CN109448617B - 显示面板和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板和显示装置，包括：显示区以及围绕显示区设置的非显示区；非显示区包括至少一个测试区；测试区包括多个测试引脚和多个虚拟引脚；至少一个测试引脚为第一引脚，在测试阶段，第一引脚处于高电位的时间大于其处于低电位、零电位中任一者的时间；至少一个测试引脚为第二引脚，在测试阶段，第二引脚处于低电位的时间大于其处于高电位、零电位中任一者的时间；至少一个测试引脚为第三引脚，在测试阶段，第三引脚的电位为零；第一引脚和第二引脚之间、第一引脚和第三引脚之间、第二引脚和第三引脚之间设置有至少一个虚拟引脚。相对于现有技术，可以有效提高测试治具对显示面板的检测精度。

Description

显示面板和显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术

随着光学技术与半导体技术的发展，液晶显示屏(Liquid Crystal Display，LCD)以及有机发光二极管显示屏(Organic Light Emitting Diode，OLED)等显示屏由于具有形体轻薄、成本和能耗低、反应速度快、色纯度和亮度优异以及对比度高等特点，已经被广泛应用于各类电子产品上。近年来，由于人们对于视觉体验效果的不断追求，显示屏正朝着窄边框化的方向发展，而为了实现窄边框，目前的做法是通过进一步压缩边框区域的宽度以使有效显示区域(Active Area，AA)的面积进一步扩大。

显示屏生产工艺中，在绑定驱动芯片前需要通过测试治具检测显示屏是否能够正常显示，以避免将驱动芯片绑定在不符合质量标准的显示屏上，造成高成本的驱动芯片的损坏或浪费。但随着边框区域宽度的压缩，位于边框区域内的引脚变细，测试治具的信号端容易压错引脚，造成检测结果异常，使得原本复合质量标准的显示屏被归类为不合格品，影响了检测精度，同时也使得显示屏的良率难以提升。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板和显示装置，以提高检测精度，且更易于实现窄边框设计。

本发明提供了一种显示面板，包括：显示区以及围绕显示区设置的非显示区；非显示区包括至少一个测试区，测试区和显示区沿第一方向排列；测试区包括多个测试引脚和多个虚拟引脚，多个测试引脚和多个虚拟引脚均沿第二方向排列；其中，第二方向和第一方向相交；至少一个测试引脚为第一引脚，在测试阶段，第一引脚处于高电位的时间大于其处于低电位、零电位中任一者的时间；至少一个测试引脚为第二引脚，在测试阶段，第二引脚处于低电位的时间大于其处于高电位、零电位中任一者的时间；至少一个测试引脚为第三引脚，在测试阶段，第三引脚的电位为零；第一引脚和第二引脚之间设置有至少一个虚拟引脚，第一引脚和第三引脚之间设置有至少一个虚拟引脚，第二引脚和第三引脚之间也设置有至少一个虚拟引脚。

此外，本发明还提供了一种显示装置，包括本发明提供的显示面板。

与现有技术相比，本发明提供的显示面板和显示装置，至少实现了如下的有益效果：

根据测试引脚在测试阶段大部分时间所处的电位状态，可以将多个测试引脚大致分为第一引脚、第二引脚和第三引脚，一方面，由于测试引脚的测试信号电位可以根据需要设置，使得测试引脚的分类更加灵活方便，有利于降低分类难度；另一方面，第一引脚、第二引脚和第三引脚两两之间均设置至少一个虚拟引脚，可以有效防止因测试治具的信号端压错引脚而导致显示面板内电荷残留的问题，有利于减少电荷液晶分子极化或画面闪烁情况的发生，提高测试治具对显示面板的检测精度，提升显示面板的良率。同时，由于设置了虚拟引脚，测试引脚可以设计地较细，更易于实现显示设备的窄边框化。

当然，实施本发明的任一产品不必特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的平面结构示意图；

图2是图1中测试区的一种放大结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的平面结构示意图；

图4是图3中M区域的一种放大结构示意图；

图5是图3中M区域的另一种放大结构示意图；

图6是图5中沿C-C方向的一种剖面结构示意图；

图7是图5中沿E-E方向的一种剖面结构示意图；

图8是图5中沿E-E方向的另一种剖面结构示意图；

图9是图5中沿E-E’方向的一种剖面结构示意图；

图10是图5中沿E-E’方向的另一种剖面结构示意图；

图11是图3中M区域的又一种放大结构示意图；

图12是本发明实施例提供的一种显示面板的测试状态图；

图13是图12中测试治具的一种平面结构示意；

图14是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

请参考图1所示，本发明提供了一种显示面板，包括：显示区AA以及围绕显示区AA设置的非显示区BB；非显示区BB包括至少一个测试区T，测试区T和显示区AA沿第一方向x排列；测试区T包括多个测试引脚10和多个虚拟引脚20，多个测试引脚10和多个虚拟引脚20均沿第二方向y排列；其中，第二方向y和第一方向x相交；

