JPH11149092A - 液晶表示装置及びその検査方法 - Google Patents
液晶表示装置及びその検査方法Info
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- JPH11149092A JPH11149092A JP31510097A JP31510097A JPH11149092A JP H11149092 A JPH11149092 A JP H11149092A JP 31510097 A JP31510097 A JP 31510097A JP 31510097 A JP31510097 A JP 31510097A JP H11149092 A JPH11149092 A JP H11149092A
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Abstract
ためには、プローブを走査線、信号線のすべての端子に
同時に正確に圧接する必要があり、高精細化に伴い、プ
ローバは非常に高価になり、検査コストが増加する。 【解決手段】 複数の走査線1と複数の信号線2との交
点にマトリクス状に配置された画素を有する表示エリア
の外側に配置され、走査線1間を短絡するように接続さ
れたTFT11を有する検査用アレイと、TFT11の
ゲート電極に共通に接続された共通配線13と、表示エ
リアの外側に配置され、信号線2間を短絡するように接
続されたTFT12を有する検査用アレイと、TFT1
2のゲート電極に共通に接続された共通配線14を備
え、共通配線13、14に信号を供給して走査線1間及
び信号線2間を短絡して表示エリアの検査を行う。
Description
有するアクティブマトリックス型の液晶表示装置及びそ
の検査方法に関するものである。
板と対向基板の2枚の基板の間に液晶を狭持し、さらに
偏光板を配置した構成で、2枚の基板に形成された電極
間に印加される電圧を制御することにより、液晶の電気
光学特性を利用し、表示を行うものであり、CRTに比
べ携帯性に優れ、近年、モーバイルコンピュータ用途の
表示装置等に応用されている。中でも、特に個々の画素
に薄膜トランジスタ(以下TFTという)等のスイッチ
ング素子を設け、液晶に印加する電圧の制御を行うアク
ティブマトリックス型液晶表示装置は、単純マトリック
ス型液晶表示装置と比較して表示品位に優れた特徴を有
し、その開発、応用が盛んに行われている。
ックス型液晶表示装置の等価回路を示す図である。図に
おいて、1は走査線、2は走査線1と交差するように配
置された信号線、3は走査線1と信号線2の交差部に配
置され、ゲート電極を走査線1にソース電極を信号線2
に接続されたスイッチング素子であるTFT、4、5は
TFT3のドレイン電極にそれぞれ接続された液晶容
量、補助容量であり、3〜5は画素を形成する。この画
素はアレイ基板上にマトリックス状に配置されて画素ア
レイ部を形成し、この画素アレイ部が表示エリアとな
る。6は走査線1と信号線2に信号を印加するドライバ
IC、7はドライバIC6へ信号を出力する駆動回路で
ある。
表示装置では、ある走査線1に選択信号が印加される
と、その走査線1上に配置されたTFT3すべてがオン
状態となり、各TFT3に接続された信号線2に印加さ
れている信号が、TFT3を介して液晶容量4、補助容
量5に書き込まれることになる。その後、走査線1が非
選択状態となると、TFT3はオフ状態となり、液晶容
量4、補助容量5に書き込まれた電荷を保持する。液晶
は液晶容量4、補助容量5に書き込まれた電荷量に対
し、その透過率を変化させるため、目的の透過率に対応
した信号電位を液晶容量4、補助容量5に選択時間内に
書き込み、その後電荷を保持することで所定の表示を行
うことができる。
製造には、アレイ基板内にスイッチング素子であるTF
Tを形成する半導体プロセス、対向基板とアレイ基板を
組み合わせて液晶を注入するパネル組み立てプロセス、
パネル駆動用のドライバIC、制御回路等をパネルと組
み合わせる実装プロセス等の複数の製造技術を必要と
し、またその製造に必要となる部品、材料の量も多大な
ものとなる。よって、製造コストの削減には、各工程で
の不良検出を行う検査工程が重要となる。検査工程で不
良と判断された場合、何らかの修理を施したり、その後
の工程へは進めない等の処置を行い、部品、材料利用の
効率化を図ることで、製造コストの低減が可能となる。
程後に実際にパネルを駆動して、その表示状態を検査
し、良否判断を行うパネル点灯検査がある。パネル点灯
検査時には、パネル自体が駆動用の回路を有していない
ため、各走査線、信号線に設けられた全ての端子電極に
対し、プローブを圧接するなどの方法で、外部の映像信
号発生器からの駆動信号をパネルに入力し、表示を行い
