CN108831359A - 显示面板及其显示装置 - Google Patents

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CN108831359A CN201810651700.5A CN201810651700A CN108831359A CN 108831359 A CN108831359 A CN 108831359A CN 201810651700 A CN201810651700 A CN 201810651700A CN 108831359 A CN108831359 A CN 108831359A
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Abstract

本申请提供了一种显示面板及其显示装置，显示面板，包括：相对设置的阵列基板与对向基板；位于所述阵列基板的侧缘的移位暂存电路；多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，并位于所述对向基板的涵盖范围之外，所述多个第一测试衬垫电性耦接所述移位暂存电路；多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上，并位于所述对向基板的涵盖范围之外；测试单元，设置于所述阵列基板上，所述测试单元包括输入端与输出端，所述测试单元的输入端连接多个第一测试衬垫以电性耦接所述移位暂存电路，所述测试单元的输出端连接多个第二测试衬垫。本申请在面板显露表面配置连接衬垫的测试单元，无需撬开面板即可直接检测移位暂存电路。

Description

显示面板及其显示装置
技术领域
本申请涉及面板检测领域的检测电路，特别是涉及一种显示面板及其显示装置。
背景技术
近年来，随着科技的进步，平面液晶显示器逐渐普及化，其具有轻薄等优点。目前平面液晶显示器驱动电路主要是由面板外连接IC来组成，但是此方法无法将产品的成本降低、也无法使面板更薄型化。
且液晶显示设备中通常具有栅极驱动电路、源极驱动电路和画素阵列。画素阵列中具有多个画素电路，每一个画素电路依据栅极驱动电路提供的扫描讯号开启和关闭，并依据源极驱动电路提供的数据讯号，显示数据画面。以栅极驱动电路来说，栅极驱动电路通常具有多级移位寄存器，并藉由一级移位寄存器传递至下一级移位寄存器的方式，来输出扫描讯号到画素阵列中，以依序地开启画素电路，使画素电路接收数据讯号。
因此在驱动电路的制程中，便直接将栅极驱动电路制作在阵列基板上，来取代由外连接IC制作的驱动芯片，此种被称为栅极阵列驱动(Gate On Array，GOA)技术的应用可直接做在面板周围，减少制作程序、降低产品成本且使面板更薄型化。
显示装置在生产过程中，显示面板经常出现与栅极阵列驱动电路有关的不良问题。在解析问题过程中，需要测试栅极阵列驱动电路的节点和栅极阵列驱动电路的输出信号，以确认不良发生的原因。在测试栅极阵列驱动电路的输出信号时，必须将阵列基板的对向基板(如彩膜基板或是对向配置的玻璃基板)撬开再进行测试。此方法成功率相对较低，经常损伤阵列基板侧的相关电路而造成无法再进行测试的问题。
发明内容
为了解决上述技术问题，本申请的目的在于，提供一种显示面板及其显示装置，无需撬开面板即可检测移位暂存电路。
本申请的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本申请提出的一种阵列基板，包括：阵列基板；对向基板，与所述阵列基板相对设置；多个主动开关，设置于所述阵列基板上；移位暂存电路，设置于所述阵列基板上，并位于所述阵列基板的侧缘；多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，并位于所述对向基板的涵盖范围之外，所述多个第一测试衬垫电性耦接所述移位暂存电路；多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上，并位于所述对向基板的涵盖范围之外；测试单元，设置于所述阵列基板上，所述测试单元包括输入端与输出端，所述测试单元的输入端连接多个第一测试衬垫以电性耦接所述移位暂存电路，所述测试单元的输出端连接多个第二测试衬垫。
本申请的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
在本申请的一实施例中，所述测试单元设置位于所述对向基板的涵盖范围之内。
在本申请的一实施例中，所述测试单元设置位于所述对向基板的涵盖范围之外。
在本申请的一实施例中，所述多个第一测试衬垫、所述多个第二测试衬垫与所述测试单元设置于所述阵列基板的上缘与侧缘中至少其一的位置。
在本申请的一实施例中，所述多个第一测试衬垫、所述多个第二测试衬垫与所述测试单元设置于所述阵列基板的边界与所述对向基板的边界之间。
在本申请的一实施例中，所述阵列基板为堆叠形成的多层基板，所述多层基板包括第一层板与第二层板，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线，及所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线，设置于所述第一层板表面与所述第二层板表面中至少其一者。
在本申请的一实施例中，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线设置于所述第一层板表面，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线设置于所述第二层板表面，且介于所述第一层板与第二层板之间。
在本申请的一实施例中，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线设置于所述第二层板表面，且介于所述第一层板与第二层板之间，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线设置于所述第一层板表面。
在本申请的一实施例中，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线，及所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线，皆设置于所述第一层板表面。
在本申请的一实施例中，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线，及所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线，皆设置于所述第二层板表面，且介于所述第一层板与第二层板之间。
在本申请的一实施例中，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线邻近所述阵列基板的边缘，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线邻近所述对向基板的边缘。
