CN101996543B - 缺陷像素地址检测方法以及检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明的目的在于提供一种能以低价的手段高精度地检测缺陷像素的地址的缺陷像素检测方法和装置。其使用可以对作为检查对象的显示面板的一部分进行拍摄的、能够移动的拍摄装置，使该拍摄装置移动对被发现的缺陷像素进行拍摄，根据在被拍摄的图像上确定了缺陷像素的位置时的该拍摄装置的移动距离和与作为检查对象的显示面板的像素尺寸以及有关该排列形态的信息，来求出缺陷像素的地址。

Description

缺陷像素地址检测方法以及检测装置

技术领域

本发明涉及一种检测液晶显示器面板、等离子显示器面板等显示面板的缺陷像素的地址的缺陷像素地址检测方法以及检测装置。

背景技术

对于液晶显示器面板等显示面板，通常在单元步骤的最终检查中进行使面板实际点亮来调查有无缺陷像素的点亮检查。点亮检查通过对连接于作为检查对象的显示面板的像素的信号线从外部供给信号来进行，但该信号的供给方式大致可分为全接触方式和短路棒方式两个种类。

全接触方式是使检查探针以一对一对应的方式与各对应于有源矩阵基板的X、Y信号线的电极接触并使显示面板点亮的方式，因为可以使各个像素分别点亮，因此原则上能够对缺陷像素的地址进行确定。但是，要通过全接触方式实际确定缺陷像素的地址，需要利用信号发生器进行检查对象面板的点亮控制并算出地址，因为具有地址算出功能的信号发生器一般价格较高，因此通过全接触方式检测缺陷像素的地址，具有装置价格高的缺点。

另一方面，短路棒方式是连接多个信号线的电极进行共通化，一下子对多个像素供给信号并使其一并点亮的方式，因此，即便发现缺陷像素，确定该缺陷像素的地址通常还是非常困难的。

为了解决短路棒方式中的上述缺点，例如在专利文献1中提出这样一种装置，其采用与作为检查对象的液晶面板相对配置的、被称为调制器的面板，和与该调制器有一定的位置关系、将调制器的表面捕捉为一张图像的CCD摄像装置，根据CCD摄像装置所拍摄的图像与液晶面板的像素地址的对应关系，检测缺陷像素的地址。但是，该装置需要灵敏度良好的CCD摄像装置和显示面板尺寸的调制器，因此不能便宜地构成检查装置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开平9-50013号公报

发明内容

发明要解决的问题：

本发明是为了消除上述现有的点亮检查装置所具有的缺点而做成的，其目的在于提供一种不需要高价的信号发生器或调制器等的装置就可以通过便宜的手段高精度地检测缺陷像素的地址的缺陷像素地址检测方法和缺陷像素地址检测装置。

解决问题的手段

本发明的发明者为了解决上述课题而反复锐意研究，结果发现采用可以对作为检查对象的显示面板的一部分进行拍摄的、能够移动的拍摄装置，使该拍摄装置移动对被发现的缺陷像素进行拍摄，根据在被拍摄的图像上确定了缺陷像素的位置时的该拍摄装置的移动距离和作为检查对象的显示面板的像素尺寸以及有关其排列形态的信息，可以求出缺陷像素的地址，从而完成了本发明。

即，本发明通过提供一种缺陷像素地址检测方法来解决上述课题，该缺陷像素地址检测方法对由多个像素构成的显示面板的缺陷像素的地址进行检测，其特征在于，至少包括以下步骤：

(a)将作为检查对象的显示面板放置于检查部，使其点亮的步骤；

(b)对点亮了的显示面板有无缺陷像素进行检查的步骤；

(c)在发现了缺陷像素时，使所述拍摄装置移动以对缺陷像素进行拍摄，并在被拍摄的图像上确定缺陷像素的位置的步骤；

(d)根据与被确定的缺陷像素在图像上的位置和所述拍摄装置的相对于原点在X、Y轴方向上的移动距离、以及该显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息，求出被确定的缺陷像素在显示面板上的地址的步骤。