検査を実施する必要がある。端子電極は製造する品種毎
にそのレイアウトが異なるため、品種毎に新たなプロー
バを用意する必要がある。
ためには、プローブを走査線、信号線の全ての端子に同
時に正確に圧接する必要がある。しかし近年、液晶表示
装置の高精細化、狭額縁化がますます進む傾向にあり、
それに伴い走査線、信号線の端子電極ピッチもますます
狭くなってきている。このような狭ピッチの端子に圧接
可能なプローバは、それ自体が非常に高価であり、ま
た、製品ごとに端子位置、端子ピッチが必ずしも同一で
なく、製品ごとにプローバを用意することになり、検査
工程で要するコストが増加するという問題があった。ま
た、端子電極ピッチがある程度以下の値の場合には、個
々の端子電極にプローブを圧接すること自体が困難とな
ることは容易に想像できる。
めになされたもので、各走査線、信号線の端子電極全て
にプローブを圧接することなく、画面全体を表示するこ
とができ、高価なプローブを必要とせず、パネル検査工
程での検査コスト低減を実現する液晶表示装置を得るこ
とを第一の目的としている。また、検査精度が増し、検
査効率が上がるような液晶表示装置の検査方法を得るこ
とを第二の目的としている。
示装置においては、複数の走査線と複数の信号線との交
点にマトリクス状に配置され、ドライバ部によって駆動
信号が供給される画素を有する表示部と、この表示部の
外側に配置され、走査線間を短絡するように接続された
第一のスイッチング素子を有する第一の検査用アレイ
と、この第一の検査用アレイの第一のスイッチング素子
の制御電極に共通に接続され、第一のスイッチング素子
に第一の信号を供給する第一の共通配線と、表示部の外
側に配置され、信号線間を短絡するように接続された第
二のスイッチング素子を有する第二の検査用アレイと、
この第二の検査用アレイの第二のスイッチング素子の制
御電極に共通に接続され、第二のスイッチング素子に第
二の信号を供給する第二の共通配線を備え、第一のスイ
ッチング素子によって短絡された走査線及び第二のスイ
ッチング素子によって短絡された信号線には、それぞれ
同一の検査信号が供給されるものである。また、第一の
検査用アレイの第一のスイッチング素子は、隣接する走
査線間に接続されているものである。
チング素子は、隣接する信号線間に接続されているもの
である。さらに、第二の検査用アレイの第二のスイッチ
ング素子は、二本おきの信号線間に接続されているもの
である。
介さずに第一の信号が入力されるよう形成された端子が
設けられているものである。また、第二の共通配線に
は、ドライバ部を介さずに第二の信号が入力されるよう
形成された端子が設けられているものである。
スイッチング素子によって短絡される走査線には、ドラ
イバ部を介さずに検査信号が入力されるよう形成された
端子が設けられているものである。また、第二の検査用
アレイの第二のスイッチング素子によって短絡される信
号線には、ドライバ部を介さずに検査信号が入力される
よう形成された端子が設けられているものである。
方または両方の短絡は、表示部を分割するような領域毎
に行われるものである。また、第一の共通配線及び第二
の共通配線のいずれか一方または両方は、分割されてい
るものである。加えて、この発明に係わる液晶表示装置
の検査方法においては、複数の走査線と複数の信号線と
の交点にマトリクス状に配置された画素を有する表示部
を、走査線間及び信号線間をそれぞれ短絡させると共に
短絡された走査線及び信号線にそれぞれ同一の信号を供
給して検査するものである。
間で行われるものである。また、信号線間の短絡は、隣
接する信号線間で行われるものである。
われるものである。また、走査線間及び信号線間のいず
れか一方または両方の短絡は、表示部を分割するような
領域毎に行われるものである。
の実施の形態1によるアクティブマトリックス型液晶表
示装置の等価回路を示す図であり、走査線側、信号線側
の画素エリア外に、それぞれ画素内のTFT3とは別に
設けられた検査用のTFTにより、一次元アレイを形成
したものである。図において、1〜5は上記従来装置と
同一のものであり、その説明を省略する。11は走査線
側に設けられ、ソース、ドレイン電極が隣接する走査線
1間を短絡するように接続されたTFTで、走査線側の
検査用アレイである一次元アレイを形成する。12は信
号線側に設けられ、ソース、ドレイン電極が隣接する信
号線2間を短絡するように接続されたTFTで、信号線
側の検査用アレイである一次元アレイを形成する。13
はTFT11のゲート電極に共通接続された共通配線、
14はTFT12のゲート電極に共通に接続された共通
配線である。
ては、共通配線13に走査線側の1次元アレイを形成す
るTFT11をオン状態にする信号を印加すると、走査