至少一个测试引脚10为第一引脚11，在测试阶段，第一引脚11处于高电位的时间大于其处于低电位、零电位中任一者的时间；至少一个测试引脚10为第二引脚12，在测试阶段，第二引脚12处于低电位的时间大于其处于高电位、零电位中任一者的时间；至少一个测试引脚10为第三引脚13，在测试阶段，第三引脚13的电位为零；第一引脚11和第二引脚12之间设置有至少一个虚拟引脚20，第一引脚11和第三引脚13之间设置有至少一个虚拟引脚20，第二引脚12和第三引脚13之间也设置有至少一个虚拟引脚20。

本实施例中，显示面板的显示区AA主要用于画面的显示，显示面板除显示区AA以外的部分均为非显示区BB，非显示区BB不用于画面的显示，且通常设置有驱动线路、测试线路、驱动芯片等结构，其中，驱动芯片主要用于在显示面板的显示阶段为驱动线路提供相应的驱动信号，以使显示区AA能够显示画面；而测试线路主要用于显示面板在绑定驱动芯片之前，即上文所说的测试阶段，检测显示面板的显示区AA能否正常显示画面，测试引脚即为测试线路的一部分。需要说明的是，测试阶段结束后，通常需要将测试线路和数据线、栅极移位寄存器等元件断开，以保证后续显示面板的正常工作，此处不再赘述。

测试区T位于非显示区BB内，且和显示区AA沿第一方向排列，测试区T的数量可以根据实际情况设置一个或多个，本实施例对此并不作具体限制，仅以设置一个测试区T为例进行说明。具体的，测试区T包括多个测试引脚10和多个虚拟引脚20，其中，测试引脚10可以和测试治具中的信号端电连接，从而测试治具可以通过其信号端将测试信号传输至各测试引脚10，然后测试引脚10可以通过所连接的测试信号线30电连接至测试线路，也即在绑定驱动芯片之间通过测试引脚10为测试线路提供驱动信号，以检测显示区AA能否正常显示画面；虚拟引脚20则不用于显示区AA画面的检测，虚拟引脚20的线路连接方式可以有多种，本实施例对此并不作具体限制，只要确保虚拟引脚20不和测试线路电连接即可。

测试信号的电位通常包括高电位、低电位和零电位，在测试阶段，将处于高电位的时间大于处于低电位、零电位中任一者的时间的测试引脚10作为第一引脚11，将处于低电位的时间大于处于高电位、零电位中任一者的时间的测试引脚10作为第二引脚12，并将电位为零的测试引脚10作为第三引脚13，也即根据测试信号的电位将测试引脚10大致分为第一引脚11、第二引脚12和第三引脚13，从而在测试区T内，多个测试引脚10可以从无序排列状态变为能够根据测试信号的电位进行排列，可以理解的是，这种排列方式并非是将第一引脚11、第二引脚12、第三引脚13全部集中在一起排列为三组，而是可以根据实际情况进行调整，此时测试引脚10可以分为m组，m＞3，使得测试区T内测试信号线30的连接方式不至于有较大的改动，有利于降低分类难度，并确保显示面板的生产和检测效率。

第一引脚11和第二引脚之间、第一引脚11和第三引脚13之间、第二引脚12和第三引脚13之间均设置有至少一个虚拟引脚20，也即第一引脚11、第二引脚12和第三引脚13两两之间均设置有虚拟引脚20，所说的两两之间是指第一引脚11、第二引脚12和第三引脚13中任意两个测试引脚10相邻的情况下，需要在两者之间设置至少一个虚拟引脚20，可以理解的是，第一引脚11、第二引脚12和第三引脚13之间的排列方式可以有多种，本实施例对此并不作具体限制，仅以图2所示的排列方式为例进行说明。

