KR100586790B1 - 발광셀 누설전류 검출방법과 이를 이용한 발광셀 어레이검사방법 및 장치 - Google Patents

발광셀 누설전류 검출방법과 이를 이용한 발광셀 어레이검사방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

발광셀 누설전류 검출방법과 이를 이용한 발광셀 어레이 검사방법 및 장치가 개시된다. 암실내에 배치되며, 매트릭스 구조의 복수개의 발광소자로 이루어지는 복수개의 발광셀이 배치된 발광셀 어레이를 검사하기 위한 방법은, (a) 일반 카메라를 이용하여 상기 발광셀 어레이를 촬상하여 얻어지는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 발광셀을 검출하고, 누설전류가 발생된 단위 발광셀에 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단하는 제1 검사모드를 수행하는 단계, (b) 고감도 카메라를 이용하여 상기 발광셀 어레이를 촬상하여 얻어지는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 발광셀을 검출하는 제2 검사모드를 수행하는 단계, 및 (c) 상기 (a) 단계 및 (b) 단계에 의해 검출되는 각 발광셀의 최대발광량으로부터 각 발광셀의 정상 혹은 불량을 판정하는 단계로 이루어진다. 이에 따르면, 양극라인 단위로 누설전류가 검출됨으로써 정확도를 높일 수 있을 뿐 아니라, 한번에 어레이의 모든 발광셀에 대하여 누설전류 발생여부를 검사할 수 있다.

Description

발광셀 누설전류 검출방법과 이를 이용한 발광셀 어레이 검사방법 및 장치 {Apparatus for detecting leakage current of light emitting cell and method and method and apparatus for checking light emitting cell array employing the same}
도 1은 본 발명에 따른 발광셀 어레이 검사장치의 일실시예의 구성을 나타낸 블럭도,
도 2는 도 1에 도시된 발광셀 어레이의 일예를 나타낸 도면,
도 3은 도 2에 도시된 발광셀의 세부 구조 및 검출전압 인가방법을 설명하는 도면,
도 4는 도 1에 있어서 전원공급부의 세부적인 구성을 나타낸 블록도,
도 5는 본 발명에 따른 발광셀 어레이 검사방법을 설명하는 흐름도,
도 6은 도 5에 있어서 51 단계의 세부적인 흐름도, 및
도 7은 도 5에 있어서 53 단계의 세부적인 흐름도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
11 ... 유기발광셀 어레이 12 ... 전원공급부
13,14 ... 촬상부 15,16 ... 화상신호처리부
17 ... 제어부 18 ... 디스플레이부
21 ... 단위 발광셀 41 ... 가변전압 발생부
42,43 ... 검출전압 발생부 44 ... 스위칭부
본 발명은 발광소자의 전극간 누설전류 검출에 관한 것으로서, 특히 매트릭스 구조의 복수개의 발광소자들로 구성되는 발광셀에 있어서 발광소자의 전극간 누설전류를 양극라인 단위로 검출하고, 한번의 검사과정으로 어레이에 존재하는 모든 발광셀의 불량 여부를 검사하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
매트릭스 구조의 복수개의 발광소자로 이루어지는 평판 디스플레이에 있어서 발광소자의 음극과 양극 간의 누설전류는 이물질이나 공정상의 미세 단락으로 인하여 발생한다.