線1全てがTFT11により短絡される。つまり、少な
くとも1本の走査線1に画素内のTFT3の制御信号を
印加することで、パネル内に配置された全ての走査線1
に同時に信号を印加することができ、したがって全ての
TFT3を同時に制御することが可能となる。また共通
配線14に信号線側の一次元アレイを形成するTFT1
2をオン状態にする信号を印加すると、全ての信号線2
はTFT12により短絡された状態となり、少なくとも
1本の信号線2に映像信号を印加することで、全ての信
号線2に同一の映像信号を印加した場合と等価な状態と
なる。つまり、共通配線13、共通配線14と走査線
1、信号線2の内それぞれ少なくとも1本の計4本に信
号を印加することで、全ての画素に同時に同じ映像信号
を書き込むことができ、パネル全体の表示を行うことが
可能となる。
Tによる短絡、一次元アレイを構成するゲート電極の共
通配線による接続を、ある適当な範囲で分割して行った
場合においても、同様の効果が得られ、さらに分割数に
応じて表示可能なパターンの種類を増加させることがで
きる。
形態2によるアクティブマトリックス型液晶表示装置の
等価回路を示す図である。図2では、信号線側の画素エ
リア外にTFT12を配置し、そのソース、ドレイン電
極が信号線nと信号線n+3、信号線n+1と信号線n
+4、信号線n+2と信号線n+5のごとく、2本おき
に接続するように3つの一次元アレイを形成する。走査
線側には、実施の形態1と同様に隣接走査線1間をTF
T11のソース、ドレイン電極で短絡するように、一次
元アレイを形成する。また、TFT11、TFT12の
ゲート電極は、共通配線13、共通配線14にそれぞれ
接続される。
形成するTFT11をオン状態にする信号を印加する
と、走査線1全てがTFT11により短絡される。つま
り、少なくとも1本の走査線1に画素内TFT3の制御
信号を印加することで、パネル内に配置された全ての画
素内TFT3を同時に制御することが可能となる。また
共通配線14に信号線側の一次元アレイを形成するTF
T12をオン状態にする信号を印加すると、信号線2は
2本おきにTFT12により短絡された状態となる。通
常、カラーフィルタを用いたアクティブマトリックス型
液晶表示装置は、信号線2に沿ってRed,Gree
n,Blueのストライプ状の色配列となっているた
め、Red,Green,Blueのそれぞれの画素に
対応する信号線2が色別に短絡されたことになり、各色
に対応する信号線2の内、少なくとも1本ずつ計3本の
信号線2に独立した信号を印加することで、3色の階調
を独立して制御することが可能となる。つまり、共通配
線13、共通配線14と少なくとも走査線1本、信号線
3本に信号を印加することで、パネル全体にカラー表示
を行うことが可能となる。
2間のTFTによる短絡、一次元アレイを構成するTF
Tのゲート電極の共通配線による接続を、分割して行っ
た場合にも、同様の効果が得られ、かつ表示パターンの
種類を増やすことができる。
形態3によるアクティブマトリックス型液晶表示装置の
等価回路を示す図である。図において、3〜7、11〜
14は図1におけるものと同一のものである。15はド
ライバIC6を介さずに外部駆動回路基板から信号の入
力を行うことができるよう構成されたドライバIC実装
用端子である。実施の形態3でも、実施の形態1と同
様、走査線側、信号線側に画素内のTFT3とは別に設
けたTFT11、TFT12により、それぞれ画素エリ
ア外に隣接走査線1間、隣接信号線2間を短絡するよう
に、一次元アレイを形成する。TFT11及びTFT1
2のソース、ドレイン電極は、それぞれ隣接する走査線
1間、信号線2間を短絡するように接続され、それらの
ゲート電極は、それぞれ共通配線13、共通配線14に
より共通に接続され、共通配線13及び共通配線14
は、ドライバIC6を介さずに駆動回路7からの信号入
力が可能なように構成されたドライバIC実装用端子1
5に接続されている。また、TFT11及びTFT12
のソース、ドレイン電極それぞれの少なくとも一つは、
ドライバIC6を介さず外部駆動回路基板から信号の入
力を行うことができるよう構成されたドライバIC実装
用端子15に接続されている。
ては、アレイ基板内に共通配線13、共通配線14、検
査信号入力用の走査線1、信号線2の電極を別に形成す
ることなく、共通配線13、共通配線14、及び走査線
側、信号線側にそれぞれ形成された一次元アレイのTF
Tのソース電極またはドレイン電極が接続されたドライ
バIC実装用端子15に信号を入力することで、パネル
全体の表示を行うことができる。さらに、この構成にお
いて、駆動回路基板上に、共通配線13、共通配線1
4、及び走査線側、信号線側にそれぞれ形成された一次
元アレイのTFTのソース電極またはドレイン電極への
信号入力用の端子を形成すれば、ドライバIC6、駆動
回路7と液晶パネルを組み合わせた後でも、パネル全体
の表示を簡易的に行うことが可能となる。
は、実施の形態2と同様に色別に行ってもよい。また、
隣接走査線間、信号線間のTFTによる短絡、一次元ア
レイを構成するTFTのゲート電極の共通配線による接
続を、分割して行った場合においても、同様の効果が得
られる。
れているので、以下に示すような効果を奏する。画素を
有する表示部の外側に配置され、走査線間を短絡するよ
うに接続された第一のスイッチング素子を有する第一の
検査用アレイと、この第一の検査用アレイの第一のスイ
ッチング素子の制御電極に共通に接続された第一の共通
配線と、表示部の外側に配置され、信号線間を短絡する
ように接続された第二のスイッチング素子を有する第二
の検査用アレイと、この第二の検査用アレイの第二のス
イッチング素子の制御電極に共通に接続された第二の共
通配線を備え、表示部の検査時には走査線間及び信号線
間を短絡させ、且つ短絡された走査線及び信号線の内の
それぞれの一本に同一の検査信号を印加することで、短
絡された走査線、信号線を全て駆動状態にすることがで
き、検査コストを低減することができる。また、第一の
検査用アレイの第一のスイッチング素子は、隣接する走
査線間に接続されているので、短絡された走査線を有す
る領域全てを駆動状態にすることができる。
チング素子は、隣接する信号線間に接続されているの
で、短絡された信号線を有する領域全てを駆動状態にす
ることができる。さらに、第二の検査用アレイの第二の
スイッチング素子は、二本おきの信号線間に接続されて
いるので、短絡された信号線を各色毎に制御してカラー
表示を行わせることができる。
介さずに第一の信号が入力されるよう形成された端子が
設けられているので、検査時に走査線を短絡させる信号
を入力することができる。また、第二の共通配線には、
ドライバ部を介さずに第二の信号が入力されるよう形成
された端子が設けられているので、検査時に信号線を短
絡させる信号を入力することができる。
スイッチング素子によって短絡される走査線には、ドラ
イバ部を介さずに検査信号が入力されるよう形成された
端子が設けられているので、これを用いて検査時の検査
信号を走査線に入力することができる。また、第二の検
査用アレイの第二のスイッチング素子によって短絡され
る信号線には、ドライバ部を介さずに検査信号が入力さ
れるよう形成された端子が設けられているので、これを
用いて検査時の検査信号を信号線に入力することができ
る。
方または両方の短絡は、表示部を分割するような領域毎
に行われるので、短絡によって分割された領域を別々に
駆動することができる。また、第一の共通配線及び第二
の共通配線のいずれか一方または両方は、分割されてい
るので、分割された領域を別々に駆動することができ
る。加えて、複数の走査線と複数の信号線との交点にマ
トリクス状に配置された画素を有する表示部を、走査線
間及び信号線間をそれぞれ短絡させて検査するので、短
絡された走査線及び信号線の内のそれぞれの一本に同一
の信号を印加することで、短絡された走査線、信号線を
全て駆動状態にして検査することができ、検査コストを
低減することができる。
間で行われるので、短絡された走査線を有する領域全て
を駆動状態にして検査することができる。また、信号線
間の短絡は、隣接する信号線間で行われるので、短絡さ
れた信号線を有する領域全てを駆動状態にして検査する
ことができる。
われるので、短絡された信号線を各色毎に制御してカラ
ー表示を行わせて検査することができる。また、走査線
間及び信号線間のいずれか一方または両方の短絡は、表
示部を分割するような領域毎に行われるので、短絡によ
って分割された領域を別々に駆動して検査することがで
きる。
トリックス型液晶表示装置の等価回路を示す図である。
トリックス型液晶表示装置の等価回路を示す図である。
トリックス型液晶表示装置の等価回路を示す図である。
置の等価回路を示す図である。
T、 4 液晶容量、6 ドライバIC、 7 駆動回
路、 13,14 共通配線、15 ドライバIC実装
用端子。
Claims (15)
- 【請求項1】 複数の走査線と複数の信号線との交点に
マトリクス状に配置され、走査線及び信号線を通じてド
ライバ部によって駆動信号が供給される画素を有する表
示部、この表示部の外側に配置され、上記走査線間を短
絡するように接続された第一のスイッチング素子を有す
る第一の検査用アレイ、この第一の検査用アレイの第一
のスイッチング素子の制御電極に共通に接続され、第一
のスイッチング素子に第一の信号を供給する第一の共通
配線、上記表示部の外側に配置され、上記信号線間を短
絡するように接続された第二のスイッチング素子を有す
る第二の検査用アレイ、この第二の検査用アレイの第二
