CN109559667A - 一种阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置，包括：衬底基板，位于衬底基板正面的阳极结构、晶体管和信号线，位于衬底基板反面的测试端子，以及位于衬底基板侧面的侧边连线；其中，测试端子通过侧边连线与信号线电连接，信号线包括数据线和栅线；晶体管的栅极与栅线电连接，源极与阳极结构电连接，漏极与数据线电连接。通过侧边连线实现了反面设置的测试端子与正面设置的阳极结构之间的电连接，使得阳极结构可接收测试端子加载的测试信号，从而可实现对阵列基板的测试。

Description

一种阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置。

背景技术

OLED、MicroLED或miniLED在EL蒸镀前或LED转印前进行阵列基板测试(Arraytest)，传统OLED array test采用LCD modulation(调制)方式，如图1所示，测试信号通过位于显示屏显示侧边框区域的测试端子(Test pad)输入到显示(AA)区，阳极电极与LCD的公共电极形成电压差，使得液晶偏转，光学检测系统(CCD)通过检测LCD显示屏的亮度，实现OLED像素电路信号的检测。然而，但现有机台仅可实现对阳极与Test pad同侧设置的阵列基板进行Array test，而无法针对阳极与Test pad异侧设置的阵列基板进行Array test。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置，用以实现对具有异面设置的阳极结构与测试端子的阵列基板的测试。

因此，本发明实施例提供的一种阵列基板，包括衬底基板，位于所述衬底基板正面的阳极结构、晶体管和信号线，位于所述衬底基板反面的测试端子，以及位于所述衬底基板侧面的侧边连线；其中，

所述测试端子通过所述侧边连线与所述信号线电连接，所述信号线包括数据线和栅线；

所述晶体管的栅极与所述栅线电连接，源极与所述阳极结构电连接，漏极与所述数据线电连接。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述阳极结构由第一子阳极和第二子阳极构成；其中，所述第一子阳极位于所述晶体管背离所述衬底基板的一侧，所述第二子阳极位于所述晶体管面向所述衬底基板的一侧。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述阳极结构由第一子阳极和第二子阳极构成；其中，所述第一子阳极位于所述晶体管背离所述衬底基板的一侧，所述第二子阳极与所述晶体管的栅极同层设置。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，还包括：位于所述晶体管的栅极所在层与源极所在层之间的电容电极；

所述阳极结构由第一子阳极和第二子阳极构成；其中，所述第一子阳极位于所述晶体管背离所述衬底基板的一侧，所述第二子阳极与所述电容电极同层设置。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，还包括：连接端子；

所述测试端子通过所述侧边连线与所述数据线电连接时，所述连接端子包括与所述第一子阳极同层设置的第一连接端子，且所述第一连接端子与所述侧边连线和所述数据线分别电连接；

所述测试端子通过所述侧边连线与所述栅线电连接时，所述连接端子包括与所述第一子阳极同层设置的第二连接端子，以及与所述数据线同层设置的第三连接端子；其中，所述第二连接端子与所述侧边连线和所述第三连接端子分别电连接，且所述第三连接端子还与所述栅线电连接。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，还包括：位于所述衬底基板的显示区的栅极驱动电路、发光控制电路和数据选择器，位于述衬底基板与所述测试端子所在层之间的导电层，以及位于所述导电层与所述测试端子所在层之间的绝缘层；其中，所述导电层包括驱动芯片引脚或覆晶薄膜引脚；

所述驱动芯片引脚或所述覆晶薄膜引脚依次通过所述测试端子、所述侧边连线与所述栅极驱动电路、所述发光控制电路和所述数据选择器电连接。

相应地，本发明实施例还提供了一种阵列基板的测试方法，包括：

根据阵列基板中阳极结构的位置，依次放置液晶面板及光学检测系统；其中，所述液晶面板包括由相对而置的上基板和下基板，位于所述上基板与所述下基板之间的液晶，以及位于所述下基板面向所述液晶一侧的反射型公共电极；

测试端子通过侧边连线对栅线加载控制信号，并对数据线加载测试信号，以在所述控制信号的控制下，使得晶体管对所述阳极结构提供所述测试信号；

所述光学检测系统在接收到所述液晶面板的反射光线时，确定所述阳极结构合格；在未接收到所述液晶面板的反射光线时，确定所述阳极结构不合格。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述测试方法中，所述阳极结构由第一子阳极和位于所述第一子阳极面向所述衬底基板一侧的第二子阳极构成；所述根据阵列基板中阳极结构的位置，依次放置液晶装置及光学检测系统，具体包括：

将阵列基板正面朝上放置，在阵列基板的上方依次放置液晶面板及光学检测系统，和/或，将阵列基板反面朝上放置，在阵列基板的上方依次放置液晶面板及光学检测系统。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括上述阵列基板。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述显示面板。

本发明有益效果如下：

本发明实施例提供的阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置，包括：衬底基板，位于衬底基板正面的阳极结构、晶体管和信号线，位于衬底基板反面的测试端子，以及位于衬底基板侧面的侧边连线；其中，测试端子通过侧边连线与信号线电连接，信号线包括数据线和栅线；晶体管的栅极与栅线电连接，源极与阳极结构电连接，漏极与数据线电连接。通过侧边连线实现了反面设置的测试端子与正面设置的阳极结构电连接，使得阳极结构可接收测试端子加载的测试信号，从而可实现对阵列基板的测试。

附图说明

图1为现有技术中阵列基板的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图之一；

图3为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图之二；

图4为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图之三；

图5为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图之四；

图6为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图之五；

图7为本发明实施例提供的阵列基板的正面结构示意图；

图8为本发明实施例提供的阵列基板的反面结构示意图；

图9为本发明实施例提供的阵列基板的测试方法的流程图；

图10为本发明实施例提供的对阵列基板进行正面测试的示意图；

图11为本发明实施例提供的对阵列基板进行反面测试的示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明实施例提供的阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置的具体实施方式进行详细的说明。需要说明的是本说明书所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例；并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合；此外，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

附图中各膜层的形状和大小不反映其在阵列基板中的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

本发明实施例提供的一种阵列基板，如图2至图8所示，包括衬底基板101，位于衬底基板101正面的阳极结构102、晶体管103和信号线104，位于衬底基板101反面的测试端子105，以及位于衬底基板101侧面的侧边连线106；其中，

测试端子105通过侧边连线106与信号线104电连接，信号线104包括栅线1041和数据线1042；具体地，测试端子105的材质可以为ITO；

晶体管103的栅极1031与栅线1041电连接，源极1032与阳极结构102电连接，漏极1033与数据线1042电连接。

在本发明实施例提供的上述阵列基板中，通过侧边连线106实现了反面设置的测试端子105与正面设置的阳极结构102电连接，使得阳极结构102可接收测试端子105加载的测试信号，从而可实现对阵列基板的测试。

在具体实施时，为实现对阵列基板的双面检测，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，阳极结构102由第一子阳极1021和第二子阳极1022构成；在实际应用时，第一子阳极1021的材质可以为ITO，第二子阳极1022的材质可以为金属；其中，第一子阳极1021位于晶体管103背离衬底基板101的一侧，第二子阳极1022具有以下三种可能的实现方式：其一，如图2和图5所示，第二子阳极1022位于晶体管103面向衬底基板101的一侧；其二，如图3所示，第二子阳极1022与晶体管103的栅极1031同层设置；其三，如图4所示，第二子阳极1022与电容电极107同层设置，具体地电容电极107位于晶体管103的栅极1031所在层与源漏极1033所在层之间。如此，则可采用第一子阳极1021实现对阵列基板的正面检测，采用第二子阳极1022实现对阵列基板的反面检测。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，为实现测试端子105通过侧边连线106与信号线104之间的电连接，如图2至图6所示，还包括：连接端子108；

具体地，测试端子105通过侧边连线106与数据线1042电连接时，连接端子108包括与第一子阳极1021同层设置的第一连接端子1081，且第一连接端子1081与侧边连线106和数据线1042分别电连接；

测试端子105通过侧边连线106与栅线1041电连接时，连接端子108包括与第一子阳极1021同层设置的第二连接端子1082，以及与数据线1042同层设置的第三连接端子1083；其中，第二连接端子1082与侧边连线106和第三连接端子1083分别电连接，且第三连接端子1083还与栅线1041电连接。

值得注意的是，在第二子阳极1022为单独设置的一层时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图2和图5所示，一般还包括有源层1034，位于有源层1034与第二子阳极1022所在层之间的第一栅绝缘层111，位于有源层1034与栅极1031所在层之间的第二栅绝缘层112，位于栅极1031所在层与源极1032、漏极1033所在层之间的第一层间介电层113，以及位于源极1032、漏极1033所在层与第一子阳极1021所在层之间的平坦层114。

在第二子阳极1022与栅极1031同层设置时，如图3所示，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，一般还包括位于有源层1034与栅极1031所在层之间的第二栅绝缘层112，位于栅极1031所在层与源极1032、漏极1033所在层之间的第一层间介电层113，以及位于源极1032、漏极1033所在层与第一子阳极1021所在层之间的平坦层114。

在第二子阳极1022与电容电极107同层设置时，如图4所示，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，一般还包括位于有源层1034与栅极1031所在层之间的第二栅绝缘层112，位于栅极1031所在层与第二子阳极1022所在层之间的第三绝缘层115，位于第二子阳极1022所在层与源极1032、漏极1033所在层之间的第二层间介电层116，以及位于源极1032、漏极1033所在层与第一子阳极1021所在层之间的平坦层114。

在具体实施时，为了实现无边框设计，本发明提出了一种GIA双面工艺，具体地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图2至图8所示，还包括：位于衬底基板101的显示区AA的栅极驱动电路GOA、发光控制电路EOA和数据选择器MUX，位于衬底基板101与测试端子105所在层之间的导电层109，以及位于导电层109与测试端子105所在层之间的绝缘层110；其中，导电层109包括驱动芯片引脚或覆晶薄膜引脚；具体地，导电层109的材质可以为金属；

驱动芯片引脚或覆晶薄膜引脚依次通过测试端子105、侧边连线106与栅极驱动电路GOA、发光控制电路EOA和数据选择器MUX电连接。

需要说明的是，在对上述阵列基板进行检测合格后还需要将驱动芯片(IC)或覆晶薄膜(COF)117绑定于衬底基板101的反面，同时，将扇出引线(Fanout)118设置也衬底基板101的反面。

值得注意的是，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，在实现阵列基板无边框设计的过程中，阵列基板中包括阳极结构、晶体管、电容等的像素驱动电路设计于阵列基板的正面；驱动芯片或覆晶薄膜、扇出引线设计于阵列基板背面；通过双层阳极结构设计，即第一子阳极与第二子阳极，不仅可以在侧边连线后通过第一子阳极实现对阵列基板的正面测试，并通过第二子阳极实现对阵列基板的反面测试；还可使得阵列基板正面像素驱动电路工艺完成后，通过第一子阳极进行正面驱动电路的测试，进而在反面工艺及侧边连线工艺完成后，通过第二子阳极进行反面线路、侧边连线、正面驱动电路的整体检测，从而实现对阵列基板的全面测试。

具体地，在设置侧边连线前，可通过在包括多个阵列基板的母板上设置与阳极结构同侧的测试端子，并采用现有技术对阵列基板进行测试，其中，测试端子可设置在母板上相邻阵列基板的间隙处。如此，若对阵列基板进行测试合格，则可将母板切割为多个阵列基板后，再对阵列基板进行侧边连线的设置；若对阵列基板进行测试不合格后，无需再设置侧边连线，从而提高了侧边连线利用率，节省了生产成本。

相应地，本发明实施例还提供了一种阵列基板的测试方法，如图9所示，具体可以包括以下步骤：

S901、根据阵列基板中阳极结构的位置，依次放置液晶面板901及光学检测系统902；其中，液晶面板901包括由相对而置的上基板9011、下基板9012、位于上基板9011与下基板9012之间的液晶9013，以及位于下基板9012面向液晶9013一侧的反射型公共电极9014，如图10和图11所示；

S902、测试端子通过侧边连线对栅线加载控制信号，并对数据线加载测试信号，以在所述控制信号的控制下，使得晶体管对阳极结构提供测试信号；

S903、光学检测系统在接收到液晶面板的反射光线时，确定阳极结构合格；在未接收到液晶面板的反射光线时，确定阳极结构不合格。

值得注意的是，一般地，光学检测系统为液晶面板提供入射光线，若阳极结构合格，阳极结构的测试信号与液晶面板的公共电极之间形成电场，则会驱动液晶发生偏转，使得入射光线经反射型公共电极反射出液晶面板，并由光学检测系统接收；若阳极结构不合格，阳极结构的测试信号与液晶面板的公共电极之间不会形成电场，液晶不发生偏转，从而导致光学检测系统不会接收到反射光线。且在实际工作过程中，光学检测系统会对阵列基板上的阳极结构一一进行检测是否合格，并在检测到超过一定比例(例如99.5％)的阳极结构均合格时，断定阵列基板合格，否则，断定阵列基板不良。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述测试方法中，阳极结构由第一子阳极和位于第一子阳极面向衬底基板一侧的第二子阳极构成时；步骤S901根据阵列基板中阳极结构的位置，依次放置液晶装置及光学检测系统，具体可以包括：

将阵列基板正面朝上放置，在阵列基板的上方依次放置液晶面板及光学检测系统，和/或，将阵列基板反面朝上放置，在阵列基板的上方依次放置液晶面板及光学检测系统。

图10和图11示出了采用本发明实施例提供的测试方法进行检测的示意图。具体地，在图10中，阵列基板反面朝上，阵列基板的上方依次放置有液晶面板901及光学检测系统902。测试端子105经侧边连线106向栅线1041加载控制信号，并经侧边连线106向数据线1042加载测试信号，使得晶体管103在控制信号的作用下导通，测试信号经导通的晶体管103提供给第一子阳极1021和第二子阳极1022。若阳极结构合格，第二子阳极1022与阵列基板上方的液晶面板901中的公共电极9014之间会形成电场，驱动液晶9013偏转，使得光学检测系统902可检测到液晶面板901的反射光线；若阳极结构不合格，第二子阳极1022与阵列基板上方的液晶装置中的公共电极9014之间不会形成电场，液晶9013不会偏转，导致光学检测系统902不会检测到液晶面板901有光线出射；如此实现对阵列基板的反面检测。

在图11中，阵列基板正面朝上，阵列基板的上方依次放置有液晶面板901及光学检测系统902。测试端子105经侧边连线106向栅线1041加载控制信号，并经侧边连线106向数据线1042加载测试信号，使得晶体管103在控制信号的作用下导通，测试信号经导通的晶体管103提供给第一子阳极1021和第二子阳极1022。若阳极结构合格，第一子阳极1021与阵列基板上方的液晶面板901中的公共电极9014之间会形成电场，驱动液晶9013偏转，使得光学检测系统902可检测到液晶面板901的反射光线；若阳极结构不合格，第一子阳极1021与阵列基板上方的液晶面板中的公共电极9014之间不会形成电场，液晶9013不会偏转，导致光学检测系统902不会检测到液晶面板901有光线出射；如此实现对阵列基板的正面检测。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括本发明实施例提供的上述阵列基板，该显示面板可以为：有机电致发光(OLED)显示面板、微发光二极管(Micro LED)显示面板或迷你发光二极管(mini LED)显示面板。对于显示面板的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解有机具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。该显示面板的实施可以参见上述阵列基板的实施例，重复之处不再赘述。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述显示面板，该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相机、导航仪、智能手表、健身腕带、个人数字助理、自助存/取款机等任何具有显示功能的产品或部件。对于显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施例，重复之处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括衬底基板，位于所述衬底基板正面的阳极结构、晶体管和信号线，位于所述衬底基板反面的测试端子，以及位于所述衬底基板侧面的侧边连线；其中，