具体的，两个第一引脚11和与之相邻的第三引脚13之间设置至少一个虚拟引脚20，此时若测试治具对应压接第一引脚11的信号端错压至第三引脚13上，则会导致第一引脚11大部分时间所处的高电位在显示面板内只能缓慢消散，容易因电荷残留导致液晶分子极化或测试画面闪烁的问题，只能将该显示面板作为非合格品处理；而本实施例中，由于在两个第一引脚11和与之相邻的第三引脚13之间还设置了虚拟引脚20，此时测试治具对应压接第一引脚11的信号端即使错压至虚拟引脚20上，也不至于对其他测试引脚20输入错误的测试信号，从而能够有效防止显示面板内电荷残留的情况，有利于提高显示面板的检测精度和良率。

第一引脚11、第二引脚12和第三引脚13两两之间虚拟引脚20的数量可以根据实际情况设置，比如图2中，两个第一引脚11和与之相邻的第三引脚13之间可以仅设置一个虚拟引脚20；当然，在虚拟引脚20沿第二方向y上的宽度较小时，可以设置两个甚至两个以上的虚拟引脚20作为隔离，但本实施例对此并不作具体限制。

此外，为了减小非显示区BB沿第一方向x上的宽度，可以将测试引脚10设计地较细，也即沿第二方向y上，测试引脚10的宽度可以进一步减小，从而可以为非显示区BB内的其他线路提供足够的排布空间。由于测试区T内第一引脚11、第二引脚12和第三引脚13两两之间均设置有虚拟引脚20，仍然能够较好地防止测试治具信号端压错引脚而导致的不良问题，更易于实现显示设备的窄边框化。

需要说明的是，为了更加直观地示意本实施例的技术方案，图1和图2中未示意出其他膜层结构。

本实施例提供的显示面板，至少具有如下的技术效果：

根据测试引脚在测试阶段大部分时间所处的电位状态，可以将多个测试引脚大致分为第一引脚、第二引脚和第三引脚，一方面，由于测试引脚的测试信号电位可以根据需要设置，使得测试引脚的分类更加灵活方便，有利于降低分类难度；另一方面，第一引脚、第二引脚和第三引脚两两之间均设置至少一个虚拟引脚，可以有效防止因测试治具的信号端压错引脚而导致显示面板内电荷残留的问题，有利于减少电荷液晶分子极化或画面闪烁情况的发生，提高测试治具对显示面板的检测精度，提升显示面板的良率。同时，由于设置了虚拟引脚，测试引脚可以设计地较细，更易于实现显示设备的窄边框化。

可选的，请继续参考图2所示，多个虚拟引脚20为浮置状态，也即在显示面板的测试阶段不对虚拟引脚20施加任何信号，此时虚拟信号20可以只设置相应的膜层结构而不连接任何线路，比如图2所示；当然，虚拟信号20也可以连接线路，只要确保该线路中没有任何信号即可，本实施例对此并不作具体限制。

在一些可选的实施例中，请结合参考图3和图4所示，显示区AA包括多条沿第一方向x延伸的数据线D，且第奇数条数据线D为第一数据线D1，第偶数条数据线D为第二数据线D2；至少一个测试引脚10为第四引脚14，至少一个测试引脚10为第五引脚15；

第四引脚14通过第一连接线40和多条第一数据线D1电连接，第五引脚15通过第二连接线41和多条第二数据线D2电连接；或者，第四引脚14通过第一连接线40和多条第二数据线D2电连接，第五引脚15通过第二连接线41和多条第一数据线D1电连接；

第四引脚14和第一引脚11、第二引脚12、第三引脚13的任一者之间设置有至少一个虚拟引脚20；第五引脚15和第一引脚11、第二引脚12、

第三引脚13的任一者之间也设置有至少一个虚拟引脚20。

为了实现显示区AA画面的显示，通常需要在显示区AA内沿第一方向x和第二方向y设置多个像素，从而形成多行多列像素，每列像素均和一条数据线D电连接，以通过数据线D为像素提供数据信号；并且为了实现显示面板的点反转，相邻两条数据线D上数据信号的极性相反，此时第奇数条数据线D之间数据信号的极性相同，第偶数条数据线D之间数据信号的极性相同，为了更加直观地示意本实施例的技术方案，将第奇数条数据线D作为第一数据线D1，第偶数条数据线D作为第二数据线D2。

从而第四引脚14可以通过第一连接线40为第一数据线D1提供测试用的数据信号，第五引脚15可以通过第二连接线41为第二数据线D2提供测试用的数据信号；或者，第四引脚14可以通过第一连接线40为第二数据线D2提供测试用的数据信号，第五引脚15可以通过第二连接线41为第一数据线D1提供测试用的数据信号，本实施例对此并不作具体限制，且图3和图4中仅以前者为例进行了示意。

