JP3478813B2 - 輝点欠陥の修正方法及び液晶表示器の作製方法 - Google Patents
輝点欠陥の修正方法及び液晶表示器の作製方法Info
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Description
及び液晶表示器に関する。
器に設けられたユーザインタ−フェースである。最近の
液晶表示器は大型且つ単位面積当たりの画素数が高密度
である。したがって、1つの液晶表示器当たり数個の画
素に欠陥があることもある。
色輝点として画面上に現れる。従来、この白色輝点が表
示されないように液晶表示器の欠陥を修正する方法が考
案されている。
にバックライトが取り付けられ、表面側にカラーフィル
タ及び偏光板(膜)が取り付けられて完成する。また、
液晶表示器の完成品においては、液晶パネルは裏面側に
TFT(薄膜トランジスタ)等のスイッチング素子を備
えている。
法は、以下の文献(1)〜(12)に記載されている。
側からレーザ光を照射することによって、液晶の配向状
態を乱すことにより、当該画素の表示色をバックライト
点灯時と消灯時の各色の中間色とする方法を開示してい
る。このような方法においては、欠陥の修正後、カラー
フィルタが表示器の表面側に取り付けられる。
面側からレーザ光を照射することにより、液晶内に発生
する気泡によって当該液晶を除去した後、液晶スイッチ
ング用のトランジスタの特定部分にレーザを更に照射し
て、これを切断することにより、欠陥画素を修正する方
法を開示している。
面側からレーザ光を照射することにより、表示器の最表
面に位置する偏光膜に傷をつけることにより、欠陥画素
を修正する方法を開示している。液晶及びカラーフィル
タを順次透過して当該偏光膜に至った光は、傷のついた
部分で散乱し、この画素においては中間色が表示され
る。
面側からレーザ光を照射することにより、カラーフィル
タを焼いて黒化させる欠陥画素の修正方法を開示してい
る。
面側からレーザ光を照射することにより、液晶スイッチ
ング素子の特定部分を切断する欠陥が画素の修正方法
と、表示器の移動方法について開示している。
面側からレーザ光を照射することにより、偏光膜及びガ
ラス基板に傷をつけることにより、欠陥画素を修正する
方法を開示している。液晶及びカラーフィルタを順次透
過し、ガラス基板に至った光は、傷のついた部分で拡散
し、この画素においては中間色が表示される。
の配線上をプローブでなぞることにより、配線の検査を
行い、配線に不良がある場合には、当該配線にレーザ光
を照射して切断し、しかる後、液晶表示器の組み立てを
行う方法を開示している。
面側からレーザ光をマスクを介して照射することによ
り、液晶を垂直配向させ、欠陥画素を修正する方法を開
示している。
面側から、特定の走査速度と直径のレーザ光を照射する
ことにより、配向膜又は裏面側の偏光膜を傷つけ、これ
により液晶の配向性を低下させ、欠陥画素を修正する方
法を開示している。
射することにより、液晶内に発生する気泡によって当該
液晶を除去した後、続いてレーザ光を照射することで液
晶充填空間の内面に形成されている物質を配向上に飛散
・付着させることにより、欠陥画素を修正する方法を開
示している。
ラビングの仕方を工夫することで、欠陥の発生を本質的
に抑制する方法を開示している。
前に、欠陥画素を観察しながら、レーザ光を照射して、
これを修正し、液晶パネルを移動させる装置を開示して
いる。
なわち、バックライトを取り付けない状態で、液晶パネ
ルの欠陥状態を評価し、その欠陥を裏面側から修正する
方法(文献(2,5,8,9))と、表面側から修正す
る方法(文献(1,3,4,6,10))とが知られて
いる。また、従来、液晶パネルを組み上げる前に欠陥の
発生を未然に防ぐ方法(文献(7、11))や、液晶パ
ネルを組み上げる前にレーザ光を照射する際の観察光学
系についても知られている。
方法においては、液晶表示器における輝点欠陥の修正に
改良の余地がある。本発明は、このような課題に鑑みて
なされたものであり、輝点欠陥を充分に修正可能な輝点
欠陥の修正方法及び液晶表示器を提供することを目的と
する。
輝点欠陥の修正方法は、液晶パネルの裏面側にバックラ
イトを取り付ける工程と、前記バックライトを取り付け
た状態で、前記液晶パネルの画像表示側から、カラーフ
ィルタを介して、前記液晶パネルに含まれる輝点欠陥に
