JPS5895383A - マトリクス形表示装置 - Google Patents

マトリクス形表示装置

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JPS5895383A
JPS5895383A JP56192244A JP19224481A JPS5895383A JP S5895383 A JPS5895383 A JP S5895383A JP 56192244 A JP56192244 A JP 56192244A JP 19224481 A JP19224481 A JP 19224481A JP S5895383 A JPS5895383 A JP S5895383A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display device
switch
substrate
type display
array
Prior art date
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Pending
Application number
JP56192244A
Other languages
English (en)
Inventor
酒井 啓次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP56192244A priority Critical patent/JPS5895383A/ja
Publication of JPS5895383A publication Critical patent/JPS5895383A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はマトリクス形表示装置に係り、特にスイッチ/
キャパシタアレイを用いて表示パネルを構成したマ) 
IJクス形表示装置に関する。
発明の技術的背景 最近、ポケット形テレビ等を指向した小形。
高密度の表示装置として液晶を用いたものや、低速電子
線励起螢光体を用いたもの等の開発が進められている、
これらの表示装置では各画素の輝度を制御するための手
段として、半導体集積回路技術を用いて作成されたスイ
ッチ/キャパシタアレイが用いられている。
第1図はスイッチ/キャパシタアレイおよび駆動回路の
構成例を説明するための図で、1はスイッチとしてのM
OS形F’ET,2はキャパシタとしてのMOS形容量
、3は画素を定義する表示電極で、MOS形FET 2
のソースまたはドレインハ、キヤ・!シタ2の一端と電
気的に接続されている。MOS形FET 1のダートは
行毎に共通接続されてアドレスラインY (  * Y
 z  *・・・Ynが設けられ、ドレインまたはソー
スは列毎に共通接続されてデータラインX,,X2 、
・・Xmが設けられる。4はアドレスラインYl  、
Yz  *・・・yne順次走査駆動するためのアドレ
スライン駆動回路で、5はデータラインX1+Xi+・
・・Xmにデータ信号を供給するためのデータライン駆
動回路である。前記MOS形FET 1 、キャパシタ
2.アドレスおよび、データライン、駆動回路4.5は
例えば半導体基板上に作成され、さらに例えば層間絶縁
膜を介して表示室4il!3が形成される。
第2図は第1図のスイッチ/キャパシタアレイを用いた
表示装置の一例として液晶表示装置を説明するための我
示/eネルの構成図で、3は各画素に対応する表示電極
、6はスイッチ/キャパシタアレイと共に駆動回路が一
体形成された例えばシリコン等の半導体基板、2は層1
XIl絶縁膜、8は補強基板、9は透明導電膜よりなる
対向電極、10は透明絶縁基板、1ノはスペーサおよび
封着部、12は液晶層である。
上記構成において、第2図の液晶表示装置の動作は次の
様に行なわれる。すなわち第1図において、アドレスラ
インYl  + Yz  *・・・Ynは駆動回路4か
らの走査信号により順次走査駆動され、FET Jけラ
イン毎にTV/n の期間だけ順次導通状態にもたらさ
れる。ここでT、はフレーム走査期間である。上記走査
と同期してデータラインX1 、X2 、・・・XmK
JiA!Y動回路5から例光回路5列画像信号電圧を供
給すると、該信号電圧はライン毎に順次キャパシタ2に
書き込まれ、フレーム期間(T、)にわたって保持され
る。
この保持された信号電圧は表示電極3に導かれ、対向電
極9との間に挾持された液晶層12を信号電圧に応じて
励起し、画像表示がなされる◎背景技術の問題点 ここで第1図に示したスイッチ/キャノやシタアレイに
おいて、アドレスラインY1  + Yz  @・・・
YnおよびデータラインXH* X2  *・・・Xm
の断線や半導体基板6とのショート、アドレスラインY
l  + Yz  *・・・YnとデータラインXi。
X2+・・・Xrn間のショート、駆動回路4.5の動
作不良等の欠陥が発生した場合、この基板を使用して表
示装置を構成しても不良となることは明らかである。ま
たこのような表示装置に使用するIC(アレイ)はテッ
ゾサイズが大きく、3インチウェハーから1〜2チツノ
しか取れず歩留りが悪いとコストに大きな影響を与える
このため歩留り向上が重要な問題となる。そこでウェハ
ー状態で欠陥の有無をプローバー等であらかじめ検査し
