KR100353324B1 - 액정표시패널의 표시결함 검사방법 - Google Patents
액정표시패널의 표시결함 검사방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100353324B1 KR100353324B1 KR1019990054531A KR19990054531A KR100353324B1 KR 100353324 B1 KR100353324 B1 KR 100353324B1 KR 1019990054531 A KR1019990054531 A KR 1019990054531A KR 19990054531 A KR19990054531 A KR 19990054531A KR 100353324 B1 KR100353324 B1 KR 100353324B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal display
- display panel
- present
- sections
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
본 발명은 액정표시패널의 표시결함 검사방법에 관한 것으로,
본 발명은 액정표시패널의 영역을 복수개의 섹션으로 분할하고, 소정 칼라에 대한 256 개의 명암 레벨이 순차적으로 나열된 검사패턴을 각 섹션에 동시에 표시하여 액정표시패널의 표시결함을 검사하므로써, 어떤 포인트에서 혹은 어떤 휘도레벨에서 혹은 어떤 칼라에서 스파클링 노이즈가 나타나는지 육안으로 쉽게 검사할 수 있어, 불량 제품 판별이 용이하다는데 그 효과가 있다.
Description
본 발명은 액정표시패널의 표시결함 검사방법에 관한 것이다.
보다 상세하게는 소정 칼라에 대한 복수개의 명암 레벨이 순차적으로 나열된검사패턴을 액정표시패널에 표시하므로써 액정표시패널의 표시결함을 검사하는 방법에 관한 것이다.
일반적으로 대부분의 AV(Audio/Video) 시스템이나 데이터통신 장치 등의 표시수단으로 CRT(Cathode Ray Tube)가 사용되어왔다. 그러나, CRT는 전자 방출과 전자빔의 각도 조절을 하기 위해 고전압이 요구될 뿐만 아니라, 크기와 무게를 줄이기에 매우 어려운 문제점을 안고 있었다.
이와 같은 CRT의 단점을 보완하기 위해 경량화, 저전압 및 저소비전력을 위한 평판 표시 소자(Flat Panel Display) 기술이 개발 중에 있으며, 상술한 평판 표시 소자는 사용되는 물질에 따라 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), LED(Light Emitting Diode), EL(Electroluminescence), FED(Field Emission Display), VFD(Visual Fluorescent Display), DMD(Digital Micromirror Device) 등으로 분류할 수 있다.
상술한 여러 평판 표시 소자들은 화소(pixel)를 통해 빛을 제어하게 되는데, 이와 같이 빛을 제어하는 방법으로는 각각의 화소에서 빛을 발생하도록 하는 방법과 빛을 자체적으로 발생하지 않고 반사하거나 투과시켜 빛의 양을 조절하는 방법이 있다.
전자의 경우를 능동 디스플레이라고 하며, 후자의 경우를 수동 디스플레이라고 한다.
상기 능동 디스플레이 소자로는 LED가 있고, 상기 수동 디스플레이 소자로는 LCD 등이 있으며, LCD 등과 같은 수동 디스플레이 소자는 소자의 후면 또는 측면에빛을 발생시키는 장치가 반드시 구비되어 있어야 한다.
여기서 상기 LCD(이하 액정표시패널이라 칭한다)는 대전되는 전극 사이에 액정을 개재시켜 외광을 통과시키거나 차단시키거나 하여서 소정의 패턴을 가시화하도록 된 것으로서, 시그널 케이블이나 기타 요소의 제작 착오에 의해 정상적인 패턴이 나타나지 않는 경우가 있다.
특히, 상기한 바와 같은 액정표시패널(LCD)은 PCB 기판과의 인터페이스 임피던스 매칭에 의해 데이타 손실이 발생되는 경우, 특정한 휘도 레벨에서 스파클링 노이즈가 발생한다는 문제점이 있었다.또한, 종래에는 LCD 모니터를 생산할 때 기존의 아날로그 모니터와 동일한 패턴으로 검사를 수행하였기 때문에 LCD 모니터의 인터페이스에서 발생할 수 있는 스파클링 노이즈를 미쳐 발견하지 못하여 불량 제품의 판별을 정확하게 수행하지 못하는 문제점이 있었다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 소정 칼라에 대한 복수개의 명암 레벨이 순차적으로 나열된 검사패턴을 액정표시패널에 표시하도록 되어진 액정표시패널의 표시결함 검사방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 방법은, 액정표시패널의 영역을 복수개의 섹션으로 분할하여 검사패턴을 각 섹션에 동시에 표시하므로써 액정표시패널의 표시결함을 검사하는 방법에 있어서, 상기 검사패턴이 소정 칼라에 대한 복수개의 명암 레벨이 순차적으로 나열됨을 특징으로 한다.
도 1 은 본 발명에 적용되는 일반적인 액정표시패널의 표시결함 검사장치를 도시한 블럭도,
도 2a 는 액정표시패널의 영역을 일단 2×2로 분할하여 형성된 4개의 섹션을 도시한 도면,
도 2b 는 액정표시패널의 영역을 다시 4×4로 분할하여 형성된 16개의 섹션을 도시한 도면,
도 2c 는 본 발명에 따라 표시결함을 검사하기 위해 액정표시패널에 표시되는 검사패턴을 도시한 도면이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 명칭 *
10 : 액정표시패널 20 : 검사패턴 발생기
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시패널의 표시결함 검사방법을 상세히 설명한다.