在本申请的一实施例中，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线邻近所述阵列基板的边缘，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线邻近所述对向基板的边缘。
在本申请的一实施例中，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线，及所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线，皆邻近所述阵列基板的边缘。
在本申请的一实施例中，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线，及所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线，皆邻近所述对向基板的边缘。
在本申请的一实施例中，所述测试单元的输入端连接全部或局部的所述多个第一测试衬垫，以电性耦接所述移位暂存电路。
在本申请的一实施例中，所述测试单元的输出端连接全部或局部的多个第二测试衬垫。
本申请的另一目的为一种显示面板，包括：阵列基板；对向基板，与所述阵列基板相对设置；多个主动开关，设置于所述阵列基板上；移位暂存电路，设置于所述阵列基板上，并位于所述阵列基板的侧缘；多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，所述多个第一测试衬垫电性耦接所述移位暂存电路；多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上；测试单元，设置于所述阵列基板上，所述测试单元包括输入端与输出端；其中，所述测试单元的输入端连接全部或局部的所述多个第一测试衬垫，以电性耦接所述移位暂存电路，所述测试单元的输出端连接全部或局部的所述多个第二测试衬垫，所述多个第一测试衬垫、所述多个第二测试衬垫与所述测试单元设置于所述所述阵列基板上缘，并位于所述阵列基板的边界与所述对向基板的边界之间，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线邻近所述阵列基板的边缘，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线邻近所述对向基板的边缘，或者所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线邻近所述阵列基板的边缘，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线邻近所述对向基板的边缘。
本申请的又一目的为一种显示装置，包括：控制模块；以及如先前所述任一种显示面板，受控于所述控制模块。
本申请在面板显露表面配置连接衬垫的测试单元，无需撬开面板即可直接检测移位暂存电路，较能避免损伤阵列基板上的电路，有助于电路问题的解析和改进。同时，还能有效的再利用阵列基板上空余的线路配置区域及测试衬垫。
附图说明
图1a为范例性的显示装置的配置结构示意图。
图1b为范例性的显示装置的布线配置示意图。
图2a为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的结构示意图。
图2b为图2a的局部放大示意图。
图3a为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的布线示意图。
图3b为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的布线示意图。
图4a为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的布线示意图。
图4b为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的布线示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。
附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本申请不限于此。
在附图中，为了清晰起见，夸大了层、膜、面板、区域等的厚度。在附图中，为了理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。将理解的是，当例如层、膜、区域或基底的组件被称作“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接在所述另一组件上，或者也可以存在中间组件。
另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
为更进一步阐述本申请为达成预定申请目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及具体实施例，对依据本申请提出的一种显示面板及其显示装置，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后
图1a为范例性的显示装置的配置结构示意图。请参照图1a，一种栅极阵列驱动(Gate On Array)的显示装置100，包括控制板101，印刷电路板102，对向基板104、主动阵列基板103。栅极驱动电路(Gate Driver)105被分成了两部分，一是升压模块(levelshifter)105a，一是移位寄存器(shift register)105b。所述升压模块105a设置在控制板101上，移位寄存器105b则是设置在主动阵列基板104上。在某些实施例中，移位寄存器105b会配置于主动阵列基板104两侧，依据线路设计，移位寄存器105b可设置于主动阵列基板104的布线区。由于移位寄存器105b占的面积很小，因此栅极阵列驱动(GOA)面板一般都可以做到超窄边框。
在一些实施例中，系统主板提供颜色(例如：R/G/B)压缩信号、控制信号及电源传输至控制板101。控制板101上的时序控制器(Timing Controller，TCON)107与处理此等信号后，连同被驱动电路处理的电源，通过如柔性扁平电缆(Flexible Flat Cable，FFC)，一并传输至印刷电路板102的源极电路及栅极电路，通过源极覆晶薄膜109及配置在主动阵列基板104布线区的栅极阵列驱动电路，将必要性的数据与电源传输于显示区，从而使得显示器获得呈现画面需求的电源、信号。