良品だけ使用するとともに欠陥の原因をつきとめること
が望ましい。し力・しアドレスラインY1mY2g・・
・YnおよびデータラインX 1  * X 2  *
 ”’ Xm*駆動回路4,5等を第1図のような構成
で同一半導体基板上に形成すると、プローバー等を使用
して前記欠陥の検査を行なうことは不可能になる。この
ため例えば第2図のような表示パネルに組立て液晶が正
常に動作するかどうかで良否を判定するほかなく、欠陥
のある基板まで表示装置に組立てなければならず、また
欠陥の原因追求もむず力)しく歩留りを向上させるため
の対策が困難になシ、コストに大きな影響を与える。
5− 発明の目的 本発明はこの点に鑑みなされたものでスイッチ/キャパ
シタアレイと駆動回路が同一基板上に形成されたマ) 
IJクス形表示装置において、表示パネル組立て前にア
レイの良否検査を容易にしてその歩留シ向上とコスト低
減を図ることを目的とする。
発明の概要 本発明においては、スイッチ/キャパシタアレイのアド
レスラインおよびデータラインのそれぞれ両端に検査用
パッドを設けて、表示・9ネルの組立て工程前のスイッ
チ/キャパシタアレイの良否検査を容易にしたことを特
徴とする。
発明の効果 本発明によれば、検査用パッドを利用して、アドレスラ
インおよびデータラインの断線、これらと基板との短絡
、駆動回路の出力状態、その他各種の検査を光示装置の
組立て工程前に行うことができ、従ってスイッチ/キク
・母シタアレイと駆動回路を一体的に集積した基板を用
い=6− て表示パネルを構成するマ) IJクス形衣示装置の歩
留如向上およびコスト低減が可能となる。
発明の実施例 第3図は本発明におけるマ) IJクス形液晶衣示装置
の一実施例を説明するためのアレイの構成図である。図
において第1図と同一部分には同じ符号を付しその詳細
な説明は省略する。
Ll 、B2 、・・・LnおよびR1lR2I・・・
RnはアドレスラインY l  * Y 2  # Y
lの左端および右端に設けられた検査用パッドで、T1
 。
T2.・・・TmおよびB 1 、 B 2 I・・・
BmII”j’、f’−タラインXI  + X2  
、・・・Xmの上端および下端に設けられた検査用パッ
ドである。
上記のような構成において・アドレスおよびデータライ
ンの断線はパッドLとR問およびTと8間の導通を検査
することにより判断できる。
アドレスおよびデータラインと基板間のショートはパッ
ドL゛またはRと基板間およびパッドTまたはBと基板
間の導通又は耐電圧を検査することにより判断できる。
アドレスおよびデータラインの多ロス部のショートは例
えばパッドLと1間の導通を検査することにより判断で
きる。
アドレスおよびr−タラインへの駆動回路の出力が正常
に出ているかどうかはパッドLおよびBでの出力を検査
することにより判断できる。
またパッドRおよびTにおいて駆動回路の出力を検査す
ることによシ駆動回路とアドレスおよびデータラインを
含んだ良否の判断ができる。
このような検査を行なうことにより欠陥のない基板だけ
を用いて液晶表示パネルを組立てることができるのでコ
ストの低減になる。また欠陥の原因追求も容易になり歩
留り向上対策も容易に行なえ、さらにコストの低減につ
ながる。
【図面の簡単な説明】
第1図はスイッチ/キャパシタアレイおよび駆動回路の
構成例を駅、明するための図、第2図は第1図のアレイ
を用いたマトリクス形液晶表示装置を説明するための構
成図、第3図は本発明の一実施例を説明するためのアレ
イの構成図である。 1、 ?=、 MO8形FET 、  z ・MO8形
容量、3・・・表示電極・ 4,5・・・駆動回路、6
・・・半導体基板、7・・・層間絶静膜、8・・・補強
用基板、9・・・対向電極、10・・・透明絶縁基板、
11・・・ス被−サオよヒ封着部、12・・・液晶層、
(Y’+  、Y2  t・・・Yn)・・・アドレス
ライン、(XI  I X2  m・・・xm)・・・
データライン、(LH+ B2  +−LH)+ (R
1* R2+−R1)r (Tl *T2 +”’Tm
)+ (Bl  。 B2 。・・・Bm)・・・検査用ノぐラド。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦9− 第1図 112図 2

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)駆動回路が同一基板上に集積されたスイッチ/キ
    ャパシタアレイを用いて表示パネルを構成してなるマ)
     IJクス形宍示装置において、前記駆動回路からの駆
    動信号が供給される前記アレイのアドレスラインおよび
    データラインの夫々両端に検査用パッドを設けたことを
    %徴とするマトリクス形表示装置。
  2. (2)光示/ヤネルは、スイッチ/キャパシタアレイが
    集積形成され入面に各画素に対応した表示電極を有する
    基板と透明導1!膜が全面に形成された透明基板との間
    に液晶を挾持して構成したものである特許請求の範囲第
    1項記載のマトリクス形表示装置。
JP56192244A 1981-11-30 1981-11-30 マトリクス形表示装置 Pending JPS5895383A (ja)

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