JP4302121B2 - 表示素子およびその検査方法 - Google Patents
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Description
6 画素
8 スイッチング素子としての薄膜トランジスタ
11 信号配線としてのゲート線
12 信号配線としての信号線
21 第1検査用スイッチング素子としての第1検査用薄膜トランジスタ
22 第2検査用スイッチング素子としての第2検査用薄膜トランジスタ
29 検査回路
Claims (4)
- 複数の画素と、
これら画素をそれぞれ駆動させる複数のスイッチング素子と、
これらスイッチング素子に信号を送信する複数の信号配線と、
これら信号配線に設けられ、これら信号配線を検査する検査回路とを具備し、
前記検査回路は、
前記信号配線の少なくともいずれかの一端側に設けられ、オン時に前記信号配線に検査信号を供給可能な第1検査用スイッチング素子と、
一の前記第1検査用スイッチング素子が接続された前記信号配線の他端側と、他の前記第1検査用スイッチング素子が接続された前記信号配線の他端側との間に接続され、オン時にこれら信号配線間を短絡させる第2検査用スイッチング素子とを備え、
一の前記第1検査用スイッチング素子および前記第2検査用スイッチング素子は、前記信号配線の断線を検査する際にそれぞれオンされ、
他の前記第1検査用スイッチング素子は、前記信号配線の断線を検査する際にオフされ、
前記各スイッチング素子は、前記信号配線の断線を検査する際にオンされて前記画素を順次駆動させる
ことを特徴とした表示素子。 - 一の前記第1検査用スイッチング素子は、前記信号配線の短絡を検査する際にオンされ、
他の前記第1検査用スイッチング素子および前記第2検査用スイッチング素子は、前記信号配線の短絡を検査する際にそれぞれオフされ、
前記スイッチング素子は、前記信号配線の短絡を検査する際にオンされて前記画素を順次駆動させる
ことを特徴とした請求項1記載の表示素子。 - 複数の画素と、これら画素をそれぞれ駆動させる複数のスイッチング素子と、これらスイッチング素子に信号を送信する複数の信号配線と、これら信号配線に設けられ、これら信号配線を検査する検査回路とを具備し、前記検査回路は、前記信号配線の少なくともいずれかの一端側に設けられ、オン時に前記信号配線に検査信号を供給可能な第1検査用スイッチング素子と、一の前記第1検査用スイッチング素子が接続された前記信号配線の他端側と、他の前記第1検査用スイッチング素子が接続された前記信号配線の他端側との間に接続され、オン時にこれら信号配線間を短絡させる第2検査用スイッチング素子とを備えた表示素子の検査方法であって、
一の前記第1検査用スイッチング素子および前記第2検査用スイッチング素子をそれぞれオンし、他の前記第1検査用スイッチング素子をオフして、前記信号配線に信号を供給した状態で、前記スイッチング素子により前記画素を順次駆動させることで前記信号配線の断線を検査する
ことを特徴とした表示素子の検査方法。 - 一の前記第1検査用スイッチング素子をオンし、他の前記第1検査用スイッチング素子および前記第2検査用スイッチング素子をそれぞれオフして、一の前記第1検査用スイッチング素子を介して前記信号配線に信号を供給した状態で、前記スイッチング素子により前記画素を順次駆動させることで前記信号配線の短絡を検査する
ことを特徴とした請求項3記載の表示素子の検査方法。
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