CN113448114B - 显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种显示面板及显示装置，属于显示技术领域，其可解决现有的显示面板中由于测试信号线的电阻的存在，造成显示区两侧显示亮度不均匀的问题。本公开的显示面板具有显示区及设置于显示区一侧的测试区，显示面板包括：设置于显示区的多个子像素和与子像素连接的多条数据线、及设置于测试区的多条测试信号线；测试信号线被配置为将测试信号输入至连接同一颜色子像素的数据线上；每条测试信号线包括：测试信号引入线及与测试信号引入线连接的测试信号传输线；其中，测试信号传输线的延伸方向与数据线延伸方向相交，且测试信号传输线贯穿测试区；测试信号引入线与测试信号传输线的连接点至测试信号传输线的两端的距离差值小于或等于预设值。

Description

显示面板及显示装置

技术领域

本公开属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

随着信息技术的发展，显示装置在人们日常生活中被广泛应用，液晶显示面板作为一种最广泛使用的平面显示面板，在显示领域占有重要地位。为了尽可能降低生产成本，显示在生产的各个工序均会进行良率检测，避免不良品流入后端造成生产资材的浪费与成本的提升，例如在显示面板对盒工艺完成后需要进行CT(cell test)检测。

目前的显示面板在进行CT检测时，测试信号一般由显示面板的显示区的两侧输入，由于测试信号线上电阻的存在，使得显示面板的显示区两侧的数据线上的测试信号的幅值大小存在一定的差异，在检测灰阶画面时，显示面板的显示区内两侧的显示画面的亮度具有一定的差异，使得显示画面出现显示不均的问题，影响CT检测的精度。

发明内容

本公开旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种显示面板及显示装置。

第一方面，本公开实施例提供一种显示面板，具有显示区及设置于所述显示区一侧的测试区，所述显示面板包括：设置于所述显示区的多个子像素和与所述子像素连接的多条数据线、及设置于所述测试区的多条测试信号线；所述测试信号线被配置为将测试信号输入至连接同一颜色子像素的数据线上；

每条所述测试信号线包括：测试信号引入线及与所述测试信号引入线连接的测试信号传输线；其中，所述测试信号传输线的延伸方向与所述数据线延伸方向相交，且所述测试信号传输线贯穿所述测试区；

所述测试信号引入线与所述测试信号传输线的连接点至所述测试信号传输线的两端的距离差值小于或等于预设值。

可选地，所述显示面板还具有与所述测试区相对设置的绑定区，所述显示面板还包括：设置于所述绑定区的多个第一焊盘、及由所述绑定区延伸至所述测试区的多条第一连接线；

所述第一连接线的一端与所述第一焊盘连接，另一端与所述测试信号引入线连接。

可选地，所述显示面板还包括：设置于所述测试区的多条第二连接线；

所述第二连接线的一端与所述测试信号传输线连接，另一端与所述数据线连接。

可选地，所述显示面板还包括：设置于所述测试区的开关晶体管、设置于所述绑定区的第二焊盘、及由所述绑定区延伸至测试区的开关信号线；

所述开关晶体管的栅极与所述开关信号线的一端连接，第一极与所述第二连接线连接，第二极与所述数据线连接；

所述开关信号线的一端与所述开关晶体管的栅极连接，另一端与所述第二焊盘连接。

可选地，所述第二连接线的部分复用为所述开关晶体管的第一极，所述数据线的部分复用为所述开关晶体管的第二极，所述开关信号线的部分复用为所述开关晶体管的栅极；所述第二连接线与所述数据线之间通过半导体层连接。

可选地，所述显示面板还包括：基底、位于所述基底上且沿着背离所述基底方向依次绝缘设置的第一金属层和第二金属层；

所述第一金属层和第二金属层均包括：所述第一连接线。

可选地，所述第一金属层还包括：所述测试信号传输线和所述开关信号线；

所述第二金属层还包括：所述测试信号引入线、所述第二连接线和所述数据线。

可选地，所述显示面板还包括：设置于所述显示区且与所述数据线交叉设置的栅线；所述子像素位于所述栅线与所述数据线交叉区域内；

所述第一金属层还包括：所述栅线。

可选地，所述多条测试信号线的所述测试信号传输线的线宽相同。

可选地，在测试时，所述第一焊盘连接外接的测试信号端；在显示时，所述第一焊盘连接接地端。

可选地，在测试时，所述第二焊盘连接外接的开关信号端；在显示时，所述第二焊盘连接非工作电平信号端。

第二方面，本公开实施例提供一种显示装置，包括如上述提供的显示面板。

附图说明

图1为一种示例性的显示面板的结构示意图；

图2为本公开实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图3为图2所示的显示面板的实际结构图；

图4为本公开实施例提供的显示面板中的开关晶体管的结构示意图。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本公开的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本公开作进一步详细描述。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

