KR100840875B1 - 평판 표시패널 검사 시스템 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 다수의 엘이디로 구현되어 평판 표시패널에 빛을 조사하는 백라이트부를 소정 영역별 또는 엘이디 별로 휘도를 선택적으로 제어할 수 있는 평판 표시패널 검사 장치와, 평판 표시패널의 외관을 촬영하는 촬영장치로부터 획득되는 평판 표시패널 이미지의 특성에 따른 영역별 휘도를 상기 장치를 이용하여 자동으로 보정할 수 있는 평판 표시패널 검사 시스템에 관한 것으로,
본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 장치는, 각각이 식별정보를 갖는 다수의 엘이디를 포함하고 입력되는 엘이디 식별정보와 휘도 값에 따라 엘이디 각각의 휘도를 선택적으로 제어하는 다수의 엘이디 구동부가 구비되는 백라이트부와, 엘이디 구동부와 엘이디 식별정보 및 디밍 값을 포함하는 구동명령 입력에 따라 해당 엘이디 구동부로 디밍 값에 대응하는 휘도 값과 엘이디의 식별정보를 출력하는 디밍 조절부를 구비한다.
백라이트, 엘이디, 디밍, 패널

Description

평판 표시패널 검사 시스템{FLAT DISPLAY PANEL INSPECTION SYSTEM}
도 1 은 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 장치의 개략적인 블록 구성도.
도 2 는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 장치의 엘이디 구동부를 설명하기 위한 개요도.
도 3 은 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 장치를 이용한 평판 표시패널 검사 시스템의 개요도.
도 4 는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 시스템의 개략적인 블록 구성도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 평판 표시패널 검사 장치 110 : 디밍 조절부
113 : 주 제어부 130 : 백라이트부
140 : 엘이디 구동부 141 : 구동 제어부
143 : 엘이디 200 : 휘도 제어 장치
230 : 비교부 240 : 보정부
본 발명은 평판 표시패널 검사 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 평판 표시패널의 외관을 촬영하는 촬영장치로부터 획득되는 평판 표시패널 이미지의 특성에 따른 영역별 휘도를 자동으로 보정할 수 있는 평판 표시패널 검사 시스템에 관한 것이다.
일반적으로 평판 표시패널은 TV나 컴퓨터의 모니터에 사용되고 있는 음극선관(CRT: Cathode Ray Tube)을 대체하기 위해 개발된 차세대 표시장치로, LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), EL(Electro Luminance) 등의 평판 디스플레이 소자에 대한 수요의 급증에 따라 평판 디스플레이 소자에 대한 연구가 활발히 전개되고 있고, 이들의 대형화가 경쟁적으로 추진되고 있다.
한편, LCD, PDP. EL 등의 대형 패널을 생산할 때 백라이트, 구동회로 등을 조립하기 전에 패널의 외관을 검사하여, 패널에 남아 있는 이물이나 얼룩, 회로 배선 자체의 결함, 합착된 기판 사이 간격의 균일도, 스크레치 등을 검사하게 된다. 이를 위하여 광원을 공급하는 프레임에 패널을 올려놓고 패널의 외관을 검사하여 정품과 불량품을 구분하게 된다.
종래 평판 표시패널의 외관을 검사하기 위한 장치들은, 일반적으로 패널 하방에 램프를 구비하고 램프에 전압을 공급하여 패널에 빛을 조사함으로써, 상술한 바와 같이 패널에 남아있는 이물질, 얼룩, 스크레치 등을 검사하였다. 그러나 램프를 광원으로 사용하는 경우에는 램프의 고유수명으로 인하여 램프를 자주 교체해야하며, 저휘도에도 떨림(fliker) 현상이 발생하는 문제점이 있다. 또한, 램프가 소정 길이로 구현되기 때문에 패널을 소정 영역으로 나누어 정밀하게 검사할 수 없는 것은 물론 영역별 휘도 조절이 불가능한 문제점이 있다.