但在整个测试阶段，第四引脚14上数据信号的极性可以不完全相同，比如在第一时间段为正极性的数据信号，在第二时间段则为负极性的数据信号；与此同时，第五引脚15上的数据信号在第一时间段为负极性，而在第二时间段则为正极性，也即确保第一引脚14和第五引脚15上数据信号的极性在每个时间段内均相反，故第一引脚14和第五引脚15可以无需根据测试信号的电位分为第一引脚11、第二引脚12或第三引脚13。

第四引脚14和第一引脚11、第二引脚12、第三引脚13的任一者之间设置有至少一个虚拟引脚20，第五引脚15和第一引脚11、第二引脚12、第三引脚13的任一者之间也设置有至少一个虚拟引脚20，从而通过虚拟引脚20可以有效防止测试治具压接其他测试引脚10的信号端错压至第四引脚14和第五引脚15上，确保整个测试阶段第四引脚14和第五引脚15都能够为数据线D提供测试用的数据信号。

可选的，第一数据线D1和第二数据线D2的测试用数据信号极性相反，以设置测试治具在第四引脚14输出的数据信号为正极性、在第五引脚15输出的数据信号为负极性为例：当测试治具原本压接至第四引脚14上的信号端错压至第五引脚15上时，由于第五引脚15和第一引脚11、第二引脚12、第三引脚13的任一者之间设置有虚拟引脚20，使得原本压接至第五引脚15上的信号端则错压至和第五引脚15相邻的虚拟引脚20a上，此时对于第五引脚15而言只是极性和原先相反，不至于在显示面板内造成电荷积累的情况，从而第四引脚14和第五引脚15之间可以不设置虚拟引脚20。

可选的，请参考图5所示，第四引脚14和第五引脚15之间设置有至少一个虚拟引脚20。

本实施例中，第四引脚14和第五引脚15之间设置有虚拟引脚20，从而第一引脚11、第二引脚12、第三引脚13、第四引脚14和第五引脚15两两之间均设置有虚拟引脚20，测试治具的信号端在和测试引脚10压接过程中，虚拟引脚20可以起到较好的对位作用，有利于减少信号端错压引脚情况的发生，进一步提高对显示面板的检测精度。

需要说明的是，为了更加直观地示意本实施例的技术方案，图3至图5中未示意出其他膜层结构。

在一些可选的实施例中，请结合参考图5和图6所示，显示面板包括衬底基板50以及设置于衬底基板50上的多个薄膜晶体管60；薄膜晶体管60包括栅极61、源极62和漏极63，源极62和漏极63同层设置。

具体的，在显示区AA内，多行多列的像素一般可以通过薄膜晶体管60和数据线D电连接，从而在薄膜晶体管60导通的情况下，不管是在测试阶段还是显示阶段，均可以通过数据线D为像素提供相应的数据信号。

本实施例中，薄膜晶体管60的源极62和漏极63同层设置，从而源极62和漏极63可以一同图案化形成，有利于降低显示面板制作工艺的难度；并且，数据线D也可以和漏极63一同图案化形成，此时数据线D可以直接和漏极63电连接，而无需在形成数据线D时对连接位置进行图案化，进一步降低了显示面板制作工艺的难度。

可选的，请结合参考图5和图7所示，虚拟引脚20包括至少一个虚拟部21；虚拟部21和栅极61、漏极63中的任一者同层设置。

本实施例中，虚拟部21可以和栅极61同层设置，也即虚拟部21可以和栅极61一同图案化形成；当然，虚拟部21也可以和漏极63同层设置，也即虚拟部21可以和漏极63一同图案化形成，以降低虚拟部21的制作难度，但本实施例对此并不作具体限制，本实施例仅以图7所示虚拟部21和漏极63同层设置为例进行说明。

具体的，虚拟引脚20虽然可以处于浮置状态，但为了提高测试治具信号端的压接精度，需要对位于虚拟部21远离衬底基板50一侧的绝缘层51进行图案化，以使虚拟部21的表面暴露在空气中，从而测试治具的信号端可以直接压接至虚拟部21上。

可选的，请结合参考图5和图8所示，虚拟引脚20包括两个虚拟部21，其中一个虚拟部21为第一虚拟部211，另一个虚拟部21为第二虚拟部212；第一虚拟部211和第二虚拟部212异层设置，且第一虚拟部211和第二虚拟部212电连接。

本实施例中，虚拟引脚包括两个异层设置的虚拟部21，为了便于区分这两个虚拟部21，将其中一个虚拟部21作为第一虚拟部211，另一个虚拟部21作为第二虚拟部212，且第一虚拟部211、第二虚拟部212均可以和栅极61、漏极63中的任一者同层设置，本实施例对此并不作具体限制，仅以图8所示的第一虚拟部211和栅极61同层设置、第二虚拟部212和漏极63同层设置为例进行说明。

具体的，第一虚拟部211和栅极61同层设置、第二虚拟部212和漏极63同层设置，也即第二虚拟部212位于第一虚拟部211远离衬底基板50的一侧，为了提高测试治具信号端的压接精度，需要对位于第二虚拟部212远离衬底基板50一侧的绝缘层51进行图案化，以使第二虚拟部212的表面暴露在空气中，从而测试治具的信号端可以直接压接至第二虚拟部212上。第一虚拟部211和第二虚拟部212电连接，从而第二虚拟部212可以将测试信号传输至第一虚拟部211，在第一虚拟部211连接线路的情况下，测试信号可以进一步传输至该线路上，只要确保第一虚拟部211不通过测试信号线30电连接至测试线路即可。

可选的，请结合参考图5和图9所示，测试引脚10包括至少一个金属导电部16；金属导电部16和栅极61、漏极63中的任一者同层设置。

本实施例中，金属导电部16和栅极61、漏极63中的任一者同层设置，也即金属导电部16可以和栅极61或漏极63一同图案化形成。为了使测试治具的信号端可以压接至金属导电部16上，同样需要对绝缘层51进行图案化，以使金属导电部16的表面暴露在空气中，从而测试治具可以通过金属导电部16将测试信号传输至测试信号线30上。

需要说明的是，由于剖线E-E’在测试区T内穿过一个虚拟引脚20和一个第二引脚12，故图9中将金属导电部16采用与第二引脚12相同的图案进行填充，可以理解的是，多个测试引脚10的膜层结构均可以包括一个金属导电部16，也可以包括多个金属导电部16，本实施例对此并不作具体限制。

可选的，请结合参考图5和图10所示，显示面板还包括透明导电层70，透明导电层70包括多个第一透明导电部71和多个第二透明导电部72；第一透明导电部71位于虚拟部21远离衬底基板50的一侧，且和虚拟部21电连接；第二透明导电部72位于金属导电部16远离衬底基板50的一侧，且和金属导电部16电连接。

本实施例中，由于设置了透明导电层70，使得虚拟部21和金属导电部16的表面无需暴露在空气中，有效防止了虚拟部21和金属导电部16因腐蚀或生锈等原因造成的失效情况，同时，第一透明导电部71和第二透明导电部72具有较好的透光效果，使得将测试治具的信号端压接至测试区T时，仍然可以清晰地辨认出测试引脚10和虚拟引脚20，有利于提高检测精度。透明导电层70的材料可以是氧化铟锡、氧化铟锌、氧化锡等材料，当然也可以是其他具有较好透光性的导电材料，本实施例对此并不作具体限制。

在一些可选的实施例中，请结合参考图3和图11所示，沿第一方向x上，虚拟引脚20的长度小于等于测试引脚10的长度。从而可以有效防止虚拟引脚20沿第一方向x上的长度对显示面板的窄边框化产生影响。

在一些可选的实施例中，请结合参考图12和图13所示，测试治具80包括主体部83以及设置于主体部82上的多个第一信号端81和多个第二信号端82，且多个第一信号端81和多个第二信号端82沿第二方向y排列。在对上述任一实施例提供的显示面板进行测试时，测试治具80的第一信号端81压接至测试引脚10上，测试治具80的第二信号端82压接至虚拟引脚20上；当然，由于虚拟引脚20可以为浮置状态，从而第二信号端82也可以不压接至虚拟引脚20上，或者测试治具80上还可以不设置第二信号端82，也即仅保留设置第二信号端82所需的空间，但本实施例对此并不作具体限制。

需要说明的是，为了更加直观地示意本实施例的技术方案，将第二信号端82采用和虚拟引脚20相同的图案进行了填充。测试治具80可以是柔性线路板，也即测试治具80的主体部83采用柔性材料制成；当然，测试治具80还可以是其他形式的线路板，本实施例对此并不作具体限制。