종래에는 발광소자의 전극간 누설전류를 검사하기 위하여 통상 최종 완제품 상태에서 한 개 단위로 전압을 인가하여 불량 여부를 검사하였다. 즉, 발광소자의 음극과 양극에 정상전압을 인가하고, 발광소자가 발광하지 않는 조건에서 누설전류로 인하여 발광하는 부분을 인가전압을 가변시켜가면서 암실에서 검사자가 직접 육안으로 관찰하였다. 그 결과, 최종 제품에 대하여 검사가 이루어지기 때문에 불량 판정시 자재손실율이 높아질 뿐 아니라 늦은 검사속도로 인하여 생산성이 낮아지는 문제점이 있었다. 또한, 미세 누설전류에 대해서 암실에서 검사자가 직접 육안으로 검사하기 때문에 장시간 검사시 검사 효율이 저하되는 문제점이 있었다. 또한, 암실을 제거한 상태에서 완제품을 세팅되고, 암실 상태에서 검사가 이루어지기 때문에 매 완제품 검사시마다 검사자는 밝은 곳에서 어두운 곳으로 반복하여 시야를 적응시켜야 하므로 눈의 피로도를 가중시키게 되고, 이에 따라 검사의 정확도가 낮아지는 문제점이 있었다. 또한, 미세 누설전류 발생시 발광되는 정도가 아주 미미하므로 검사자에 따라 누설전류를 검출하는 산포가 크게 발생하게 되는 문제점이 잇었다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 매트릭스 구조의 복수개의 발광소자들로 구성되는 단위 발광셀에 있어서 발광소자의 전극간 누설전류를 양극라인 단위로 검출하기 위한 방법을 제공하는데 있다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 한번의 검사과정으로 어레이에 존재하는 모든 발광셀의 불량 여부를 검사하기 위한 방법 및 장치를 제공하는데 있다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명은 매트릭스 구조의 복수개의 발광소자로 이루어지는 발광셀의 누설전류를 검출하기 위한 방법에 있어서, (a) 상기 발광소자들의 음극을 홀수번째 음극군과 짝수번째 음극군으로 분리하는 단계; 및 (b) 상기 홀수번째 음극군에 제1 검출전압을 인가하고, 상기 짝수번째 음극군에 제2 검출전압을 인가하는 단계; 및 (c) 상기 발광셀의 양극라인 단위로 누설전류를 검출하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명은 암실내에 배치되며, 매 트릭스 구조의 복수개의 발광소자로 이루어지는 복수개의 발광셀이 배치된 발광셀 어레이를 검사하기 위한 방법에 있어서, (a) 일반 카메라를 이용하여 상기 발광셀 어레이를 촬상하여 얻어지는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 발광셀을 검출하고, 누설전류가 발생된 단위 발광셀에 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단하는 제1 검사모드를 수행하는 단계; (b) 고감도 카메라를 이용하여 상기 발광셀 어레이를 촬상하여 얻어지는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 발광셀을 검출하는 제2 검사모드를 수행하는 단계; 및 (c) 상기 (a) 단계 및 (b) 단계에 의해 검출되는 각 발광셀의 최대발광량으로부터 각 발광셀의 정상 혹은 불량을 판정하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 따른 발광셀 어레이 검사장치는 매트릭스 구조의 복수개의 발광소자로 이루어지는 복수개의 발광셀이 배치되며, 상기 각 발광셀에 대하여 발광소자들의 음극을 홀수번째 음극군과 짝수번째 음극군으로 분리시킨 발광셀 어레이; 상기 각 발광셀의 홀수번째 음극군과 짝수번째 음극군에 제1 및 제2 검출전압을 인가하기 위한 전원공급부; 일반적인 흑백 카메라로 이루어지며, 상기 발광셀 어레이를 촬상하는 제1 촬상부; 상기 제1 촬상부로부터 제공되는 화상신호를 디지털 화상데이터로 변환하는 제1 화상신호처리부; 고감도 카메라로 이루어지며, 상기 발광셀 어레이를 촬상하는 제2 촬상부; 상기 제1 촬상부로부터 제공되는 화상신호를 디지털 화상데이터로 변환하는 제1 화상신호처리부; 상기 제1 화상신호처리부의 화상데이터를 이용한 제1 검사모드와 상기 제2 화상신호처리부의 화상데이터를 이용한 제2 검사모드를 순차적으로 수행 하고, 제1 및 제2 검사모드를 수행한 결과 누설전류가 검출된 각 발광셀의 최대발광량을 이용하여 각 발광셀의 불량여부를 판정하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기의 과제들을 이루기 위하여 본 발명에서는, 상기 발광셀의 누설전류 검출방법 및 발광셀 어레이 검사방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공한다.
이어서, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 발광셀 어레이 검사장치의 일실시예의 구성을 나타낸 블록도로서, 발광셀 어레이(11), 전원공급부(12), 제1 및 제2 촬상부(13,14), 제1 및 제2 화상신호처리부(15,16), 제어부(17) 및 디스플레이부(18)로 이루어진다.