한편, 패널의 외관을 자동으로 검사하는 종래 평판 표시패널 검사 시스템은 CCD(Charge-Coupled Device) 카메라와 같은 촬영장치를 통해 획득되는 패널의 이미지를 분석하여 패널의 상태를 검사하게 된다. 그러나 이와 같은 경우 일반적으로 촬영장치의 특성상, 획득되는 패널의 이미지 중 중앙부에 해당하는 영역의 휘도가 높게 나타나고 외각 영역의 휘도는 상대적으로 낮게 나타나기 때문에, 패널의 외관을 정밀하게 검사할 수 없는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로, 본 발명의 목적은 평판 표시패널의 외관을 촬영하는 촬영장치를 통해 획득되는 패널 이미지의 휘도를 영역별로 검출하여 휘도 값이 상대적으로 낮은 영역의 휘도를 자동으로 보정함으로써, 평판 표시패널의 외관을 정밀하게 검사할 수 있는 평판 표시패널 검사 시스템을 제공하는 데 있다.
삭제
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 시스템은,
삭제
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평판 표시패널의 외관을 촬영하는 촬영장치로부터 출력되는 이미지의 휘도를 영역별로 검출하여, 설정된 기준 휘도 값과 상이한 휘도 값이 검출되는 영역의 식별정보와 디밍 값을 포함하는 보정 제어신호를 생성 및 출력하는 휘도 제어 장치와, 평판 표시패널에 빛을 조사하는 다수의 엘이디를 포함하고, 휘도 제어 장치로부터 출력되는 보정 제어신호에 따라 해당 엘이디의 휘도를 보정하는 평판 표시패널 검사 장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같은 구성을 갖는 본 발명의 특징에 따르면, 평판 표시패널의 외관을 촬영하는 촬영장치를 통해 획득되는 패널 이미지의 휘도를 영역별로 검출하여 휘도 값이 상대적으로 낮은 영역의 휘도를 자동으로 보정할 수 있다.
이하 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명에 적용되는 평판 표시패널 검사 장치의 개략적인 블록 구성도이고, 도 2는 본 발명에서 평판 표시패널 검사 장치의 엘이디 구동부를 설명하기 위한 개요도를 도시한 것이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 적용되는 평판 표시패널 검사 장치(100)는, 크게 다수의 엘이디(143)를 포함하고 입력되는 엘이디 식별정보와 휘도 값에 따라 엘이디(143) 각각의 휘도를 선택적으로 제어하는 엘이디 구동부(140)가 다수 개 구비되어 평판 표시패널(10)에 빛을 조사하는 백라이트부(130)와, 엘이디 구동부(140)와 엘이디(143) 식별정보 및 디밍 값을 포함하는 구동명령 입력에 따라, 디밍 값에 대응하는 휘도 값 및 엘이디(143) 식별정보를 해당 엘이디 구동부(140)로 출력하는 디밍 조절부(110)로 구현된다.
디밍 조절부(110)는 디밍 값에 대응하는 휘도 값을 저장하는 메모리(111)와, 인터페이스부(117)를 통해 입력되는 사용자의 구동명령에 따라 평판 표시패널 검사 장치(100)의 전반을 제어하는 주 제어부(113)와, 주 제어부(113)로부터 디지털 값으로 입력되는 휘도 값을 선형적인 휘도 값으로 변환하는 디지털/아날로그(D/A) 변환부(115)로 구현된다.
메모리(111)는 예컨대 읽기 쓰기가 가능한 플래시 메모리를 사용할 수 있으며, 후술하는 백라이트부(130)에 구비되는 다수의 엘이디(143) 및 엘이디 구동부(140) 각각에 대응하는 식별정보가 저장되고, 디밍 값에 대응하는 휘도 값이 저장된다.
주 제어부(113)는 평판 표시패널 검사 장치(100) 전반을 제어하고, 인터페이스부(117)를 통해 사용자로부터 구동명령이 입력되면 휘도를 제어하고자 하는 엘이 엘이디(143) 및 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140)의 식별정보와 디밍 값에 대응하는 휘도 값을 백라이트부(130)로 출력한다. 보다 구체적으로, 사용자는 평판 표시패널(10)의 외관을 정밀하게 검사하고자 백라이트부(130)를 영역별 (엘이디 구동부별)또는 해당 영역에 포함되는 엘이디(143) 별로 휘도를 제어하게 된다.