のスイッチング素子の制御電極に共通に接続され、第二
のスイッチング素子に第二の信号を供給する第二の共通
配線を備え、第一のスイッチング素子によって短絡され
た上記走査線及び第二のスイッチング素子によって短絡
された上記信号線には、それぞれ同一の検査信号が供給
されることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項2】 第一の検査用アレイの第一のスイッチン
グ素子は、隣接する走査線間に接続されていることを特
徴とする請求項1記載の液晶表示装置。 - 【請求項3】 第二の検査用アレイの第二のスイッチン
グ素子は、隣接する信号線間に接続されていることを特
徴とする請求項1または請求項2記載の液晶表示装置。 - 【請求項4】 第二の検査用アレイの第二のスイッチン
グ素子は、二本おきの信号線間に接続されていることを
特徴とする請求項1または請求項2記載の液晶表示装
置。 - 【請求項5】 第一の共通配線には、ドライバ部を介さ
ずに第一の信号が入力されるよう形成された端子が設け
られていることを特徴とする請求項1〜請求項4のいず
れか一項記載の液晶表示装置。 - 【請求項6】 第二の共通配線には、ドライバ部を介さ
ずに第二の信号が入力されるよう形成された端子が設け
られていることを特徴とする請求項1〜請求項5のいず
れか一項記載の液晶表示装置。 - 【請求項7】 第一の検査用アレイの第一のスイッチン
グ素子によって短絡される走査線には、ドライバ部を介
さずに検査信号が入力されるよう形成された端子が設け
られていることを特徴とする請求項1〜請求項6のいず
れか一項記載の液晶表示装置。 - 【請求項8】 第二の検査用アレイの第二のスイッチン
グ素子によって短絡される信号線には、ドライバ部を介
さずに検査信号が入力されるよう形成された端子が設け
られていることを特徴とする請求項1〜請求項7のいず
れか一項記載の液晶表示装置。 - 【請求項9】 走査線間及び信号線間のいずれか一方ま
たは両方の短絡は、表示部を分割するような領域毎に行
われることを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか
一項記載の液晶表示装置。 - 【請求項10】 第一の共通配線及び第二の共通配線の
いずれか一方または両方は、分割されていることを特徴
とする請求項1〜請求項9のいずれか一項記載の液晶表
示装置。 - 【請求項11】 複数の走査線と複数の信号線との交点
にマトリクス状に配置され、走査線及び信号線を通じて
信号が供給される画素を有する表示部を検査する液晶表
示装置の検査方法において、上記走査線間及び上記信号
線間をそれぞれ短絡すると共に短絡された走査線及び信
号線にそれぞれ同一の信号を供給して上記表示部を検査
することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項12】 走査線間の短絡は、隣接する走査線間
で行われることを特徴とする請求項11記載の液晶表示
装置の検査方法。 - 【請求項13】 信号線間の短絡は、隣接する信号線間
で行われることを特徴とする請求項11または請求項1
2記載の液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項14】 信号線間の短絡は、二本おきに行われ
ることを特徴とする請求項11または請求項12記載の
液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項15】 走査線間及び信号線間のいずれか一方
または両方の短絡は、表示部を分割するような領域毎に
行われることを特徴とする請求項11〜請求項14のい
ずれか一項記載の液晶表示装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31510097A JPH11149092A (ja) | 1997-11-17 | 1997-11-17 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31510097A JPH11149092A (ja) | 1997-11-17 | 1997-11-17 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11149092A true JPH11149092A (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=18061425