欠陥修正用のレーザ光を照射する工程とを備えることを
特徴とする。
照射する場合、カラーフィルタがレーザ光照射の弊害と
考えられていたため、バックライトの取り付け前に行わ
れていた。バックライトを取り付けた状態で輝点欠陥に
レーザ光を照射することはなく、輝点欠陥が発見された
場合には、バックライトを取り外して液晶パネルの裏面
側からレーザ光を照射していた。
著しく低下させる。本発明の方法においては、バックラ
イトの取り付け後に画像表示側から液晶パネルに含まれ
る輝点欠陥にレーザ光を照射するので、バックライトを
取り外す必要が無くなり、製造のスループットが著しく
改善される。当初、カラーフィルタの損傷によって欠陥
修正に不具合が発生するものと予想されたが、この予想
に反してレーザ光の照射によって充分に欠陥修正が行わ
れた。
記バックライトの取り付け前に、前記液晶パネルの画像
表示側に保護フィルムを貼り付ける工程と、前記レーザ
光の照射時に前記保護フィルムを介して前記輝点欠陥を
観察し、前記レーザ光照射時の照射位置に前記輝点欠陥
を移動させる工程とを更に備えることを特徴とする。
観察する必要があるが、液晶パネルの表面には微小な凹
凸があるため、観察像がボケる場合がある。このような
場合、保護フィルムを貼り付けると、観察像が鮮明にな
り、輝点欠陥位置をより正確に検出し、これをレーザ光
照射位置に移動させることができる。この保護フィルム
は、バックライトの取り付け時においても液晶パネルの
保護も行う。換言すれば、保護フィルムが、バックライ
トの取り付け前には保護機能を有し、バックライトの取
り付けた後においては観察像の鮮明化を行うことにな
る。
晶表示器は、微小な凹凸を有する表面を画像表示側に備
えた液晶表示器であって、前記表示面上にレーザ光照射
跡の形成された保護フィルムが画像表示側に貼り付けら
れてなる。また、本発明に係る輝点欠陥の修正方法は、
液晶パネルの前記バックライトへの取り付け工程は、前
記液晶パネルの外周部及び前記バックライトの外周部を
共に枠に固定することによって行われることを特徴とす
る。また、本発明に係る輝点欠陥の修正方法は、前記レ
ーザ光の照射工程前に、前記液晶パネルのID番号を欠
陥修正装置の制御装置に入力する工程と、前記液晶パネ
ルに前記バックライトが取り付けられてなる液晶表示器
を前記欠陥修正装置にセットする工程と、前記ID番号
に対応する欠陥位置の座標情報に基づいて、前記液晶表
示器を移動させる工程とを備えることを特徴とする。ま
た、本発明に係る輝点欠陥の修正方法は、前記バックラ
イトを点灯させて前記液晶パネルを裏面側から照明し、
前記液晶パネルの像を撮像素子によって撮影する工程
と、前記液晶表示器を全黒状態で動作させる工程と、こ
の時撮影された画像情報に基づき、発光した欠陥が、前
記欠陥修正装置において出射されるレーザ光の結像レン
ズの光軸上に位置するようにXY方向駆動ステージを微
小駆動させて前記液晶表示器を更に移動させる工程とを
更に備えることを特徴とする。また、本発明に係る輝点
欠陥の修正方法は、前記制御装置に前記液晶表示器の水
平面内におけるアライメント調整を行わせる工程を更に
備えることを特徴とする。また、本発明に係る輝点欠陥
の修正方法は、前記レーザ光の照射工程は、レーザ光照
射によって前記液晶パネルの液晶層内に気泡を発生させ
る第1照射工程と、前記気泡発生後のレーザ光照射によ
って前記液晶パネルの配向膜を飛散させる第2照射工程
とを備えることを特徴とする。また、本発明に係る輝点
欠陥の修正方法は、前記レーザ光は、Nd:YAGレー
ザ発振器又はエキシマレーザ発振器から出射されること
を特徴とする。また、本発明に係る輝点欠陥の修正方法
は、前記レーザ光の照射工程の後、前記撮像素子によっ
て撮像された画像内の輝度が、設定された閾値以下とな
った場合に、輝点欠陥修正終了と判定することを特徴と
する。また、本発明に係る輝点欠陥の修正方法は、前記
第2照射工程においては、前記液晶表示器を水平面内に
おいて移動させながら、レーザ光のパルスを出射し、次
々にレーザ光の照射位置を変えていくことを特徴とす
る。また、本発明に係る輝点欠陥の修正方法は、前記第
2照射工程のレーザ光の径は、前記第1照射工程のレー
ザ光の径よりも小さいことを特徴とする。また、本発明
に係る液晶表示器は、上述の欠陥修正方法によって欠陥
修正されたものであることを特徴とする。