주 제어부(113)는 인터페이스부(117)를 통해 사용자로부터 휘도를 제어하고자 하는 엘이디(143)와 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140)의 식별정보 및 디밍 값을 포함하는 구동명령이 입력되면, 구동명령에 포함된 식별정보를 통해 우선 메모리(111)를 참조하여 다수의 엘이디 구동부(140)와 엘이디(143) 중 사용자가 휘도를 제어하고자 하는 엘이디(143) 및 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140)가 어떠한 것인지를 판별한다. 이후 주 제어부(113)는 휘도를 제어 하고자 하는 엘이디(143) 및 엘이디 구동부(140)의 식별이 완료되면, 해당 엘이디 구동부(140)로 휘도를 제어하고자 하는 엘이디(143)의 식별정보를 출력하고, 디밍 값에 대응하는 휘도 값을 메모리(111)에서 액세스하여 액세스된 휘도 값을 상기 엘이디 구동부(140)의 식별정보와 함께 후술하는 D/A 변환부(115)로 출력한다.
D/A 변환부(115)는 휘도를 제어하고자는 엘이디(143)가 선형적으로(linear)으로 발광하도록 하기 위한 휘도 값을 출력한다. 즉 D/A 변환부(115)는 주 제어부(113)로부터 디지털 값으로 입력되는 휘도 값을 아날로그 신호로 변환하여 해당 엘이디 구동부(140)로 출력하게 된다.
한편, 평판 표시패널(10)에 빛을 조사하는 백라이트부(130)에 구비되는 각각의 엘이디 구동부(140)는, 디밍 조절부(110)로부터 출력되는 엘이디(143)의 식별정보와 휘도 값에 따라 해당 엘이디(143)의 휘도를 제어하는 구동 제어부(141)와, 각각이 식별정보를 갖는 다수의 엘이디(143)와, 발광되는 엘이디(143)의 휘도를 측정하는 휘도 측정센서(145)와, 해당 엘이디(143)로 입력되는 휘도 값과 실제 발광되는 휘도 값을 비교하는 에러 검출부(147)로 구현된다.
보다 구체적으로 구동 제어부(141)는 엘이디(143) 각각의 식별정보를 저장하는 메모리(미도시)를 포함하며, 디밍 조절부(110)의 주 제어부(113)로부터 제어하고자 하는 엘이디(143)의 식별정보와, A/D 변환부(115)로부터 휘도 값이 입력되면 메모리를 참조하여 해당 엘이디(143)의 휘도를 제어한다. 아울러, 구동 제어부(141)는 후술하는 에러 검출부(147)로부터 엘이디(143)로 입력되는 휘도 값과 상기 엘이디(143)가 실제 발광되는 휘도 값을 비교한 결과를 입력받고, 이를 분석하 여 입력 휘도 값과 실제 발광 휘도 값이 서로 상이한 경우 입력 휘도 값을 기준으로 보정할 휘도 값을 결정하고, 해당 엘이디(143)의 휘도를 보정한다.
엘이디(143)는 각각이 식별정보를 갖으며, 각각의 엘이디 구동부(140)에 다수 개 구비된다. 일반적으로 엘이디는 P형 반도체와 N형 반도체를 접합시킨 후 순방향 전류를 인가하여 접합층에서 정공과 전자를 만들어 내고 이들의 재결합에 의하여 발광시키는 것으로서, 높은 시인성을 제공함을 물론 일반 램프에 비해 월등한 수명을 갖으며 전력소모가 크지 않아 다양한 분야에서 그 사용범위가 확대되고 있다. 따라서 본 발명에 따른 평판 표시패널 검사 장치(100)는 상술한 바와 같은 엘이디가 다수 개 구현되는 백라이트부(130)를 구비함으로써, 백라이트부(130)를 영역별 또는 엘이디 별로 휘도를 선택적으로 제어할 수 있음은 물론, 종래 저휘도에서의 떨림 현상, 램프를 자주 교체해야 하는 문제점 등을 해결할 수 있다.
