CN101692142A - 显示面板 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种显示面板,显示面板包括第一基板和第二基板,第二基板包括显示区域、周围区域及对位测试单元。对位测试单元是设置于周围区域上,用以测试主动组件的电性,并用以对位于第一基板。本发明的对位测试单元可同时用以进行组件特性的测试,以及基板之间的组装对位。
Description
技术领域
本发明涉及一种显示面板,特别是涉及一种具有对位测试单元的显示面板。
背景技术
在显示器产业的快速发展下,平板显示器(Flat Panel Display)技术快速地朝向更高质量特性演进。以液晶显示器为例,液晶显示器具有高画质、体积小、重量轻、低驱动电压、与低消耗功率等优点,因而被广泛应用于各种消费性通讯或电子产品。
液晶显示器是由背光模块与液晶显示面板所组装而成,背光模块可提供背光源至液晶显示面板。液晶显示面板包括彩色滤光片(Color Filter,CF)基板、薄膜晶体管(Thin-Film Transistor,TFT)矩阵基板。彩色滤光片基板是相对于TFT矩阵基板设置,其中彩色滤光片基板与薄膜晶体管矩阵基板之间设有液晶层。
为测试TFT矩阵基板的组件电性,通常会预先设置测试键(testkey),用以量测基板上的组件的电性,并在量测后切断或移除测试键,以形成最终产品。然而,此测试键的移除步骤会增加制程上的人力及时间耗费。且当产品发生异常情形时,由于测试键已被移除,因而需拆解或破坏显示面板,方可量测产品的组件特性来查明异常原因。
发明内容
本发明的目的之一在于提供一种显示面板,其特征在于所述显示面板包括:
第一基板;以及
第二基板,包括:
显示区域,具有若干个主动组件;
周围区域,形成于所述显示区域的周围;以及
对位测试单元,设置于所述周围区域上,用以测试所述
主动组件的电性,并用以对位于所述第一基板。
本发明的显示面板的对位测试单元可同时用以进行组件特性的测试,以及基板之间的组装对位。再者,本发明的对位测试单元无需耗费人力来移除,当显示面板所形成的产品发生异常情形或问题时,可直接对第二基板上的对位测试单元进行电性量测,以立即得知组件特性,而无需破坏或剖开显示面板来进行组件量测。
为让本发明的上述内容能更明显易懂,下文特举优选实施例,并配合所附图式,作详细说明如下:
附图说明
图1显示依据本发明的一实施例的显示面板的剖面图;
图2显示依据本发明的一实施例的显示面板的示意图;
图3显示依据本发明的一实施例的显示面板的显示区域的局部示意图;以及
图4显示依据本发明的一实施例的对位测试单元的示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式,用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本发明,而非用以限制本发明。
在以下实施例中,在不同的图中,相同部分是以相同标号表示。
请参照图1,其显示依照本发明的一实施例的显示面板的剖面图。本实施例的显示面板100可以应用于各种不同的显示器上,例如:液晶显示器(LiquidCrystal Display,LCD)、有机电致发光显示器(Organic Electro LuminescenceDisplay,OEL)、有机发光二极管显示器(Organic Light Emission DiodeDisplay,OLED)、发光二极管显示器(Light Emission Diode Display,LED)、等离子体显示面板(Plasma Display Panel,PDP)、场放射显示器(Field EmissionDisplay)、纳米炭管显示器或电子墨水(E-ink)显示器等。如图1所示,在本实施例中,显示面板100是以液晶显示面板为例来说明,此时,显示面板100可相对于一背光模块(未绘示)来设置,而形成液晶显示装置。然不限于此,本发明亦可应用于其它型式的显示面板。
如图1所示,当本实施例的显示面板100为液晶显示面板时,其可包含第一基板110、第二基板120、液晶层130、第一偏光片140及第二偏光片150。第一基板110和第二基板120是相对地设置,液晶层130是形成于第一基板110和第二基板120之间,第一偏光片140是设置第一基板110的一侧,并相对于液晶层130(亦即为第一基板110的出光侧),第二偏光片150是设置第二基板120的一侧,并相对于液晶层130(亦即为第二基板120的入光侧)。第一基板110可作为彩色滤光片(CF)基板,用以形成不同的色光。第二基板120可例如为薄膜晶体管(TFT)矩阵基板,用以驱动液晶层130中的液晶分子(未绘示)的扭转,因而在液晶层130中形成复数个像素。然不限于此,在一些实施例中,彩色滤光片和薄膜晶体管数组亦可配置在同一基板上(亦即ColorFilter on Array,COA)。