图1为一种示例性的显示面板的结构示意图，如图1所示，该显示面板具有显示区10、设置于显示区10一侧的测试区20及与测试区相对设置的绑定区30；显示面板包括：设置于显示区10的多个子像素和与子像素连接的多条数据线Data、及多条测试信号线101；测试信号线101由绑定区30延伸至测试区20，测试信号线101的一端与第一焊盘连接，另一端与对应的数据线Data连接。其中，子像素可以包括：红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B，相应地，第一焊盘可以包括红色测试信号焊盘D-R、绿色测试信号焊盘D-G和蓝色测试信号焊盘D-B；红色测试信号焊盘D-R、绿色测试信号焊盘D-G和蓝色测试信号焊盘D-B可以与外接的测试信号端连接，以向红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B分别提供红色测试信号、绿色测试信号和蓝色测试信号，实现灰阶画面的显示。一般在显示面板还包括：设置于绑定区30的第二焊盘、设置于测试区20的开关晶体管T及开关信号线102，开关信号线102可以由绑定区30延伸至测试区20。第二焊盘可以包括开关信号焊盘D-S，开关信号线102的一端连接开关信号焊盘D-S，另一端连接开关晶体管T的栅极。开关晶体管T的栅极连接开关信号线102，第一极连接测试信号线，第二极连接数据线Data。以开关晶体管T为N型晶体管为例，当开关信号焊盘D-S输入高电平信号，开关晶体管T开启，使得测试信号输入至对应的数据线Data上。

为了保证显示面板的各个边框较窄，一般将红色测试信号焊盘D-R、绿色测试信号焊盘D-G、蓝色测试信号焊盘D-B和开关信号焊盘D-S均匀设置于绑定区30内对应显示区10的两侧，如图1所示，红色测试信号焊盘D-R和绿色测试信号焊盘D-G设置于对应显示区的左侧，蓝色测试信号焊盘D-B和开关信号焊盘D-S设置于对应显示区10的右侧，在测试过程中，红色测试信号和蓝色测试信号由显示区的左侧向右侧输入，由于测试信号线101上电阻的存在，使得显示区10左侧的数据线Data上输入的红色测试信号和绿色测试信号的电压幅值较高，显示区10右侧数据线Data上输入的红色测试信号和绿色测试信号的电压幅值较低，同样的道理，蓝色测试信号由显示区的右侧向左侧输入，使得显示区右侧数据线Data上输入的蓝色测试信号的电压幅值较高，显示区左侧数据线上输入的蓝色测试信号的电压幅值较低。这样，在显示画面中左侧的红色子像素R和绿色子像素G的亮度要高于蓝色子像素B的亮度，右侧的蓝色子像素B的亮度要高于红色子像素R和绿色子像素的亮度，导致显示画面左侧偏黄，右侧偏蓝，从而使得显示画面出现黄蓝不均的现象，影响显示面板CT检测的精度。

为了解决至少上述的技术问题之一，本公开提供了一种显示面板及显示装置，下面将结合附图及具体实施方式，对本公开提供的显示面板及显示装置进行进一步详细说明。

图2为本公开实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图3为图2所示的显示面板的实际结构图，如图2和图3所示，该显示面板具有显示区10及设置于显示区10一侧的测试区20，显示面板包括：设置于显示区10的多个子像素和与子像素连接的多条数据线Data、及设置于测试区20的多条测试信号线101；测试信号线101被配置为将测试信号输入至连接同一颜色子像素的数据线Data上；每条测试信号线101包括：测试信号引入线1011及与测试信号引入线1011连接的测试信号传输线1012；其中，测试信号传输线1012的延伸方向与数据线Data延伸方向相交，且测试信号传输线1012贯穿测试区20；测试信号引入线1011与测试信号传输线1012的连接点至测试信号传输线1012的两端的距离差值小于或等于预设值。

在此需要说明的是，显示面板的显示区10中的子像素可以包括：红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B，相应地，测试信号线101的数量为3条，可以通过测试信号线101向红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B所连接的数据线Data分别提供红色测试信号、绿色测试信号和蓝色测试信号。进一步需要说明的是，测试信号线101可以包括测试信号引入线1011和测试信号传输线1012；测试信号引入线1011与测试信号传输线1012的连接点可以用节点N表示，节点N至测试信号传输线1012的两端的距离差值小于或等于预设值，该预设值可以根据实际需要进行设置，例如可以为0纳米(nm)至5nm之间，这样，节点N到测试信号传输线1012的两端的距离基本相等，即节点N位于测试信号传输线1012的中间位置。

本公开实施例提供的显示面板中，测试信号可以由对应的测试信号引入线1011输入，并经过测试信号传输线1012传输后，传输至相应的数据线Data中，由于节点N位于测试信号传输线1012的中间位置，节点N至测试信号传输线1012两端的电阻基本相同，这样，红色测试信号、绿色测试信号和蓝色测试信号传输在显示区10左右两侧的数据线Data上的电压幅值基本相同，因此可以避免由于红色测试信号、绿色测试信号和蓝色测试信号的电压幅值不同造成的黄蓝不均的现象，从而可以提高显示面板CT检测的精度，进而可以及时有效拦截不良的显示面板流入后端，以避免生产资材的浪费，节约制备成本。

在一些实施例中，如图2所示，显示面板还具有与测试区20相对设置的绑定区30，显示面板还包括：设置于绑定区30的多个第一焊盘、及由绑定区延伸至测试区的多条第一连接线103；第一连接线103的一端与第一焊盘连接，另一端与测试信号引入线1011连接。

第一焊盘可以包括红色测试信号焊盘D-R、绿色测试信号焊盘D-G和蓝色测试信号焊盘D-B；红色测试信号焊盘D-R、绿色测试信号焊盘D-G和蓝色测试信号焊盘D-B可以与外接的测试信号端连接，以向红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B分别提供红色测试信号、绿色测试信号和蓝色测试信号，实现灰阶画面的显示。对应地，第一连接线103的数量为3条，其中，红色测试信号焊盘D-R通过第一连接线103与对应的测试信号引入线101连接，绿色测试信号焊盘D-G通过第一连接线103与对应的测试信号引入线101连接，蓝色测试信号焊盘D-B通过对应的第一连接线103与测试信号引入线101连接。另一方面，该绑定区30内还可以设置有绑定焊盘(图中未示出)，显示区10内的数据线Data可以延伸至绑定区30中通过绑定焊盘与驱动芯片连接，以在显示过程中，使得驱动芯片向通过数据线Data向各个子像素提供数据信号。

在一些实施例中，如图2所示，显示面板还包括：设置于测试区20的多条第二连接线104；第二连接线104的一端与测试信号传输线1012连接，另一端与数据线Data连接。

第二连接线104可以将测试信号传输线1012上的测试信号传输至数据线Data上，以使得显示面板显示区10中的各个子像素实现多彩显示。

在一些实施例中，如图2所示，显示面板还包括：设置于测试区20的开关晶体管T、设置于绑定区30的第二焊盘、及由绑定区30延伸至测试区20的开关信号线102；开关晶体管T的栅极与开关信号线102的一端连接，第一极与第二连接线104连接，第二极与数据线Data连接；开关信号线102的一端与开关晶体管T的栅极连接，另一端与第二焊盘连接。

第二焊盘可以包括开关信号焊盘D-S，开关信号焊盘D-S通过开关信号线102与开关晶体管T的栅极连接，开关信号线中可以传输开关信号。以开关晶体管T为N型薄膜晶体管为例，N型晶体管的第一极为源极，第二电极为漏极，其开启信号为高电平信号，关闭信号为低电平信号。当开关信号焊盘D-S上输入高电平信号时，开关晶体管T开启，测试信号可以通过开关晶体管T输入至对应的数据线Data上，以实现多彩显示。在测试过程中，可以通过仅控制部分开关晶体管T的开启与关闭，来仅对显示面板显示区10中的部分子像素进行检测。例如，可以控制与红色测试信号焊盘D-R连接的开关晶体管T开启，可以仅对显示面板显示区10中的红色子像素R进行测试。同理，还可以通过控制开关晶体管T的开启，仅对显示面板显示区10中的绿色子像素G或蓝色子像素B，或者任意两种颜色的子像素进行测试，以提高CT检测的精度。在实际应用中，红色测试信号焊盘D-R、绿色测试信号焊盘D-G、蓝色测试信号焊盘D-B和开关信号焊盘D-S可以均匀设置于对应显示区10的左侧和右侧，可以使得显示区10的两侧均可以布置第一连接线103和开关信号线102，避免较多的第一连接点103和开关信号线102均设置于显示区10的左侧或者右侧，使得显示面板其中的一个侧边的边框较大，从而满足显示面板窄边框的需要。

图4为本公开实施例提供的显示面板中的开关晶体管的结构示意图，如图4所示，第二连接线104的部分复用为开关晶体管T的第一极，数据线Data的部分复用为开关晶体管T的第二极，开关信号线102的部分复用为开关晶体管T的栅极；第二连接线104与数据线Data之间通过半导体层105连接。

第二连接线104的部分可以用作开关晶体管T的源极，数据线Data的部分可以用作开关晶体管T的漏极，开关信号线102的部分可以用作开关晶体管T的栅极，当开关信号线102中输入高电平信号时，第二连接线104与数据线Data通过半导体层105导通，从而向与数据线Data连接的子像素提测试信号。在本公开实施例中可以不必单独设置开关晶体管T的各个膜层结构，从而可以减少制备工艺难度，节约制备成本。

在一些实施例中，如图2和图3所示，显示面板还包括：基底(图中未示出)、位于基底上且沿着背离基底方向依次绝缘设置的第一金属层和第二金属层；第一金属层和第二金属层均包括：第一连接线103。

第一连接线103可以采用第一金属层和第二金属层双层走线结构制成，第一金属层和第二金属层之间可以通过贯穿层间绝缘层的过孔连接，双层走线结构可以减少第一连接线103的电阻，以减小电阻对测试信号传输的影响，同时可以节约能耗。可以理解的是，第一连接线103还可以采用第一金属层或第二金属层的单层走线结构制成，在实际应用中，可以根据实际需要合理设置第一连接线103的结构。

在一些实施例中，如图2和图3所示，第一金属层还包括：测试信号传输线1012和开关信号线102；第二金属层还包括：测试信号引入线1011、第二连接线104和数据线Data。

测试信号线传输线1012可以采用第一金属层制成，测试信号引入线1011可以采用第二金属层制成，测试信号传输线1012可以通过测试信号引入线1011与第一连接线103连接，使得测试信号传输至测试信号传输线1012中，其中，测试信号引入线1011可以与第一连接线103直接连接，或者通过贯穿层间绝缘层的过孔连接。第二连接线104和数据线Data均采用第二金属层制成，开关信号线102采用第一金属层制成，可以使得第二连接线104的部分、数据线Data的部分和开关信号线102的部分可以分别用作开关晶体管T的源极、漏极和栅极，在保证连接的同时可以降低工艺难度，节约制备成本。

在一些实施例中，如图2和图3所示，显示面板还包括：设置于显示区10且与数据线Data交叉设置的栅线Gate；子像素位于栅线Gate与数据线Data交叉区域内；第一金属层还包括：栅线Gate。

在显示面板中，栅线Gate可以输入扫描信号，以控制各行子像素的开启与关闭，使得测试信号通过数据线Data输入至各个子像素中，从而实现对显示区10中的各行子像素的扫描。栅线Gate可以采用第一金属层制成，其可以与测试信号传输线1012、开关信号线102采用相同材料，通过同一工艺制成，以节约制备成本，并且减小显示面板的厚度。

在一些实施例中，如图2和图3所示，多条测试信号线101的测试信号传输线1012的线宽相同。

多条测试信号线101的测试信号传输线1012的线宽相同，可以保证节点N至测试信号传输线1012两端的电阻基本相同，这样，红色测试信号、绿色测试信号和蓝色测试信号传输在显示区10左右两侧的数据线Data上的电压幅值基本相同，因此可以避免由于红色测试信号、绿色测试信号和蓝色测试信号的电压幅值不同造成的黄蓝不均的现象，从而可以提高显示面板CT检测的精度，进而可以及时有效拦截不良的显示面板流入后端，以避免生产资材的浪费，节约制备成本。

在一些实施例中，在测试时，第一焊盘连接外接的测试信号端；在显示时，第一焊盘连接接地端。

在测试时，外接的测试信号端可以向第一焊盘提供测试信号，以向显示区10的子像素提供测试信号，实现显示面板的多彩显示，以完成对显示面板的CT检测。在显示时，第一焊盘可以连接接地端GND，可以避免对数据线Data中输入的数据信号造成干扰，从而提高显示效果。

在一些实施例中，在测试时，第二焊盘连接外接的开关信号端；在显示时，第二焊盘连接非工作电平信号端。

在测试时，外接的开关信号端可以向第二焊盘提供开关信号，以控制开关晶体管T的开启，以向显示区10的子像素提供测试信号，实现显示面板的多彩显示，完成对显示面板的CT检测。在显示时，第二焊盘可以连接非工作电平信号端，即低电平信号端VGL，可以使得开关晶体管T处于关闭状态，可以避免对数据线Data中输入的数据信号造成干扰，从而提高显示效果。

第二方面，本公开实施例提供了一种显示装置，该显示装置包括如上述任一实施例提供的显示面板，该显示装置可以为手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件，其实现原理及有益效果与上述提供的显示面板的实现原理及有益效果相同，在此不在赘述。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本公开的原理而采用的示例性实施方式，然而本公开并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本公开的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本公开的保护范围。

Claims (7)

1.一种显示面板，具有显示区及设置于所述显示区一侧的测试区，其特征在于，所述显示面板包括：设置于所述显示区的多个子像素和与所述子像素连接的多条数据线、及设置于所述测试区的多条测试信号线；所述测试信号线被配置为将测试信号输入至连接同一颜色子像素的数据线上；

每条所述测试信号线包括：测试信号引入线及与所述测试信号引入线连接的测试信号传输线；其中，所述测试信号传输线的延伸方向与所述数据线延伸方向相交，且所述测试信号传输线贯穿所述测试区；

所述测试信号引入线与所述测试信号传输线的连接点至所述测试信号传输线的两端的距离差值小于或等于预设值；

所述显示面板还具有与所述测试区相对设置的绑定区，所述显示面板还包括：设置于所述绑定区的多个第一焊盘、由所述绑定区延伸至所述测试区的多条第一连接线、设置于所述测试区的多条第二连接线、设置于所述测试区的开关晶体管、设置于所述绑定区的第二焊盘、及由所述绑定区延伸至测试区的开关信号线；

所述第一连接线的一端与所述第一焊盘连接，另一端与所述测试信号引入线连接；所述第二连接线的一端与所述测试信号传输线连接，另一端与所述数据线连接；所述开关晶体管的栅极与所述开关信号线的一端连接，第一极与所述第二连接线连接，第二极与所述数据线连接；所述开关信号线的一端与所述开关晶体管的栅极连接，另一端与所述第二焊盘连接；

所述显示面板还包括：基底、位于所述基底上且沿着背离所述基底方向依次绝缘设置的第一金属层和第二金属层；

所述第一金属层和第二金属层均包括：所述第一连接线；

所述第一金属层还包括：所述测试信号传输线和所述开关信号线；

所述第二金属层还包括：所述测试信号引入线、所述第二连接线和所述数据线。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二连接线的部分复用为所述开关晶体管的第一极，所述数据线的部分复用为所述开关晶体管的第二极，所述开关信号线的部分复用为所述开关晶体管的栅极；所述第二连接线与所述数据线之间通过半导体层连接。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：设置于所述显示区且与所述数据线交叉设置的栅线；所述子像素位于所述栅线与所述数据线交叉区域内；

所述第一金属层还包括：所述栅线。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多条测试信号线的所述测试信号传输线的线宽相同。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在测试时，所述第一焊盘连接外接的测试信号端；在显示时，所述第一焊盘连接接地端。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在测试时，所述第二焊盘连接外接的开关信号端；在显示时，所述第二焊盘连接非工作电平信号端。

7.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-6任一项所述的显示面板。

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