휘도 측정센서(145)는 엘이디(143)의 개수만큼 구비되며, 각각의 엘이디(143)와 대응되게 구비된다. 휘도 측정센서(145)는 해당 엘이디(143)가 실제 발광하는 휘도를 측정하여 에러 검출부(147)로 출력한다. 에러 검출부(147)는 구동 제어부(141)에서 해당 엘이디(143)로 입력되는 휘도 값을 측정하고, 상기 측정된 휘도 값과 휘도 측정센서(145)로부터 입력되는 상기 엘이디(143)가 실제 발광되는 휘도 값을 서로 비교하여 비교 결과를 구동 제어부(141)로 출력한다.
따라서, 상술한 바와 같은 구성을 갖는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 장치(100)는 다수의 엘이디(143)로 구현된 백라이트부(130)를 영역별 또는 엘이디(143) 별로 휘도를 선택적으로 제어할 수 있음으로써 평판 표시패널(10) 의 외관을 정밀하게 검사할 수 있다.
한편, 상술한 바와 같은 본 발명에 적용되는 평판 표시패널 검사 장치(100)를 이용한 평판 표시패널 검사 시스템에 대해 도 3 및 도 4를 참조하여 설명하기로 한다. 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 장치를 이용한 평판 표시패널 검사 시스템의 개요도이며, 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 시스템의 개략적인 블록 구성도이다.
본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시패널 검사 시스템은, 평판 표시패널(10)의 외관을 촬영하는 촬영장치(20)로부터 출력되는 평판 표시패널(10) 이미지의 휘도를 영역별로 검출하여, 설정된 기준 휘도 값과 상이한 휘도 값이 검출되는 영역의 식별정보와 디밍 값을 포함하는 보정 제어신호 생성 및 출력하는 휘도 제어 장치(200)와, 평판 표시패널(10)에 빛을 조사하는 다수의 엘이디(143)를 포함하고, 휘도 제어 장치(200)로부터 출력되는 보정 제어신호에 따라 해당 엘이디(143)의 휘도를 보정하는 평판 표시패널 검사 장치(100)로 구현된다.
보다 구체적으로 휘도 제어 장치(200)는 촬영장치(20)로부터 출력되는 이미지의 휘도를 영역별로 검출하는 검출부(210)와, 각각의 검출 영역에 대응하는 평판 표시패널 검사 장치(100)의 엘이디(143) 및 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140)의 식별정보가 저장되는 메모리(220)와, 검출부(210)로부터 출력되는 영역별 휘도 값을 설정된 기준 휘도 값과 비교하여 그 비교 결과를 출력하는 비교부(230)와, 비교부(230)로부터 출력되는 상기 비교 결과를 분석하여 기준 휘도 값과 상이한 휘도 값을 갖는 영역이 검출되면, 해당 검출 영역에 대응하는 엘이디(143) 및 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140)의 식별정보와 디밍 값을 포함하는 보정 제어신호를 생성하고, 인터페이스부(250)를 통해 평판 표시패널 검사 장치(100)로 출력하는 보정부(240)로 구현된다.
검출부(210)는 평판 표시패널(10)의 외관을 촬영하는 촬영장치(20)로부터 출력되는 평판 표시패널(10)의 이미지의 휘도를 엘이디(143) 별로 세분화하여 세분화된 영역의 휘도를 각각 검출한다. 한편, 메모리(220)에는 각각의 검출 영역에 대응하는 평판 표시패널 검사 장치(100)의 엘이디(143) 및 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140) 각각의 식별정보가 저장된다.
