CN113327529B - 一种显示面板、像素检测方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板、像素检测方法和显示装置，该显示面板可以包括衬底基板，第一显示区和第二显示区，第一子像素和第二子像素，第二子像素包括第二像素电路和第二发光元件，第二像素电路位于第一显示区，第二发光元件位于第二显示区，第二像素电路和第二发光元件通过导电线连接；位于第一显示区的第一数据线与第一像素电路连接，第二数据线至少与第二像素电路连接；位于周边区的第一测试电路和第一数据线连接，第二测试电路和第二数据线连接，第一测试电路和第二测试电路被配置为向第一像素电路和第二像素电路传输能使第一子像素和第二子像素分时点亮的测试数据信号，有利于提高各显示区像素检测的有效性。

Description

一种显示面板、像素检测方法和显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、像素检测方法和显示装置。

背景技术

现有技术中为了满足更多的需求，通常可以将显示面板设置为包括第一显示区和第二显示区，另外，在显示面板中还对应设置有用于驱动第一显示区的第一数据线以及用于驱动第二显示区的第二数据线，以通过第一数据线和第二数据线传输测试数据信号点亮显示区。而现有技术中针对该显示面板进行像素检测时，第一显示区和第二显示区均是由相同的测试数据信号同时驱动，因第一数据线以及第二数据线的线长不同，容易引起第一显示区和第二显示区的亮度不均。如此在进行像素检测时，无法准确的检测区分出第一显示区或第二显示区的像素不良区。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：针对具有第一显示区和第二显示区的显示面板，第一显示区和第二显示区对应的数据线线长不同，如何有效的检测出显示区中的像素不良区。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种显示面板、像素检测方法和显示装置。

本发明的第一个方面，提供了一种显示面板，所述显示面板包括：

衬底基板，包括显示区和至少位于显示区一侧的周边区，所述显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区至少部分围绕所述第二显示区；

第一子像素，位于所述第一显示区，所述第一子像素包括第一像素电路和第一发光元件，所述第一像素电路和所述第一发光元件在所述衬底基板上的正投影至少部分重叠；

第二子像素，包括第二像素电路和第二发光元件，所述第二像素电路位于所述第一显示区，所述第二发光元件位于所述第二显示区，所述第二像素电路和所述第二发光元件通过导电线连接；

第一数据线，位于所述第一显示区，与所述第一像素电路电连接；

第二数据线，位于所述第一显示区，至少与所述第二像素电路电连接；

第一测试电路，位于所述周边区域，与所述第一数据线连接；

第二测试电路，位于所述周边区域，与所述第二数据线连接；

所述第一测试电路和所述第二测试电路被配置为在不同时段向所述第一像素电路和所述第二像素电路传输能使所述第一子像素和所述第二子像素点亮的测试数据信号。

在一些实施例中，所述第二测试电路包括第一电压输入电路、第一开关电路和第一控制信号输入电路，所述第二测试电路被配置为在所述第一控制信号输入电路的控制下将所述第一电压输入电路提供的测试数据信号通过所述第一开关电路传输至所述第二数据线。

在一些实施例中，所述第二数据线包括第一子数据线、第二子数据线、第三子数据线和第四子数据线，所述显示面板还包括：

第一连接导线，连接所述第二测试电路与所述第一子数据线；

第二连接导线，连接所述第二测试电路与所述第二子数据线；

第三连接导线，连接所述第二测试电路与所述第三子数据线；

第四连接导线，连接所述第二测试电路与所述第四子数据线。

在一些实施例中，所述第一开关电路包括：

第一子开关电路，所述第一子开关电路包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管的第一电极分别被配置为接收第一测试数据信号，所述第一晶体管和所述第二晶体管的第二电极分别被配置为与所述第一连接导线电连接，所述第一晶体管和所述第二晶体管的控制电极分别被配置为接收第一开关信号；

第二子开关电路，所述第二子开关电路包括第三晶体管和第四晶体管，所述第三晶体管和所述第四晶体管的第一电极分别被配置为接收第二测试数据信号，所述第三晶体管和所述第四晶体管的第二电极被分别配置为与所述第一连接导线电连接，所述第三晶体管和所述第四晶体管的控制电极分别被配置为接收第二开关信号；

第三子开关电路，所述第三子开关电路包括第五晶体管，所述第五晶体管的第一电极被配置为接收第三测试数据信号，所述第五晶体管的第二电极被配置为与所述第二连接导线电连接，所述第五晶体管的控制电极被配置为接收第三开关信号；

第四子开关电路，所述第四子开关电路包括第六晶体管和第七晶体管，所述第六晶体管和所述第七晶体管的第一电极分别被配置为接收第一测试数据信号，所述第六晶体管和所述第七晶体管的第二电极被配置为与所述第三连接导线电连接，所述第六晶体管和所述第七晶体管的控制电极被配置为接收第二开关信号；

第五子开关电路，所述第五子开关电路包括第八晶体管和第九晶体管，所述第八晶体管和所述第九晶体管的第一电极分别被配置为接收第二测试数据信号，所述第八晶体管和所述第九晶体管的第二电极被配置为与所述第三连接导线电连接，所述第八晶体管和所述第九晶体管的控制电极被配置为接收第一开关信号；

第六子开关电路，所述第六子开关电路包括第十晶体管，所述第十晶体管的第一电极被配置为接收第三测试数据信号，所述第十晶体管的第二电极被配置为与所述第四连接导线电连接，所述第十晶体管的控制电极被配置为接收第三开关信号。

在一些实施例中，所述第一电压输入电路包括：

第一电压数据线，所述第一电压数据线被配置为传输所述第一测试数据信号，所述第一电压数据线分别与所述第一晶体管的第一电极、所述第二晶体管的第一电极、所述第六晶体管的第一电极和所述第七晶体管的第一电极电连接；