도 2 는 본 발명에 따른 액정표시패널의 표시결함 검사방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 2 에 도시된 바와 같이 본 발명은, 액정표시패널의 영역을 복수개의 섹션으로 분할하여 검사패턴을 각 섹션에 동시에 표시하므로써 액정표시패널의 표시결함을 검사하는 방법에 있어서, 상기 검사패턴이 소정 칼라에 대한 복수개의 명암 레벨이 순차적으로 나열된다.
여기서 상기 소정 칼라는 256개의 명암 레벨을 가지고 있다.
이어서, 본 발명에 따른 실시예의 동작 및 효과를 자세히 살펴보면 다음과 같다.
도 1 은 본 발명에 적용되는 일반적인 액정표시패널의 표시결함 검사장치를 도시한 블럭도이다.
도 1 에 도시된 바와 같이 검사패턴 발생기(20)는 본 발명에 따른 검사패턴을 상기 액정표시패널(10)에 출력하고, 상기 액정표시패널(10)은 대전되는 전극 사이에 액정을 개재시켜 외광을 통과시키거나 차단시키거나 하여서 상기 검사패턴을 가시화하도록 한다.
일반적으로 액정표시패널을 구비한 영상표시기기에서 하나의 영상신호를 '0' 혹은 '1'의 디지탈 신호로 표현하는데 8 비트가 요구되는 바, 한가지 칼라를 복수개의 명암 레벨로 표시하고자 할 경우 아래 수학식 1 에서와 같이 최대 256 개의명암 레벨로 표시할 수 있다.
이에 따라 본 발명은 소정 칼라에 대하여 최대 256개의 명암 레벨이 혼합된검사패턴을 액정표시패널에 표시할 수 있어 어떤 휘도레벨에서 스파클링 노이즈가 나타나는지 육안으로 쉽게 검사할 수 있다.
이때 R·G·B 기본 칼라 각각에 대하여 256 개의 명암 레벨이 존재하므로, 일반적인 액정표시패널을 구비한 영상표시기기는 아래 수학식 2와 같이 최대 16,000,000 개의 칼라를 표시할 수 있다.
이에 따라 본 발명은 최대 16,000,000 개의 칼라가 혼합된 검사패턴을 액정표시패널에 표시할 수 있어 어떤 칼라에서 스파클링 노이즈가 나타나는지 육안으로 쉽게 검사할 수 있다.
또한 액정표시패널의 영역을 복수개의 섹션으로 분할하여 검사패턴을 각 섹션에 동시에 표시하므로써, 어떤 포인트에서 스파클링 노이즈가 나타나는지 육안으로 쉽게 검사할 수 있다.
도 2a에 도시된 바와 같이 액정표시패널의 영역을 일단 2×2로 분할하여 4개의 섹션 A, B, C, D를 형성하고, 도 2b에 도시된바와 같이 상기 섹션 A를 다시 4×4로 분할하여 16개의 섹션 a, b, c, d, e, f, g, h, I, j, k, l, m, n, o, p를 형성한다.
이때 소정 칼라가 최대 256개의 명암 레벨을 가지고 있으므로, 도 2b에 도시된 바와 같이 상기 섹션 a에는 0∼127의 명암 레벨이 순차적으로 표시되고, 상기 섹션 b에는 128∼256의 명암 레벨이 순차적으로 표시되고, 상기 섹션 c에는 128∼256의 명암 레벨이 순차적으로 표시되고, 상기 섹션 d에는 0∼127의 명암 레벨이 순차적으로 표시된다.
상기 도 2c에 도시된 바와 같은 검사패턴은 도 2b의 각 해당 섹션에도 표시되고, 도 2a의 각 해당 섹션에도 표시된다.
이에 따라 시그널 케이블, 혹은 PCB 패턴과의 임피던스 매칭에 의해 데이타 손실이 발생될 경우 액정표시패널에 나타나는 스파클링 노이즈를 최대 16,000,000 개가 혼합된 검사 패턴으로 검사하므로써, 어떤 포인트에서 혹은 어떤 휘도레벨에서 혹은 어떤 칼라에서 스파클링 노이즈가 나타나는지 육안으로 쉽게 검사할 수 있어, 불량 제품 판별이 용이하다.
이때, 상기 액정표시패널의 영역을 복수개의 섹션으로 분할하여 패턴을 검사하게 되는데, 이처럼 섹션을 복수개로 분할하는 이유는 섹션의 수가 많으면 많을수록 검사의 신뢰도가 높아지기 때문이다.