在生产过程中，显示面板经常出现与栅极阵列驱动电路有关的不良问题。在解析问题过程中，需要测试栅极阵列驱动电路的节点和栅极阵列驱动电路的输出信号，以确认不良发生的原因。在测试栅极阵列驱动电路的输出信号时，必须将阵列基板的对向基板(如彩膜基板或是对向配置的玻璃基板)撬开再进行测试。此方法成功率相对较低，经常损伤阵列基板侧的相关电路而造成无法再进行测试的问题。
图1b为范例性的显示装置的布线配置示意图。阵列基板103上方的外引线区(Outer Lead Bonding，OLB)106配置有多个第一测试衬垫108。在一些实施例中，此些第一测试衬垫108是面板测试衬垫(Cell Test Pad)。第一测试衬垫108附近有大面积空置区域，如阵列基板103左上角与右上角的空白处，此等区域上方未被对向基板104(如彩膜基板或是对向配置的玻璃基板)所覆盖。在一些实施例中，显示面板在测试完后，会通过激光将不必要的线路熔化去除，仅保留第一测试衬垫108在显示面板上，但此等第一测试衬垫108针对于整个显示面板的电路及相关组件未能产生必要的作用。
图2a为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的结构示意图，图2b为图2a的局部放大示意图。请配合图1a及图1b以利于理解。在本申请一实施例中，所述一种显示面板，包括：阵列基板103；对向基板104，与所述阵列基板103相对设置；多个主动开关(图未示)，设置于所述阵列基板103上；移位暂存电路105b，设置于所述阵列基板103上，并位于所述阵列基板103的侧缘；多个第一测试衬垫108，设置于所述阵列基板103上，并位于所述对向基板104的涵盖范围之外，所述多个第一测试衬垫108电性耦接所述移位暂存电路105b；多个第二测试衬垫112，设置于所述阵列基板103上，并位于所述对向基板104的涵盖范围之外；测试单元111，设置于所述阵列基板103上，所述测试单元111包括输入端与输出端，所述测试单元111的输入端连接多个第一测试衬垫108以电性耦接所述移位暂存电路105b，所述测试单元111的输出端连接多个第二测试衬垫112。
在一些实施例中，所述测试单元111的输入端连接全部或局部的所述多个第一测试衬垫108，以电性耦接所述移位暂存电路105b。
在一些实施例中，所述测试单元111的输出端连接全部或局部的多个第二测试衬垫112。
在一些实施例中，所述测试单元111设置位于所述对向基板104的涵盖范围之外。
在一些实施例中，所述测试单元111设置位于所述对向基板104的涵盖范围之内。
在一些实施例中，所述多个第一测试衬垫108、所述多个第二测试衬垫112与所述测试单元111设置于所述阵列基板103的上缘与侧缘中至少其一的位置。
在一些实施例中，所述多个第一测试衬垫108、所述多个第二测试衬垫112与所述测试单元111设置于所述阵列基板103的边界与所述对向基板104的边界之间。
图3a为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的布线示意图。在一些实施例中，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113邻近所述阵列基板103的边缘，所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114邻近所述对向基板104的边缘。
图3b为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的布线示意图。在一些实施例中，所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线14邻近所述阵列基板103的边缘，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线13邻近所述对向基板104的边缘。
在一些实施例中，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113，及所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114，皆邻近所述阵列基板103的边缘。
在一些实施例中，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113，及所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114，皆邻近所述对向基板104的边缘。
在一些实施例中，所述阵列基板103为堆叠形成的多层基板，所述多层基板包括第一层板103a与第二层板103b，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113，及所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114，设置于所述第一层板103a表面与所述第二层板103b表面中至少其一者。
图4a为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的布线示意图。在一些实施例中，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113设置于所述第一层板103a表面，所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114设置于所述第二层板103b表面，且介于所述第一层板103a与第二层板103b之间。
图4b为显示依据本发明的方法，一实施例的显示面板的布线示意图。在一些实施例中，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113设置于所述第二层板103b表面，且介于所述第一层板103a与第二层板103b之间，所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114设置于所述第一层板103a表面。
在一些实施例中，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113，及所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114，皆设置于所述第一层板103a表面。
在一些实施例中，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113，及所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114，皆设置于所述第二层板103b表面，且介于所述第一层板103a与第二层板103b之间。