请参照图2和图3,图2显示依据本发明的一实施例的显示面板的示意图,图3显示依据本发明的一实施例的显示面板的显示区域的局部示意图。第二基板120可包含有显示区域121、周围区域122、若干条信号线123、对位测试单元124、闸极驱动电路125及数据驱动电路126。显示区域121具有复数个像素101和复数个主动组件102。周围区域122是形成于显示区域121的周围,用以设置对位测试单元124、闸极驱动电路125及数据驱动电路126。信号线123例如为数据线和扫描线,其平行地配置显示区域121上,并相互交错地形成这些像素101。
如图2所示,本实施例的对位测试单元124是设置于周围区域122上,其可用以测试主动组件102的电性,例如电压、电流等,因而可作为第二基板120的组件测试键(testkey)。且对位测试单元124可用以对位于第一基板110,当组装第一基板110和第二基板120时,可通过第二基板120上的对位测试单元124来进行对位,此时,第一基板110亦可设有对应的对位标记(未绘示),以对位于对位测试单元124。此对位测试单元124可具有任何适用于进行对位的形状,例如十字形,且可具有非透明的颜色,例如黑色、深色或金属色,以方便进行识别和对位。
请参照图2和图4,图4显示依据本发明的一实施例的对位测试单元的示意图。在本实施例中,对位测试单元124的结构层可相同或相似于显示区域121中的主动组件102,例如可包括闸极、绝缘层、半导体层、源极及汲极(未绘示)。且对位测试单元124的制程步骤亦可同时于或相同于主动组件102,因而可利用量测对位测试单元124的电性,来得到主动组件102的组件特性,例如电压、电流等。如图4所示,本实施例的对位测试单元124可包括多个测试端124a、124b、124c(或测试垫),例如三个,用以量测不同的组件电性,例闸极、源极或汲极的电性品质。
如图2所示,本实施例的闸极驱动电路125和数据驱动电路126是设置于周围区域122上,并电性连接于信号线123。此闸极驱动电路125可为一闸极驱动集成电路(Driver IC),而此数据驱动电路126可为一数据驱动集成电路。
由上述本发明的实施例可知,本发明的显示面板可设置对位测试单元于第二基板的周围区域上,同时用以进行组件特性的测试,以及基板之间的组装对位。再者,本发明的对位测试单元是设置于第二基板上,而无需移除,因此,当显示面板所形成的产品发生异常情形或问题时,可直接对第二基板上的对位测试单元进行电性量测,以立即得知组件特性,而无需破坏或剖开显示面板来进行组件量测。
综上所述,虽然本发明己以优选实施例揭露如上,但所述优选实施例并非用以限制本发明,所述领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与润饰,因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (10)
1.一种显示面板,其特征在于所述显示面板包括:
第一基板;以及
第二基板,包括:
显示区域,具有若干个主动组件;
周围区域,形成于所述显示区域的周围;以及
对位测试单元,设置于所述周围区域上,用以测试所述主动组件的电性,并用以对位于所述第一基板。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于:所述第二基板为薄膜晶体管矩阵基板。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于:所述对位测试单元为十字形。
4.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于:所述对位测试单元具有非透明的颜色。
5.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于:所述对位测试单元包括若干个测试端。
6.一种液晶显示面板,其特征在于所述液晶显示面板包括:
第一基板;以及
第二基板,包括:
显示区域,具有若干个主动组件;
周围区域,形成于所述显示区域的周围;以及
对位测试单元,设置于所述周围区域上,用以测试所述
主动组件的电性,并用以对位于所述第一基板;以及
液晶层,形成于所述第一基板与所述第二基板之间。
7.根据权利要求6所述的液晶显示面板,其特征在于:所述第二基板为薄膜晶体管矩阵基板。
8.根据权利要求6所述的液晶显示面板,其特征在于:所述对位测试单元为十字形。
9.根据权利要求6所述的液晶显示面板,其特征在于:所述对位测试单元具有非透明的颜色。
10.根据权利要求6所述的液晶显示面板,其特征在于:所述对位测试单元包括若干个测试端。
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