또한, 액정표시패널에 분할된 복수개의 섹션에 각각 소정 칼라에 대한 256개의 명암 레벨이 순차적으로 나열된 서로 다른 검사패턴을 동시에 표시하므로써 검사자가 검사 패턴 확인을 통해 액정표시패널의 표시결함을 다양하게 검사할 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명에 따른 방법은, 액정표시패널의 영역을 복수개의 섹션으로 분할하고, 소정 칼라에 대한 256 개의 명암 레벨이 순차적으로 나열된 검사패턴을 각 섹션에 동시에 표시하여 액정표시패널의 표시결함을 검사하므로써, 어떤 포인트에서 혹은 어떤 휘도레벨에서 혹은 어떤 칼라에서 스파클링 노이즈가 나타나는지 육안으로 쉽게 검사할 수 있어, 불량 제품 판별이 용이하다는데 그 효과가 있다.
Claims (2)
- 액정표시패널의 영역을 복수개의 섹션으로 분할하여 검사패턴을 각 섹션에 동시에 표시하므로써 액정표시패널의 표시결함을 검사하는 방법에 있어서,상기 검사패턴이,소정 칼라에 대한 복수개의 명암 레벨이 순차적으로 나열됨을 특징으로 하는 액정표시패널의 표시결함 검사방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 소정 칼라가 256개의 명암 레벨을 가지는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 표시결함 검사방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019990054531A KR100353324B1 (ko) | 1999-12-02 | 1999-12-02 | 액정표시패널의 표시결함 검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019990054531A KR100353324B1 (ko) | 1999-12-02 | 1999-12-02 | 액정표시패널의 표시결함 검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010053954A KR20010053954A (ko) | 2001-07-02 |
KR100353324B1 true KR100353324B1 (ko) | 2002-09-18 |
Family
ID=19623247
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019990054531A KR100353324B1 (ko) | 1999-12-02 | 1999-12-02 | 액정표시패널의 표시결함 검사방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100353324B1 (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100643562B1 (ko) * | 2000-11-28 | 2006-11-10 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 소형 액정표시장치용 액정 셀의 제조공정 |
KR100490712B1 (ko) * | 2001-12-17 | 2005-05-24 | 엘지전자 주식회사 | Pdp모듈의 셀 결점 진단방법 및 장치 |
US7116290B2 (en) * | 2002-08-13 | 2006-10-03 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus for diagnosing cell defect of PDP module |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07181451A (ja) * | 1993-10-05 | 1995-07-21 | Canon Inc | 表示装置 |
JPH07225365A (ja) * | 1994-02-10 | 1995-08-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶パネルの検査方法 |
JPH08211350A (ja) * | 1995-02-02 | 1996-08-20 | Fujitsu Ltd | Lcd検査方法 |
-
1999
- 1999-12-02 KR KR1019990054531A patent/KR100353324B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07181451A (ja) * | 1993-10-05 | 1995-07-21 | Canon Inc | 表示装置 |
JPH07225365A (ja) * | 1994-02-10 | 1995-08-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶パネルの検査方法 |
JPH08211350A (ja) * | 1995-02-02 | 1996-08-20 | Fujitsu Ltd | Lcd検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20010053954A (ko) | 2001-07-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100498892C (zh) | 制造平板显示器的方法和设备 | |
US7023470B2 (en) | Self-testing video display devices and method of use thereof | |
KR100945369B1 (ko) | 표시기기의 검사장치 및 그 검사방법 | |
US9940883B2 (en) | Display panel inspection apparatus | |
US9721530B2 (en) | Method of displaying an image, display apparatus performing the same, method of calculating a correction value applied to the same and method of correcting grayscale data | |
KR102462070B1 (ko) | 디스플레이패널 및 그 검사 방법 | |
CA2661650C (en) | Video monitoring device providing parametric signal curve display features and related methods | |
CN106531039A (zh) | 显示装置及其纯色画面检测方法 | |
KR100353324B1 (ko) | 액정표시패널의 표시결함 검사방법 | |
KR100763019B1 (ko) | 평판표시장치의 화질 검사 시스템 및 그 방법 | |
CN110874989B (zh) | 显示面板、显示装置和测试方法 | |
KR20070029920A (ko) | 표시 장치용 테스트 패턴 생성 장치 | |
CN112419947B (zh) | 一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置 | |
CN112820224B (zh) | 显示设备的显示控制方法及其装置、显示设备 | |
KR100342652B1 (ko) | 프로젝션 장치 | |
KR20040060752A (ko) | 디스플레이 장치 검사 시스템 및 방법 | |
US20230194915A1 (en) | Method of detecting defective pixels in electronic displays | |
JP2006119073A (ja) | ディスプレイパネルの点灯画像検査方法 | |
JPH0444493A (ja) | カラー液晶パネルの欠陥検出装置 | |
JP2009052890A (ja) | 光学測定装置、光学測定方法、及び該装置を備えた信頼性評価システム | |
KR970000354B1 (ko) | 평판 표시소자의 에이징 방법 및 장치 | |
JP2005315776A (ja) | 平面表示装置の表示欠陥検出方法 | |
JP2022173859A (ja) | 表示装置の検査方法 | |
CN115100984A (zh) | 一种显示屏测试方法 | |
JPH1039843A (ja) | 表示装置における画素欠陥のマーク方法及びマーク装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120830 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130829 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |