CN105676497A - 一种面板检测电路及液晶显示面板 - Google Patents
一种面板检测电路及液晶显示面板 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105676497A CN105676497A CN201610255153.XA CN201610255153A CN105676497A CN 105676497 A CN105676497 A CN 105676497A CN 201610255153 A CN201610255153 A CN 201610255153A CN 105676497 A CN105676497 A CN 105676497A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- control line
- test switchboard
- testing wire
- switchboard
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/13306—Circuit arrangements or driving methods for the control of single liquid crystal cells
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/1368—Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136254—Checking; Testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
本发明提供的面板检测电路,包括:多条数据信号线;测试开关,其与数据信号线连接;测试线,其与测试开关连接,包括:用于向测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线;以及,控制线,其与测试开关连接,包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线;其中,第一控制线用于开启与述第一测试线连接的测试开关,第二控制线用于开启与第二测试线连接的测试开关,第三控制线用于开启与第三测试线连接的测试开关。本发明所提供的面板检测电路可以使得当在重叠区域出现短路现象时,整个面板测试仍能继续进行。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测电路技术领域,尤其涉及一种面板检测电路及液晶显示面板。
背景技术
液晶显示器(LCD)是最广泛使用的平板显示器之一,广泛地应用为笔记本电脑或是手机的显示器,且由于市场需求量大,其制程或面板结构的设计方面也有不断的研发改良,为了确保液晶显示器的显示质量,一般都要对液晶显示面板进行测试以尽早发现问题产品,从而减少后续制程的浪费。
目前,在液晶显示面板的检测中,通常在液晶显示面板的阵列基板上设置测试线来连接液晶显示面板的信号线,如图1所示,液晶显示面板具有红色子像素、绿色子像素及蓝色子像素,在液晶显示面板测试时,通过红色子像素测试线103、绿色子像素测试线102及蓝色子像素测试线101向液晶显示面板输入红色子像素测试信号、绿色子像素测试信号及蓝色子像素测试信号,在数据端,由蓝色子像素测试线101输入蓝色子像素测试信号至数据信号线,这时,由于数据信号线与绿色子像素测试线102和红色子像素测试线103有重叠区域,在工艺过程中这两个重叠区域104和105有可能出现短路现象,当任意一处出现短路现象时,蓝色子像素测试线101输入的蓝色子像素测试信号就会传到其它数据信号线上,从而不能区分面板显示区是否有异常问题;同理,由绿色子像素测试线102输入绿色子像素测试信号至数据信号线,这时,由于数据信号线与红色子像素测试线103有重叠区域,在工艺过程中这个重叠区域106有可能出现短路现象,绿色子像素测试线102输入的绿色子像素测试信号就会传到其他数据信号线上,从而不能区分面板显示区是否有异常问题。
当出现重叠区域短路现象时,使得整个面板测试无法进行,故需提供一种面板检测电路,以解决现有技术所存在的问题。
发明内容
本发明提供一种面板检测电路,可以有效的解决现有技术中因重叠区域出现短路现象,使得整个面板测试无法进行的技术问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供的面板检测电路,包括:
多条数据信号线;
测试开关,其与所述数据信号线连接;
测试线,其与所述测试开关连接,包括:用于向所述测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向所述测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向所述测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线;以及,
控制线,其与所述测试开关连接,包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线;其中,所述第一控制线用于开启与所述第一测试线连接的测试开关,所述第二控制线用于开启与所述第二测试线连接的测试开关,所述第三控制线用于开启与所述第三测试线连接的测试开关。
所述测试开关为薄膜晶体管。
所述测试开关具有源极、漏极及栅极,所述源极与所述测试线连接,所述漏极与所述数据信号线连接,所述栅极与所述控制线连接。
所述测试线输入的测试信号具有一最低显示电平值。
所述测试开关具有一最低启动电平值,所述最低启动电平值小于所述最低显示电平值。
所述面板检测电路还包括驱动电路组件,设置于基板上,其中所述驱动电路组件电性连接所述数据信号线。
所述数据信号线具有金属端子,用于接收所述测试信号。
依据本发明的上述目的,提出一种液晶显示面板,包括:面板检测电路,包括:
多条数据信号线;
测试开关,其与所述数据信号线连接;
测试线,其与所述测试开关连接,包括:用于向所述测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向所述测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向所述测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线;以及,
控制线,其与所述测试开关连接,包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线;其中,所述第一控制线用于开启与所述第一测试线连接的测试开关,所述第二控制线用于开启与所述第二测试线连接的测试开关,所述第三控制线用于开启与所述第三测试线连接的测试开关。
所述测试线输入的测试信号具有一最低显示电平值。