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31510097A Pending JPH11149092A (ja) | 1997-11-17 | 1997-11-17 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11149092A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6784862B2 (en) | 2000-03-14 | 2004-08-31 | International Business Machines Corporation | Active matrix display device and inspection method for the same |
US7098878B2 (en) | 2001-11-29 | 2006-08-29 | Fujitsu Limited | Semiconductor device and liquid crystal panel driver device |
US7245329B2 (en) | 2001-12-13 | 2007-07-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Substrate for a liquid crystal display device comprising second thin-film transistors for applying a voltage to pixel electrodes for polymerizing the monomer |
JP2009036938A (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-19 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置 |
US8330691B2 (en) | 2006-08-31 | 2012-12-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display panel including dummy pixels and display device having the panel |
-
1997
- 1997-11-17 JP JP31510097A patent/JPH11149092A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6784862B2 (en) | 2000-03-14 | 2004-08-31 | International Business Machines Corporation | Active matrix display device and inspection method for the same |
US7098878B2 (en) | 2001-11-29 | 2006-08-29 | Fujitsu Limited | Semiconductor device and liquid crystal panel driver device |
US7580020B2 (en) | 2001-11-29 | 2009-08-25 | Fujitsu Microelectronics Limited | Semiconductor device and liquid crystal panel driver device |
US7245329B2 (en) | 2001-12-13 | 2007-07-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Substrate for a liquid crystal display device comprising second thin-film transistors for applying a voltage to pixel electrodes for polymerizing the monomer |
US8330691B2 (en) | 2006-08-31 | 2012-12-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display panel including dummy pixels and display device having the panel |
JP2009036938A (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-19 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置 |
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