도 1을 참조하면, 발광셀 어레이(11)는 도 2에 도시된 바와 같이 복수개의 단위 발광셀(21)로 이루어지며, 공정 및 적용되는 제품의 종류에 따라서 13×13 구조로 169개의 발광셀이 존재하거나, 또는 7×8 구조로 56개의 발광셀이 존재할 수 있다. 단위 발광셀(21)은 매트릭스 구조로 이루어지는 복수개의 발광소자들로 이루어지며, 여기서 발광소자로는 유기 또는 무기 전계 발광소자, 레이저 다이오드 또는 발광다이오드 중 어느 하나를 사용할 수 있으며, 바람직하게로는 유기전계 발광소자를 적용한다.
전원공급부(12)는 발광셀 어레이(11)의 단위 발광셀의 제1 및 제2 음극군에 제1 및 제2 검출전압(V1,V2)을 인가하기 위한 것으로서, 이때 제1 검출전압(V1)과 제2 검출전압(V2) 간의 차이전압은 적어도 0.7 V 이상인 것이 바람직하며, 제1 및 제2 검출전압(V1,V2)을 발생시키기 위한 가변전압을 시작전압, 예를 들면 0V에서부터 종료전압, 예를 들면 20V까지 가변시킨다. 이와 같이 가변전압이 가변됨에 따라서, 제1 및 제2 검출전압의 크기가 가변되고, 이와 아울러 각 펄스전압에 대하여 듀티를 조정하여 펄스폭을 가변시켜 각 발광셀로 인가할 수 있다. 이와 같이, 제1 및 제2 검출전압의 크기 및 펄스폭을 가변시킴으로써, 모든 종류의 이물질이나 임의의 단락 상태에 대하여 검사하는 것이 가능하다.
제1 촬상부(13)는 일반적인 칼라 혹은 흑백 카메라, 바람직하게로는 흑백 카메라로 이루어지며, 발광셀 어레이(11)를 촬상하고, 촬상된 화상신호를 제1 화상신호 처리부(15)로 제공한다. 제2 촬상부(14)는 제1 촬상부(13)를 구성하는 일반적인 카메라보다 적어도 10배 이상의 밝기를 가지는 고감도 칼라 혹은 흑백, 바람직하게로는 흑백 카메라로 이루어지며, 발광셀 어레이(11)를 촬상하고, 촬상된 화상신호를 제2 화상신호 처리부(16)로 제공한다.
제1 및 제2 화상신호 처리부(15,16)는 각각 제1 및 제2 촬상부(13,14)로부터 제공되는 화상신호를 디지털 화상데이터로 변환하고, 변환된 디지털 화상데이터 즉, 디지털 휘도데이터는 제어부(17)로 제공된다.
제어부(17)는 본 발명에 의한 발광소자의 전극간 누설전류 검출장치의 전체 구성요소의 동작을 제어하며, 제1 및 제2 검사모드를 순차적으로 수행한 결과 누설전류가 검출된 각 단위셀의 최대발광량을 이용하여 각 단위셀의 불량여부를 판정한 다. 여기서 제1 검사모드에서는 제1 화상신호처리부(13)에서 제공되는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 단위 발광셀을 검출하고, 전원공급부(12)를 제어하여 검출된 단위셀에 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단한다. 한편, 제2 검사모드에서는 제2 화상신호처리부(13)에서 제공되는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 단위 발광셀을 검출한다. 이와 같이 제1 검사모드와 제2 검사모드로 이원화시키는 이유는 제2 촬상부(14)를 구성하는 고감도 카메라의 경우, 강한 빛을 받아들이면 CCD(Charge Coupled Device) 센서가 손상되기 때문이다.
디스플레이부(18)는 제어부(17)의 처리결과를 표시하는데, 예를 들면, 어레이의 각 단위 발광셀의 정상 또는 불량상태를 표시하고, 불량상태는 불량등급을 포함할 수 있다.
상기 구성요소들 중, 발광셀 어레이(11), 제1 및 제2 촬상부(13,14)는 암실내에 존재하는 것이 바람직하다.
