板；
对向基板，与所述阵列基板相对设置；
多个主动开关，设置于所述阵列基板上；
移位暂存器，设置于所述阵列基板上，位于所述阵列基板的一侧；
多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，多个所述第一测试衬垫电性耦接于所述移位暂存器；
多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上；以及
测试器，设置于所述阵列基板上，所述测试器包括输入端与输出端，所述测试器的输入端与多个所述第一测试衬垫一一对应连接以实现与所述移位暂存器电性耦接，所述测试器的输出端与多个所述第二测试衬垫一一对应连接；
所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线涂覆或粘结于所述阵列基板上，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线涂覆或粘结于所述阵列基板上。
本申请的再一目的在于提供一种显示装置，包括显示面板、以及用于控制所述显示面板工作的控制器，所述显示面板包括：
阵列基板；
对向基板，与所述阵列基板相对设置；
多个主动开关，设置于所述阵列基板上；以及
移位暂存器，设置于所述阵列基板上，并位于所述阵列基板的一侧；
多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，所述多个第一测试衬垫电性耦接所述移位暂存器；
多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上；以及
测试器，设置于所述阵列基板上，所述测试器包括输入端与输出端，所述测试器的输入端连接多个所述第一测试衬垫以实现与所述移位暂存器电性耦接，所述测试器的输出端连接多个所述第二测试衬垫；所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线方式为双层金属布线方式，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线方式为单层金属布线方式。
本申请实施例提供的一种显示面板，通过在显示面板显露表面配置连接衬垫的测试器，无需撬开面板即可直接检测移位暂存器，较能避免损伤阵列基板上的电路，有助于电路问题的解析和改进。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本申请实施例提供的显示面板的结构示意图；
图2是本申请实施例提供的图1中的局部放大示意图；
图3是本申请实施例提供的第一种显示面板的布线结构示意图；
图4是本申请实施例提供的第二种显示面板的布线结构示意图；
图5是本申请实施例提供的第三种显示面板的布线结构示意图；
图6是本申请实施例提供的第四种显示面板的结构示意图；
图7是本申请实施例提供的显示装置的结构示意图；
图8是本申请实施例提供的显示装置的布线结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需说明的是，当部件被称为“固定于”或“设置于”另一个部件，它可以直接在另一个部件上或者间接在该另一个部件上。当一个部件被称为是“连接 于”另一个部件，它可以是直接或者间接连接至该另一个部件上。术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解所述术语的具体含义。术语“第一”、“第二”仅用于便于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明技术特征的数量。“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
为了说明本申请所述的技术方案，以下结合具体附图及实施例进行详细说明。
本申请实施例提供一种显示面板，请参阅图1～6所示，包括阵列基板103与对向基板104，该对向基板104与阵列基板103相对设置，在该阵列基板103上设置有多个主动开关(附图中未作出)与移位暂存器105b，该移位暂存器105b设于所述阵列基板103的一侧，此外，在所述阵列基板103上还设有多个第一测试衬垫108与多个第二测试衬垫112，所述多个第一测试衬垫108电性耦接于所述移位暂存器105b，此外，所述显示面板还包括测试器111，该测试器111设于所述阵列基板103上，所述测试器111包括输入端与输出端，该测试器111的输入端与所述多个第一测试衬垫108连接，进而实现与所述移位暂存器105b电性耦接，所述测试器111的输出端与所述多个第二测试衬垫112连接。这样，通过在显示面板显露表面配置连接第二测试衬垫112的测试器111，则无需撬开面板即可直接检测移位暂存器105b，较能避免损伤阵列基板103上的电路，有助于电路问题的解析和改进。与此同时，还能有效的再利用阵列基板103上空余的线路配置区域及测试衬垫。
在一个实施例中，请参阅图1，该测试器111设置位于该对向基板104垂直投影于上述阵列基板103的一段区域的范围之内，使得显示面板的结构较为紧凑。当然，在本实施例中，根据实际情况和具体需求，所述测试器111也可设置于对向基板104的垂直投影于上述阵列基板103上一段区域的范围之外，此处不作唯一限定。
在一个实施例中，请参阅图1与图2，所述多个第一测试衬垫108与多个所述第二测试衬垫112分别设置于所述阵列基板103的旁侧。通过这样设置，从而可有效的利用阵列基板103上空余的线路配置区域及测试衬垫，降低了生产成本，使得整体结构较为紧凑。当然，在本实施例中，根据实际情况和具体需求，所述多个第一测试衬垫108、多个所述第二测试衬垫112、以及所述测试器111也可分别设置于所述阵列基板103的其他位置处，此处不作唯一限定。
在一个实施例中，请参阅图1与图2，上述测试器111也设置于上述阵列基板103的旁侧，且上述测试器111的输入端与上述多个第一测试衬垫108电性耦接，上述测试器111的输出端与上述多个第二测试衬垫112电性。通过将上述测试器111设置于阵列基板103的旁侧，从而使得测试器111靠近第一测试衬垫108与第二测试衬垫，112缩短了电路传输的行程，使其结构较为紧凑，降低了成本。当然，在本实施例中，根据实际情况和具体需求，上述测试器111也可设置在阵列基板103的其他位置处，此处不作唯一限定。
在一个实施例中，请参阅图1与图2，所述多个第一测试衬垫108、多个第二测试衬垫112、以及测试器111均设置于阵列基板103与对向基板104的之间。这样，充分利用了所述阵列基板103与对向基板104之间的空隙，使得排布以较为密集的方式呈现，当然，在本实施例中，所述多个第一测试衬垫108、多个第二测试衬垫112、以及测试器111也可设置在其他位置处，此处 不作唯一限定。
在一个实施例中，请参阅图5与图6，所述阵列基板103呈堆叠形成的多层基板，该多层基板包括第一层板103a与第二层板103b，所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线设置于所述第一层板103a的表面，所述测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线设置于第二层板103b的表面，且该测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线介于第一层板103a与第二层板103b之间。通过设置这样的布线方式，有助于检测移位暂存器105b，电路问题进行解析和改进。在本实施例中，所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线设置于所述第二层板103b的表面，且所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线介于第一层板103a与第二层板103b之间，所述测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线设置于所述第一层板103a的表面，从而可实现对电路的检测，此处不作唯一限定。
在一个实施例中，所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线、以及测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线均设置于第一层板103a的表面上，又或者所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线、以及所述测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线均设置于第二层板103b的表面，且该测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线介于第一层板103a与第二层板103b之间。通过这样布线，从而可通过在单个层板上实现测试器111分别与多个第一测试衬垫108、以及多个第二测试衬垫112之间的布线，避免了在两个层板上分别布线，简化了布线工艺，提高了生产效率。
在一个实施例中，请参阅图3与图4，所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线邻近于所述阵列基板103的边缘，所述测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线邻近于所述对向基板104的边缘；或者，在本实施 例中，所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线邻近于对向基板104的边缘，所述测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线邻近于所述阵列基板103的边缘，或者，在本实施例中，所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线、以及所述测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线均邻近于所述阵列基板103的边缘，又或者，所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线、以及所述测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线均邻近于所述对向基板104的边缘。这样，通过设置不同的布线方式，从而可满足实际的各种需求，保证了在对电路问题进行解析和改进的同时，还能有效的利用阵列基板103或对向基板104上空余的线路配置区域及测试衬垫。
可选地，所述测试器111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线方式为单层金属布线方式或双层金属布线方式，所述测试器111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线方式为单层金属布线方式或双层金属布线方式，当然，根据实际情况和具体需求，所述测试器111与所述多个第一测试衬垫108、以及多个第二测试衬垫112之间的布线方式也可为其他方式，此处不作唯一限定。
可选地，所述测试器111的输入端连接全部或局部的多个第一测试衬垫108，进而可实现与所述移位暂存器105b电性耦接。
可选地，所述测试器111的输出端连接全部的多个第二测试衬垫112。当然，根据实际情况和具体需求，所述测试器111的输出端连接局部的多个第二测试衬垫112，此处不作唯一限定。
在本申请中，还包括一种显示面板，该显示面板与上述显示面板的结构大致相同，其不同之处在于，上述测试器111的输入端与上述多个第一测试衬垫108一一对应连接，上述测试器111的输出端与上述多个第二测试衬垫112一一对应连接，此外，上述测试器111与上述多个第一测试衬垫108之间的布线 涂覆于上述阵列基板103上，上述测试器111与上述多个第二测试衬垫112之间的布线涂覆于上述阵列基板103上，这样，可增强布线与阵列基板103之间的结合强度，此外，通过涂覆的方式使得测试器111与上述多个第一测试衬垫108及上述多个第二测试衬垫112结构紧凑，减少了布线的占用空间。当然，在本实施例中，上述测试器111与上述多个第一测试衬垫108之间的布线也可通过粘结等方式设置于上述阵列基板103上，上述测试器111与上述多个第二测试衬垫112之间的布线也可通过粘结等方式设置于上述阵列基板103上，此处不作唯一限定。
在一个实施例中，所述阵列基板103呈堆叠形成的多层基板，该多层基板包括第一层板103a与第二层板103b，所述测试器111与多个第一测试衬垫108之间的布线印刷于所述第一层板103a的表面，所述测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线印刷于第二层板103b的表面，且该测试器111与多个第二测试衬垫112之间的布线介于第一层板103a与第二层板103b之间。这样，通过印刷的方式，从而使得布线与上述阵列基板103合为一体，减小了布线在阵列基板103上的占用空间。当然，在本实施例中，上述布线也可通过涂覆等其他方式设置于阵列基板103上，此处不作唯一限定。
可选地，本申请的显示面板可例如为TN(Twisted Nematic，扭曲向列)、STN(Super Twisted Nematic，超扭曲向列)、OCB(Optically Compensated Birefringence，光学补偿弯曲排列)显示面板，或OLED(Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)显示面板及等离子体显示面板。
在一个实施例中，本申请还包括一种显示装置，该显示装置包括显示面板和控制器，该显示面板为如上所述的显示面板，此处不作赘述。
可选地，请参阅图7与图8，所述显示装置为栅极阵列驱动的显示装置100， 该显示装置100包括控制板101、印刷电路板102、对向基板104和主动阵列基板103。栅极驱动电路105被分成了两部分，一是升压部105a，一是移位寄存器105b。所述升压部105a设置在控制板101上，移位寄存器105b则是设置在主动阵列基板104上。在某些实施例中，移位寄存器105b会配置于主动阵列基板104两侧，依据线路设计，移位寄存器105b可设置于阵列基板104的布线区。由于移位寄存器105b占的面积很小，因此栅极阵列驱动(GOA)面板一般都可以做到超窄边框。
在一种实施例中，系统主板提供颜色(例如：R/G/B)压缩信号、控制信号及电源传输至控制板101。该控制板101上的时序控制器(Timing Controller，TCON)107与处理此等信号后，连同被驱动电路处理的电源，通过如柔性扁平电缆(Flexible Flat Cable，FFC)，一并传输至印刷电路板102的源极电路及栅极电路，通过源极覆晶薄膜109及配置在主动阵列基板104布线区的栅极阵列驱动电路，将必要性的数据与电源传输于显示区，从而使得显示器获得呈现画面需求的电源、信号。
以上仅为本申请的可选实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (20)

  1. 一种显示面板，包括：
    阵列基板；
    对向基板，与所述阵列基板相对设置；
    多个主动开关，设置于所述阵列基板上；
    移位暂存器，设置于所述阵列基板上，位于所述阵列基板的一侧；
    多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，多个所述第一测试衬垫电性耦接于所述移位暂存器；
    多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上；以及
    测试器，设置于所述阵列基板上，所述测试器包括输入端与输出端，所述测试器的输入端连接多个所述第一测试衬垫以实现与所述移位暂存器电性耦接，所述测试器的输出端连接多个所述第二测试衬垫。
  2. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器设置于所述对向基板垂直投影于所述阵列基板上的一段区域的范围之内。
  3. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器设置于所述对向基板的垂直投影于所述阵列基板上的一段区域的范围之外。
  4. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，多个所述第一测试衬垫与多个所述第二测试衬垫分别设置于所述阵列基板的旁侧。
  5. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，多个所述第一测试衬垫、多个所述第二测试衬垫以及所述测试器均设置于所述阵列基板与所述对向基板之间。
  6. 根据权利要求5所述的一种显示面板，其中，所述阵列基板呈堆叠形 成的多层基板，所述多层基板包括第一层板与第二层板，所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线设置于所述第一层板的表面，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线设置于所述第二层板的表面，且所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线介于所述第一层板与第二层板之间。
  7. 根据权利要求5所述的一种显示面板，其中，所述阵列基板呈堆叠形成的多层基板，所述多层基板包括第一层板与第二层板，所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线设置于所述第二层板的表面，且所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线介于所述第一层板与第二层板之间，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线设置于所述第一层板表面。
  8. 根据权利要求5所述的一种显示面板，所述阵列基板呈堆叠形成的多层基板，所述多层基板包括第一层板与第二层板，所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线以及所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线均设置于所述第一层板的表面。
  9. 根据权利要求5所述的一种显示面板，所述阵列基板呈堆叠形成的多层基板，所述多层基板包括第一层板与第二层板，所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线以及所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线均设置于所述第二层板的表面，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线介于所述第一层板与第二层板之间。
  10. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线邻近于所述阵列基板的边缘，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线邻近于所述对向基板的边缘。
  11. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线邻近于所述阵列基板的边缘，所述测试器与多个所述 第一测试衬垫之间的布线邻近于所述对向基板的边缘。
  12. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线邻近于所述阵列基板的边缘，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线临近于所述阵列基板的边缘。
  13. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器与所述多个第一测试衬垫之间的布线以及所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线均邻近于所述对向基板的边缘。
  14. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线方式为单层金属布线方式或双层金属布线方式。
  15. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线方式为单层金属布线方式或双层金属布线方式。
  16. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器的输入端连接全部或局部的多个所述第一测试衬垫。
  17. 根据权利要求1所述的一种显示面板，其中，所述测试器的输出端连接全部或局部的多个所述第二测试衬垫。
  18. 一种显示面板，包括：
    阵列基板；
    对向基板，与所述阵列基板相对设置；
    多个主动开关，设置于所述阵列基板上；
    移位暂存器，设置于所述阵列基板上，位于所述阵列基板的一侧；
    多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，多个所述第一测试衬垫电性耦接于所述移位暂存器；
    多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上；以及
    测试器，设置于所述阵列基板上，所述测试器包括输入端与输出端，所述测试器的输入端与多个所述第一测试衬垫一一对应连接以实现与所述移位暂存器电性耦接，所述测试器的输出端与多个所述第二测试衬垫一一对应连接；
    所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线涂覆或粘结于所述阵列基板上，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线涂覆或粘结于所述阵列基板上。
  19. 根据权利要求18所述的一种显示面板，所述阵列基板呈堆叠形成的多层基板，所述多层基板包括第一层板与第二层板，所述测试器与多个所述第一测试衬垫之间的布线印刷或涂覆于所述第一层板的表面，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线印刷或涂覆于所述第二层板的表面，且所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线介于所述第一层板与第二层板之间。
  20. 显示装置，包括显示面板以及用于控制所述显示面板工作的控制器，其中，所述显示面板包括：
    阵列基板；
    对向基板，与所述阵列基板相对设置；
    多个主动开关，设置于所述阵列基板上；
    移位暂存器，设置于所述阵列基板上，并位于所述阵列基板的一侧；
    多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，多个所述第一测试衬垫电性耦接所述移位暂存器；
    多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上；以及
    测试器，设置于所述阵列基板上，所述测试器包括输入端与输出端，所述测试器的输入端连接多个所述第一测试衬垫以实现与所述移位暂存器电性耦接，所述测试器的输出端连接多个所述第二测试衬垫；所述测试器与多个所述 第一测试衬垫之间的布线方式为双层金属布线方式，所述测试器与多个所述第二测试衬垫之间的布线方式为单层金属布线方式。
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