비교부(230)는 검출부(210)로부터 검출 영역별로 휘도 값이 입력되면, 기준 휘도 값을 설정하고, 상기 설정된 기준 휘도 값에 따라 다른 영역의 휘도 값을 비교한다. 보다 구체적으로, 상술한 바와 같이 일반적으로 촬영장치(20)의 특성상 획득되는 평판 표시패널(10)의 전체 이미지 중 중앙부에 해당하는 영역의 휘도 값은 높게 나타나고 외각 영역의 휘도 값은 상대적으로 낮게 나타난다. 따라서 평판 표시패널(10)의 외관을 정밀하게 검사하기 위하여 비교부(230)는, 상기 획득된 전체 이미지 중 중앙부에 해당하는 영역의 휘도 값을 기준 휘도 값으로 설정하고 이를 기준으로 다른 영역의 휘도 값을 비교하여 그 결과를 출력한다.
보정부(240)는 비교부(230)로부터 출력되는 상기 비교 결과를 분석하여 설정된 기준 휘도 값과 상이한 휘도 값이 검출되는 영역에 대응하는 엘이디(143)의 식별정보와, 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140)의 식별정보를 메모리(220)에서 액세스한다. 이후 보정부(240)는 액세스된 상기 식별정보들과 기준 휘도 값과의 차이만큼을 보정하기 위한 디밍 값을 포함하는 보정 제어신호를 생성하고, 인터페이스부(250)를 통해 평판 표시패널 검사 장치(100)로 출력하도록 제어한다.
한편, 휘도 제어 장치(200)로부터 출력되는 보정 제어신호에 따라 해당 엘이디(143)의 휘도를 자동으로 보정하는 평판 표시패널 검사 장치(100)는 크게, 각각이 식별정보를 갖는 다수의 엘이디(143)를 포함하고 입력되는 엘이디 식별정보와 휘도 값에 따라 엘이디 각각의 휘도를 선택적으로 제어하는 다수의 엘이디 구동부(140)가 구비되는 백라이트부(130)와, 휘도 제어 장치(200)로부터 출력되는 보정 제어신호에 따라 해당 엘이디 구동부(140)로 디밍 값에 대응하는 휘도 값과 휘도를 보정하고자 하는 엘이디(143)의 식별정보를 출력하는 디밍 조절부(110)로 구현된다.
이하, 평판 표시패널 검사 장치(100) 전반적인 구성은 앞서 설명한 바와 동일함으로 간략하게 설명하기로 한다.
우선, 디밍 조절부(110) 내에 구비되는 주 제어부(113)는 인터페이스부(117)를 통해 휘도 제어 장치(200)로부터 출력되는 보정 제어신호를 입력받아, 보정 제어신호에 포함되는 식별정보들을 통해 우선 메모리(111)를 참조하여 휘도를 보정하고자 하는 영역에 해당하는 엘이디(143) 및 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140)가 어떠한 것인지를 판별한다. 이후 주 제어부(113)는 휘도를 보정하고자는 엘이디(143) 및 상기 엘이디(143)가 포함되는 엘이디 구동부(140)의 식별이 완료되면, 해당 엘이디 구동부(140)로 엘이디(143)의 식별정보를 출력한다. 또한, 보정 제어신호에 포함된 디밍 값에 대응하는 휘도 값을 메모리(111)에서 액세스하여 액세스된 휘도 값을 상기 엘이디 구동부(140)의 식별정보와 함께 디지털/아날로그 변환부(D/A 변환부)(115)로 출력한다.
D/A 변환부(115)는 상기 휘도를 보정하고자 하는 엘이디(143)가 선형적으로 발광하도록 하기 위해, 주 제어부(113)로부터 디지털 값으로 입력되는 휘도 값을 아날로그 신호로 변환하여 백라이트부(130)에 구비되는 다수의 엘이디 구동부(140) 중 해당 엘이디 구동부(140)로 출력한다. 한편, 상기 엘이디 구동부(140)에 구비되는 구동 제어부(141)는, 주 제어부(113)로부터 휘도를 보정하고자 하는 엘이디(143)의 식별정보와, D/A 변환부(115)로부터 휘도 값이 입력되면 해당 엘이디(143)의 휘도를 보정한다.
상술한 바와 같은 본 발명 따르면 다수의 엘이디로 구현되는 백라이트부를 영역별 또는 엘이디 별로 휘도를 제어할 수 있음으로써, 평판 표시패널의 외관을 정밀하게 검사할 수 있는 장점이 있다.