所述测试开关具有一最低启动电平值,所述最低启动电平值小于所述最低显示电平值。
本发明所提供的面板检测电路通过在所述多条数据信号线上设置多个测试开关,并且用控制线控制所述测试开关,使得当在重叠区域出现短路现象时,整个面板测试仍能继续进行,并且检测后可不用通过激光来切断测试线,可以避免额外的激光切断步骤,再者,测试开关可以与像素的主动元件同时形成,而不需要额外的制程步骤。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有的面板检测电路示意图;
图2为本发明面板检测电路实施例示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示,用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本发明,而非用以限制本发明。在图中,结构相似的单元是用以相同标号表示。
下面结合附图详细本发明实施例的实现过程。
参见图2,为本发明面板检测电路实施例示意图。
本实施例的面板检测电路,包括:
多条数据信号线217;测试开关207,其与所述数据信号线217连接;测试线,其与所述测试开关207连接,包括:用于向所述测试开关207输入红色子像素测试信号的第一测试线203、用于向所述测试开关207输入绿色子像素测试信号的第二测试线202及用于向所述测试开关207输入蓝色子像素测试信号的第三测试线201;以及,控制线,其与所述测试开关207连接,包括:第一控制线206、第二控制线205及第三控制线204;其中,所述第一控制线206用于开启与所述第一测试线203连接的测试开关207,所述第二控制线205用于开启与所述第二测试线202连接的测试开关207,所述第三控制线204用于开启与所述第三测试线201连接的测试开关207。
本实施例中,数据信号线217具有外漏的输入端子208,用于接收输入的信号。输入端子208是设置于数据信号线217的一侧,并连接于测试开关207。
测试开关207连接在数据信号线217的输入端子208与测试线之间,并可在测试液晶显示面板时被开启或关闭,以允许或阻止测试信号由测试线传入数据信号线217。所述测试开关207为薄膜晶体管,此时,测试开关207具有源极、漏极及栅极,所述源极与所述测试线连接,所述漏极与所述数据信号线217连接,所述栅极与所述控制线连接。当然,在本实施例中,测试开关207与液晶显示面板的主动元件可同时形成于基板上,以减少制程步骤,即在液晶显示面板的主动元件的制程中,可同时形成主动元件及测试开关于基板上。因此,可不需要额外的制程步骤来形成测试开关207。
测试线连接于测试开关207,用于输入测试信号至数据信号线217,外部的测试单元或测试系统可通过测试线来传送测试信号至数据信号线217。本实施例中,所述数据信号线217具有红色子像素信号线、绿色子像素信号线及蓝色子像素信号线,液晶显示面板数据端设有三条测试线,包括第一测试线203、第二测试线202及第三测试线201,所述第一测试线203用于向所述测试开关207输入红色子像素测试信号,所述第二测试线202用于向所述测试开关207输入绿色子像素测试信号,所述第三测试线201用于向所述测试开关207输入蓝色子像素测试信号。
控制线分别连接于测试开关207,用于在测试液晶显示面板时输入控制信号至测试开关207,开启开关。本实施例中,所述面板检测电路设有三条控制线,包括第一控制线206、第二控制线205及第三控制线204;其中,所述第一控制线206用于开启与所述第一测试线203连接的测试开关207,所述第二控制线205用于开启与所述第二测试线202连接的测试开关207,所述第三控制线204用于开启与所述第三测试线201连接的测试开关207。
当测试液晶显示面板的蓝色子像素是否正常时,通过第三测试线201输入一测试信号至蓝色子像素信号线,此时应通过第三控制线204输入控制信号至与所述蓝色子像素信号线连接的测试开关207上,使其处于开启状态,同时,与所述红色子像素信号线连接的测试开关207和与所述绿色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态,当第一个重叠区域209和第二个重叠区域210出现短路现象时,由于与所述红色子像素信号线连接的测试开关207和与所述绿色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态,测试信号无法通过测试开关207传至数据信号线217,从而整个面板测试可以照常进行。
当测试液晶显示面板的红色子像素是否正常时,通过第一测试线203输入一测试信号至红色子像素信号线,此时应通过第三控制线206输入控制信号至与所述红色子像素信号线连接的测试开关207上,使其处于开启状态,同时,与所述蓝色子像素信号线连接的测试开关207和与所述绿色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态,当第三个重叠区域211和第四个重叠区域212出现短路现象时,使得与所述蓝色子像素信号线连接的测试开关207和与所述绿色子像素信号连接的测试开关207处于开启状态,但是此时第三测试线201和第二测试线202并无测试信号输入,从而整个面板测试可以照常进行;所述测试信号具有一最低电平值,即只有当测试信号的电平值高于所述最低电平值,液晶面板才会显示,并且所述测试开关的启动电平值低于所述最低电平值,当第五个重叠区域213和第六个重叠区域214出现短路现象时,由于所述测试开关的启动电平值低于所述最低电平值,故即使第五个重叠区域213和第六个重叠区域214出现短路现象,控制信号的启动电平值也不足以使液晶面板有显示,整个面板测试可以照常进行。
当测试液晶显示面板的绿色子像素是否正常时,通过第二测试线202输入一测试信号至绿色子像素信号线,此时应通过第二控制线205输入控制信号至与所述绿色子像素信号线连接的测试开关207上,使其处于开启状态,同时,与所述蓝色子像素信号线连接的测试开关207和与所述红色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态,当第七个重叠区域215出现短路现象时,由于与所述红色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态,测试信号无法通过测试开关207传至数据信号线217,从而整个面板测试可以照常进行;所述测试信号具有一最低电平值,即只有当测试信号的电平值高于所述最低电平值,液晶面板才会显示,并且所述测试开关的启动电平值低于所述最低电平值,当第八个重叠区域216出现短路现象时,由于所述控制信号的启动电平值低于所述最低电平值,故即使第八个重叠区域216出现短路现象,使得与所述红色子像素信号线连接的测试开关207处于开启状态,但是此时第一测试线203并无测试信号输入,从而整个面板测试可以照常进行。
在测试液晶显示面板后,停止向控制线输入控制信号,以关闭测试开关207,使得测试信号无法由测试线传送至数据信号线217。因此,通过测试开关207,可直接关闭测试线与数据信号线217之间的路径,二不需要通过激光来切断测试线,以避免额外的激光切断步骤。
在液晶显示面板经过测试且确认为正常之后,驱动电路组件(未显示)可设置于基板的非显示区上,亦即数据信号线217的外侧,用于提供信号至数据信号线217。此时,驱动电路组件的电性接点(未显示)可直接接合于数据信号线217的输入端子208,使得驱动电路组件可电性连接于数据信号线217。在测试液晶显示面板之后,由于数据信号线217与测试线之间的测试开关207为关闭状态,因此,驱动电路组件可直接接合于数据信号线217的输入端子208上,且测试线可仍保留在测试后的液晶显示面板上,而不需被切断,以避免额外的激光切断步骤。
本发明所提供的面板检测电路通过在所述多条信号线上设置多个测试开关,并且用控制线控制所述测试开关,使得当在重叠区域出现短路时,整个面板测试仍能继续进行,并且检测后可不用通过激光来切断测试线,可以避免额外的激光切断步骤,再者,测试开关可以与像素的主动元件同时形成,而不需要额外的制程步骤。
以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种面板检测电路,其特征在于,包括:
多条数据信号线;
测试开关,其与所述数据信号线连接;
测试线,其与所述测试开关连接,包括:用于向所述测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向所述测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向所述测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线;以及,
控制线,其与所述测试开关连接,包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线;其中,所述第一控制线用于开启与所述第一测试线连接的测试开关,所述第二控制线用于开启与所述第二测试线连接的测试开关,所述第三控制线用于开启与所述第三测试线连接的测试开关。
2.根据权利要求1所述的面板检测电路,其特征在于,所述测试开关为薄膜晶体管。
3.根据权利要求2所述的面板检测电路,其特征在于,所述测试开关具有源极、漏极及栅极,所述源极与所述测试线连接,所述漏极与所述数据信号线连接,所述栅极与所述控制线连接。
4.根据权利要求3所述的面板检测电路,其特征在于,所述测试线输入的测试信号具有一最低显示电平值。
5.根据权利要求4所述的面板检测电路,其特征在于,所述测试开关具有一最低启动电平值,所述最低启动电平值小于所述最低显示电平值。
6.根据权利要求5所述的面板检测电路,其特征在于,还包括驱动电路组件,设置于基板上,其中所述驱动电路组件电性连接所述数据信号线。
7.根据权利要求6所述的面板检测电路,其特征在于,所述数据信号线具有金属端子,用于接收所述测试信号。
8.一种液晶显示面板,其特征在于,包括面板检测电路,包括:
多条数据信号线;
测试开关,其与所述数据信号线连接;
测试线,其与所述测试开关连接,包括:用于向所述测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向所述测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向所述测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线;以及,
控制线,其与所述测试开关连接,包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线;其中,所述第一控制线用于开启与所述第一测试线连接的测试开关,所述第二控制线用于开启与所述第二测试线连接的测试开关,所述第三控制线用于开启与所述第三测试线连接的测试开关。
9.根据权利要求8所述的液晶显示面板,其特征在于,所述测试线输入的测试信号具有一最低显示电平值。
10.根据权利要求4所述的面板检测电路,其特征在于,所述测试开关具有一最低启动电平值,所述最低启动电平值小于所述最低显示电平值。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610255153.XA CN105676497A (zh) | 2016-04-21 | 2016-04-21 | 一种面板检测电路及液晶显示面板 |
US15/312,447 US20180180959A1 (en) | 2016-04-21 | 2016-06-03 | Panel inspection circuit and liquid crystal display panel |
PCT/CN2016/084743 WO2017181499A1 (zh) | 2016-04-21 | 2016-06-03 | 一种面板检测电路及液晶显示面板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610255153.XA CN105676497A (zh) | 2016-04-21 | 2016-04-21 | 一种面板检测电路及液晶显示面板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105676497A true CN105676497A (zh) | 2016-06-15 |
Family
ID=56215677
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610255153.XA Pending CN105676497A (zh) | 2016-04-21 | 2016-04-21 | 一种面板检测电路及液晶显示面板 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20180180959A1 (zh) |
CN (1) | CN105676497A (zh) |
WO (1) | WO2017181499A1 (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019184351A1 (zh) * | 2018-03-27 | 2019-10-03 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试装置和测试方法 |
CN111650793A (zh) * | 2020-06-28 | 2020-09-11 | 上海中航光电子有限公司 | 显示面板及其阵列基板 |
WO2021147451A1 (zh) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | 云谷(固安)科技有限公司 | 显示面板的测试电路、方法及显示面板 |
WO2023000156A1 (en) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Array substrate, display panel, and method of testing array substrate |
WO2023184615A1 (zh) * | 2022-03-28 | 2023-10-05 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板、显示面板测试方法及显示装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113448114B (zh) * | 2021-06-28 | 2022-11-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN114993621B (zh) * | 2022-05-27 | 2023-09-05 | 惠科股份有限公司 | 测试电路、测试方法及显示装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001215927A (ja) * | 2000-02-01 | 2001-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
CN101191910A (zh) * | 2006-11-30 | 2008-06-04 | Lg.菲利浦Lcd株式会社 | 液晶显示装置及其测试方法 |
CN102692774A (zh) * | 2012-05-23 | 2012-09-26 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板 |
CN103778888A (zh) * | 2014-01-27 | 2014-05-07 | 北京京东方光电科技有限公司 | 显示面板及其驱动方法 |
CN105243980A (zh) * | 2015-10-21 | 2016-01-13 | 深超光电(深圳)有限公司 | 薄膜晶体管阵列基板、显示面板及检测纯色画面的方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001265248A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-09-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法 |
JP4006304B2 (ja) * | 2002-09-10 | 2007-11-14 | 株式会社 日立ディスプレイズ | 画像表示装置 |
TWI257484B (en) * | 2005-06-10 | 2006-07-01 | Au Optronics Corp | Testing circuit and testing method for liquid crystal display device |
JP4302121B2 (ja) * | 2006-05-18 | 2009-07-22 | 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 | 表示素子およびその検査方法 |
JP4893759B2 (ja) * | 2009-01-27 | 2012-03-07 | ソニー株式会社 | 液晶表示装置 |
CN101847357A (zh) * | 2009-03-23 | 2010-09-29 | 友达光电股份有限公司 | 显示面板、显示装置及其测试方法 |
CN109036238A (zh) * | 2015-04-01 | 2018-12-18 | 上海天马微电子有限公司 | 阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置 |
-
2016
- 2016-04-21 CN CN201610255153.XA patent/CN105676497A/zh active Pending
- 2016-06-03 WO PCT/CN2016/084743 patent/WO2017181499A1/zh active Application Filing
- 2016-06-03 US US15/312,447 patent/US20180180959A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001215927A (ja) * | 2000-02-01 | 2001-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
CN101191910A (zh) * | 2006-11-30 | 2008-06-04 | Lg.菲利浦Lcd株式会社 | 液晶显示装置及其测试方法 |
CN102692774A (zh) * | 2012-05-23 | 2012-09-26 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板 |
CN103778888A (zh) * | 2014-01-27 | 2014-05-07 | 北京京东方光电科技有限公司 | 显示面板及其驱动方法 |
CN105243980A (zh) * | 2015-10-21 | 2016-01-13 | 深超光电(深圳)有限公司 | 薄膜晶体管阵列基板、显示面板及检测纯色画面的方法 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019184351A1 (zh) * | 2018-03-27 | 2019-10-03 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试装置和测试方法 |
KR20200006586A (ko) * | 2018-03-27 | 2020-01-20 | 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 | 테스트 장치 및 테스트 방법 |
KR102214935B1 (ko) | 2018-03-27 | 2021-02-10 | 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 | 테스트 장치 및 테스트 방법 |
US10991291B2 (en) | 2018-03-27 | 2021-04-27 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Test device and test method |