本发明还提供了一种显示装置，包括本发明提供的显示面板。

请参考图14所示，本实施例的显示装置200包括本发明上述任一实施例提供的显示面板100。图14仅以手机为例，对显示装置200进行了说明。可以理解的是，本发明实施例提供的显示装置200还可以是平板电脑、电视、车载显示等其他具有显示功能的显示装置，本发明对此并不作具体限制。本发明实施例提供的显示装置，具有本发明实施例提供的显示面板的有益效果，具体可以参考上述各实施例对于显示面板的具体说明，本实施例在此不再赘述。

通过上述实施例可知，本发明提供的显示面板和显示装置，至少实现了如下的有益效果：

根据测试引脚在测试阶段大部分时间所处的电位状态，可以将多个测试引脚大致分为第一引脚、第二引脚和第三引脚，一方面，由于测试引脚的测试信号电位可以根据需要设置，使得测试引脚的分类更加灵活方便，有利于降低分类难度；另一方面，第一引脚、第二引脚和第三引脚两两之间均设置至少一个虚拟引脚，可以有效防止因测试治具的信号端压错引脚而导致显示面板内电荷残留的问题，有利于减少电荷液晶分子极化或画面闪烁情况的发生，提高测试治具对显示面板的检测精度，提升显示面板的良率。同时，由于设置了虚拟引脚，测试引脚可以设计地较细，更易于实现显示设备的窄边框化。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (11)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：显示区以及围绕所述显示区设置的非显示区；

所述非显示区包括至少一个测试区，所述测试区和所述显示区沿第一方向排列；

所述测试区包括多个测试引脚和多个虚拟引脚，所述多个测试引脚和所述多个虚拟引脚均沿第二方向排列；其中，所述第二方向和所述第一方向相交；

至少一个所述测试引脚为第一引脚，在测试阶段，所述第一引脚处于高电位的时间大于其处于低电位、零电位中任一者的时间；

至少一个所述测试引脚为第二引脚，在测试阶段，所述第二引脚处于低电位的时间大于其处于高电位、零电位中任一者的时间；

至少一个所述测试引脚为第三引脚，在测试阶段，所述第三引脚的电位为零；

所述第一引脚和所述第二引脚之间设置有至少一个所述虚拟引脚，所述第一引脚和所述第三引脚之间设置有至少一个所述虚拟引脚，所述第二引脚和所述第三引脚之间也设置有至少一个所述虚拟引脚。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述显示区包括多条沿所述第一方向延伸的数据线，且第奇数条所述数据线为第一数据线，第偶数条所述数据线为第二数据线；

至少一个所述测试引脚为第四引脚，至少一个所述测试引脚为第五引脚；

所述第四引脚通过第一连接线和多条所述第一数据线电连接，所述第五引脚通过第二连接线和多条所述第二数据线电连接；或者，所述第四引脚通过第一连接线和多条所述第二数据线电连接，所述第五引脚通过第二连接线和多条所述第一数据线电连接；

所述第四引脚和所述第一引脚、所述第二引脚、所述第三引脚的任一者之间设置有至少一个所述虚拟引脚；

所述第五引脚和所述第一引脚、所述第二引脚、所述第三引脚的任一者之间也设置有至少一个所述虚拟引脚。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，

所述第四引脚和所述第五引脚之间设置有至少一个所述虚拟引脚。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述显示面板包括衬底基板以及设置于所述衬底基板上的多个薄膜晶体管；

所述薄膜晶体管包括栅极、源极和漏极，所述源极和所述漏极同层设置。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，

所述虚拟引脚包括至少一个虚拟部；

所述虚拟部和所述栅极、所述漏极中的任一者同层设置。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，

所述虚拟引脚包括两个虚拟部，其中一个所述虚拟部为第一虚拟部，另一个所述虚拟部为第二虚拟部；

所述第一虚拟部和所述第二虚拟部异层设置，且所述第一虚拟部和所述第二虚拟部电连接。

7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，

所述测试引脚包括至少一个金属导电部；

所述金属导电部和所述栅极、所述漏极中的任一者同层设置。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，

所述显示面板还包括透明导电层，所述透明导电层包括多个第一透明导电部和多个第二透明导电部；

所述第一透明导电部位于所述虚拟部远离所述衬底基板的一侧，且和所述虚拟部电连接；

所述第二透明导电部位于所述金属导电部远离所述衬底基板的一侧，且和所述金属导电部电连接。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

沿所述第一方向上，所述虚拟引脚的长度小于等于所述测试引脚的长度。

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述多个虚拟引脚为浮置状态。

11.一种显示装置，其特征在于，包括根据权利要求1-10中任一项所述的显示面板。

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