の修正方法(リペア方法)について説明する。
図1に示した液晶表示器LCDのII−II矢印縦断面
図、図3は液晶表示器LCDを一部破断して示す液晶表
示器LCDの斜視図である。
裏面側にバックライトBLを取り付けてなる。それぞれ
の外周部を金属枠MFM内に固定することにより、液晶
パネルLCPにバックライトBLが取り付けられる。バ
ックライトBLから出射された光は、下側偏光板PP
1、下側ガラス基板GS1、下側配向膜OF1、液晶層
LC、上側配向膜OF2、透明電極TE2、ブラックマ
トリクス又はブラックストライプ等の遮光枠BM内に赤
(R)、緑(G)、青(B)の着色樹脂が埋設されてなる
カラーフィルタCF、上側ガラス基板GS1、上側偏光
板PP2、反射防止膜(誘電体多層膜)DFM、保護フ
ィルムPFMを順次透過する。保護フィルムPFMは、
下部の反射防止膜DFMの凹凸面を覆うので、表示され
る画像を鮮明にしている。
Cの配向を制御する膜であり、本例では、ガラス基板G
S1,GS2上にコーティングされた配向制御用の有機
膜に、ラビングという物理的な処理を施すことによって
形成される。また、液晶層LCの幅方向への漏れを抑制
するため、TFT側基板(PP1,GS1,OF1)と
カラーフィルタ側基板(PFM,DFM,PP2,GS
2,CF,TE,OF2)との間に、枠体FMが介在し
ている。
PP1によって特定の偏光成分が選択され、液晶層LC
が偏光方位を90度回転させれば、この回転した偏光成
分がカラーフィルタCFを透過し、上側偏光板PP2に
入射する。上側偏光板PP2の偏光方位が、下側偏光板
PP1の偏光方位に対して90度回転していれば、この
時、バックライトBLの光は表示側へ抜け、カラーフィ
ルタCFの透過色が表示される。
ば、バックライトBLの光は表示側に抜けず、カラーフ
ィルタCFの透過色は表示されない。すなわち、この時
には黒色が観察される。詳説すれば、液晶層LCがな
い場合、配向膜が無い又はその配向性付与度が低いた
めに液晶層LCが配向性を有さない場合、或いは電圧
の印加によって液晶層LCの分子が縦方向に並んだ場合
には、黒色表示ということになる。
の偏光方位の関係は原理的には幾つもある。また、偏光
板を用いない形式の表示方法も提案されている。
低下すると、液晶層LCにおける光の透過率が低下する
ように設定されているものとする。
における1つの着色樹脂(G)の1画素内の領域を、T
FT側基板に設けられたスイッチング素子と共に抜き出
して示す斜視図である。スイッチング素子は薄膜トラン
ジスタ(TFT)Sであり、薄膜トランジスタSには電
界印加用の透明電極TE1が電気的に接続されている。
透明電極TE1と透明電極TE2との間に印加される電
圧を制御すると、液晶層LC内の電界が変化し、これを
透過する偏光方位を制御することができる。すなわち、
薄膜トランジスタSを制御することで、図2に示したバ
ックライトBLからの白色光Lの透過率を制御すること
ができる。
は、液晶層LCを挟む配向膜OF1,OF2を有する液
晶パネル本体の画像表示側にカラーフィルタCFを設け
てなる液晶パネルにおける輝点欠陥の修正方法におい
て、この輝点欠陥の位置を検出する第1工程と、検出さ
れた輝点欠陥に画像表示側から、カラーフィルタCFに
孔が開くエネルギーを有するレーザ光LBをカラーフィ
ルタCFに照射し、このレーザ光を配向膜OF1,OF
2に到達させる第2工程とを備える。
いて黒色表示を行い、これをCCD(ビデオ)カメラに
より観察することにより検出し、検出された位置に一致
するようにレーザ光源からレーザ光LBを照射する。こ
の位置は、有限の面積を有する領域として与えられる。
レーザ光LBの照射時においては、この領域内の指定さ
れた地点にレーザ光LBを照射する。この領域は透明電
極TE1の大きさに一致する。
を通過している。すなわち、保護フィルムPFMが貼っ
てあるので、レーザ光LC照射時にボケの少ない画像を
得ることができ、正確な欠陥位置を検出することができ
る。
重心位置から所定距離の位置にレーザ光LBを照射す
る。また、この領域の端部の位置を検出して、当該端部
からの離隔距離を指定し、レーザ光LBを照射してもよ
い。本例のレーザ光LBは平行光又はカラーフィルタC
Fよりも深部側に焦点を有する。
な径(光軸に垂直な断面積が大きい)を有し、この照射
によってカラーフィルタCFに孔を開けると共に、液晶
層LC内に気泡を発生させる。カラーフィルタCFの材
料の一部は配向膜OF1に付着する。
LCPの部分断面図である。カラーフィルタCFの着色
樹脂R、透明電極TE2、配向膜OF2、OF1、透明
電極TE1に孔が開き、孔の周囲には付着物が堆積し、
また、液晶層LC中に気泡BBが発生している。気泡の
大きさはレーザ光LBのエネルギー密度に依存する。な
お、エネルギー密度は、エネルギー/断面積で与えられ
る。レーザ光LBのエネルギー密度は、気泡BBが複数
の画素を含む大きさを有するように設定される。
上記よりも小さな径(光軸に垂直な断面積が小さい)を
有し、上記気泡BBの消滅前に照射される。この照射に
よって、少なくともカラーフィルタCFの材料の一部は
配向膜に付着する。
第2工程(以降)において照射されたレーザ光LBより
も大径のレーザ光LBを第2工程の前にカラーフィルタ
に照射しておいたので、かかるレーザ光LBによって液
晶層LC内に気泡を形成することができ、第2工程(以
降)において照射されるレーザ光LBによってカラーフ
ィルタ材料や他の構成物の付着を促進することができ
る。
料又は顔料を含ませてなる。カラーフィルタ材料の付着
によって配向膜OF1による液晶層LCの配向性を低下
させることができる。レーザ光のエネルギーは、カラー
フィルタCFを黒化させるに必要なレーザ光のエネルギ
ーよりも大きい。
配向膜OF1を貫通しており、貫通孔の周辺部にカラー
フィルタ材料が付着している。換言すれば、カラーフィ
ルタCFに形成された孔の径よりも、液晶層LCの配向
性低下に寄与する領域の面積の方が大きい。
LCにおける光の透過率が低下する。したがって、黒色
表示時の輝点欠陥は当該配向性の低下によって、その明
るさが減少し、当該欠陥部位は目立たなくなる。また、
白色表示時においては、偏光方位の関係から原理的には
当該欠陥部位を光が透過しない場合においても、僅かな
成分が欠陥部位を透過した場合に、カラーフィルタに孔
が開いているので、カラーフィルタCFによる減衰量が
小さくなり、当該欠陥部位が目立たなくなる。
の低下をもたらすが、カラーフィルタCFに形成された
孔の径は、白色表示時における輝度の増加に寄与するの
で、上述のように、カラーフィルタCFに形成された孔
の径よりも、液晶層LCの配向性低下に寄与する領域の
面積の方が大きい場合には、黒色表示時の輝度の低下と
白色表示時の輝度の増加を部分的に独立して制御するこ
とができる。
正装置のブロック図である。XYZステージSTG上に
は、液晶表示器LCDが配置される。落射照明ILから
出射した照明光はハーフミラーHM1によって反射さ
れ、ハーフミラーHM2を透過し、結像レンズ(対物レ
ンズ)OBJによって集光され、液晶表示器LCDの画
像表示側を照明する。なお、ハーフミラーHM1,HM
2は、それぞれ、ダイクロイックミラーとすることがで
きる。
光、或いはバックライトBLからの光Lは、レンズOB
J、ミラーHM2,HM2、結像レンズLNSを順次通
過して、撮像素子(電荷結合素子)CCDに入射する。
したがって、液晶表示器LCDの対物レンズOBJ直下
の像が撮像素子CCDよって撮像され、この映像信号は
制御装置CONTに入力され、表示器DSPに表示され
る。制御装置CONTは、入力された映像信号に基づい
て、欠陥部位の位置を検出する。
て黒色表示を行い、XYZステージSTGを駆動しなが
ら、撮像素子CCDに観察される液晶表示器LCDの表
面の走査を行う。走査時において、輝点が観察された場
合、すなわち、映像信号に含まれる輝度信号が所定値を
超えた場合、その領域を欠陥部位の位置として認定す
る。当該位置の検出後、XYZステージSTGを駆動
し、結像レンズOBJの直下に欠陥部位を位置させ、上
述したように、レーザ光LBを照射する。
Bは、減光器(アッテネータ)ATによって光量調整が
行われた後、シャッターSTを通過し、反射率が50%
を超えるハーフミラーHM3によって反射され、マスク
交換器MC内に設置された所望のマスクを透過し、ミラ
ーHM2によって反射され、結像レンズOBJによって
集光され、検出された欠陥部位に照射される。レーザ光
源LSとしては、Nd:YAGレーザ発振器、XeCl
エキシマレーザ発振器等を用いることができる。
ジSTGの他、レーザ光源LS、減光器AT、シャッタ
ーST、マスク交換器MC、落射照明ILを、それぞ
れ、制御信号SM、SL、SA、SS、SC、SIによって制
御している。ハーフミラーHM3を透過したレーザ光L
Bの光量は光検出器PDによって検出され、制御装置C
ONTは当該検出値に基づいて、液晶表示器LCDに照
射されるレーザ光LBのエネルギーを制御する。
ザ光LBのエネルギーの大きさを変えることができ、マ
スク交換器MCを制御すればレーザ光LBの断面形状や
直径を変えることができ,シャッターSTの開閉を制御
すれば、レーザ光LBの照射時間を制御することができ
る。なお、マスク交換器MC内には遮光板もマスクとし
て格納されている。また、このマスクは、レンズOBJ
の倍率に応じて切り替えることができる。
複数の対物レンズ群からなり、それぞれが電動のレボル
バRV(図7参照)に固定されている。制御装置CON
Tは、レボルバRVを回転させることにより、対物レン
ズOBJの倍率を可変することができる。レーザ光LB
の照射及び観察には25倍の高倍率レンズが、観察には
7.6倍の低倍率のレンズが用いられる。すなわち、レ
ーザ光LBの照射時においては、観察時よりも倍率を上
げる。なお、上記では、レーザ光の照射光学系と、観察
光学系とは同軸光学系を構成している。
図、図8は側面図である。なお、図6において示した表
示器DSP及び制御装置CONTの記載は省略してあ
る。
ージ上に固定されたXY方向駆動ステージと、当該XY
方向駆動ステージ上に固定された載置台1からなる。載
置台1は水平に配置される。XY方向駆動ステージは、
直交する2軸方向に延在するボールネジとACサーボモ
ータからなり、載置台1を水平面内において前後左右に
移動させる。Z方向駆動ステージは、XY方向駆動ステ
ージを鉛直方向に移動させる。
るレーザ光学系OP1は、レボルバRVの上部に取り付
けられている。
レーザ光学系OP1等の装置主要部は、除振台の上に固
定された整形箱BOX内に収納されており、整形箱BO
Xは前面側に開口OPNを有する。XY方向駆動ステー
ジを駆動し、更に、このステージと載置台1との間の相
対的一次元水平移動を行うスライドレールSLDを介し
て載置台1を移動させると、開口OPNから液晶表示器
LCDが露出する。この場合、作業者は液晶表示器LC
Dを容易に装着できる。
動を行う信号を中継する駆動信号中継ユニットCIRが
設けられている。作業者は、液晶表示器LCDを載置台
1上に固定すると共に、液晶表示器LCDから延びる配
線を中継ユニットCIRに接続する。中継ユニットCI
Rは、載置台1の下部に配置されているので、これらの
接続配線距離を短くし、駆動信号の遅延を抑制する。な
お、液晶表示器LCDが大型の場合には、中継ユニット
は複数であることが好ましく、スライドレールSLDに
よって中継ユニットCIRは整形箱BOXの外に取り出
されるので、作業が効率化される。
正工程を示すフローチャートである。
に入力する(S100)。すなわち、液晶表示器LCD
の種類及び当該パネルのID番号を制御装置CONTに
入力する。この入力はキーボードを介して行ってもよい
が、液晶表示器LCDにバーコードが貼り付けられてい
る場合には、バーコードリーダを用いて行っても良い。
取り付ける(S102)。開口OPNから載置台1を引
き出し、この上に液晶表示器LCDをセットする。更
に、液晶表示器LCDと中継ユニットCIRとを電気的
に接続する。
LCDの水平面内におけるアライメント調整を行う(S
104)。すなわち、液晶表示器LCDの画素列がX又
はY方向に一致するように、水平面内において液晶表示
器LCDの位置を移動させる。なお、液晶パネルLCP
のアライメントマークAMは、金属枠MFMの内側に位
置するため、制御装置CONTは撮像素子CCDによっ
て撮像された画像内の端部の位置を検出し、この位置を
基準に移動量に補正をかけることができる。
陥)の座標を制御装置CONTに入力する(S10
6)。上述の説明においては、制御装置CONTは液晶
表示器LCDの表面の走査後に、続けて、欠陥修正を行
ったが、ここでは、欠陥位置の検査自体は別工程におい
て既に行われているものとする。このような場合におい
て、制御装置CONTが、LANケーブルを介してホス
トコンピュータに接続されている場合、制御装置CON
TはID番号に対応する欠陥位置の座標をホストコンピ
ュータから受信することができる。
8)。すなわち、まず、制御装置CONTは、上記座標
情報に基づいて、欠陥が結像レンズOBJの直下に位置
するようにXY方向駆動ステージを駆動する。続いて、
バックライトBLを点灯させ、液晶パネルLCPを裏面
側から照明し、液晶パネルLCPの像を撮像素子CCD
によって撮影する。中継ユニットCIRを介して液晶表
示器LCDを全黒状態で動作させる。この時、欠陥は発
光するので、制御装置CONTは撮影された画像情報に
基づき、欠陥が結像レンズ(対物レンズ)OBJの光軸
上に位置するように、XY方向駆動ステージを微小駆動
する。
心位置が欠陥位置として与えられる。対物レンズOBJ
の実視野は1.4mm程度に設定する。このような方法
は、大型のパネル、例えば22型のパネルを水平移動さ
せる場合にも有効であり、移動ストローク500mm、
位置決め精度が30μm程度であっても輝度欠陥位置を
正確に検出することができる。
(S110)。この場合、制御装置CONTは、まず、
マスク交換器MCを駆動し、第1のマスクを光路上に移
動させ、続いて、レーザ光源LSを駆動する。レーザ光
源LSからは1つのレーザ光パルスが出射され、第1の
マスクを透過して、欠陥に照射される。パルスの生成は
シャッタSTの断続的な開閉によって行うこともでき
る。この照射によって、カラーフィルタCFに孔が開
き、液晶層LC中には気泡BBが発生する。この時、気
泡BBを撮像素子CCDによって確認することができ
る。
を行う(S112)。この場合、制御装置CONTは、
マスク交換器MCを駆動し、第2のマスクを光路上に移
動させる。レーザ光LBの出力は減光器ATによって調
整される。
フィルタCFに孔を開ける(S114)。この場合、レ
ーザ光源LSからは、まず、1つのレーザ光パルスが出
射され、第2のマスクを透過して、欠陥内の別の地点に
照射される。この照射によって、カラーフィルタCFに
孔が開き、カラーフィルタ材料、ITO材料、配向膜材
料等が飛散し、配向膜OF1上に付着する。XY方向駆
動ステージを駆動することによって液晶表示器LCDを
水平面内において移動させながら、繰り返し周波数fで
レーザ光LBのパルスを出射し、次々にレーザ光LBの
照射位置を変えていく。
は、第1のマスク使用時のレーザ光LBの径よりも小さ
い。2回目以降のレーザ光LBは第1回目のものよりも
エネルギーが小さい。これは、液晶層LCが気泡によっ
て排除された状態においては、エネルギーは小さくて
も、材料の充分な付着を行わせることができることがで
きるからである。なお、付着した堆積物は、気泡BBの
消滅後も付着したままである。
16)。この場合、表示器DSPに表示された画像を観
察しながら、輝度欠陥の修正状態を検査し、入力された
結果を制御装置CONTに入力し、制御装置CONT内
に記憶する。なお、制御装置CONTがLANケーブル
を介してホストコンピュータに接続されている場合は、
修正終了の旨をホストコンピュータに通知する。なお、
輝度の閾値を設定し、画像内の輝度が全て当該閾値以下
となった場合に、制御装置CONTが自動的に輝度欠陥
の修正終了を判定してもよい。
方法は、液晶パネルLCPの裏面側にバックライトBL
を取り付ける工程と、バックライトBLの取り付け後
に、液晶パネルLCPの画像表示側から、液晶パネルL
CPに含まれる輝点欠陥にレーザ光LBを照射する工程
とを備える。
照射する場合、カラーフィルタがレーザ光照射の弊害と
考えられていたため、バックライトの取り付け前に行わ
れていた。バックライトを取り付けた状態で輝点欠陥に
レーザ光を照射することはなく、輝点欠陥が発見された
場合には、バックライトを取り外して液晶パネルの裏面
側からレーザ光を照射していた。
著しく低下させるが、本方法においては、バックライト
BLの取り付け後に画像表示側から液晶パネルLCPに
含まれる輝点欠陥にレーザ光LBを照射するので、バッ
クライトBLを取り外す必要が無くなり、製造のスルー
プットが著しく改善される。当初、カラーフィルタの損
傷によって欠陥修正に不具合が発生するものと予想され
たが、上述のように、この予想に反してレーザ光LBの
照射によって充分に欠陥修正が行われた。
イトBLの取り付け前に、液晶パネルLCPの画像表示
側に保護フィルムPFMを貼り付ける工程と、レーザ光
の照射時に保護フィルムPFMを介して輝点欠陥を観察
し、レーザ光照射時の照射位置に輝点欠陥を移動させる
工程とを更に備えている。
ルLCPを観察する必要があるが、液晶パネルLCPの
表面には微小な凹凸があるため、観察像がボケる場合が
ある。このような場合、保護フィルムPFMを貼り付け
ると、観察像が鮮明になり、輝点欠陥位置をより正確に
検出し、これをレーザ光照射位置に移動させることがで
きる。この保護フィルムPFMは、バックライトBLの
取り付け時においても液晶パネルの保護も行う。換言す
れば、保護フィルムPFMが、バックライトBLの取り
付け前には保護機能を有し、バックライトBLの取り付
けた後においては観察像の鮮明化を行うことになる。
器LCDは、レーザ光照射跡の形成された保護フィルム
PFMが画像表示側に貼り付けられてなる。
・修正工程を示すフローチャートである。
(検査I:S1)。
むが、欠陥が発見された場合には、TFT基板側から当
該欠陥部位にレーザ光を照射し、欠陥を修正する(S
2)。この修正工程は、レーザ光の照射方向が逆である
点を除いて、上記方法と同じである。この修正工程の
後、再び、修正が確実に行われたどうかを検査する(検
査II:S3)。
CP、或いは修正が確実に行われた液晶パネルLCPに
は、バックライトBLが取り付けられ、モジュールとし
て組み立てられる(S4)。
ち、液晶表示器LCDの検査を行う(検査III:S
5)。
了となるが、欠陥が発見された場合には、カラーフィル
タ基板側から当該欠陥部位にレーザ光を照射し、欠陥を
修正し(S6)、その後、検査を行う(検査IV:S
7)。
IV)の方法は、上述のステップ116と同一であり、
また、ステップS6において行われる輝度欠陥の修正工
程は、上述の通りである。
断線検査、ムラ・シミ検査、液晶内に設けられるスペー
サの不均一性検査、偏光板の検査を行うこともできる。
また、輝点欠陥は、TFTアレイ不良、カラーフィルタ
不良、異物混入等によって生じ、断線はTFTアレイ不
良、異物混入等によって生じ、ムラ・シミは洗浄不良、
配向印刷不良、ラビング不良、異物混入によって生じ、
スペーサの不均一性はスペーサの散布や異物混入によっ
て生じる。
ーザ光LBの断面形状と、第2回目以降に照射される微
調整用レーザ光LBの断面形状について説明する。
LBの透明電極TE1上での形状を示し、図12は第2
回目以降に照射されるレーザ光LBの透明電極TE1上
での形状を示す。これらの形状は、レーザ光LBの横断
面(光軸に垂直な断面)形状と同一であり、カラーフィ
ルタCF或いは配向膜OF1、OF2に形成された貫通
孔の形状と同一である。
(c)、図11(d)、図11(e)に示すように、第
1回目に照射されるレーザ光LBの断面形状は円形又は
方形であり、円形の場合は直径、方形の場合は最大径が
8μm乃至24μmに設定され、レーザ光LBのエネル
ギー密度は15J/cm2乃至50J/cm2である。
(c)、図12(d)に示すように、第2回目以降に照
射される複数のレーザ光LBの断面形状は円形又は方形
であり、円形の場合は直径、方形の場合は最大径が2μ
m乃至4μmに設定され、レーザ光LBのエネルギー密
度は25J/cm2乃至65J/cm2である。レーザ光
LBが照射される領域の幅は2μm乃至透明電極TE1
の幅であり、長さは2μm乃至透明電極TE1の長さで
ある。これらは、それぞれX及びY方向に一致する。全
体としてレーザ光LBのスポットは複数個形成される
が、これらのスポットは行列状に整列する。行数は1行
以上である。なお、図12(d)に示されるレーザ光L
Bのスポットのうち大径のものは、図11(c)に示し
たものである。
だけ照射したが、2回以上照射してもよい。
点欠陥を充分に修正することができた液晶表示器を提供
することができる。
面図である。
晶表示器LCDの斜視図である。
の着色樹脂(G)の1画素内の領域を、TFT基板に設
けられたスイッチング素子と共に抜き出して示す斜視図
である。
図である。
図である。
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
極TE1上での形状を示す該当部位の平面図である。
明電極TE1上での形状を示す該当部位の平面図であ
る。
ライト、BM…遮光枠、BOX…整形箱、CCD…撮像
素子、CF…カラーフィルタ、CIR…駆動信号中継ユ
ニット、CONT…制御装置、DSP…表示器、TE1
…透明電極、FM…枠体、GS1,GS2…ガラス基