도 3은 도 2에 도시된 발광셀의 세부 구조 및 발광셀에 대한 검출전압 인가방법을 설명하는 도면으로서, 발광셀(21)은 기판 위에 양극라인(N1~Nn)과 음극라인(M1~Mn)이 Mn×Nn의 매트릭스 구조로 형성되고, 양극라인과 음극라인의 교차점의 근방에 위치한 적어도 하나의 발광소자가 배열된다. 여기서, 하나의 발광소자는 설명의 편의상 다이오드(D11~Dmn)로 표시된다.
이와 같은 매트릭스 구조에서 홀수번째의 음극라인(M1, M3,...,Mn)을 묶어서 제1 음극군으로 형성하고, 짝수번째의 음극라인(M2, M4,...,Mn-1)을 묶어서 제2 음극군으로 형성한다. 제1 음극군에는 제1 검출전압(V1)이, 제2 음극군에는 제2 검출전압(V2)이 인가된다. 이와 같은 구조에서는 어레이에 존재하는 단위 발광셀들의 모든 발광소자의 음극라인에 제1 또는 제2 검출전압을 인가함으로써 한번에 어레이의 모든 단위 발광셀에 대하여 누설전류가 발생하였는지 여부를 판단할 수 있다.
한편, 제1 음극군에 인가되는 제1 검출전압(V1)을 제2 음극군에 인가되는 제2 검출전압(V2)보다 크게 설정한 경우, 예를 들어 양극라인(N1)에서 임의의 지점(T11)이 단락되어 누설전류가 발생되면 양극라인(N1)과 각 짝수번째 음극라인 사이에 배치된 다이오드들(D21, D41 등)이 발광하게 된다. 한편, 제2 검출전압(V2)을 제1 검출전압(V1)보다 크게 설정한 경우, 양극라인(N1)에서 임의의 지점(T11)이 단락되어 누설전류가 발생되면 양극라인(N1)과 각 홀수번째 음극라인 사이에 배치된 다이오드들(D11, D31 등)이 발광하게 된다.
이와 같이 서로 다른 값을 갖는 제1 및 제2 검출전압을 인가하면, 단락이나 이물질 등에 의하여 누설전류가 발생된 경우, 누설전류가 발생된 양극라인과 홀수번째 음극라인, 또는 누설전류가 발생된 양극라인과 짝수번째 음극라인 사이에 배치된 다이오드가 발광하게 되므로, 스크린 또는 사진상에는 하나의 양극라인에 연결된 다이오드들이 모두 발광하는 것처럼 누설전류가 발생된 양극라인에 휘선이 생긴다.
도 4는 도 1에 있어서 전원공급부(12)의 세부적인 구성을 나타낸 블록도로서, 가변전압발생부(41), 제1 및 제2 검출전압 발생부(42,43), 스위칭부(44)로 이루어진다.
도 4를 참조하면, 가변전압발생부(41)는 소정의 시작전압, 예를 들면 0V에서부터 소정의 종료전압, 예를 들면 20V까지 일정한 단위로 가변되는 직류전압을 발생시킨다. 이때, 직류전압은 검사자가 수동으로 조작하여 가변시키거나, 제어부(17)에서 설정된 단위로 자동적으로 가변될 수 있다.
제1 및 제2 검출전압 발생부(42,43)는 가변전압발생부(41)로부터 발생되는 직류전압으로부터 소정의 펄스폭을 갖는 제1 및 제2 검출전압(V1,V2)을 발생시킨다. 이때, 제1 및 제2 검출전압(V1,V2)은 서로 다른 값이며, 제1 검출전압(V1)과 제2 검출전압(V2) 간의 차이전압은 적어도 0.7 V 이상인 것이 바람직하다. 이때, 제1 및 제2 검출전압(V1,V2)의 펄스폭은 검사자가 수동으로 조작하여 가변시키거나, 제어부(17)에서 설정된 듀티비에 따라서 일정한 단위로 자동적으로 가변될 수 있다.
스위칭부(44)는 발광셀 어레이(11)에 존재하는 발광셀에 해당하는 K개의 스위치군으로 이루어지며, 제어부(17)의 제어에 따라서 발광셀에 제1 및 제2 검출전압을 인가하거나 차단시킨다.
도 5는 본 발명에 따른 발광셀 검사방법을 설명하는 흐름도로서, 제1 검사모드 수행단계(51 단계), 제2 검사모드 수행단계(53 단계) 및 불량 판정단계(55 단계)로 이루어진다. 상기 51 내지 55 단계는 제어부(17)에서 수행되어짐이 바람직 하다.
51 단계에서는 제1 화상신호처리부(13)에서 제공되는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 단위 발광셀을 검출하는 제1 검사모드를 수행한다. 제1 검사모드는 가변전압의 전체 범위에 걸쳐 수행되며, 누설전류가 발생되어 휘선이 생성되는 발광셀의 최대발광량을 매 가변전압별로 갱신한다. 한편, 제어부(17)에서 전원공급부(12)의 스위칭부(44)를 제어하여, 제1 검사모드에 의해 누설전류가 검출된 발광셀의 제1 및 제2 음극군에 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단시킴으로써, 제1 검사모드에 의해 누설전류가 검출된 발광셀에 대해서는 제2 검사모드가 수행되지 않게 된다.
53 단계에서는 제2 화상신호처리부(13)에서 제공되는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 단위 발광셀을 검출하는 제2 검사모드를 수행한다. 제1 검사모드에서와 마찬가지로, 제1 검사모드는 가변전압의 전체 범위에 걸쳐 수행되며, 누설전류가 발생되어 휘선이 생성되는 발광셀의 최대발광량을 매 가변전압별로 갱신한다.
55 단계에서는 상기 51 단계 및 53 단계에 의해 검출되는 각 발광셀의 최대발광량으로부터 발광셀의 정상 혹은 불량을 판정한다. 즉, 최대발광량이 0이면 정상으로 판정하고, 0이 아니면 불량으로 판정한다. 이때, 최대발광량의 크기에 따라서 불량등급이 할당될 수 있다. 발광셀 단위로 판정된 정상 혹은 불량 상태와, 하나의 어레이에서 정상인 발광셀의 수, 불량인 발광셀의 수 등과 같은 처리결과는 디스플레이부(18)의 스크린에 표시된다.
도 6은 도 5에 있어서 51 단계의 세부적인 흐름도로서, 61 단계에서는 가변 전압을 소정의 시작전압으로 설정하고, 62 단계에서는 암실내의 소정 형태의 지그에 발광셀 어레이(11)가 장착되면 각 발광셀(21)의 제1 및 제2 음극군에 상기 61 단계에서 설정된 가변전압으로부터 생성되는 제1 및 제2 검출전압(V1,V2)을 인가한다.
63 단계에서는 디스플레이부(18)의 스크린상에 수평 및 수직라인을 형성하여 발광셀 어레이(11)에 존재하는 발광셀 단위로 제1 검사모드를 위한 영역을 설정한다. 상기 63 단계는 상기 61 단계 또는 상기 62 단계 이전에 수행되어도 무방하다.
64 단계에서는 제1 촬상부(13)를 동작시켜 발광셀 어레이(11)를 촬상하고, 그 결과 제1 화상신호 처리부(15)로부터 제공되는 화상데이터 즉, 디지털 휘도데이터를 이용하여 휘도값이 존재하는 발광셀의 영역을 상기 63 단계에서 설정된 영역상에 표시한다.
65 단계에서는 제1 화상신호 처리부(15)로부터 제공되는 디지털 휘도데이터로부터 발광셀 어레이(11)의 각 발광셀의 휘도값을 산출하고, 최대발광량을 갱신한다.
66 단계에서는 현재 누설전류를 검출하기 위한 가변전압이 제어부(17)에서 설정한 종료전압에 해당하는지를 판단하고, 판단결과 종료전압에 해당하지 않는 경우에는 67 단계로 진행하여 가변전압을 소정 단위로 증가시킨 다음 상기 62 단계로 복귀하여 상기 62 내지 66 단계를 반복 수행한다. 한편, 상기 66 단계에서의 판단결과, 종료전압에 해당하는 경우 전원공급부(12)를 제어하여 휘도값이 산출된 즉, 누설전류가 발생된 발광셀의 제1 및 제2 음극군에 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단시킨다.
한편, 상기 51 단계는 상기 가변전압의 크기 뿐만 아니라 해당 가변전압에 대하여 제1 및 제2 검출전압의 펄스폭을 소정 단위로 가변시키는 단계를 더 구비할 수 있다.
도 7은 도 5에 있어서 53 단계의 세부적인 흐름도로서, 71 및 72 단계는 도 6의 61 및 62 단계와 동일하므로 여기서는 세부적인 설명을 생략하기로 한다.
73 단계에서는 디스플레이부(18)의 스크린상에 수평 및 수직라인을 형성하여 발광셀 어레이(11)에 존재하는 발광셀 단위로 제2 검사모드를 위한 영역을 설정한다. 마찬가지로 상기 73 단계는 상기 71 단계 또는 상기 72 단계 이전에 수행되어도 무방하다.
74 단계에서는 제2 촬상부(14)를 동작시켜 발광셀 어레이(11)를 촬상하고, 그 결과 제2 화상신호 처리부(16)로부터 제공되는 화상데이터 즉, 디지털 휘도데이터를 이용하여 휘도값이 존재하는 발광셀의 영역을 상기 73 단계에서 설정된 영역상에 표시한다.
75 단계에서는 제2 화상신호 처리부(16)로부터 제공되는 디지털 휘도데이터로부터 발광셀 어레이(11)의 각 발광셀의 휘도값을 산출하고, 최대발광량을 갱신한다.
76 단계에서는 현재 누설전류를 검출하기 위한 가변전압이 제어부(17)에서 설정한 종료전압에 해당하는지를 판단하고, 판단결과 종료전압에 해당하지 않는 경 우에는 77 단계로 진행하여 가변전압을 소정 단위로 증가시킨 다음 상기 72 단계로 복귀하여 상기 72 내지 76 단계를 반복 수행한다. 한편, 상기 76 단계에서의 판단결과, 종료전압에 해당하는 경우 본 흐름도를 종료한다.
마찬가지로, 상기 53 단계는 상기 가변전압의 크기 뿐만 아니라 해당 가변전압에 대하여 제1 및 제2 검출전압의 펄스폭을 소정 단위로 가변시키는 단계를 더 구비할 수 있다.
상술한 본 발명은 또한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피디스크, 광 데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 단위 발광셀의 발광소자들의 음극을 제1 및 제2 음극군으로 구분하고, 제1 및 제2 음극군에 서로 다른 제1 및 제2 검출전압을 인가하여 전극간 누설전류를 양극라인 단위로 검출함으로써 검출의 정확도를 향상시킬 수 있을 뿐 아니라 검사자가 스크린상에서 쉽게 확인할 수 있는 장점이 있다. 또한, 각 발광셀이 인가되는 제1 및 제2 검출전압의 크기와 펄스폭을 가 변시킴으로써 이물질의 종류나 단락의 정도에 상관없이 누설전류를 검출하는 것이 가능하다.
또한, 복수개의 발광셀을 구비한 어레이를 일반 카메라와 고감도 카메라를 이용하여 누설전류가 큰 발광셀과 누설전류가 미세한 발광셀을 이원화시켜 촬상함으로써 한번에 어레이에 존재하는 모든 발광셀의 누설전류를 검출할 수 있을 뿐 아니라 검출의 정확도를 향상시킬 수 있는 이점이 있다.
이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예들을 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (19)

  1. 매트릭스 구조의 복수개의 발광소자로 이루어지는 발광셀의 누설전류를 검출하기 위한 방법에 있어서,
    (a) 상기 발광소자들의 음극을 홀수번째 음극군과 짝수번째 음극군으로 분리하는 단계;
    (b) 상기 홀수번째 음극군에 제1 검출전압을 인가하고, 상기 짝수번째 음극 군에 제2 검출전압을 인가하는 단계; 및
    (c) 상기 발광셀의 양극라인 단위로 누설전류를 검출하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광셀의 누설전류 검출방법.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 방법은 상기 (b) 단계 이전에
    (c) 가변전압을 설정된 소정의 범위에 대하여 시작전압에서부터 종료전압에 이르기까지 소정 단위로 조정하고, 각 가변전압으로부터 상기 제1 및 제2 검출전압을 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광셀의 누설전류 검출방법.