WO2021147451A1 (zh) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | 云谷(固安)科技有限公司 | 显示面板的测试电路、方法及显示面板 |
US11893914B2 (en) | 2020-01-20 | 2024-02-06 | Yungu (Gu' An) Technology Co., Ltd. | Test circuit and method for display panel and display panel |
CN111650793A (zh) * | 2020-06-28 | 2020-09-11 | 上海中航光电子有限公司 | 显示面板及其阵列基板 |
WO2023000156A1 (en) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Array substrate, display panel, and method of testing array substrate |
GB2618009A (en) * | 2021-07-20 | 2023-10-25 | Boe Technology Group Co Ltd | Array substrate, display panel, and method of testing array substrate |
WO2023184615A1 (zh) * | 2022-03-28 | 2023-10-05 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板、显示面板测试方法及显示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2017181499A1 (zh) | 2017-10-26 |
US20180180959A1 (en) | 2018-06-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105676497A (zh) | 一种面板检测电路及液晶显示面板 | |
US20150077681A1 (en) | Liquid crystal display panel | |
US7675600B2 (en) | Liquid crystal display panel and liquid crystal display apparatus having the same | |
US11309309B2 (en) | Mother substrate and display panel | |
US8912813B2 (en) | Test device for liquid crystal display device and test method thereof | |
US20180292691A1 (en) | Display substrate and test method thereof | |
CN104503176B (zh) | 阵列基板、显示面板及显示装置 | |
US20160041412A1 (en) | Liquid crystal panel test circuit | |
US9568791B2 (en) | Liquid crystal display device | |
CN101965606B (zh) | 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法 | |
US11222562B2 (en) | Display panel, method for detecting the same and display device | |
US20160342048A1 (en) | Thin film transistor array substrate, liquid crystal panel and liquid crystal display device | |
KR101375845B1 (ko) | 액정표시소자 및 그 제조방법 | |
US10102783B2 (en) | Array substrate and detecting method for an array substrate | |
KR20040062161A (ko) | 다수의 어레이셀을 포함하는 표시장치용 기판 및 이의제조방법 | |
CN107065353A (zh) | 显示面板以及显示面板的测试方法 | |
US11275282B2 (en) | Liquid crystal display panel and display device | |
US8830412B2 (en) | Substrate and manufacturing method of panel display device and corresponding liquid crystal display panel | |
US7990486B2 (en) | Liquid crystal display panel with line defect repairing mechanism and repairing method thereof | |
CN107093391B (zh) | 液晶显示面板的检测电路结构与液晶显示面板 | |
US20140036188A1 (en) | Liquid Crystal Display Device, Array Substrate and Manufacturing Method Thereof | |
US9007556B2 (en) | Susbtrate with PSVA mode pad set and cell switch for array process of panel display device, manufacturing method and corresponding liquid crystal display device | |
US20170213852A1 (en) | Array substrate and method for manufacturing the same, display panel and display device | |
CN108121125B (zh) | 显示装置不良解析方法 | |
US20220093653A1 (en) | Array substrate, display panel and large glass panel |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160615 |
|
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |