JP2000206479A - 表示装置の欠陥絵素座標特定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 迅速かつ確実に表示装置の欠陥絵素位置の座
標を特定する。 【解決手段】 表示装置１をセットプレート２にセット
して点灯状態にし、ＸＹステージ１５により顕微鏡筒４
の視野内に欠陥絵素が映し出される位置まで移動あせ
る。ファイバー照明６、８等により絵素に光を照射して
その光学的変化をＣＣＤカメラ５によりとらえ、欠陥絵
素を確定する。欠陥絵素の位置座標をＸＹステージの位
置データにより求め、パーソナルコンピューター１０に
記憶させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ドライバー実装前
のパネル形態及びドライバー実装後のモジュール形態を
問わず、表示装置の製造工程で発生する表示不良品の検
査及び修正を効率良く行うための表示装置の欠陥絵素座
標特定装置に関し、特に、表示装置が直視タイプの液晶
表示装置である場合に好適に使用される表示装置の欠陥
絵素座標特定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、液晶表示装置は、液晶表示パネ
ルにドライバーや駆動回路を実装することによりモジュ
ール化される。その後、用途によって、例えば、プロジ
ェクション等の投影タイプとして使用されるものは、液
晶表示装置を光源ランプや投影レンズ等の光学系と組み
合わせる。一方、液晶テレビジョンセットや液晶ディス
プレイ等の直視タイプとして使用されるものは、透過型
液晶表示装置をバックライトと組み合わせたり、反射型
液晶表示装置をフロントライトと組み合わせたりするこ
とが多い。

【０００３】このような液晶表示装置を出荷する際に
は、点灯不良品の市場への流出を防止するため、通常、
パネル形態及びモジュール形態の各々の状態において点
灯検査を実施している。

【０００４】この点灯検査では、液晶表示装置の点灯状
態が規定基準を満たしているか否かを判断し、その結
果、規定の基準を満たしていないものは不合格として市
場に出荷されない。

【０００５】しかし、不合格品と判断された液晶表示装
置でも、不良の発生具合によっては配線パターン等の修
正を行うことによって、規定の基準をクリアできる場合
があり、一度不合格になった表示装置であっても修正に
より良品として救済できるものもある。

【０００６】この欠陥修正工程についても、液晶表示装
置の用途によって異なる。例えば、パーソナルコンピュ
ーター、液晶ＴＶ（テレビジョン）や携帯型情報端末
（ＰＤＡ：Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｄｅｇｉｔａｌ Ａｓｓ
ｉｓｔａｎｔ）等のいわゆる直視タイプと、プロジェク
ターやＯＨＰ等の投影タイプとでは、修正する絵素の位
置を特定するための座標特定工程及び修正工程が以下の
ように異なっていた。

【０００７】まず、直視タイプの液晶表示装置を実装前
のパネル形態で欠陥修正する場合について説明する。

【０００８】液晶表示装置に対して、予めバックライト
上で点灯直視検査を行って点欠陥や断線等の欠陥を確認
する。そして、図１１（ａ）及び図１１（ｂ）に示すよ
うに、液晶表示装置１のカラーフィルター形成側基板
（以下、ＣＦ基板と称する）１ｂのガラス表面に直接、
検査員が欠陥絵素周辺の概略位置にマーキング２６を行
い、次工程の修正工程へと搬送される。なお、この図１
１（ｂ）において、１ａは薄膜トランジスタ形成側基板
（以下、ＴＦＴ基板と称する）を示す。

【０００９】修正工程では、図１２及び図１３に示すよ
うに、液晶表示装置１をマーキング２６が施されたＣＦ
基板１ｂ側を下面にしてセットプレート２にセットし、
その後、液晶表示装置１の端子部の下方に位置している
プローブピン３５により圧接する。液晶表示装置１はプ
ローブピン３５を介して点灯信号入力装置（図示せず）
からの信号により点灯される。

【００１０】検査員は、ＴＦＴ基板１ａのガラスを通し
てプローブピン３５の下方に位置する光源３６からの照
明によって、前工程で予めマーキング２６が施された位
置を目視により観察する。そして、マーキング２６位置
を確認しながら、その概略位置まで操作ボード３８を操
作して、ＸＹテーブル１５を移動させる。

【００１１】液晶表示装置１が搬送された上方には、Ｃ
ＣＤカメラ５とリペア用レーザー３７とがその光軸を一
致させて設置されている。検査員は、倍率を変更したり
しながらモニター１１に拡大された映像を見て、欠陥が
確認された絵素の位置を特定して修正箇所を絞り込む。
そして、配線パターンをレーザーによって切断したり、
絵素自体の黒点化を行ったりして、欠陥絵素の修正等を
行っていた。なお、この図１３において、４は顕微鏡筒
を示す。

【００１２】次に、投影タイプの液晶表示装置を実装後
のモジュール形態で欠陥修正する場合について説明す
る。

【００１３】投影タイプの液晶表示装置について、その
検査及び欠陥位置の特定方法は、例えば特開平９−７３
０５９号公報や特開平１０−３９２６８号公報に開示さ
れている。この投影タイプの液晶表示装置においては、
最終製品の使用形態に近づけるために、図１４に示すよ
うに、液晶プロジェクション４１に液晶表示装置１をセ
ットしてスクリーン４２に投影した状態で、製品と全く
同一の光学系を用いて検査及び欠陥絵素の位置特定を行
っていた。

【００１４】しかしながら、液晶プロジェクション４１
の投影時には、概して、液晶表示装置１のすぐ近くに投
影レンズや偏光板という障害物が配置されているため、
欠陥絵素をスクリーン４２上では判別できても、その欠
陥絵素の位置を示すためのマーキングを直接液晶表示装
置の表示面に施すことはできない。このため、図１４に
示すような座標特定装置を用いて欠陥絵素の位置を求め
た後、欠陥絵素の修正を行っていた。なお、図１４
（ａ）は上面図、図１４（ｂ）は側面図であり、８は透
過照明を示し、１５は精密ＸＹテーブルを示す。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、昨今の液晶
業界の動向を鑑みると、液晶表示装置自体の価格が急激
に下落しており、その反面、生産数は増加していく傾向
にある。

【００１６】特に、直視タイプの液晶表示装置は、今ま
で主流であったパーソナルコンピューター等のＯＡ分野
以外の用途でも様々な分野での用途が期待されており、
増産が見込まれている。

【００１７】このため、上述したような従来の座標特定
装置や欠陥修正装置を用いた方法では、以下のような問
題があった。

【００１８】まず、予め検査工程でマーキングが施され
た液晶表示装置を修正装置上にセットし、検査員が目視
によってマーキング位置を確認しながらＸＹテーブルを
移動させて、顕微鏡の視野範囲に映し出される位置まで
液晶表示装置を移動させる。そして、倍率を変更したり
しながら修正箇所を絞り込んで配線パターンをレーザー
により切断したり、絵素自体を黒点化したりして修正を
行う。

【００１９】この修正までに要する付帯作業時間、即
ち、欠陥絵素の確認と修正箇所の特定に要する作業に非
常に多くの時間が費やされている。このことが欠陥修正
装置において１枚の表示装置の修正にかかる時間を長く
する（タクトを落とす）原因となっていた。

【００２０】これを防ぐために単純に欠陥修正装置の台
数を増やすという方法は、欠陥修正装置自体が非常に高
価で大がかりであり、さらに、装置の設置スペースも大
きいため、現実的ではない。このままでは今後の急激な
増産に対応することができないため、欠陥修正装置のタ
クトを上げる必要がある。

【００２１】一方、従来の投影タイプの液晶表示装置の
検査においては、上述したように予め前工程で欠陥絵素
位置を特定できる座標特定装置が用いられている。しか
し、この座標特定装置は、製品と全く同一の光学系を用
いて画像を投影しながら検査及び位置特定を行う必要が
あり、製品の光学系は概してその機種毎に大きく異なる
ため、機種切り換えに膨大な時間がかかり、座標特定装
置を機種毎に製作する必要があった。

【００２２】さらに、投影タイプの座標特定装置におい
ては、スクリーンに液晶表示装置の表示画面を投影する
ため、装置の設置スペースが大きくなる。加えて、装置
周辺を暗室化する必要があるので装置設置環境が大がか
りとなり、しかも、暗室内での投影像の検査が必要であ
るという観点から、検査員の目への負担が大きく、検査
員の視力が低下する原因になっていた。

【００２３】本発明は、このような従来技術の課題を解
決すべくなされたものであり、迅速かつ確実に表示装置
の欠陥絵素位置の座標を特定することができる表示装置
の欠陥絵素座標特定装置を提供することを目的とする。

【００２４】

【課題を解決するための手段】本発明の表示装置の欠陥
絵素座標特定装置は、表示装置を支持して所定の位置に
移動させる移動手段と、該表示装置に表示信号を付与し
て各絵素を駆動させる駆動回路と、該駆動回路によって
駆動される絵素に光を照射し、各絵素の光学的変化をと
らえて欠陥絵素を確定する欠陥絵素確定手段と、確定さ
れた欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段と、特
定された欠陥絵素の位置座標を記録する記録手段とを有
し、そのことにより上記目的が達成される。

【００２５】前記欠陥絵素確定手段は、表示装置の表示
面における光学的変化の確認箇所を照らす光エネルギー
照射手段を有しているのが好ましい。

【００２６】前記光エネルギー照射手段は、ハロゲン光
源とファイバーからなっていてもよい。

【００２７】前記光エネルギー照射手段は、発光ダイオ
ードからなっていてもよい。

【００２８】前記光エネルギー照射手段は、レーザー光
発生装置であってもよい。

【００２９】前記光エネルギー照射手段から出射される
光の前記表示装置に対する入射角及び照明強度を各々調
整する調整手段を有しているのが好ましい。

【００３０】前記欠陥絵素確定手段がとらえた各絵素の
光学的変化に基づいて画像が表示される画面上に、欠陥
絵素の位置を特定するための位置合わせ基準を表示する
目印手段を有しているのが好ましい。

【００３１】前記記録手段は、表示装置の各製造工程、
検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において得ら
れる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置との間
に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を備えている
のが好ましい。

【００３２】以下に、本発明の作用について説明する。

【００３３】本発明にあっては、表示装置を支持して移
動させる移動手段と、表示装置を点灯させるための駆動
回路と、点灯された絵素に光を照射し、その光学的変化
をとらえて欠陥絵素を確定できる欠陥絵素確定手段と、
欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段と、欠陥絵
素の位置座標を記録する記録手段とを有しているので、
表示装置がモジュール形態であってもパネル形態であっ
ても、欠陥絵素の確認及び修正箇所の特定を迅速に行う
ことが可能である。

【００３４】上記欠陥絵素確定手段は、ＣＣＤ（電荷結
合素子）カメラのような光学的変化を取り込む手段によ
り光学的変化をとらえることができる。そして、光学的
変化の確認箇所を明確化するために、表示装置の表示面
を選択的に照らす光エネルギー照射手段を有しているの
が好ましい。この光エネルギー照射手段は、ＣＣＤカメ
ラへの映像取り込み用にも用いられる。

【００３５】例えば、ハロゲン光源とファイバーからな
る照明を用いれば、光が直線的な経路を辿るので、周囲
の不要な箇所に逃げることがない。又は、集光レンズで
集光された照明や発光ダイオード等、表示装置に応じた
最適な照明手段を用いればよい。或いは、レーザー光発
生装置であってもよく、レーザーポインター等を用いれ
ば、指示手段と角度調整機構とを設けて視野範囲を指示
可能である。

【００３６】さらに、光エネルギー照射手段から出射さ
れる光の表示装置に対する入射角度及び照明強度を各々
調整する調整手段を設ければ、表示装置に応じた最適な
照明光を用いて欠陥絵素の特定を行うことが可能であ
る。

【００３７】上記欠陥絵素確定手段がとらえた各絵素の
光学的変化に基づいてモニター等の画面上に画像が表示
される。その画面上にクロスライン等の位置合わせ基準
を表示させれば、欠陥絵素を所定の位置まで移動させる
ための基準として、容易に座標位置特定が可能である。

【００３８】上記記録手段は、表示装置の各製造工程、
検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において得ら
れる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置との間
に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を設けるのが
好ましい。これにより、情報伝達手段を介して得られる
各種情報に基づいて、検査や欠陥修正等を行うことがで
きるので、作業効率が向上する。

【００３９】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて、図面を参照しながら説明する。

【００４０】（実施形態１）本実施形態では、モジュー
ル形態の液晶表示装置について、欠陥絵素座標の特定を
行う場合について説明する。

【００４１】図１は、本実施形態の欠陥絵素座標特定装
置の構成を示す図である。

【００４２】この欠陥絵素座標特定装置は、架台１６上
にモーター駆動される精密ＸＹテーブル１５が設置され
ており、精密ＸＹテーブル１５には液晶表示装置１を位
置決めしてセットするためのセットプレート２及び位置
決めブロック３が取り付けられている。

【００４３】液晶表示装置１をセットプレート２に固定
する方法としては、真空吸着法による方法や、永久磁石
によりモジュール形態の液晶表示装置１を固定する方
法、機械的クランプにより液晶表示装置１を保持する方
法、液晶表示装置１に位置決め穴を設けておいて位置決
めピンに挿入する方法等が考えられる。

【００４４】セットプレート２には液晶表示装置１の絵
素エリアよりも大きい抜き穴が設けられている。セット
プレート２の上方には、液晶表示装置１の表示面を観察
するための顕微鏡筒４、ＣＣＤカメラ５及び同軸落射照
明６が設置されている。さらに、セットプレート２の下
方には透過照明８（または同軸落射照明）が設けられ、
同軸落射照明６の光路７と透過照明８からの光路９の光
軸は一致している。従って、セットプレート２の抜き穴
を通して透過照明８がＣＣＤカメラ５により確認でき、
各絵素の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定すること
ができる。本実施形態では、同軸落射照明６及び透過照
明８として、ハロゲン光源とファイバーからなるファイ
バー照明を用いている。

【００４５】さらに、架台１６上には、パーソナルコン
ピューター１０、モニター１１、キーボード１２、マウ
ス１３及び電子ライン発生器１４が設置されている。

【００４６】次に、この欠陥絵素座標特定装置の制御に
ついて、図２を用いて説明する。この図２は、欠陥絵素
座標特定装置の制御ブロック図である。

【００４７】液晶表示装置１は点灯回路１９に接続さ
れ、点灯状態で精密ＸＹテーブル１５上のセットプレー
ト２上にセットされる。透過照明８からの光照射によっ
て、各絵素の光学的変化が顕微鏡筒４を介してＣＣＤカ
メラ５によりとらえられ、とらえられた映像信号はビデ
オ信号としてスーパーインポーズドボード１８を通して
パーソナルコンピューター１０に入力される。

【００４８】パーソナルコンピューター１０にはモニタ
ー１１が接続され、スーパーインポーズドボード１８を
通してパーソナルコンピューター１０に入力されたビデ
オ信号がパーソナルコンピューター１０の表示画面の背
景にスーパーインポーズされて表示される。

【００４９】また、パーソナルコンピューター１０には
キーボード１２やマウス１３が接続され、各種入力が行
えるようになっている。

【００５０】さらに、パーソナルコンピューター１０に
は電子ライン発生器１４が接続され、モニター１１の画
面上に位置合わせ基準（目印）となるクロスライン２１
を映し出すことができる。

【００５１】このパーソナルコンピューター１０からの
指示により、モーターコントローラー１７は精密ＸＹテ
ーブル１５を自由に制御することができる。

【００５２】次に、この欠陥絵素座標特定装置の動作に
ついて、図３〜図６を用いて説明する。

【００５３】まず、図３に示すように、予め前工程であ
る検査工程において、液晶表示装置１の欠陥絵素周辺に
マーキング２６を施しておく。そして、液晶表示装置１
に点灯回路１９を接続した後、位置決めブロック３を基
準としてセットプレート２上にセットして固定する。

【００５４】次に、図１における精密ＸＹテーブル１５
を用いて、予めモーターコントローラー１７にデータ登
録しておいた液晶表示装置１の一角の絵素２０が、顕微
鏡筒４の視野内に映し出される位置まで液晶表示装置１
を移動させる。このとき、ＣＣＤカメラ５に入力された
画像は、スーパーインポーズボード１８を経由してモニ
ター１１の画面に図４（ａ）に示すように映し出され
る。そして、モニター１１の画面には、電子ライン発生
器１４によりクロスライン２１が基準線として同時に映
し出される。

【００５５】その後、検査員がモニター１１を確認しな
がらキーボード１２又はマウス１３を用いて精密ＸＹテ
ーブル１５を移動させて、図４（ｂ）に示すように一角
の絵素２０がクロスライン２１の交差エリア２２と一致
するように液晶表示装置１を移動させる。

【００５６】このときの精密ＸＹテーブル１５の位置デ
ータ（Ｓｘ１、Ｓｙ１）を、パーソナルコンピューター
１０に記憶させる。

【００５７】このＳｘ１、Ｓｙ１から、図５に示す精密
ＸＹテーブル１５の原点２５から一角の絵素２０までの
距離Ｘ１、Ｙ１が下記式（１）及び（２）により求めら
れる。

【００５８】Ｘ１＝Ｓｘ１×Ｐ ・・・（１） Ｙ１＝Ｓｙ１×Ｐ ・・・（２） Ｐ ： 精密ＸＹテーブル１５の分解能 同様にして、精密ＸＹテーブル１５の原点２５から反対
側の一角の絵素２３までの距離Ｘ２、Ｙ２も求める。

【００５９】これにより、図５に示す精密ＸＹテーブル
１５の直交軸に対する液晶表示装置１の傾きＡθが下記
式（３）により求められる。

【００６０】 Ａθ＝ｔａｎ^-1｛（Ｙ２−Ｙ１）／（Ｘ２−Ｘ１）｝ ・・・（３） 以上により、液晶表示装置１が精密ＸＹテーブル１５の
直交軸に対してどのような位置関係（水平位置、垂直位
置、傾き方向）で設置されているかが求められる。

【００６１】次に、以下のようにして欠陥絵素２４の位
置を求める。

【００６２】まず、検査員は、図３に示すように液晶表
示装置１の表示面に施されたマーキング２６を目印にし
て精密ＸＹテーブル１５を移動させて、欠陥絵素２４が
顕微鏡筒４の視野内に映る位置まで移動させる。この実
施形態では、液晶表示装置１に照射される同軸落射照明
６の光路７や透過照明８の光路９を目印にして、マーキ
ング２６部分を顕微鏡４の視野内に映る位置まで移動さ
せる。このとき、ＣＣＤカメラ５に入力された画像は、
スーパーインポーズボード１８を経由してモニター１１
の画面に図６（ａ）に示すように映し出される。そし
て、モニター１１の画面には、電子ライン発生器１４に
よるクロスライン２１が基準線として同時に映し出され
る。

【００６３】その後、検査員がモニター１１を確認しな
がらキーボード１２又はマウス１３を用いて精密ＸＹテ
ーブル１５を移動させて、図６（ｂ）に示すように欠陥
絵素２４がクロスライン２１の交差エリア２２と一致す
るように液晶表示装置１を移動させる。

【００６４】このときの精密ＸＹテーブル１５の位置デ
ータ（Ｒｘ、Ｒｙ）を、パーソナルコンピューター１０
に記憶させる。

【００６５】このＲｘ、Ｒｙから、図５に示す精密ＸＹ
テーブル１５の原点２５から欠陥絵素２４までの距離Ｔ
ｘ、Ｔｙが下記式（４）及び（５）により求められる。

【００６６】Ｔｘ＝Ｒｘ×Ｐ ・・・（４） Ｔｙ＝Ｒｙ×Ｐ ・・・（５） Ｐ ： 精密ＸＹテーブル１５の分解能 これらに基づいて、図５に示す液晶表示装置１における
欠陥絵素２４の位置座標（ｂｘ、ｂｙ）が下記式（６）
及び（７）により求められる。

【００６７】 ｂｘ＝（Ｔｘ−Ｘ１）×ｃｏｓ（Ａθ）−（Ｔｙ−Ｙ１）×ｓｉｎ（Ａθ） ・・・（６） ｂｙ＝（Ｔｘ−Ｘ１）×ｓｉｎ（Ａθ）＋（Ｔｙ−Ｙ１）×ｃｏｓ（Ａθ） ・・・（７） 上記式（１）〜（７）により求められる欠陥絵素２４の
位置座標は、パーソナルコンピューター１０により算出
して記録する。これにより、欠陥絵素２４の位置座標が
求められる。

【００６８】最後に、液晶表示装置１をセットプレート
２から取り外し、点灯回路１９とのケーブルを外す。

【００６９】（実施形態２）本実施形態では、パネル形
態の液晶表示装置について、欠陥絵素座標の特定を行う
場合について説明する。

【００７０】図７は、本実施形態の欠陥絵素座標特定装
置の構成を示す図である。

【００７１】この欠陥絵素座標特定装置は、架台１６上
にモーター駆動される精密ＸＹテーブル１５が設置され
ている。精密ＸＹテーブル１５には液晶表示装置１を位
置決めしてセットするためのセットプレート２が取り付
けられており、このセットプレート２には、液晶表示装
置１を点灯させるための点灯治具２７が取り付けられて
いる。

【００７２】液晶表示装置１を点灯治具２７にセットす
る方法としては、図８に示すように、点灯治具２７内の
ベース板２７ａに取り付けられている位置決めピン２８
に液晶表示装置１を押し当てた後、上蓋２７ｂを閉じて
固定する方法が挙げられる。上蓋２７ｂには金属電極２
９が液晶表示装置１のパネル電極３０に対応する部分に
取り付けられており、図示しない点灯回路からの信号が
金属電極２９を通してパネル電極３０に入力される。

【００７３】セットプレート２及び点灯治具２７には液
晶表示装置１の絵素エリアよりも大きい抜き穴が設けら
れている。セットプレート２の上方には、液晶表示装置
１の表示面を観察するための顕微鏡筒４、ＣＣＤカメラ
５及び同軸落射照明６が設置されている。さらに、セッ
トプレート２の下方には透過照明８が設けられ、同軸落
射照明６の光路７と透過照明８からの光路９の光軸は一
致している。従って、セットプレート２の抜き穴を通し
て透過照明８がＣＣＤカメラ５により確認でき、各絵素
の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定することができ
る。本実施形態では、同軸落射照明６及び透過照明８と
して、ハロゲン光源とファイバーからなるファイバー照
明を用いてる。

【００７４】さらに、架台１６上には、パーソナルコン
ピューター１０、モニター１１、キーボード１２、マウ
ス１３及び電子ライン発生器１４が設置されている。

【００７５】この欠陥絵素座標特定装置を用いて欠陥絵
素の位置座標を求める方法については、実施形態１と同
様であるので、ここでは説明を省略する。

【００７６】上記実施形態１及び実施形態２に示すよう
に、液晶表示装置がモジュール形態であってもパネル形
態であっても、液晶表示装置がセットされる部分を交換
することにより、欠陥絵素座標特定装置自体に大がかり
な改造や機種切り換えをしなくても欠陥絵素の位置座標
を確実に求めることができる。さらに言及すれば、液晶
表示装置の形態が上述のようなガラス基板（以下、大
板）から完全に分断された単一状態である必要はなく、
一方向のみに分断され、一列に数枚の液晶表示装置がつ
ながったままの短冊状態や、それよりも前段階の大板状
態でも同様に欠陥絵素の位置座標を求めることができ
る。

【００７７】上記実施形態１及び実施形態２において、
照明手段はＣＣＤカメラ５への映像取り込み用途の他
に、マーキング２６の位置を顕微鏡筒４の視野内に追い
込むための目印としても大きな役割を果たしている。こ
こではファイバー照明からなる同軸落射照明６と透過照
明８とを例に挙げたが、これらに限定されるものではな
く、図１及び図７に示すような斜め方向からの斜方照明
３９であってもよい。また、集光レンズによる集光照明
やＬＥＤ照明等、各表示装置に応じて最適な照明手段を
選択することができる。表示装置への照明光の入射角度
は、図１及び図７に示すような角度調整機構４０により
適宜変更することができ、各表示装置の欠陥認識のため
に最適な角度に調整及び固定することができる。さら
に、マーキングの位置を顕微鏡筒の視野内に追い込むた
めの目印という意味では、レーザーポインター等の指示
手段と角度調整機構を設けて、顕微鏡筒の視野範囲を指
示するように角度調整して設置することも可能である。
照明強度の調整は、ハロゲン光源、ＬＥＤ光源、レーザ
ーポインター等を問わず、図示しない各々の光源用電源
設けられたつまみの調整により行うことができる。

【００７８】上記実施形態１及び実施形態２において、
液晶表示装置１の表示面に施されたマーキング２６の確
認方法としては、検査員の目視により顕微鏡筒４の視野
内に追い込む方法を用いたが、これに限られない。例え
ば、図９（ａ）に示すように、顕微鏡筒４の対物レンズ
部分をレボルバー３１として倍率を変えられるように
し、まず、低倍率レンズで絵素エリア全体を観察してマ
ーキング２６を確認し、徐々に高倍率レンズに切り換え
て欠陥絵素２４の位置を特定する方法を用いてもよい。
又は、図９（ｂ）に示すように、高倍率の顕微鏡筒４か
ら独立して低倍率用カメラ３２を設け、まず、低倍率用
カメラ３２で絵素エリア全体を観察してマーキング２６
を確認し、モニター１１のカメラ映像を高倍率の顕微鏡
筒４側に切り換えて欠陥絵素２４の位置座標を特定する
方法を用いてもよい。

【００７９】さらに、上記実施形態１及び実施形態２で
は液晶表示装置１の一角の絵素２０や反対側の一角の絵
素２３及び欠陥絵素２４を、モニター１１の画面上のク
ロスライン２１の交差エリア２２に追い込む際に、検査
員が直接精密ＸＹテーブル１５を移動させることにより
位置特定を行ったが、これに限定されるものではない。
例えば、スーパーインポーズボード１８の代わりに画像
処理ボードを用いて自動アライメントを行うことによ
り、欠陥絵素２４を自動的に交差エリア２２に一致させ
て欠陥絵素２４の位置座標を特定することもできる。こ
の場合、ボードやカメラの分解能によるが、組み合わせ
次第でマーキング工程を省略することも可能である。

【００８０】（実施形態３）本実施形態では、情報集中
装置との間に情報伝達手段を設けた欠陥絵素座標特定装
置の例について説明する。

【００８１】上記実施形態１及び実施形態２のようにし
て特定された欠陥絵素２４の位置座標は、次工程である
欠陥修正装置にデータとして伝達する必要がある。

【００８２】そこで本実施形態３では、図１０に示すよ
うに、情報伝達手段としてのネットワーク回線３４を介
して、欠陥絵素座標特定装置５１と情報集中装置（ホス
トコンピュータ）５０とが接続されている。また、表示
装置の点灯検査装置５２、欠陥修正装置５３、及び表示
装置の各部材を製造するための各製造装置５４について
も同様に、ネットワーク回線３４を介して情報集中装置
５０と接続されている。

【００８３】これにより、全体としてＣＩＭ（Ｃｏｍｐ
ｕｔｅｒ ＩｎｔｅｇｒａｔｅｄＭａｎｕｆａｃｔｕｒ
ｉｎｇ）が構築され、表示装置の各製造工程、検査工程
及び欠陥修正工程において得られる各種情報が、ネット
ワーク回線３４を介して情報集中装置５０に集中する。
その結果、特定の装置の情報集中装置５０との間で、各
種情報の送受信が可能となる。

【００８４】このような情報としては、上述の欠陥絵素
２４の位置座標データの他にも、例えばロットナンバ
ー、パネルナンバー、各工程投入日時、工程担当者、良
品／不良品判定結果、不良内容、良品率（歩留り）、欠
陥修正結果などが挙げられる。

【００８５】このようなシステムの下で、本発明の欠陥
絵素座標特定装置により得られる欠陥絵素２４の位置座
標データや欠陥内容等の情報がネットワーク回線３４を
介して情報集中装置５０に送信される。これにより、次
工程である欠陥修正工程において、欠陥修正装置５３は
ネットワーク回線３４を介して情報集中装置５０から上
記情報を受信することが可能となる。

【００８６】このように、本実施形態３では、各製造装
置から得られる情報を情報集中装置５０とネットワーク
回線３４を介して送受信することができるので、表示装
置を効率的に生産することができる。さらに言及すれ
ば、上述した自動アライメント機能、液晶表示装置１の
点灯回路１９への接続やセットプレート２へのセッティ
ング等を自動供給／排出手段を設けることにより、欠陥
絵素座標特定装置に検査員を立ち合わせる必要が無くな
り、検査工程における情報を利用して欠陥絵素２４の座
標特定工程や欠陥修正工程を完全に自動化することがで
きる。その結果、人件費を削減して商品のコストダウン
を図ることができる。

【００８７】このように各装置間及び情報集中装置との
間で情報伝達を行うための手段は、上述のネットワーク
回線３４に限られない。例えば、フロッピーディスク、
光磁気ディスク、書込型コンパクトディスク（ＣＤ−
Ｒ）、書換型コンパクトディスク（ＣＤ−ＲＷ）、書換
型ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＡＭ）等の電磁媒体（記録媒体）
が挙げられ、各記録媒体に上記情報を記録して各装置と
情報集中装置との間で情報伝達を行うようにしても、本
実施形態と同様の効果を得ることができる。

【００８８】なお、上記実施形態１〜実施形態３におい
て、表示装置の種類としては透過型、反射型、半透過
（一部透過）型、透過／反射切換型等、あらゆる種類の
表示装置に適用可能である。ＣＣＤカメラへの映像取り
込み状態に応じて、各表示装置に適した照明方式を採用
することにより、これらの表示装置の欠陥絵素２４の位
置座標を特定することができる。例えば、アモルファス
シリコン液晶表示装置、低温ポリシリコン液晶表示装置
（ＬＰＳ）、高温ポリシリコン液晶表示装置（ＨＰ
Ｓ）、ＬＣＤオン単結晶シリコンデバイス、ＥＬ（Ｅｌ
ｅｃｔｒｏ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）表示装置、プ
ラズマ表示装置、プラズマアドレス液晶表示装置（ＰＡ
ＬＣ）等、各種表示装置の欠陥絵素位置座標を求める際
にも、本発明を適用可能であることは言うまでもない。
いずれの場合でも、透過用照明や反射用照明等の各表示
装置に最適な状態で照明光量をセッティングしておき、
照明光量を切り換えるだけでよいので、投影タイプのよ
うに光学系の機種切換の問題は生じない。

【００８９】

【発明の効果】以上詳述したように、本発明による場合
には、モジュール形態及びパネル形態のいずれであって
も、確実に絵素欠陥座標位置を特定してその座標データ
を後の工程に利用することが可能である。よって、今後
価格の下落が進むと予想される中で益々生産が増加する
と考えられるパーソナルコンピューター、液晶ＴＶ、携
帯型情報端末（ＰＤＡ）、液晶ディスプレイ付きビデオ
カメラ、カーナビゲーション用途等の所謂直視タイプの
液晶表示装置の欠陥絵素修正に際して、非常に高価で大
がかりな欠陥修正装置の設置台数を大幅に増やすこと無
く、効率的で確実な修正を行うことができる。

【００９０】本発明の欠陥絵素座標特定装置自体は安価
であり、広大な設置スペースの必要もない。また、表示
装置を設置するセットプレートと点灯回路を適宜用意す
ることにより機種切り換えも容易であるため、機種汎用
性にも優れており、表示装置に応じた照明手段を用意す
ることにより、確実に欠陥絵素を確定することができ
る。

【００９１】本発明の欠陥絵素座標特定装置、各種製造
装置、検査装置や欠陥修正装置等をネットワーク回線等
の情報伝達手段を介して情報集中装置に接続することに
より、各種情報を各装置で得ることができる。よって、
迅速で確実な生産を行うことができる。さらに、本発明
の欠陥絵素座標特定装置に自動供給／排出手段と自動ア
ライメント手段を設けることにより、検査員が座標特定
工程に立ち合う必要が無いため、人件費を削減すること
ができる。

【００９２】このように、点欠陥や断線不良等の絵素欠
陥位置座標を正確に特定して修正することにより、良品
率の向上を図ることができ、さらには、製品のコストダ
ウンを実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施形態１の欠陥絵素座標特定装置の概略構成
を示す図である。

【図２】実施形態１の欠陥絵素座標特定装置を制御する
制御系のブロック図である。

【図３】モジュール状態での点灯検査工程において、検
査員によりマーキングされた液晶表示装置の外観イメー
ジを示す図である。

【図４】実施形態１及び実施形態２においてモニターに
取り込まれる映像の模式図である。

【図５】実施形態１及び実施形態２において、欠陥絵素
座標データを求める方法を説明するための図である。

【図６】実施形態１及び実施形態２においてモニターに
取り込まれる映像の模式図である。

【図７】実施形態２の欠陥絵素座標特定装置の概略構成
を示す図である。

【図８】実施形態２の欠陥絵素座標特定装置における点
灯治具を示す斜視図である。

【図９】本発明に使用可能な顕微鏡筒の他の例を示す図
である。

【図１０】実施形態３において、各装置と情報集中装置
をネットワーク回線を介して接続したシステムを示す図
である。

【図１１】パネル状態での点灯検査工程において、検査
員によりマーキングされた液晶表示装置の外観イメージ
を示す図である。

【図１２】従来の欠陥修正装置の概略構成を示す斜視図
である。

【図１３】図１２の欠陥修正装置の要部を示す図であ
る。

【図１４】従来の投影タイプの座標特定装置の概略構成
を示す図である。

【符号の説明】

１ 液晶表示装置 ２ セットプレート ３ 位置決めブロック ４ 顕微鏡筒 ５ ＣＣＤカメラ ６ 同軸落射照明 ７ 同軸落射照明の光路 ８ 透過照明 ９ 透過照明の光路 １０ パーソナルコンピューター １１ モニター １２ キーボード １３ マウス １４ 電子ライン発生装置 １５ 精密ＸＹテーブル １６ 架台 １７ モーターコントローラー １８ スーパーインポーズボード １９ 点灯回路 ２０、２３ 一角の絵素 ２１ クロスライン ２２ 交差エリア ２４ 欠陥絵素 ２５ 原点 ２６ マーキング ２７ 点灯治具 ２７ａ ベース板 ２７ｂ 上蓋 ２８ 位置決めピン ２９ 金属電極 ３０ パネル電極 ３１ レボルバー ３２ 低倍率用カメラ ３４ ネットワーク回線（情報伝達手段） ３９ 斜方照明 ４０ 角度調整機構 ５０ ホストコンピューター（情報集中装置） ５１ 座標特定装置 ５２ 点灯検査装置 ５３ 欠陥修正装置 ５４ 製造装置

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 表示装置を支持して所定の位置に移動さ
   せる移動手段と、 該表示装置に表示信号を付与して各絵素を駆動させる駆
   動回路と、 該駆動回路によって駆動される絵素に光を照射し、各絵
   素の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定する欠陥絵素
   確定手段と、 確定された欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段
   と、 特定された欠陥絵素の位置座標を記録する記録手段とを
   有する表示装置の欠陥絵素座標特定装置。
2. 【請求項２】 前記欠陥絵素確定手段は、表示装置の表
   示面における光学的変化の確認箇所を照らす光エネルギ
   ー照射手段を有する請求項１に記載の表示装置の欠陥絵
   素座標特定装置。
3. 【請求項３】 前記光エネルギー照射手段は、ハロゲン
   光源とファイバーからなる請求項２に記載の表示装置の
   欠陥絵素座標特定装置。
4. 【請求項４】 前記光エネルギー照射手段は、発光ダイ
   オードからなる請求項２に記載の表示装置の欠陥絵素座
   標特定装置。
5. 【請求項５】 前記光エネルギー照射手段は、レーザー
   光発生装置である請求項２に記載の表示装置の欠陥絵素
   座標特定装置。
6. 【請求項６】 前記光エネルギー照射手段から出射され
   る光の前記表示装置に対する入射角度及び照明強度を各
   々調整する調整手段を有する請求項２乃至請求項５のい
   ずれかに記載の表示装置の欠陥絵素座標特定装置。
7. 【請求項７】 前記欠陥絵素確定手段がとらえた各絵素
   の光学的変化に基づいて画像が表示される画面上に、欠
   陥絵素の位置を特定するための位置合わせ基準を表示す
   る目印手段を有する請求項１乃至請求項６のいずれかに
   記載の表示装置の欠陥絵素座標特定装置。
8. 【請求項８】 前記記録手段は、表示装置の各製造工
   程、検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において
   得られる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置と
   の間に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を備えて
   いる請求項１乃至請求項７のいずれかに記載の表示装置
   の欠陥絵素座標特定装置。