板、HM1,HM2…ハーフミラー、HM3…ハーフミ
ラー、IL…落射照明、L…白色光、LB…レーザ光、
LC…液晶層、LCD…液晶表示器、LCP…液晶パネ
ル、LNS…結像レンズ、LS…レーザ光源、MC…マ
スク交換器、MFM…金属枠、OBJ…結像レンズ、O
F1,OF2…配向膜、OP1…レーザ光学系、OPN
…開口、PD…光検出器、PFM…保護フィルム、PP
1,PP2…偏光板、RV…レボルバ、S…薄膜トラン
ジスタ、SLD…スライドレール、ST…シャッター、
STG…ステージ、TE2…透明電極。
Claims (12)
- 【請求項1】 液晶パネルの裏面側にバックライトを取
り付ける工程と、前記バックライトを取り付けた状態
で、前記液晶パネルの画像表示側から、カラーフィルタ
を介して、前記液晶パネルに含まれる輝点欠陥に欠陥修
正用のレーザ光を照射する工程とを備えることを特徴と
する輝点欠陥の修正方法。 - 【請求項2】 前記バックライトの取り付け前に、前記
液晶パネルの画像表示側に保護フィルムを貼り付ける工
程と、前記レーザ光の照射時に前記保護フィルムを介し
て前記輝点欠陥を観察し、前記レーザ光照射時の照射位
置に前記輝点欠陥を移動させる工程とを更に備えること
を特徴とする請求項1に記載の輝点欠陥の修正方法。 - 【請求項3】 前記液晶パネルの前記バックライトへの
取り付け工程は、前記液晶パネルの外周部及び前記バッ
クライトの外周部を共に枠に固定することによって行わ
れることを特徴とする請求項1又は2に記載の輝点欠陥
の修正方法。 - 【請求項4】 前記レーザ光の照射工程前に、前記液晶
パネルのID番号を欠陥修正装置の制御装置に入力する
工程と、前記液晶パネルに前記バックライトが取り付け
られてなる液晶表示器を前記欠陥修正装置にセットする
工程と、前記ID番号に対応する欠陥位置の座標情報に
基づいて、前記液晶表示器を移動させる工程とを備える
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載
の輝点欠陥の修正方法。 - 【請求項5】 前記バックライトを点灯させて前記液晶
パネルを裏面側から照明し、前記液晶パネルの像を撮像
素子によって撮影する工程と、前記液晶表示器を全黒状
態で動作させる工程と、この時撮影された画像情報に基
づき、発光した欠陥が、前記欠陥修正装置において出射
されるレーザ光の結像レンズの光軸上に位置するように
XY方向駆動ステージを微小駆動させて前記液晶表示器
を更に移動させる工程とを更に備えることを特徴とする
請求項4に記載の輝点欠陥の修正方法。 - 【請求項6】 前記制御装置に前記液晶表示器の水平面
内におけるアライメント調整を行わせる工程を更に備え
ることを特徴とする請求項4又は5に記載の輝点欠陥の
修正方法。 - 【請求項7】 前記レーザ光の照射工程は、レーザ光照
射によって前記液晶パネルの液晶層内に気泡を発生させ
る第1照射工程と、前記気泡発生後のレーザ光照射によ
って前記液晶パネルの配向膜を飛散させる第2照射工程
とを備えることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか
1項に記載の輝点欠陥の修正方法。 - 【請求項8】 前記レーザ光は、Nd:YAGレーザ発
振器又はエキシマレーザ発振器から出射されることを特
徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の輝点欠
陥の修正方法。 - 【請求項9】 前記レーザ光の照射工程の後、前記撮像
素子によって撮像された画像内の輝度が、設定された閾
値以下となった場合に、輝点欠陥修正終了と判定するこ
とを特徴とする請求項5に記載の輝点欠陥の修正方法。 - 【請求項10】 前記第2照射工程においては、前記液
晶表示器を水平面内において移動させながら、レーザ光
のパルスを出射し、次々にレーザ光の照射位置を変えて
いくことを特徴とする請求項7に記載の輝点欠陥の修正
方法。 - 【請求項11】 前記第2照射工程のレーザ光の径は、
前記第1照射工程のレーザ光の径よりも小さいことを特
徴とする請求項7又は8に記載の輝点欠陥の修正方法。 - 【請求項12】 請求項1乃至11のいずれか1項に記
載の輝点欠陥の修正方法を含む液晶表示器の作製方法。
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