  3. 제1 항에 있어서, 상기 방법은 상기 (b) 단계 이전에
    (c) 가변전압을 설정된 소정의 범위에 대하여 시작전압에서부터 종료전압에 이르기까지 제1 소정 단위로 조정하고, 매 가변전압별로 펄스폭이 제2 소정 단위로 조정되는 상기 제1 및 제2 검출전압을 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광셀의 누설전류 검출방법.
  4. 암실내에 배치되며, 매트릭스 구조의 복수개의 발광소자로 이루어지는 복수개의 발광셀이 배치된 발광셀 어레이를 검사하기 위한 방법에 있어서,
    (a) 일반 카메라를 이용하여 상기 발광셀 어레이를 촬상하여 얻어지는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 발광셀을 검출하고, 누설전류가 발생된 단위 발광셀에 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단하는 제1 검사모드를 수행하는 단계;
    (b) 고감도 카메라를 이용하여 상기 발광셀 어레이를 촬상하여 얻어지는 화상데이터로부터 누설전류가 발생된 발광셀을 검출하는 제2 검사모드를 수행하는 단계; 및
    (c) 상기 (a) 단계 및 (b) 단계에 의해 검출되는 각 발광셀의 최대발광량으로부터 각 발광셀의 정상 혹은 불량을 판정하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사방법.
  5. 제4 항에 있어서, 상기 (a) 단계는
    (a1) 상기 각 발광셀에 대하여 발광소자들의 음극을 홀수번째 음극군과 짝수번째 음극군으로 분리하고, 상기 홀수번째 음극군에 제1 검출전압을 인가하고, 상기 짝수번째 음극군에 제2 검출전압을 인가하는 단계;
    (a2) 상기 일반 흑백 카메라로부터 얻어지는 화상데이터로부터 누설전류가 발생되는 발광셀을 검출하고, 해당 발광셀의 최대발광량을 갱신하는 단계; 및
    (a3) 상기 (a2) 단계에 의해 검출된 누설전류가 발생된 발광셀의 제1 및 제2 음극군에 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단시키는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사방법.
  6. 제5 항에 있어서, 상기 (a) 단계는 상기 (a1) 단계 이전에
    (a4) 가변전압을 설정된 소정의 범위에 대하여 시작전압에서부터 종료전압에 이르기까지 소정 단위로 조정하고, 각 가변전압으로부터 상기 제1 및 제2 검출전압 을 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사방법.
  7. 제5항에 있어서, 상기 방법은 (a) 단계는 상기 (a1) 단계 이전에
    (a4) 가변전압을 설정된 소정의 범위에 대하여 시작전압에서부터 종료전압에 이르기까지 제1 소정 단위로 조정하고, 매 가변전압별로 펄스폭이 제2 소정 단위로 조정되는 상기 제1 및 제2 검출전압을 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사방법.
  8. 제4 항에 있어서, 상기 (b) 단계는
    (b1) 상기 각 발광셀에 대하여 발광소자들의 음극을 홀수번째 음극군과 짝수번째 음극군으로 분리하고, 상기 홀수번째 음극군에 제1 검출전압을 인가하고, 상기 짝수번째 음극군에 제2 검출전압을 인가하는 단계; 및
    (b2) 상기 고감도 흑백 카메라로부터 얻어지는 화상데이터로부터 누설전류가 발생되는 발광셀을 검출하고, 해당 발광셀의 최대발광량을 갱신하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사방법.
  9. 제8 항에 있어서, 상기 (b) 단계는 상기 (b1) 단계 이전에
    (b3) 가변전압을 설정된 소정의 범위에 대하여 시작전압에서부터 종료전압에 이르기까지 소정 단위로 조정하고, 각 가변전압으로부터 상기 제1 및 제2 검출전압을 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사방법.
  10. 제8항에 있어서, 상기 (b) 단계는 상기 (b1) 단계 이전에
    (b3) 가변전압을 설정된 소정의 범위에 대하여 시작전압에서부터 종료전압에 이르기까지 제1 소정 단위로 조정하고, 매 가변전압별로 펄스폭이 제2 소정 단위로 조정되는 상기 제1 및 제2 검출전압을 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사방법.
  11. 제5 항 또는 제8 항에 있어서, 상기 각 발광셀의 누설전류는 양극라인 단위로 검출되는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사방법.
  12. 제1 항 내지 제10 항 중 어느 한 항에 기재된 방법을 실행할 수 있는 프로그램을 기록한 컴퓨터를 읽을 수 있는 기록매체.
  13. 매트릭스 구조의 복수개의 발광소자로 이루어지는 복수개의 발광셀이 배치되며, 상기 각 발광셀에 대하여 발광소자들의 음극을 홀수번째 음극군과 짝수번째 음극군으로 분리시킨 발광셀 어레이;
    상기 각 발광셀의 홀수번째 음극군과 짝수번째 음극군에 제1 및 제2 검출전압을 인가하기 위한 전원공급부;
    일반적인 카메라로 이루어지며, 상기 발광셀 어레이를 촬상하는 제1 촬상부;
    상기 제1 촬상부로부터 제공되는 화상신호를 디지털 화상데이터로 변환하는 제1 화상신호처리부;
    고감도 카메라로 이루어지며, 상기 발광셀 어레이를 촬상하는 제2 촬상부;
    상기 제2 촬상부로부터 제공되는 화상신호를 디지털 화상데이터로 변환하는 제2 화상신호처리부;
    상기 제1 화상신호처리부의 화상데이터를 이용한 제1 검사모드와 상기 제2 화상신호처리부의 화상데이터를 이용한 제2 검사모드를 순차적으로 수행하고, 제1 및 제2 검사모드를 수행한 결과 누설전류가 검출된 각 발광셀의 최대발광량을 이용하여 각 발광셀의 불량여부를 판정하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사장치.
  14. 제13 항에 있어서, 상기 장치는 상기 제어부의 처리된 각 발광셀의 정상 또는 불량상태를 표시하는 디스플레이부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사장치.
  15. 제13 항에 있어서, 상기 전원공급부는
    상기 제어부에 의해 설정된 소정의 범위에 대하여 시작전압에서부터 종료전압에 이르기까지 제1 소정 단위로 조정되는 가변전압을 발생시키는 가변전압 발생부;
    상기 가변전압을 이용하여 동일한 소정의 펄스폭을 가지며, 크기가 서로 다른 제1 및 제2 검출전압을 발생시키는 제1 및 제2 검출전압 발생부; 및
    상기 발광셀에 대응하는 스위치군으로 이루어지며, 상기 제어부의 제어에 의해 상기 제1 검사모드에서 누설전류가 검출된 발광셀로 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단시키는 스위칭부를 구비하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사장치.
  16. 제15 항에 있어서, 상기 제1 및 제2 검출전압 발생부는 상기 제어부의 제어에 따라서 상기 조정된 가변전압에 대하여 제2 소정의 단위로 제1 및 제2 검출전압의 펄스폭을 조정하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사장치.
  17. 제13 항에 있어서, 상기 제1 검사모드는 상기 전원공급부를 제어하여 각 발광셀에 제1 및 제2 검출전압을 인가하는 기능, 상기 제1 화상신호처리부의 화상데이터로부터 누설전류가 발생되는 발광셀을 검출하는 기능, 해당 발광셀의 최대발광량을 갱신하는 기능, 및 상기 누설전류가 검출된 발광셀의 제1 및 제2 음극군에 인가되는 제1 및 제2 검출전압을 차단시키는 기능을 수행하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사장치.
  18. 제13 항에 있어서, 상기 제2 검사모드는 상기 전원공급부를 제어하여 각 발광셀에 제1 및 제2 검출전압을 인가하는 기능, 상기 제2 화상신호처리부의 화상데이터로부터 누설전류가 발생되는 발광셀을 검출하는 기능, 및 해당 발광셀의 최대발광량을 갱신하는 기능을 수행하는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사장치.
  19. 제17 항 또는 제18 항에 있어서, 상기 각 발광셀의 누설전류는 양극라인 단위로 검출되는 것을 특징으로 하는 발광셀 어레이 검사장치.
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