第二电压数据线，所述第二电压数据线被配置为传输所述第二测试数据信号，所述第二电压数据线分别与所述第三晶体管的第一电极、所述第四晶体管的第一电极、所述第八晶体管的第一电极和所述第九晶体管的第一电极电连接；

第三电压数据线，所述第三电压数据线被配置为传输所述第三测试数据信号，所述第三电压数据线分别与所述第五晶体管的第一电极和所述第十晶体管的第一电极电连接。

在一些实施例中，所述第一控制信号输入电路包括：

第一控制线，所述第一控制线被配置为传输所述第一开关信号，所述第一控制线分别与所述第一晶体管的控制电极、所述第二晶体管的控制电极、所述第八晶体管的控制电极以及所述第九晶体管的控制电极电连接；

第二控制线，所述第二控制线被配置为传输所述第二开关信号，所述第二控制线分别与所述第三晶体管的控制电极、所述第四晶体管的控制电极、所述第六晶体管的控制电极和所述第七晶体管的控制电极电连接；

第三控制线，所述第三控制线被配置为传输所述第三开关信号，所述第三控制线分别与所述第五晶体管的控制电极和所述第十晶体管的控制电极电连接。

在一些实施例中，所述第一测试电路包括第二电压输入电路、第二开关电路和第二控制信号输入电路，所述第一测试电路被配置为在所述第二控制信号输入电路的控制下将所述第二电压输入电路提供的测试数据信号通过所述第二开关电路传输至所述第一数据线。

在一些实施例中，所述第一数据线包括第五子数据线、第六子数据线、第七子数据线和第八子数据线，所述显示面板还包括：

第五连接导线，连接所述第一测试电路与所述第五子数据线；

第六连接导线，连接所述第一测试电路与所述第六子数据线；

第七连接导线，连接所述第一测试电路与所述第七子数据线；

第八连接导线，连接所述第一测试电路与所述第八子数据线。

在一些实施例中，所述第二开关电路包括：

第七子开关电路，所述第七子开关电路包括第十一晶体管，所述第十一晶体管包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，所述第十一晶体管的两个第一电极分别被配置为接收第四测试数据信号，所述第十一晶体管的第二电极被配置为与所述第五连接导线电连接，所述第十一晶体管的两个控制电极分别被配置为接收第四开关信号；

第八子开关电路，所述第八子开关电路包括第十二晶体管，第十二晶体管包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，所述第十二晶体管的两个第一电极分别被配置为接收第五测试数据信号，所述第十二晶体管的第二电极被配置为与所述第五连接导线电连接，所述第十二晶体管的两个控制电极分别被配置为接收第五开关信号；

第九子开关电路，所述第九子开关电路包括第十三晶体管，所述第十三晶体管的第一电极被配置为接收第六测试数据信号，所述第十三晶体管的第二电极被配置为与所述第六连接导线电连接，所述第十三晶体管的控制电极被配置为接收第六开关信号；

第十子开关电路，所述第十子开关电路包括第十四晶体管，所述第十四晶体管包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，所述第十四晶体管的两个第一电极分别被配置为接收第四测试数据信号，所述第十四晶体管的第二电极被配置为与所述第七连接导线电连接，所述第十四晶体管的两个控制电极分别被配置为接收第五开关信号；

第十一子开关电路，所述第十一子开关电路包括第十五晶体管，所述第十五晶体管包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，所述第十五晶体管的两个第一电极分别被配置为接收第五测试数据信号，所述第十五晶体管的第二电极被配置为与所述第七连接导线电连接，所述第十五晶体管的两个控制电极分别被配置为接收第四开关信号；

第十二子开关电路，所述第十二子开关电路包括第十六晶体管，所述第十六晶体管的第一电极被配置为接收第六测试数据信号，所述第十六晶体管的第二电极被配置为与所述第八连接导线电连接，所述第十六晶体管的控制电极被配置为接收第六开关信号。

在一些实施例中，所述第二电压输入电路包括：

第四电压数据线，所述第四电压数据线被配置为传输所述第四测试数据信号，所述第四电压数据线分别与所述第十一晶体管的两个第一电极和所述第十四晶体管的两个第一电极电连接；

第五电压数据线，所述第五电压数据线被配置为传输所述第五测试数据信号，所述第五电压数据线分别与所述第十二晶体管的两个第一电极和所述第十五晶体管的两个第一电极电连接；

第六电压数据线，所述第六电压数据线被配置为传输所述第六测试数据信号，所述第六电压数据线分别与所述第十三晶体管的第一电极和所述第十六晶体管的第一电极电连接。

在一些实施例中，所述第二控制信号输入电路包括：

第四控制线，所述第四控制线被配置为传输所述第四开关信号，所述第四控制线分别与所述第十一晶体管的两个控制电极和所述第十五晶体管的两个控制电极电连接；

第五控制线，所述第五控制线被配置为传输所述第五开关信号，所述第五控制线分别与所述第十二晶体管的两个控制电极和所述第十四晶体管的两个控制电极电连接；

第六控制线，所述第六控制线被配置为传输所述第六开关信号，所述第六控制线分别与所述第十三晶体管的两个控制电极和所述第十六晶体管的控制电极电连接。

在一些实施例中，所述第二控制信号输入电路与所述第一控制信号输入电路电连接，以向所述第二开关电路和所述第一开关电路提供相同的开关信号。

在一些实施例中，所述显示面板还包括第一信号接入端组和第二信号接入端组，所述第一信号接入端组被配置为向所述第一测试电路传输测试数据信号以及向所述第一测试电路和所述第二测试电路传输开关信号；所述第二信号接入端组被配置为向所述第二测试电路传输测试数据信号。

在一些实施例中，所述第二像素电路与所述第一像素电路间隔分布。

在一些实施例中，所述第二显示区包括透光显示区，所述所述导电线包括透明导电线。

本发明的第二个方面，提供了一种像素检测方法，所述方法应用于如上任意一项所述的显示面板，包括：

分别接收第一电压信号和第二电压信号，所述第一电压信号和所述第二电压信号来自不同的信号源；

根据所述第一电压信号和所述第二电压信号，分时对第一显示区和第二显示区进行像素检测。

本发明的第三个方面，提供了一种显示装置，所述显示装置包括如上任意一项所述的显示面板。

与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：

应用本发明提供的显示面板，该显示面板可以包括衬底基板，该衬底基板包括显示区和至少位于显示区一侧的周边区，显示区包括第一显示区和第二显示区，第一显示区至少部分围绕第二显示区；位于第一显示区的第一子像素，第一子像素包括第一像素电路和第一发光元件，第一像素电路和第一发光元件在衬底基板上的正投影至少部分重叠；第二子像素，包括第二像素电路和第二发光元件，第二像素电路位于第一显示区，第二发光元件位于第二显示区，第二像素电路和第二发光元件通过导电线连接；位于第一显示区的第一数据线和第二数据线，第一数据线与第一像素电路连接，第二数据线至少与第二像素电路连接；位于周边区域的第一测试电路和第二测试电路，第一测试电路和第一数据线连接，第二测试电路和第二数据线连接，第一测试电路和第二测试电路被配置为在不同时段向第一像素电路和第二像素电路传输能使第一子像素和第二子像素点亮的测试数据信号。该显示面板通过设置第一测试电路和第二测试电路，可以实现向第一显示区和第二显示区传输测试数据信号分时点亮第一子像素和第二子像素，避免了采用同一测试数据信号同时对第一显示区和第二显示区进行像素检测，由第一显示区和第二显示区对应的数据线线长不同造成亮度不均，无法准确地检测区分出第一显示区或第二显示区中的像素不良区的问题，有利于提高各显示区像素检测的有效性。

附图说明

通过结合附图阅读下文示例性实施例的详细描述可更好地理解本公开的范围。其中所包括的附图是：

图1示出了本发明实施例提供的一种显示面板结构示意图；

图2示出了本发明实施例提供的另一显示面板结构示意图；

图3示出了本发明实施例提供的另一显示面板结构示意图；

图4示出了本发明实施例提供的第二测试电路结构示意图；

图5示出了本发明实施例提供的第一测试电路结构示意图；

图6示出了本发明实施例提供的第二测试电路的布局结构图；

图7示出了本发明实施例提供的第一测试电路的布局结构图；

图8示出了本发明实施例提供的一种像素检测方法流程示意图；

图9示出了本发明实施例提供的显示面板电路示意图；

图10示出了本发明实施例提供的信号时序电路图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方法，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。

现有技术中为了满足更多的需求，通常可以将显示面板设置为包括第一显示区和第二显示区，另外，在显示面板中还对应设置有用于驱动第一显示区的第一数据线以及用于驱动第二显示区的第二数据线，以通过第一数据线和第二数据线传输测试数据信号点亮显示区。而现有技术中针对该显示面板进行像素检测时，第一显示区和第二显示区均是由相同的测试数据信号同时驱动，因第一数据线以及第二数据线的线长不同，容易引起第一显示区和第二显示区的亮度不均。如此在进行像素检测时，无法准确的检测区分出第一显示区或第二显示区的像素不良区。

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板，该显示面板可以包括衬底基板，该衬底基板包括显示区和至少位于显示区一侧的周边区，显示区包括第一显示区和第二显示区，第一显示区至少部分围绕第二显示区；位于第一显示区的第一子像素，第一子像素包括第一像素电路和第一发光元件，第一像素电路和第一发光元件在衬底基板上的正投影至少部分重叠；第二子像素，包括第二像素电路和第二发光元件，第二像素电路位于第一显示区，第二发光元件位于第二显示区，第二像素电路和第二发光元件通过导电线连接；位于第一显示区的第一数据线和第二数据线，第一数据线与第一像素电路连接，第二数据线至少与第二像素电路连接；位于周边区域的第一测试电路和第二测试电路，第一测试电路和第一数据线连接，第二测试电路和第二数据线连接，第一测试电路和第二测试电路被配置为在不同时段向第一像素电路和第二像素电路传输能使第一子像素和第二子像素点亮的测试数据信号。该显示面板通过设置第一测试电路和第二测试电路，可以实现为第一显示区和第二显示区传输测试数据信号分时点亮第一子像素和第二子像素，避免了采用同一测试数据信号同时对第一显示区和第二显示区进行像素检测，由第一显示区和第二显示区对应的数据线线长不同造成亮度不均，无法准确地检测区分出第一显示区或第二显示区中的像素不良区的问题，有利于提高各显示区像素检测的有效性。

参见图1所示，图1示出了本发明实施例提供的一种显示面板示意图，其包括：

衬底基板10，包括显示区和至少位于显示区一侧的周边区，显示区包括第一显示区A1和第二显示区A2，第一显示区A1至少部分围绕第二显示区A2；

第一子像素11，位于第一显示区A1，第一子像素11包括第一像素电路111和第一发光元件112，第一像素电路111和第一发光元件112在衬底基板10上的正投影至少部分重叠；

第二子像素12，包括第二像素电路121和第二发光元件122，第二像素电路121位于第一显示区A1，第二发光元件122位于第二显示区A2，第二像素电路121和第二发光元件122通过导电线L连接；

第一数据线13，位于第一显示区A1，与第一像素电路电连接；

第二数据线14，位于第一显示区A1，至少与第二像素电路121电连接；

第一测试电路15，位于周边区域，与第一数据线13连接；

第二测试电路16，位于周边区域，与第二数据线14连接；

第一测试电路15和第二测试电路16被配置为在不同时段向第一像素电路和第二像素电路121传输能使第一子像素11和第二子像素12点亮的测试数据信号。

在本发明实施例中，如图1所示，第二显示区A2可以位于衬底基板10的顶部正中间位置，第一显示A1至少部分围绕第二显示区A2。其中，第二显示区A2可以为圆形区域也可以为方形区域，在其他实施例中，第二显示区A2也可以为异形区域。另外，第二显示区A2也可以位于衬底基板10的其他位置，例如位于衬底基板10的左上角或右上角，在本发明实施例中将不做具体的限定。

在本发明实施例中，第一像素电路111和第一发光元件112在衬底基板10上的正投影至少部分重叠，作为示例，参见图1中圆形框出的区域，第一像素电路111和第一发光元件112在衬底基板10上的正投影可以部分重叠。

在一些实施例中，参见图1所示，显示面板还可以包括第一信号接入端组17和第二信号接入端组18，第一信号接入端组17被配置为向第一测试电路15传输测试数据信号以及向第一测试电路15传输开关信号；第二信号接入端组18被配置为向第二测试电路16传输测试数据信号以及向第二测试电路16传输开关信号。

其中，第一信号接入端组17和第二信号接入端组18均设置在周边区，第一信号接入端组17通过引线与第一测试电路15电连接，第二信号接入端组18通过引线与第二测试电路16电连接。

在一些实施例中，为了避免测试电路与数据线之间布线太长，影响显示区亮度，如图1所示，可在显示面板周边区设置多个第一测试电路15和多个第二测试电路16，其中位于一侧的第一测试电路15和第二测试电路16分别与显示区对应一侧的第一数据线13和第二数据线14电连接。相应的，还可以设置有多个第一信号接入端组17和多个第二信号接入端组18，第一信号接入端组17通过引线与第一测试电路15一一对应电连接，第二信号接入端组18通过引线与第二测试电路16一一对应电连接。

在本发明实施例中，还可以设置有焊盘区19，焊盘区19可以设置有多个连接端，每个连接端被配置为向子像素传输驱动信号，例如数据信号。

在本发明实施例中，参见图2所示，第二像素电路121和第二发光元件122通过导电线L连接，第二像素电路121可以通过导电线L将驱动信号传输给第二发光元件122，以点亮第二发光元件122。

在一些实施例中，第一显示区A1可以设置为非透光区域，第二显示区A2可以设置为透光区域，第二显示区A2内仅设置第二发光元件122，以保证第二显示区A2的透光率。

在一些实施例中，为了使第二显示区A2具有更好的透光率，导电线L可以为透明导电线，作为示例，该导电线L可以由氧化铟锡(indium tin oxide，ITO)或铟镓锌氧化物(indium gallium zinc oxide，IGZO)等透明材料制成。通过以可透光的材料设置第二显示区A2和导电线L，有利于在第二显示区A2对应的位置处设置屏下摄像头，从而能够实现全面屏显示。

在一些实施例中，参见图3所示，由于第二显示区A2对应的第二像素电路121设置在A1显示区，为了避免第二显示区A1出现较明显暗区，可以设置第一子像素11和第二像素电路121间隔交替排布。如图2所示，第二显示区A2小于第一显示区A1，作为示例，可以间隔多列第一子像素11设置一列第二像素电路121，具体可参见图3所示。

其中，第一子像素11和/或第二子像素12可以包括红色子像素R，两个绿色子像素G1和G2，以及一个蓝色子像素B，且红色子像素R和蓝色子像素B设置在同一列，两个绿色子像素G1和G2设置在同一列。在其他实施例中，也可以设置第一子像素11和/或第二子像素12仅包括一个红色子像素R、一个蓝色子像素B和一个绿色子像素G。需要说明的是每个子像素的设置还可以选择包括其他数量的子像素以及其他排布方式，在本发明实施例中将不做特别的限定。

在本发明实施例中，第二数据线14至少与第二像素电路121电连接，在其他实施例中，第二数据线14还可以与部分第一像素电路111电连接，其中，第一像素电路111和第一发光元件112在衬底基板10上的正投影至少部分重叠。在由第二数据线14传输测试数据信号时，可以通过控制与第一像素电路111对应的栅极信号来实现仅驱动第二发光元件122。

在一些实施例中，参见图4所示，第二测试电路16可以包括第一电压输入电路、第一开关电路和第一控制信号输入电路，第二测试电路16被配置为在第一控制信号输入电路的控制下将第一电压输入电路提供的测试数据信号通过第一开关电路传输至第二数据线14。

参见图5所示，第一测试电路15可以包括第二电压输入电路、第二开关电路和第二控制信号输入电路，第一测试电路15被配置为在第二控制信号输入电路的控制下将第二电压输入电路提供的测试数据信号通过第二开关电路传输至第一数据线13。通过设置第一测试电路15和第二测试电路16，可以实现向第一显示区A1和第二显示区A2传输测试数据信号，以实现在不同时段对第一子像素11和第二子像素12的点亮，提高显示面板像素检测的有效性。

在本发明实施例中，参见图6所示，第二数据线14可以包括第一子数据线141、第二子数据线142、第三子数据线143和第四子数据线144，显示面板还可以包括：

第一连接导线20，连接第二测试电路16与第一子数据线141；

第二连接导线21，连接第二测试电路16与第二子数据线142；

第三连接导线22，连接第二测试电路16与第三子数据线143；

第四连接导线23，连接第二测试电路16与第四子数据线144。

第二测试电路16中的第一开关电路可以包括：

第一子开关电路161，第一子开关电路161包括第一晶体管T1和第二晶体管T2，第一晶体管T1和第二晶体管T2的第一电极分别被配置为接收第一测试数据信号D1，第一晶体管T1和第二晶体管T2的第二电极分别被配置为与第一连接导线20电连接，第一晶体管T1和第二晶体管T2的控制电极分别被配置为接收第一开关信号SW1；

第二子开关电路162，第二子开关电路162包括第三晶体管T3和第四晶体管T4，第三晶体管T3和第四晶体管T4的第一电极分别被配置为接收第二测试数据信号D2，第三晶体管T3和第四晶体管T4的第二电极被分别配置为与第一连接导线20电连接，第三晶体管T3和第四晶体管T4的控制电极分别被配置为接收第二开关信号SW2；

第三子开关电路163，第三子开关电路163包括第五晶体管T5，第五晶体管T5的第一电极被配置为接收第三测试数据信号D3，第五晶体管T5的第二电极被配置为与第二连接导线21电连接，第五晶体管T5的控制电极被配置为接收第三开关信号SW3；

第四子开关电路164，第四子开关电路164包括第六晶体管T6和第七晶体管T7，第六晶体管T6和第七晶体管T7的第一电极分别被配置为接收第一测试数据信号D1，第六晶体管T6和第七晶体管T7的第二电极被配置为与第三连接导线电连接22，第六晶体管T6和第七晶体管T7的控制电极被配置为接收第二开关信号SW2；

第五子开关电路165，第五子开关电路165包括第八晶体管T8和第九晶体管T9，第八晶体管T8和第九晶体管T9的第一电极分别被配置为接收第二测试数据信号D2，第八晶体管T8和第九晶体管T9的第二电极被配置为与第三连接导线22电连接，第八晶体管T8和第九晶体管T9的控制电极被配置为接收第一开关信号SW1；

第六子开关电路166，第六子开关电路166包括第十晶体管T10，第十晶体管T10的第一电极被配置为接收第三测试数据信号D3，第十晶体管T10的第二电极被配置为与第四连接导线23电连接，第十晶体管T10的控制电极被配置为接收第三开关信号SW3。

在一些实施例中，第一电压输入电路可以包括：

第一电压数据线LD1，第一电压数据线LD1被配置为传输第一测试数据信号D1，第一电压数据线LD1分别与第一晶体管T1的第一电极、第二晶体管T2的第一电极、第六晶体管T6的第一电极和第七晶体管T7的第一电极电连接；

第二电压数据线LD2，第二电压数据线LD2被配置为传输第二测试数据信号D2，第二电压数据线LD2分别与第三晶体管T3的第一电极、第四晶体管T4的第一电极、第八晶体管T8的第一电极和第九晶体管T9的第一电极电连接；

第三电压数据线LD3，第三电压数据线LD3被配置为传输第三测试数据信号D3，第三电压数据线LD3分别与第五晶体管T5的第一电极和第十晶体管T10的第一电极电连接。

在一些实施例中，第一控制信号输入电路可以包括：

第一控制线LC1，第一控制线LC1被配置为传输第一开关信号SW1，第一控制线LC1分别与第一晶体管T1的控制电极、第二晶体管T2的控制电极、第八晶体管T8的控制电极以及第九晶体管T9的控制电极电连接；

第二控制线LC2，第二控制线LC2被配置为传输第二开关信号SW2，第二控制线LC2分别与第三晶体管T3的控制电极、第四晶体管T4的控制电极、第六晶体管T6的控制电极和第七晶体管T7的控制电极电连接；

第三控制线LC3，第三控制线LC3被配置为传输第三开关信号SW3，第三控制线LC3分别与第五晶体管T5的控制电极和第十晶体管T10的控制电极电连接。

以上为本发明实施提供的第二测试电路16的布局结构。

在一些实施例中，参见图7所示，第一数据线13可以包括第五子数据线131、第六子数据线132、第七子数据线133和第八子数据线134，显示面板还可以包括：

第五连接导线24，连接第一测试电路15与第五子数据线131；

第六连接导线25，连接第一测试电路15与第六子数据线132；

第七连接导线26，连接第一测试电路15与第七子数据线133；

第八连接导线27，连接第一测试电路15与第八子数据线134。

第一测试电路15中的第二开关电路可以包括：

第七子开关电路151，第七子开关电路151包括第十一晶体管T11，第十一晶体管T11包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，第十一晶体管T11’的两个第一电极分别被配置为接收第四测试数据信号D4，第十一晶体管T11的第二电极被配置为与第五连接导线24电连接，第十一晶体管T11的两个控制电极分别被配置为接收第四开关信号SW4；

第八子开关电路152，第八子开关电路152包括第十二晶体管T12，第十二晶体管T12包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，第十二晶体管T12的两个第一电极分别被配置为接收第五测试数据信号D5，第十二晶体管T12的第二电极被配置为与第五连接导线24电连接，第十二晶体管T12的两个控制电极分别被配置为接收第五开关信号SW5；

第九子开关电路153，第九子开关电路153包括第十三晶体管T13，第十三晶体管T13的第一电极被配置为接收第六测试数据信号D6，第十三晶体管T13的第二电极被配置为与第六连接导线25电连接，第十三晶体管T13的两个控制电极被配置为接收第六开关信号SW6；

第十子开关电路154，第十子开关电路154包括第十四晶体管T14，第十四晶体管T14包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，第十四晶体管T14的两个第一电极分别被配置为接收第四测试数据信号D4，第十四晶体管T14的第二电极被配置为与第七连接导线26电连接，第十四晶体管T14的两个控制电极分别被配置为接收第五开关信号SW5；

第十一子开关电路155，第十一子开关电路155包括第十五晶体管T15，第十五晶体管T15包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，第十五晶体管T15的两个第一电极分别被配置为接收第五测试数据信号D5，第十五晶体管T15的第二电极被配置为与第七连接导线26电连接，第十五晶体管T15的两个控制电极分别被配置为接收第四开关信号SW4；

第十二子开关电路156，第十二子开关电路156包括第十六晶体管T16，第十六晶体管T16的第一电极被配置为接收第六测试数据信号D6，第十六晶体管T16的第二电极被配置为与第八连接导线27电连接，第十六晶体管T16的控制电极被配置为接收第六开关信号SW6。

在一些实施例中，第二电压输入电路可以包括：

第四电压数据线LD4，第四电压数据线LD4被配置为传输第四测试数据信号D4，第四电压数据线LD4分别与第十一晶体管T11的两个第一电极和第十四晶体管T14的两个第一电极电连接；

第五电压数据线LD5，第五电压数据线LD5被配置为传输第五测试数据信号D5，第五电压数据线LD5分别与第十二晶体管T12的两个第一电极和第十五晶体管T15的两个第一电极电连接；

第六电压数据线LD6，第六电压数据线LD6被配置为传输第六测试数据信号D6，第六电压数据线LD6分别与第十三晶体管T13的第一电极和第十六晶体管T16的第一电极电连接。

在一些实施例中，第二控制信号输入电路可以包括：

第四控制线LC4，第四控制线LC4被配置为传输第四开关信号SW4，第四控制线LC4分别与第十一晶体管T11的两个控制电极和第十五晶体管T15的两个控制电极电连接；

第五控制线LC5，第五控制线LC5被配置为传输第五开关信号SW5，第五控制线LC5分别与第十二晶体管T12的两个控制电极和第十四晶体管T14的两个控制电极电连接；

第六控制线LC6，第六控制线LC6被配置为传输第六开关信号SW6，第六控制线LC6分别与第十三晶体管T13的控制电极和第十六晶体管T16的控制电极电连接。

以上为本发明实施例提供的第一测试电路15的布局结构。

在一些实施例中，第一测试电路15中的第二控制信号输入电路可以与第二测试电路16中的第一控制信号输入电路电连接，以向第二开关电路和第一开关电路提供相同的开关信号。基于图6和图7示出的测试电路布局结构为例，即可以设置第一测试电路15中的第四控制线LC4和第二测试电路16中的第一控制线LC1电连接，第一测试电路15中的第五控制线LC5和第二测试电路16中的第二控制线LC2电连接，第一测试电路15中的第六控制线LC6和第二测试电路16中的第三控制线LC3电连接。

相应的，第一信号接入端组17可以被配置为向第一测试电路15传输测试数据信号以及向第一测试电路15和第二测试电路16传输开关信号；第二信号接入端组18可以被配置为仅向第二测试电路16传输测试数据信号。

本发明实施例的另一方面，还提供了一种像素检测方法，该方法可以应用于如上所述的显示面板。参见图8所示，图8示出了本发明实施例提供的一种像素检测方法流程示意图，其可以包括：

步骤S101：分别接收第一电压信号和第二电压信号，第一电压信号和第二电压信号来自不同的信号源；

步骤S102：根据第一电压信号和所述第二电压信号，分时对第一显示区和第二显示区进行像素检测。

其中，第一电压信号可以包括用于点亮第一子像素的测试数据信号，第二电压信号可以包括用于点亮第二子像素的测试数据信号。

作为一示例，参见图9所示和图10所示，图9示出了本发明实施例提供的另一显示面板电路示意图，图10示出了本发明实施例提供的信号时序电路图。

如图9所示，显示面板可以包括第一显示区A1和第二显示区A2，第一显示区A1对应设置有多条沿列方向延伸的子数据线，多条子数据线可以表示为L_1R、L_1G、L_1B和L_1G，分别用于点亮第一显示区A1中的红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和绿色子像素；多个子开关电路，每个子开关电路分别设置有晶体管T_1R、T_1G、T_1B和T_1G’。其中，T_1R的第一电极被配置为接收测试数据信号D_1R，T_1G的第一电极和T_1G’的第一电极被配置为接收测试数据信号D_1G，T_1B的第一电极被配置为接收测试数据信号D_1B；T_1R和T_1B的控制极被配置为接收红色像素开关信号SW_1R或蓝色像素开关信号SW_1B，T_1G和T_1G’的控制极被配置为接收绿色像素开关信号SW_1G，T_1R的第一电极被配置为向L_1R传输测试数据信号，T_1G的第二电极被配置为向L_1G传输测试数据信号，T_1B的第二电极被配置为向L_1B传输测试数据信号，T_1G’的第二电极被配置为向L_1G’传输测试数据信号。

该显示面板中还设置有用于点亮第二显示区A2的多条子数据线，多条子数据线可以表示为L_2R、L_2G、L_2B和L_2G，分别用于点亮第二显示区A2中的红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和绿色子像素；多个子开关电路，每个子开关电路分别设置有晶体管T_2R、T_2G、T_2B和T_2G’。其中，T_2R的第一电极被配置为接收测试数据信号D_2R，T_2G的第一电极和T_2G’的第一电极被配置为接收测试数据信号D_2G，T_2B的第一电极被配置为接收测试数据信号D_2B；T_2R和T_2B的控制极被配置为接收红色像素开关信号SW_1R或蓝色像素开关信号SW_1B，T_2G和T_2G’的控制极被配置为接收绿色像素开关信号SW_1G；T_2R的第二电极被配置为向L_2R传输测试数据信号，T_2G的第二电极被配置为向L_2G传输测试数据信号，T_2B的第一电极被配置为向L_2B传输测试数据信号，T_2G’的第二电极被配置为向L_2G’传输测试数据信号。

为了实现对第一显示区A1和第二显示区A2的分时段点亮，可以执行以下测试方法：

在第一时间段t₁内，可以选择D_1G、D_1R和D_1B为低电平信号，而D_2G、D_2R和D_2B输入高电平信号，从而能够仅对第一显示区A1进行点亮。作为示例，当选择SW_1R为低电平信号时，T_1R导通，D_1R被传输至L_1R使得第一显示区A1的红色子像素被点亮；当选择SW_1B为低电平信号时，T_1B导通，D_1B被传输至L_1B使得第一显示区A1的蓝色子像素被点亮；

在第二时间段t₂内，可以选择D_2G、D_2R和D_2B为低电平信号，而D_1G、D_1R和D_1B输入高电平信号，从而能够仅对第二显示区A2进行点亮。作为示例，当选择SW_1R为低电平信号时，T_2R导通，D_2R被传输至L_2R使得第二显示区A2的红色子像素被点亮；当选择SW_1B为低电平信号时，T_2B导通，D_2B被传输至L_2B使得第二显示区A2的蓝色子像素被点亮。

本发明的另一方面还提供了一种显示装置，该显示装置可以包括如上实施例所述的显示面板。

在一些实施例中，该显示装置可以具有屏下摄像头，其中，显示面板的第一显示区可以包括非屏下摄像头对应显示区域，显示面板的第二显示区可以包括屏下摄像头对应显示区域。

在一些实施例中，显示装置可以包括液晶显示面板、手机、电视机、显示器、笔记本电脑和导航仪等。

虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (13)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：

衬底基板，包括显示区和至少位于显示区一侧的周边区域，所述显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区至少部分围绕所述第二显示区；

第一子像素，位于所述第一显示区，所述第一子像素包括第一像素电路和第一发光元件，所述第一像素电路和所述第一发光元件在所述衬底基板上的正投影至少部分重叠；

第二子像素，包括第二像素电路和第二发光元件，所述第二像素电路位于所述第一显示区，所述第二像素电路与所述第一像素电路交替分布，且相邻的两个所述第二像素电路之间的所述第一像素电路的数量大于相邻的两个所述第一像素电路之间的所述第二像素电路的数量；所述第二发光元件位于所述第二显示区，所述第二像素电路和所述第二发光元件通过导电线连接；

第一数据线，位于所述第一显示区，与所述第一像素电路电连接；

第二数据线，位于所述第一显示区，至少与所述第二像素电路电连接；所述第二数据线包括第一子数据线、第二子数据线、第三子数据线和第四子数据线；

第一测试电路，位于所述周边区域，与所述第一数据线连接；

第二测试电路，位于所述周边区域，与所述第二数据线连接；所述第二测试电路包括第一电压输入电路、第一开关电路和第一控制信号输入电路，所述第二测试电路被配置为在所述第一控制信号输入电路的控制下将所述第一电压输入电路提供的测试数据信号通过所述第一开关电路传输至所述第二数据线；所述第一开关电路包括：第一子开关电路、第二子开关电路、第三子开关电路、第四子开关电路、第五子开关电路和第六子开关电路；

所述第一测试电路和所述第二测试电路被配置为在不同时段向所述第一像素电路和所述第二像素电路传输能使所述第一子像素和所述第二子像素点亮的测试数据信号；

第一连接导线，连接所述第二测试电路与所述第一子数据线；

第二连接导线，连接所述第二测试电路与所述第二子数据线；

第三连接导线，连接所述第二测试电路与所述第三子数据线；

第四连接导线，连接所述第二测试电路与所述第四子数据线；

所述第一开关电路包括：

第一子开关电路，所述第一子开关电路包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管的第一电极分别被配置为接收第一测试数据信号，所述第一晶体管和所述第二晶体管的第二电极分别被配置为与所述第一连接导线电连接，所述第一晶体管和所述第二晶体管的控制电极分别被配置为接收第一开关信号；

第二子开关电路，所述第二子开关电路包括第三晶体管和第四晶体管，所述第三晶体管和所述第四晶体管的第一电极分别被配置为接收第二测试数据信号，所述第三晶体管和所述第四晶体管的第二电极分别被配置为与所述第一连接导线电连接，所述第三晶体管和所述第四晶体管的控制电极分别被配置为接收第二开关信号；

第三子开关电路，所述第三子开关电路包括第五晶体管，所述第五晶体管的第一电极被配置为接收第三测试数据信号，所述第五晶体管的第二电极被配置为与所述第二连接导线电连接，所述第五晶体管的控制电极被配置为接收第三开关信号；

第四子开关电路，所述第四子开关电路包括第六晶体管和第七晶体管，所述第六晶体管和所述第七晶体管的第一电极分别被配置为接收第一测试数据信号，所述第六晶体管和所述第七晶体管的第二电极被配置为与所述第三连接导线电连接，所述第六晶体管和所述第七晶体管的控制电极被配置为接收第二开关信号；

第五子开关电路，所述第五子开关电路包括第八晶体管和第九晶体管，所述第八晶体管和所述第九晶体管的第一电极分别被配置为接收第二测试数据信号，所述第八晶体管和所述第九晶体管的第二电极被配置为与所述第三连接导线电连接，所述第八晶体管和所述第九晶体管的控制电极被配置为接收第一开关信号；

第六子开关电路，所述第六子开关电路包括第十晶体管，所述第十晶体管的第一电极被配置为接收第三测试数据信号，所述第十晶体管的第二电极被配置为与所述第四连接导线电连接，所述第十晶体管的控制电极被配置为接收第三开关信号。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一电压输入电路包括：

第一电压数据线，所述第一电压数据线被配置为传输所述第一测试数据信号，所述第一电压数据线分别与所述第一晶体管的第一电极、所述第二晶体管的第一电极、所述第六晶体管的第一电极和所述第七晶体管的第一电极电连接；

第二电压数据线，所述第二电压数据线被配置为传输所述第二测试数据信号，所述第二电压数据线分别与所述第三晶体管的第一电极、所述第四晶体管的第一电极、所述第八晶体管的第一电极和所述第九晶体管的第一电极电连接；

第三电压数据线，所述第三电压数据线被配置为传输所述第三测试数据信号，所述第三电压数据线分别与所述第五晶体管的第一电极和所述第十晶体管的第一电极电连接。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一控制信号输入电路包括：

第一控制线，所述第一控制线被配置为传输所述第一开关信号，所述第一控制线分别与所述第一晶体管的控制电极、所述第二晶体管的控制电极、所述第八晶体管的控制电极以及所述第九晶体管的控制电极电连接；

第二控制线，所述第二控制线被配置为传输所述第二开关信号，所述第二控制线分别与所述第三晶体管的控制电极、所述第四晶体管的控制电极、所述第六晶体管的控制电极和所述第七晶体管的控制电极电连接；

第三控制线，所述第三控制线被配置为传输所述第三开关信号，所述第三控制线分别与所述第五晶体管的控制电极和所述第十晶体管的控制电极电连接。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试电路包括第二电压输入电路、第二开关电路和第二控制信号输入电路，所述第一测试电路被配置为在所述第二控制信号输入电路的控制下将所述第二电压输入电路提供的测试数据信号通过所述第二开关电路传输至所述第一数据线。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第一数据线包括第五子数据线、第六子数据线、第七子数据线和第八子数据线，所述显示面板还包括：

第五连接导线，连接所述第一测试电路与所述第五子数据线；

第六连接导线，连接所述第一测试电路与所述第六子数据线；

第七连接导线，连接所述第一测试电路与所述第七子数据线；

第八连接导线，连接所述第一测试电路与所述第八子数据线。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述第二开关电路包括：

第七子开关电路，所述第七子开关电路包括第十一晶体管，所述第十一晶体管包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，所述第十一晶体管的两个第一电极分别被配置为接收第四测试数据信号，所述第十一晶体管的第二电极被配置为与所述第五连接导线电连接，所述第十一晶体管的两个控制电极分别被配置为接收第四开关信号；

第八子开关电路，所述第八子开关电路包括第十二晶体管，第十二晶体管包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，所述第十二晶体管的两个第一电极分别被配置为接收第五测试数据信号，所述第十二晶体管的第二电极被配置为与所述第五连接导线电连接，所述第十二晶体管的两个控制电极分别被配置为接收第五开关信号；

第九子开关电路，所述第九子开关电路包括第十三晶体管，所述第十三晶体管的第一电极被配置为接收第六测试数据信号，所述第十三晶体管的第二电极被配置为与所述第六连接导线电连接，所述第十三晶体管的控制电极被配置为接收第六开关信号；

第十子开关电路，所述第十子开关电路包括第十四晶体管，所述第十四晶体管包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，所述第十四晶体管的两个第一电极分别被配置为接收第四测试数据信号，所述第十四晶体管的第二电极被配置为与所述第七连接导线电连接，所述第十四晶体管的两个控制电极分别被配置为接收第五开关信号；

第十一子开关电路，所述第十一子开关电路包括第十五晶体管，所述第十五晶体管包括两个第一电极、一个第二电极和两个控制电极，所述第十五晶体管的两个第一电极分别被配置为接收第五测试数据信号，所述第十五晶体管的第二电极被配置为与所述第七连接导线电连接，所述第十五晶体管的两个控制电极分别被配置为接收第四开关信号；

第十二子开关电路，所述第十二子开关电路包括第十六晶体管，所述第十六晶体管的第一电极被配置为接收第六测试数据信号，所述第十六晶体管的第二电极被配置为与所述第八连接导线电连接，所述第十六晶体管的控制电极被配置为接收第六开关信号。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第二电压输入电路包括：

第四电压数据线，所述第四电压数据线被配置为传输所述第四测试数据信号，所述第四电压数据线分别与所述第十一晶体管的两个第一电极和所述第十四晶体管的两个第一电极电连接；

第五电压数据线，所述第五电压数据线被配置为传输所述第五测试数据信号，所述第五电压数据线分别与所述第十二晶体管的两个第一电极和所述第十五晶体管的两个第一电极电连接；

第六电压数据线，所述第六电压数据线被配置为传输所述第六测试数据信号，所述第六电压数据线分别与所述第十三晶体管的第一电极和所述第十六晶体管的第一电极电连接。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述第二控制信号输入电路包括：

第四控制线，所述第四控制线被配置为传输所述第四开关信号，所述第四控制线分别与所述第十一晶体管的两个控制电极和所述第十五晶体管的两个控制电极电连接；

第五控制线，所述第五控制线被配置为传输所述第五开关信号，所述第五控制线分别与所述第十二晶体管的两个控制电极和所述第十四晶体管的两个控制电极电连接；

第六控制线，所述第六控制线被配置为传输所述第六开关信号，所述第六控制线分别与所述第十三晶体管的两个控制电极和所述第十六晶体管的控制电极电连接。

9.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第二控制信号输入电路与所述第一控制信号输入电路电连接，以向所述第二开关电路和所述第一开关电路提供相同的开关信号。

10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第一信号接入端组和第二信号接入端组，所述第一信号接入端组被配置为向所述第一测试电路传输测试数据信号以及向所述第一测试电路和所述第二测试电路传输开关信号；所述第二信号接入端组被配置为向所述第二测试电路传输测试数据信号。

11.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二显示区包括透光显示区，所述导电线包括透明导电线。

12.一种像素检测方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1至11中任意一项所述的显示面板，包括：

分别接收第一电压信号和第二电压信号，所述第一电压信号和所述第二电压信号来自不同的信号源；

根据所述第一电压信号和所述第二电压信号，分时对第一显示区和第二显示区进行像素检测。

13.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括权利要求1至11中任意一项所述的显示面板。