如图2a至图4b，在一些实施例中，一种显示面板，包括：阵列基板103；对向基板104，与所述阵列基板103相对设置；多个主动开关，设置于所述阵列基板103上；移位暂存电路105b，设置于所述阵列基板103上，并位于所述阵列基板103的侧缘；多个第一测试衬垫108，设置于所述阵列基板103上，所述多个第一测试衬垫108电性耦接所述移位暂存电路105b；多个第二测试衬垫112，设置于所述阵列基板103上；测试单元111，设置于所述阵列基板103上，所述测试单元111包括输入端与输出端；其中，所述测试单元111的输入端连接全部或局部的所述多个第一测试衬垫108，以电性耦接所述移位暂存电路105b，所述测试单元111的输出端连接全部或局部的所述多个第二测试衬垫112，所述多个第一测试衬垫108、所述多个第二测试衬垫112与所述测试单元111设置于所述所述阵列基板103上缘，并位于所述阵列基板103的边界与所述对向基板104的边界之间，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113邻近所述阵列基板103的边缘，所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114邻近所述对向基板104的边缘，或者所述测试单元111与所述多个第二测试衬垫112之间的布线114邻近所述阵列基板103的边缘，所述测试单元111与所述多个第一测试衬垫108之间的布线113邻近所述对向基板104的边缘。
在一些实施例中，一种显示装置100，包括：控制模块；以及如先前所述任一种显示面板，受控于所述控制模块。所述控制模块包括前述的控制板101、印刷电路板102、栅极驱动电路105、时序控制器107等至少其一者所形成控制显示面板的模块。
在某些实施例中，本发明所述显示面板可例如为液晶显示面板，然不限于此，其亦可为OLED显示面板，W-OLED显示面板，QLED显示面板，等离子体显示面板，曲面型显示面板或其他类型显示面板。
在一些实施例中，本申请的显示面板亦可例如为TN(扭曲向列，TwistedNematic)、STN(超扭曲向列，Super Twisted Nematic)、OCB(光学补偿弯曲排列，OpticallyCompensated Birefringence)显示面板，或OLED(有机发光二极管，Organic LightEmitting Diode)显示面板及等离子体显示面板。
本申请在面板显露表面配置连接衬垫的测试单元111，无需撬开面板即可直接检测移位暂存电路105b，较能避免损伤阵列基板103上的电路，有助于电路问题的解析和改进。同时，还能有效的再利用阵列基板103上空余的线路配置区域及测试衬垫。
“在一些实施例中”及“在各种实施例中”等用语被重复地使用。所述用语通常不是指相同的实施例；但它也可以是指相同的实施例。“包含”、“具有”及“包括”等用词是同义词，除非其前后文意显示出其它意思。
以上所述，仅是本申请的实施例，并非对本申请作任何形式上的限制，虽然本申请已以具体实施例揭露如上，然而并非用以限定本申请，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本申请技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本申请技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：
阵列基板；
对向基板，与所述阵列基板相对设置；
多个主动开关，设置于所述阵列基板上；以及
移位暂存电路，设置于所述阵列基板上，并位于所述阵列基板的侧缘；
多个第一测试衬垫，设置于所述阵列基板上，并位于所述对向基板的涵盖范围之外，所述多个第一测试衬垫电性耦接所述移位暂存电路；
多个第二测试衬垫，设置于所述阵列基板上，并位于所述对向基板的涵盖范围之外；
测试单元，设置于所述阵列基板上，所述测试单元包括输入端与输出端，所述测试单元的输入端连接多个第一测试衬垫以电性耦接所述移位暂存电路，所述测试单元的输出端连接多个第二测试衬垫。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试单元设置位于所述对向基板的涵盖范围之内或设置位于所述对向基板的涵盖范围之外。
3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多个第一测试衬垫、所述多个第二测试衬垫与所述测试单元设置于所述阵列基板的上缘与侧缘中至少其一的位置。
4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多个第一测试衬垫、所述多个第二测试衬垫与所述测试单元设置于所述阵列基板的边界与所述对向基板的边界之间。
5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线邻近所述阵列基板的边缘，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线邻近所述对向基板的边缘。
6.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线邻近所述阵列基板的边缘，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线邻近所述对向基板的边缘。
7.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板为堆叠形成的多层基板，所述多层基板包括第一层板与第二层板，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线设置于所述第一层板表面，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线设置于所述第二层板表面，且介于所述第一层板与第二层板之间。
8.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板为堆叠形成的多层基板，所述多层基板包括第一层板与第二层板，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线设置于所述第二层板表面，且介于所述第一层板与第二层板之间，所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线设置于所述第一层板表面。
9.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试单元与所述多个第一测试衬垫之间的布线方式，与所述测试单元与所述多个第二测试衬垫之间的布线方式，包括单层金属布线方式与双层金属布线方式中至少其一者。
10.一种显示装置，其特征在于，包括：
控制模块；
如权利要求1至9中任一项所述的显示面板，受控于所述控制模块。
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