또한, 평판 표시패널의 외관을 촬영하는 촬영장치를 통해 획득되는 패널 이미지의 휘도를 영역별로 검출하여 휘도 값이 상대적으로 낮은 영역의 휘도를 자동으로 보정함으로써 평판 표시패널의 외관을 정밀하게 검사할 수 있는 장점이 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시 예들을 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에 통상의 지식을 지닌 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

Claims (8)

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  4. 평판 표시패널의 외관을 촬영하는 촬영장치로부터 출력되는 이미지의 휘도를 검출하고, 휘도를 보정하기 위한 보정 제어신호를 생성 및 출력하는 휘도 제어 장치와, 상기 평판 표시패널에 빛을 조사하는 다수의 엘이디(LED)를 포함하고, 상기 휘도 제어 장치로부터 출력되는 상기 보정 제어신호에 따라 해당 엘이디의 휘도를 보정하는 평판 표시패널 검사 장치를 포함하는 평판 표시패널 검사 시스템에 있어서,
    상기 휘도 제어 장치는,
    상기 촬영장치로부터 출력되는 이미지의 휘도를 영역별로 검출하는 검출부와;
    상기 검출부로부터 출력되는 영역별 휘도 값을 설정된 기준 휘도 값과 각각 비교하여 그 비교 결과를 출력하는 비교부와;
    상기 비교부로부터 출력되는 상기 비교 결과를 분석하여 상기 기준 휘도 값보다 상대적으로 낮은 휘도 값을 갖는 영역이 검출되면, 상기 낮은 휘도 값을 갖는 영역의 휘도 값이 상기 기준 휘도 값 이상이 되도록 해당 검출 영역에 대응하는 엘이디 구동부 및 엘이디의 식별정보와 디밍 값을 포함하는 상기 보정 제어신호를 생성하고, 인터페이스부를 통해 상기 평판 표시패널 검사 장치로 출력하는 보정부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사 시스템.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 평판 표시패널 검사 장치는:
    각각이 식별정보를 갖는 다수의 엘이디를 포함하고 입력되는 엘이디 식별정보와 휘도 값에 따라 엘이디 각각의 휘도를 선택적으로 제어하는 다수의 엘이디 구동부가 구비되는 백라이트부와,
    상기 휘도 제어 장치로부터 출력되는 상기 보정 제어신호에 따라, 해당 엘이디 구동부로 디밍 값에 대응하는 휘도 값과 엘이디 식별정보를 출력하는 디밍 조절부,
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사 시스템.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 각각의 엘이디 구동부는:
    각각이 식별정보를 갖는 다수의 엘이디와,
    발광되는 엘이디의 휘도를 측정하는 휘도 측정센서와,
    해당 엘이디로 입력되는 휘도 값과 상기 휘도 측정센서로부터 출력되는 휘도 측정값을 비교하여 그 비교 결과를 출력하는 에러 검출부와,
    상기 디밍 조절부로부터 입력되는 상기 엘이디 식별정보와 휘도 값에 따라 해당 엘이디의 휘도를 각각 제어하며, 상기 에러 검출부를 통해 입력되는 상기 비교 결과를 분석하여 휘도 값이 서로 상이할 경우 보정할 휘도 값을 결정하고 해당 엘이디의 휘도를 보정하는 구동 제어부,
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사 시스템.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 디밍 조절부는:
    디밍 값에 대응하는 휘도 값을 저장하는 메모리와,
    인터페이스부를 통해 상기 휘도 제어 장치로부터 보정 제어신호가 출력되면 해당 엘이디 구동부로 엘이디 식별정보를 출력하고, 디밍 값에 대응하는 휘도 값을 상기 메모리에서 액세스하여 상기 엘이디 구동부의 식별정보와 함께 출력하는 디밍 제어부와,
    상기 디밍 제어부로부터 디지털 값으로 입력되는 상기 휘도 값을 아날로그 신호로 변환하여 해당 엘이디 구동부로 출력하는 디지털/아날로그 변환부,
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사 시스템.
  8. 삭제
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