所述测试端子通过所述侧边连线与所述信号线电连接，所述信号线包括数据线和栅线；

所述晶体管的栅极与所述栅线电连接，源极与所述阳极结构电连接，漏极与所述数据线电连接。

2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阳极结构由第一子阳极和第二子阳极构成；其中，所述第一子阳极位于所述晶体管背离所述衬底基板的一侧，所述第二子阳极位于所述晶体管面向所述衬底基板的一侧。

3.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阳极结构由第一子阳极和第二子阳极构成；其中，所述第一子阳极位于所述晶体管背离所述衬底基板的一侧，所述第二子阳极与所述晶体管的栅极同层设置。

4.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括：位于所述晶体管的栅极所在层与源极所在层之间的电容电极；

所述阳极结构由第一子阳极和第二子阳极构成；其中，所述第一子阳极位于所述晶体管背离所述衬底基板的一侧，所述第二子阳极与所述电容电极同层设置。

5.如权利要求2-4任一项所述的阵列基板，其特征在于，还包括：连接端子；

所述测试端子通过所述侧边连线与所述数据线电连接时，所述连接端子包括与所述第一子阳极同层设置的第一连接端子，且所述第一连接端子与所述侧边连线和所述数据线分别电连接；

所述测试端子通过所述侧边连线与所述栅线电连接时，所述连接端子包括与所述第一子阳极同层设置的第二连接端子，以及与所述数据线同层设置的第三连接端子；其中，所述第二连接端子与所述侧边连线和所述第三连接端子分别电连接，且所述第三连接端子还与所述栅线电连接。

6.如权利要求1-4任一项所述的阵列基板，其特征在于，还包括：位于所述衬底基板的显示区的栅极驱动电路、发光控制电路和数据选择器，位于述衬底基板与所述测试端子所在层之间的导电层，以及位于所述导电层与所述测试端子所在层之间的绝缘层；其中，所述导电层包括驱动芯片引脚或覆晶薄膜引脚；

所述驱动芯片引脚或所述覆晶薄膜引脚依次通过所述测试端子、所述侧边连线与所述栅极驱动电路、所述发光控制电路和所述数据选择器电连接。

7.一种阵列基板的测试方法，其特征在于，包括：

根据阵列基板中阳极结构的位置，依次放置液晶面板及光学检测系统；其中，所述液晶面板包括由相对而置的上基板和下基板，位于所述上基板与所述下基板之间的液晶，以及位于所述下基板面向所述液晶一侧的反射型公共电极；

测试端子通过侧边连线对栅线加载控制信号，并对数据线加载测试信号，以在所述控制信号的控制下，使得晶体管对所述阳极结构提供所述测试信号；

所述光学检测系统在接收到所述液晶面板的反射光线时，确定所述阳极结构合格；在未接收到所述液晶面板的反射光线时，确定所述阳极结构不合格。

8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述阳极结构由第一子阳极和位于所述第一子阳极面向所述衬底基板一侧的第二子阳极构成；所述根据阵列基板中阳极结构的位置，依次放置液晶装置及光学检测系统，具体包括：

将阵列基板正面朝上放置，在阵列基板的上方依次放置液晶面板及光学检测系统，和/或，将阵列基板反面朝上放置，在阵列基板的上方依次放置液晶面板及光学检测系统。

9.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-6任一项所述的阵列基板。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求9所述的显示面板。