CN105355163B - Gip信号检测电路、gip信号检测方法和平板显示装置 - Google Patents

Gip信号检测电路、gip信号检测方法和平板显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种GIP信号检测电路、GIP信号检测方法和平板显示装置，其中，所述GIP信号检测电路包括：一信号测试走线、一时钟信号线、第一薄膜晶体管和多个第二薄膜晶体管；所述第一薄膜晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试走线之间，其栅极与所述信号测试走线连接；所述信号测试走线通过所述多个第二薄膜晶体管分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。在本发明提供的GIP信号检测电路、GIP信号检测方法和平板显示装置中，采用新型的GIP信号检测电路，只需要一条信号测试走线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得所述平板显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性。

Description

GIP信号检测电路、GIP信号检测方法和平板显示装置
技术领域
本发明涉及平板显示技术领域，特别涉及一种GIP信号检测电路、GIP信号检测方法和平板显示装置。
背景技术
近年来，随着信息技术、无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用，人们对电子产品的依赖性与日俱增，更带来各种显示技术及显示装置的蓬勃发展。平板显示装置具有完全平面化、轻、薄、省电等特点，因此得到了广泛的应用。
目前，为了降低平板显示装置的制造成本并藉以实现窄边框的目的，在制造过程中通常采用GIP(Gate in Panel，门面板)技术，直接将栅极驱动电路(即GIP电路)集成于平板显示面板上。平板显示面板通常包括用于显示图像的显示区域和围绕显示区域的非显示区域，所述栅极驱动电路一般设置于非显示区域中。
请参考图1，其为现有技术的平板显示面板的部分结构示意图。如图1所示，现有的平板显示面板100包括有多个呈矩阵排布的像素(图中未示出)、多条扫描线(S1至Sn)和栅极驱动电路(图中未示出)，所述栅极驱动电路用于产生多级GIP信号，第1级GIP信号提供给第1行像素的扫描线，第2级GIP信号提供给第2行像素的扫描线，如此类推，第n级GIP信号提供给第n行像素的扫描线。
其中，所述平板显示面板100的多个像素都是根据扫描线提供的GIP信号进行选通的，各级GIP信号正常与否都会直接影响平板显示面板的显示效果。一旦某一级GIP信号出现异常，就无法选通对应的像素，所述平板显示面板100就会出现屏体不工作、屏体某一行显示异常或者屏体前一部分图片显示正常而后一部分图片显示异常这些异常情况。因此，对栅极驱动电路输出的各级GIP信号进行检测是非常必要的。如果没有对栅极驱动电路输出的GIP信号进行检测，很难判定是不是栅极驱动电路的问题。
目前，业内通常将GIP电路的输出连接至一柔性电路板(FPC)上，通过柔性电路板(FPC)监控其输出的GIP信号。但是，如果采用这种方法来监控每一级GIP信号，则需要通过多条走线将每一级输出都连接至FPC处，这会增加边框尺寸和FPC长度，对产品外观造成不利影响，无法满足客户需求。因此，现有的平板显示装置只将第一级和最后一级(第n级)的GIP信号引至柔性线路板(FPC)进行测试，其余各级GIP信号均无法进行测试。因此，即使其余各级GIP信号出现异常，也无法进行确认。
基于此，如何解决现有的平板显示装置无法在不增加走线的情况下对每一级GIP信号进行测试的问题，成了本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种GIP信号检测电路、GIP信号检测方法和平板显示装置，以解决现有技术中平板显示装置无法在不增加走线的情况下对每一级GIP信号进行测试的问题。
为解决上述问题，本发明提供一种GIP信号检测电路，所述GIP信号检测电路包括：一信号测试走线、一时钟信号线、第一薄膜晶体管和多个第二薄膜晶体管；所述第一薄膜晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试走线之间，其栅极与所述信号测试走线连接；所述信号测试走线通过所述多个第二薄膜晶体管分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。
可选的，在所述的GIP信号检测电路中，所述第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管。
相应的，本发明还提供了一种利用如上所述的GIP信号检测电路进行GIP信号检测的方法，所述GIP信号检测方法包括：
向所述GIP信号检测电路提供时钟信号和多级GIP信号；以及
通过所述GIP信号检测电路输出所述多级GIP信号的测试信号。
可选的，在所述的GIP信号检测方法中，每一级GIP信号的上升沿和下降沿均与所述时钟信号的上升沿和下降沿对应。
可选的，在所述的GIP信号检测方法中，所述测试信号的上升沿和下降沿均与所述时钟信号的上升沿和下降沿对应。
相应的，本发明还提供了一种平板显示装置，所述平板显示装置包括：GIP电路、多条扫描线以及如上所述的GIP信号检测电路；
所述GIP电路通过所述多条扫描线与所述GIP信号检测电路连接，用于向所述GIP信号检测电路提供多级GIP信号，所述GIP信号检测电路根据所述多级GIP信号输出测试信号。
可选的，在所述的平板显示装置中，还包括多个呈矩阵排布的像素，所述像素设置于所述平板显示装置的显示区域。
可选的，在所述的平板显示装置中，所述多级GIP信号的每一级GIP信号用于选通一行像素。
可选的，在所述的平板显示装置中，所述GIP电路和GIP信号检测电路均设置于所述平板显示装置的非显示区域。
可选的，在所述的平板显示装置中，所述平板显示装置为有机发光显示器、液晶显示装置、等离子体显示装置、真空荧光显示装置、或柔性显示装置。
综上所述，在本发明提供的GIP信号检测电路、GIP信号检测方法和平板显示装置中，采用新型的GIP信号检测电路，只需要一条信号测试走线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得所述平板显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性。
附图说明
图1是现有技术的平板显示面板的部分结构示意图；
图2是本发明实施例的GIP信号检测电路的结构示意图；
图3是本发明实施例的多级GIP信号、时钟信号以及测试信号的波形图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出一种GIP信号检测电路、GIP信号检测方法和平板显示装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
请参考图2，其为本发明实施例的GIP信号检测电路的结构示意图。如图2所示，所述GIP信号检测电路20包括：一信号测试走线Test Line、一时钟信号线CK、第一薄膜晶体管T_ck和多个第二薄膜晶体管(T1至Tn)；所述第一薄膜晶体管T_ck连接在所述时钟信号线CK与信号测试走线Test Line之间，其栅极与所述信号测试走线Test Line连接；所述信号测试走线Test Line通过所述多个第二薄膜晶体管(T1至Tn)分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。
具体的，所述多个第二薄膜晶体管(T1至Tn)的第一电极均与所述信号测试走线Test Line连接，每个第二薄膜晶体管(T1至Tn)的第二电极和栅极均与一扫描线连接。如图2所示，第一扫描线S1与所述第二薄膜晶体管T1的第二电极和栅极连接，用于向所述第二薄膜晶体管T1的第二电极和栅极提供第一级GIP信号；第二扫描线S2与第二薄膜晶体管T2的第二电极和栅极连接，用于向所述第二薄膜晶体管T2的第二电极和栅极提供第二级GIP信号；以此类推，所述第n扫描线Sn与第二薄膜晶体管Tn的第二电极和栅极连接，用于向所述第二薄膜晶体管Tn的第二电极和栅极提供第n级GIP信号。这里，第一电极和第二电极是不同的电极。例如，当第一电极被设置为源极时，第二电极被设置为漏极。
由此，所述信号测试走线Test Line通过所述多个第二薄膜晶体管(T1至Tn)分别接收所述第一扫描线S1至第n扫描线Sn提供的多级GIP信号，所述多级GIP信号即为屏体的扫描信号。
本实施例中，所述GIP信号检测电路通过多个第二薄膜晶体管(T1至Tn)接收多级GIP信号，并根据每一级GIP信号形成测试信号，所述测试信号通过所述信号测试走线TestLine输出。通过采集所述GIP信号检测电路中信号测试走线Test Line所输出的测试信号能够监控每一级GIP信号。
相应的，本发明还提供一种利用如上所述的GIP信号检测电路进行GIP信号检测方法。请参考图3，其为本发明实施例的多级GIP信号、时钟信号以及测试信号的波形图。如图3所示，所述GIP信号检测方法包括：
步骤一：向所述GIP信号检测电路20提供时钟信号和多级GIP信号；
步骤二：通过所述GIP信号检测电路20输出所述多级GIP信号的测试信号。
具体的，首先，向所述GIP信号检测电路提供时钟信号和多级GIP信号，所述多级GIP信号中每一级GIP信号的上升沿和下降沿均与所述时钟信号的上升沿和下降沿对应。
如图3所示，当所述第一扫描线S1提供的第一级GIP信号为低电平时，所述第二扫描线S2至第n扫描线Sn提供的GIP信号均为高电平，由于所述时钟信号线CK提供的时钟信号也为低电平，因此与所述第一扫描线S1连接的第二薄膜晶体管T1打开，其它第二薄膜晶体管(T2至Tn)均关闭，所以此时所述信号测试走线Test Line输出的测试信号显示为低电平；当所述第一扫描线S1提供的第一级GIP信号跳到高电平，所述第二扫描线S2提供的第二GIP信号尚未跳至低电平时，所述时钟信号线CK提供的时钟信号为高电平，因此所述第一薄膜晶体管T_ck打开，所述第二薄膜晶体管(T1至Tn)均关闭，所以此时所述信号测试走线TestLine输出的测试信号恢复至高电平；
同理，当所述第二扫描线S2提供的第二GIP信号为低电平时，与所述第二扫描线S2连接的第二薄膜晶体管T2打开，其他第二薄膜晶体管(T1、T3至Tn)均关闭，此时所述信号测试走线Test Line输出的测试信号显示为低电平，而当所述第二扫描线S2提供的第二级GIP信号恢复到高电平，由于所述时钟信号线CK提供的时钟信号也恢复到高电平，所述第一薄膜晶体管T_ck打开，因此所述信号测试走线Test Line输出的测试信号恢复至高电平。
以此类推，当所述第n扫描线Sn提供的第n级GIP信号为低电平时，与所述第n扫描线Sn连接的第二薄膜晶体管Tn打开，其他第二薄膜晶体管(T1至Tn-1)均关闭，此时所述信号测试走线Test Line输出的测试信号显示为低电平，而当所述第n扫描线Sn提供的第n级GIP信号恢复到高电平，由于所述时钟信号线CK提供的时钟信号也恢复到高电平，所述第一薄膜晶体管T_ck打开，因此所述信号测试走线Test Line输出的测试信号恢复至高电平。
每一级GIP信号均正常时，通过所述信号测试走线Test Line输出的测试信号如图3所示，所述测试信号的上升沿和下降沿与每一级GIP信号的上升沿和下降沿对应，即所述测试信号的上升沿和下降沿均与所述时钟信号的上升沿和下降沿对应。因此，通过采集所述信号测试走线Test Line输出的测试信号能够监控每一级GIP信号。若某一级GIP信号出现异常，所述信号测试走线Test Line输出的测试信号就会出现不同于图3所示的异常波形。
相应的，本发明还提供一种平板显示装置。请继续参考图2，所述平板显示装置包括：GIP电路(图中未示出)、多条扫描线(S1至Sn)和如上所述的GIP信号检测电路20；所述GIP电路通过所述多条扫描线(S1至Sn)与所述GIP信号检测电路20连接，用于向所述GIP信号检测电路20提供多级GIP信号，所述GIP信号检测电路20根据所述多级GIP信号输出测试信号。
具体的，所述平板显示装置包括显示区域和围绕于所述显示区域的非显示区域(图中未示出)，所述显示区域中设置有多个呈矩阵排布的像素(图中未示出)，所述GIP电路和GIP信号检测电路20通常设置于所述平板显示装置的非显示区域中。其中，所述GIP电路通过所述多条扫描线(S1至Sn)分别提供多级GIP信号，所述多级GIP信号的每一级GIP信号用于选通一行像素。所述GIP信号检测电路20的多个第二薄膜晶体(T1至Tn)与所述多条扫描线(S1至Sn)一一对应并相互连接，所述GIP信号检测电路20的信号测试走线Test Line通过所述多个第二薄膜晶体(T1至Tn)分别接收所述多级GIP信号，并根据每一级GIP信号输出测试信号。
传统的平板显示装置只将第一级和最后一级(第n级)的GIP信号引至柔性线路板(FPC)进行测试，不但需要两条走线，而且除了第一级和最后一级之外的其余各级GIP信号均无法进行测试，因此无法确保其GIP电路的可靠性。而本实施例提供的平板显示装置中，通过一条信号测试走线Test Line就能够检测GIP电路输出的每一级GIP信号。因此，具有所述GIP信号检测电路20的平板显示装置能够确保其GIP电路的可靠性。
其中，所述平板显示装置可以是液晶显示(LCD)装置、等离子体显示(PDP)装置、真空荧光显示(VFD)装置、有机发光显示(OLED)装置、柔性显示装置或者其他类型的显示装置，具体类型在此不作限制。
综上，在本发明实施例提供的GIP信号检测电路、GIP信号检测方法和平板显示装置中，采用新型的GIP信号检测电路，只需要一条信号测试走线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得所述平板显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性。
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。

Claims (8)

1.一种GIP信号检测电路，其特征在于，包括：一信号测试走线、一时钟信号线、第一薄膜晶体管和多个第二薄膜晶体管；所述第一薄膜晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试走线之间，其栅极与所述信号测试走线连接；所述信号测试走线通过所述多个第二薄膜晶体管分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号；
其中，每一级GIP信号的上升沿和下降沿均与所述时钟信号的上升沿和下降沿对应；
所述测试信号的上升沿和下降沿均与所述时钟信号的上升沿和下降沿对应。
2.如权利要求1所述的GIP信号检测电路，其特征在于，所述第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管。
3.一种利用如权利要求1或2所述的GIP信号检测电路进行GIP信号检测方法，其特征在于，包括：
向所述GIP信号检测电路提供时钟信号和多级GIP信号；以及
通过所述GIP信号检测电路输出所述多级GIP信号的测试信号。
4.一种平板显示装置，其特征在于，包括：GIP电路、多条扫描线以及如权利要求1或2所述的GIP信号检测电路；
所述GIP电路通过所述多条扫描线与所述GIP信号检测电路连接，用于向所述GIP信号检测电路提供多级GIP信号，所述GIP信号检测电路根据所述多级GIP信号输出测试信号。
5.如权利要求4所述的平板显示装置，其特征在于，还包括多个呈矩阵排布的像素，所述像素设置于所述平板显示装置的显示区域。
6.如权利要求4所述的平板显示装置，其特征在于，所述多级GIP信号的每一级GIP信号用于选通一行像素。
7.如权利要求4所述的平板显示装置，其特征在于，所述GIP电路和GIP信号检测电路均设置于所述平板显示装置的非显示区域。
8.如权利要求4所述的平板显示装置，其特征在于，所述平板显示装置为有机发光显示器、液晶显示装置、等离子体显示装置、真空荧光显示装置、或柔性显示装置。
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