又，本发明通过提供一种缺陷像素地址检测装置来解决上述课题，所述缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括：检查部，至少具有放置台和探测单元，能够使作为检查对象的显示面板点亮；拍摄装置，能够相对于被放置在检查部上的显示面板在X、Y轴方向上移动；测量装置，对所述拍摄装置的X、Y轴方向的移动距离进行测量；显示装置，显示被所述拍摄装置拍摄的图像；存储装置，对与作为检查对象的所述显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息进行存储；地址运算装置，其被程序化，若被显示于所述显示装置上的图像上缺陷像素的位置被确定，则根据该缺陷像素在该图像上的位置和此时的所述拍摄装置的X、Y轴方向的移动距离、以及与存储于所述存储装置中的所述显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息，求出所述显示面板中缺陷像素的地址。

在本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置中，最好设置使用能够移动的拍摄装置对作为该拍摄装置的移动轴的X、Y轴和作为检查对象的显示面板的X、Y轴的偏移进行校正的校准步骤或者校准装置。作为拍摄装置的移动轴的X、Y轴和作为检查对象的显示面板的X、Y轴的偏移例如可以通过能够移动的拍摄装置对设置在显示面板的2边上的合计三个的对齐标记进行拍摄，通过读取求出那些对齐标记的X-Y坐标来求出。这样的校准步骤或者校准装置最好在作为检查对象的显示面板的品种变更的情况下进行。通过设置校准步骤或者校准装置，对拍摄装置的X、Y移动轴相对于品种各异的显示面板的X、Y轴的歪斜进行校正，能够更准确地检测缺陷像素地址。

又，在本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置中，最好设置面板倾斜校正步骤或者面板倾斜校正装置。作为检查对象的显示面板每次被新装载在检查部上都要对齐到所期望的检查位置，但是每个显示面板可能会产生些许的偏移，因此尤其是在发现了缺陷像素时，通过面板倾斜校正步骤或者面板倾斜校正装置，对该显示面板的倾斜进行校正。面板倾斜校正步骤或者面板倾斜校正装置例如是这样进行校正的：通过能够移动的拍摄装置对设在显示面板的1边上的至少两个地方的对齐标记进行拍摄，读取其X-Y坐标，求得与之前通过校准步骤或者校准装置求出的对应的两个地方的对齐标记的X-Y坐标的差，根据该差对在校准步骤得到的X轴和/或Y轴坐标轴的偏移量进行校正。

进一步地，在本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置中，最好设置颜色校验步骤或者颜色校验装置。在彩色显示的情况下，显示面板是有规则地排列RGB三色的像素而构成的，因此拍摄装置如果是彩色拍摄装置，则通过观察由拍摄装置拍摄的缺陷像素的周围的像素的颜色，可以容易地辨别在图像上确定的缺陷像素的颜色是RGB中的哪一个。因此，校验缺陷像素的被辨别出的颜色是否与对应于被求出的缺陷像素的地址的显示面板的像素的颜色一致，在一致的情况下，将该地址作为要求出的地址来使用，在不一致的情况下，则选择与该地址最接近、且与该被辨别出的颜色相同的像素的地址，将其作为要求出的欠陷画素的地址来使用，由此可以进一步提高缺陷像素地址的检测精度。

进一步地，本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置的较佳实施形态是设有位移校正步骤或者位移校正装置。位移校正步骤或者位移校正装置，在发现了缺陷像素时，使所述拍摄装置移动，对与缺陷像素相同的X轴和/或Y轴坐标上的显示面板的像素矩阵的边部附近进行拍摄，求出该边部附近的像素相对于所述拍摄装置的X轴和/或Y轴原点向哪个方向位移多少，并将其用于缺陷像素地址的检测。这样，在设有位移校正步骤或者位移校正装置的情况下，即便在上述颜色校验步骤或者颜色校验装置不能充分确定缺陷像素的地址的情况下，也能够更准确地求出缺陷像素地址。

又，本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置的较佳实施形态为设有地址校正步骤或者地址校正装置。地址校正步骤或者地址校正装置，预先存储之前对缺陷像素进行的颜色校验步骤或者颜色校验装置所求出的像素地址的校正值、或者存储位移校正步骤或者位移校正装置所求出的像素地址的校正值，根据该校正值对同一显示面板的后续的缺陷像素的被求出的地址进行校正。该地址校正步骤或者地址校正装置在以下这样的情况下是有效的，即由拍摄装置拍摄的图像上的缺陷像素的位置和实际的显示面板上的缺陷像素的位置的偏移方向以及偏移量无论同一显示面板中显示面板上的位置如何都大致一样。在具有该地址校正步骤或者地址校正装置的情况下，具有这样的优点，即如果通过颜色校验步骤或者位移校正步骤预先求得一次地址的校正值，则对于其后被检测的缺陷像素就不要进行颜色校验步骤或者位移校正步骤。

本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置也能够应用于全体接触方式以及短路棒方式中的某一种点亮方式，作为对象的显示面板也不限于液晶显示器面板，只要是由複数の像素构成的显示面板，可以将任何类型的显示面板作为对象。例如，等离子显示器面板、EL显示器面板、使用LED的显示器面板、FED面板等显示面板都可以作为本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置的对象。

发明的效果

本发明的缺陷像素地址检测方法及检测装置使用能够移动的拍摄装置的结构为，根据该拍摄装置的移动距离和与作为检查对象的显示面板的像素尺寸及其排列形态有关的信息，求出缺陷像素的地址，因此具有能简单且低价地制造装置、且能够求得缺陷像素的准确的地址的优点。又，由于具备校准步骤或者装置、面板倾斜校正步骤或者装置、颜色校验步骤或者装置、或者位移校正步骤装置，因此具有能够更高精度地检测缺陷像素地址的优点。

附图说明

图1是示出本发明的缺陷像素地址检测装置的一个实例的主视图。

图2是仅示出图1的关键部分的图。

图3是示出本发明的缺陷像素地址检测方法的一个实例的步骤的流程图。

图4是示出监视器画面的一个实例的图。

图5是图4的部分放大图。

图6示意性地示出使构成显示面板的像素矩阵的多个像素的排列形态与实物对应而显示出的排列地图。

图7是例示出缺陷像素和排列地图的其他位置关系的图。

图8是例示出缺陷像素和排列地图的另一其他位置关系的图。

图9是示出通过拍摄装置拍摄了Y轴原点附近的像素矩阵的状态的图。

图10是示出通过拍摄装置拍摄了X轴原点附近的像素矩阵的状态的图。

符号说明

1缺陷像素检测装置

2检查部

3装载部

4显示面板

5a、5b数据侧·门侧探测单元

6a、6b数据侧·门侧探测块

7a、7b、7c对齐用摄像装置

8监视器画面

9控制装置

10拍摄装置

11手柄

12X轴引导机构

13Y轴引导机构

14a、14b、14c对齐标记

15图像

16排列地图

17像素矩阵

c像素

S基准点

Gp显示面板原点。

具体实施方式

下面，使用附图对本发明进行详细说明，但本发明当然并不限于图示的形态。

图1是示出本发明的缺陷像素地址检测装置的一个实例的主视图。在图1中，1是缺陷像素地址检测装置，2是其检查部，3是装载部，4是作为检查对象的显示面板。在本例中，是对显示面板4为液晶面板的情形进行说明，但如上所述，本发明当作检测对象的显示面板4并不限于液晶面板。5a、5b分别是数据侧探测单元以及门侧探测单元，6a、6b分别是数据侧探测块以及门侧探测块。如图所示，分别在各个数据侧探测单元5a以及门侧探测单元5b上安装多个数据侧探测块6a以及门侧探测块6b。7a、7b、7c是对齐用摄像装置，8是监视器画面，9是控制装置，控制装置9具有未图示的各种存储装置、运算处理装置，在与外部之间输入输出信号或数据的输入输出接口、以及输入输出装置。

10是能够移动的拍摄装置。作为拍摄装置10，例如可以使用CCD摄像装置。由拍摄装置10拍摄的图像例如被显示在监视器画面8上。11是使拍摄装置10移动的手柄，12是能够沿X轴移动地支撑拍摄装置10的X轴引导机构，13、13是能够沿Y轴移动地支撑X轴引导机构12和拍摄装置10的Y轴引导机构。在X轴引导机构12以及Y轴引导机构13、13或者拍摄装置10上，设置有至少能够以μm单元测量拍摄装置10的X轴方向以及Y轴方向的移动的线性标度，例如检查人员利用手柄11使拍摄装置10在X、Y轴方向上移动时，测量其X轴方向以及Y轴方向的移动距离，与拍摄装置10的拍摄图像一起显示在监视器画面8上。

在拍摄装置10或者X、Y轴引导机构12、13上设置驱动机构，能够使得拍摄装置10的沿X轴引导机构12以及Y轴引导机构13、13的移动以自动方式进行。作为驱动机构，例如能够使用脉冲电动机，在这种情况下，通过对驱动脉冲电动机的脉冲数量进行计数，能够测量拍摄装置10的移动距离。另外，以自动方式使拍摄装置10移动的情况下，通过监视器画面8、或设置在控制装置9上的未图示的输入装置，检查人员能够适当地指示其移动方向以及移动距离。

图2是仅取出图1的关键部分进行显示的图。出于方便，将数据侧探测单元5a和门侧探测单元5b显示在从显示面板4稍微离开的位置上。如图2所示，在显示面板4的上边和左边的各个角上，总计设有3个对齐标记14a、14b、14c。一边利用对齐用摄像装置7a、7b、7c对该对齐标记14a、14b、14c进行拍摄，一边进行对齐。

又，如图2所示，拍摄装置10沿着X轴引导机构12以及Y轴引导机构13、13在图中箭头所示的方向上移动，能够以能移动到显示面板4上的任何位置的方式对显示面板4的表面进行拍摄。拍摄装置10的移动路径设定在相比数据侧以及门侧的各个探测块6a、6b、对齐用摄像装置7a、7b、7c更加远离显示面板4的位置，因此探测块6a、6b、对齐用摄像装置7a、7b、7c不会妨碍拍摄装置10的X、Y轴方向的移动。

另外，如后文所述，在本发明的缺陷像素地址检测装置中，需要利用拍摄装置10对对齐标记14a、14b、14c进行拍摄，因此对齐用摄像装置7a、7b、7c能够移动地安装于数据侧探测单元5a或者门侧探测单元5b上，在利用拍摄装置10对对齐标记14a、14b、或者14c进行拍摄时，能够移动到不妨碍其拍摄的位置上。又，可以根据情况，利用拍摄装置10代替对齐用摄像装置7a、7b、7c中的某一个或者两个以上使用。

图3是示出本发明的缺陷像素地址检测方法的步骤的流程图。下面，根据图1所示缺陷像素地址检测装置以及图3所示流程图对本发明的缺陷像素地址检测方法进行说明。

新品种面板装载

装载部3利用例如机械手，从未图示的输送装置取得作为检查对象的液晶面板，将其放置于能够向XYZθ方向移动的放置台上，并输送至检查部2。由此，装载部3将显示面板4装载在检查部2上。图3的流程图中的“新品种面板装载”表示的是改换作为检查对象的显示面板4的品种，将新的品种的显示面板4装载在检查部2上的步骤。

<对齐>

新品种的显示面板4被输送到检查部2上后，接着进行对齐步骤。该对齐步骤是将检查部2的数据侧以及门侧的探测块6a、6b的所有探针和显示面板4的所有电极对准以使得两者可靠地接触的步骤，这与至今为止进行的对齐没有什么变化。即，被放置在放置台上的显示面板4被装载在检查部2上后，载置有放置台的XYZθ驱动台被驱动，使得显示面板4移动，并将显示面板4对准到检查部2的规定的检查位置上，以使得数据侧以及门侧的探测块6a、6b的全部探针与显示面板4的全部电极可靠地接触。该对齐是这样进行的：通常通过对齐用摄像装置7a、7b、7c对对齐标记14a、14b、或者14c中的至少两个对齐标记进行拍摄，并使得放置台移动，从而使得这些至少两个对齐用标记来到对齐用摄像装置7a、7b、7c的视野内的标准位置。另外，此时，可以使用未图示的显微镜来确认数据侧以及门侧的探测块6a、6b的所有探针是否与显示面板4的所有电极可靠地接触。

(校准)

对齐步骤结束后，如图3所示进行校准步骤。该校准步骤是取得拍摄装置10的X、Y移动轴与由显示面板4的3个对齐标记14a、14b、14c形成的X、Y轴的偏移的步骤，该步骤是在改变检查对象面板的品种，将新品种的显示面板4装载到检查部2上时进行。校准步骤并不限于检查对象面板的品种改变时进行，也可以在相同品种面板的检查中根据需要在适当的时刻进行。又，在能够预想拍摄装置10的X、Y移动轴和由显示面板4的3个对齐标记14a、14b、14c形成的X、Y轴之间没有偏移的情况下，或者在已经获得有关该品种的面板的校准数据的情况下，可以不进行校准步骤。

校准通过利用能够移动的拍摄装置10拍摄三个对齐标记14a、14b、14c来进行。即，首先将拍摄装置10的视野内的基准点与显示面板4中位于设有三个对齐标记14a、14b、14c的两边的交点处的对齐标记14a的基准位置对齐。作为拍摄装置10的基准点，例如可以将其视野的中心点作为基准点，视野内的中心点可采用改变了亮度或颜色的点、或垂直相交的十字线的交点等来表示。又，作为对齐标记14a的基准位置，例如在对齐标记14a是十字形的图形时，可以将该中心点或十字形图形的重心位置作为基准位置。该位置对准通过设置在控制装置9内的运算处理装置的图像处理和模式匹配自动地进行。

拍摄装置10的视野内的基准点与对齐标记14a的基准位置一致时，控制装置9将此时的拍摄装置10的位置，即通过X轴线性标度以及Y轴线性标度或者电动机的脉冲数量表示的拍摄装置10相对于任意点在X轴以及Y轴方向的移动距离作为拍摄装置10的原点的X、Y坐标存储在存储装置中。另外，拍摄装置10的原点的X、Y坐标可以是拍摄装置10的相对于任意点在X、Y轴方向的移动距离，但最好是在拍摄装置10的视野内的基准点与对齐标记14a的基准位置一致时，将通过X轴线性标度以及Y轴线性标度或者电动机的脉冲数量表示的拍摄装置10的X、Y轴方向的移动距离都重设为“0(μm)”，将拍摄装置10的原点的X、Y坐标设为(0，0)。

此时，将对齐标记14a的基准位置选择作为显示面板4的原点的话，如上所述，通过使拍摄装置10的视野内的基准点与对齐标记14a的基准位置一致，通过将此时的拍摄装置10的位置作为原点，使得拍摄装置10的原点与显示面板4的原点一致。

另外，使拍摄装置10的原点与显示面板4的原点一致的操作能够与校准步骤分开进行。例如，在选择构成显示面板4的像素矩阵的最左上的像素的左上角作为显示面板4的原点的情况下，在对齐结束，或者如后述那样在对齐后的点亮检查中发现了缺陷像素时，使拍摄装置10移动，使得其视野内的基准点与选择作为显示面板4的原点的像素矩阵的最左上的像素的左上角一致，将该位置作为拍摄装置10的原点来进行设定，由此能够使拍摄装置10的原点与显示面板4的原点一致。这样，通过使拍摄装置10的原点与显示面板4的原点一致，使得显示面板4的特定位置与拍摄装置10的位置相对应，因此拍摄装置10的位置、即拍摄装置10的X、Y坐标与显示面板4的X、Y坐标相对应。

如上所述，使拍摄装置10的视野内的基准点与对齐标记14a的基准位置一致，将此时的拍摄装置10的X、Y坐标(x1，y1)存储之后，进一步地使拍摄装置10移动，以使得其视野内的基准点与位于显示面板4的上边的右角的对齐标记14b的基准位置一致，读取此时拍摄装置10的相对于原点的移动距离即X、Y坐标(x2，y2)。

通过X轴引导机构12引导的拍摄装置10的X轴与由对齐标记14a以及14b构成的显示面板4的X轴一致的情况下，应该y1＝y2，但假如y1≠y2时，则拍摄装置10的X轴与显示面板4的X轴有偏移，该偏移的量相对于对齐标记14a和14b的距离(x2-x1)为(y2-y1)。控制装置9将这两个值(x2-x1)以及(y2-y1)作为X轴的偏移量与对齐标记14b的坐标(x2，y2)一起存储在适当的存储装置中。控制装置9根据(x2-x1)以及(y2-y1)的值算出拍摄装置10的X轴和由对齐标记14a以及14b构成的显示面板4的X轴之间的角度，将该角度作为X轴的偏移量存储在存储装置中。

同样的，接下来，使拍摄装置10的基准点与位于显示面板4的左边下角的对齐标记14c的基准位置一致，读取此时的拍摄装置10的相对于原点的移动距离即X、Y坐标(x3，y3)。通过Y轴引导机构13、13引导的拍摄装置10的Y轴与由对齐标记14a以及14c构成的显示面板4的Y轴一致的情况下，应该是x1＝x3，假如x1≠x3时，拍摄装置10的Y轴与显示面板4的Y轴有偏移，其偏移的量相对于对齐标记14a和14c的距离(y3-y1)为(x3-x1)，控制装置9将这两个值(x3-x1)以及(y3-y1)作为Y轴的偏移量与对齐标记14c的坐标(x3，y3)一起存储在适当的存储装置中。与X轴的情形相同，控制装置9根据(x3-x1)以及(y3-y1)的值算出拍摄装置10的Y轴和由对齐标记14a以及14c构成的显示面板4的Y轴之间的角度，将该角度作为Y轴的偏移量存储在存储装置中。

另外，以上的说明中，校准步骤是通过利用能够移动的拍摄装置10对三个对齐标记14a、14b、14c进行拍摄来进行的。但当记号代替对齐标记14a、14b、14c的存在于显示面板4上的情况下，也可以利用能够移动的拍摄装置10对这些记号进行拍摄，获得这些记号的X、Y坐标，求出显示面板4的X、Y坐标轴和拍摄装置10的X、Y移动轴的偏移量。

(点亮检查)以及(缺陷的有无)

如上所述，对齐步骤以及校准步骤结束后，接下来控制装置9通过数据侧探测块6a以及门侧探测块6b将信号供给显示面板4的电极，使显示面板4点亮。在点亮状态下，通过操作人员的目视检查缺陷像素的有无。另外，有无缺陷像素的检查也可以不是操作人员的目视检查，而是机械的自动检查。例如，可以利用CCD摄像装置等对显示面板4的显示面进行拍摄，通过对其图像进行图像处理来自动地检查缺陷像素的有无。

(校正面板倾斜)

在点亮检查中发现缺陷像素时，在显示面板4为在校准步骤之后新进行了对齐步骤的显示面板的情况下，进行面板倾斜校正步骤。即，在校准步骤后进行的对齐步骤与上述对齐步骤一样，通过对齐用摄像装置7a、7b、7c对对齐标记14a、14b、或者14c中的至少两个对齐标记进行拍摄，并使得放置台移动，从而使得这些至少两个对齐用标记来到对齐用摄像装置7a、7b、7c的视野内的标准位置，但通过该新的对齐步骤放置在检查位置上的显示面板4的位置可能与进行了校准步骤时的显示面板4的位置有微妙的偏移，因此为了对该偏移进行校正所进行的步骤就是面板倾斜校正步骤。另外，在每次对齐时显示面板4的位置都不会偏移的情况下，可以不进行面板倾斜校正步骤。

面板倾斜校正步骤是通过利用拍摄装置10对至少两个位置的对齐标记进行拍摄而进行的。即，首先，使撮影装置10移动对对齐标记14a进行拍摄，读取对齐标记14的基准位置的X、Y坐标(x1’，y1’)，接下来，对对齐标记14b进行拍摄，读取对齐标记14b的X、Y坐标(x2’，y2’)。如果初次的对齐与其后的对齐中显示面板4的位置没有变化，则应该为x1’＝x1、y1’＝y1，且x2’＝x2，y2’＝y2。但是，在这些四个等式中的任一个不成立的情况下，则显示面板4的位置具有偏差，显示面板4相比初次对齐时发生倾斜，因此控制装置9将表示原点的偏移量(x1’-x1)以及(y1’-y1)的值、和表示相对于初次对齐的倾斜量的(x2’-x1’)以及{(y2’-y2)-(y1’-y1)}作为面板倾斜校正量存储在存储装置中。另外，控制装置9可以将根据表示原点的偏移量的(x1’-x1)以及(y1’-y1)的值、和(x2’-x1’)以及{(y2’-y2)-(y1’-y1)}的值算出的、初次对齐与此次对齐的显示面板4的X轴的偏移角度作为面板倾斜校正量进行存储。

另外，关于显示面板4的Y轴的倾斜度，可以通过利用拍摄装置10对对齐标记14c进行拍摄来求得，但由于能够合理地推测显示面板4的倾斜度在X轴和Y轴都相同，因此能够将先求得的X轴的倾斜量或者偏移的角度利用于Y轴。因此，在面板倾斜校正步骤中，利用拍摄装置10所拍摄的对象是位于显示面板4的同一边上的至少2处的对齐标记14a以及14b、或者14a以及14c就足够了。

另外，在上述实例中，至少两处的对齐标记的拍摄和基准位置坐标的读取都使用能够移动的拍摄装置10来进行，但也可以使用对齐用摄像装置7a、7b、或者7c对两处对齐标记中的两处或者一处进行拍摄和基准位置坐标的读取。在使用对齐用摄像装置7a、7b、或者7c对至少两处对齐标记中的两处或者一处进行拍摄的情况下，由于无需使拍摄装置10移动到其位置，因此具有可以节约移动所需的时间的优点。

又，在以上说明中，面板倾斜校正步骤是通过利用拍摄装置10或者对齐用摄像装置7a、7b、7c对至少两处的对齐标记14a、14b、或者14c进行拍摄来进行的，但在记号代替对齐标记14a、14b、14c存在于显示面板4，校准步骤通过根据这些记号的X、Y坐标求得显示面板4的X、Y坐标轴和拍摄装置10的X、Y移动轴的偏移量来进行的情况下，在面板倾斜校正步骤中，也可以代替对齐标记14a、14b、或者14c，而使用与校准步骤中采用的记号相同的记号中的至少2处记号。

(拍摄装置向缺陷像素移动)

面板倾斜校正结束后，使拍摄装置10移动到所发现的缺陷像素的位置，并对包含缺陷像素的显示面板4的表面区域进行拍摄。拍摄装置10的移动通过检查人员手持例如拍摄装置10的手柄11手动地进行。在拍摄装置10是由设置于拍摄装置10或者X轴以及Y轴引导机构12、13上的驱动机构驱动的自动式拍摄装置的情况下，可以通过从适当的输入装置介由控制装置9指定移动方向或移动距离从而使得拍摄装置10移动。被拍摄的图像被显示在监视器画面8上。图4示意性地示出监视器画面的一个实例。

在图4中，8是监视器画面，由拍摄装置10拍摄的图像15显示在监视器画面8上。C、C、C……是像素。在本实施例中，显示面板4是彩色显示面板，对其拍摄的拍摄装置10也是彩色拍摄装置，因此显示面板4显示出分别示出R(红)、G(绿)、或者B(蓝)的颜色的像素纵横规则地排列的像素矩阵图像15(图中，通过在各像素的中央显示“R”、“G”、“B”，表示各像素的颜色)。Lx、Ly是显示于拍摄图像的视野的纵横的中心线，中心线Lx以及Ly的交点S是拍摄视野的中心，是拍摄装置10的基准点。

基准点S的X、Y坐标，即相对于原点的X轴方向以及Y轴方向的移动距离作为“基准位置”显示在图像15的右侧。在图示的例子中，基准点S的X坐标是“331.528mm”，Y坐标是“210.227mm”。在“基准位置”的上部，分别以角度表示通过“校准”得到的偏移量和通过面板倾斜校正得到的面板倾斜校正量。在图示的例子中，在校准步骤求出的X轴的偏移量为“0.500度”，Y轴的偏移量为“-0.200度”，面板倾斜校正量为“0.040度”。表示于“基准位置”的基准点的X、Y坐标是考虑了X、Y轴的偏移量的校正以及面板倾斜校正量而进行校正后的值，但也可以显示校正前的值。

另外，根据在校准步骤求出的X轴以及Y轴的偏移量校正基准点S的X、Y坐标的方法并没有什么特别的。例如，能够通过以旋转排列或歪斜排列进行坐标变换的已知的数学方法对基准点S的X、Y坐标进行校正。

面板倾斜校正量也是同样，在面板倾斜校正量以角度表示的情况下，可以单纯地对在校准步骤求出的X轴以及Y轴的偏移量的角度加上或减去该角度，与上述同样地求出基准点S的被校正后的X、Y坐标。无论如何，根据在校准步骤求出的偏移量以及面板倾斜校正量校正基准点S的X、Y坐标是纯粹的数学问题，想出各种方法对于本领域的技术人员来说是显而易见的。上述方法只不过是其一个例子，本发明并不限于上述的校正方法。

(确定缺陷像素)

在图4中，在基准点S的右下附有阴影的像素Cn示出缺陷像素的一个实例。检查人员判断像素Cn是缺陷像素时，在监视器画面8上确定该像素Cn。确定能够通过用手指等在监视器画面8上触碰、或使鼠标的指针移动到像素Cn的位置，在该位置点击来进行。确定像素Cn后，算出该像素Cn的X、Y坐标。该算出例如如下述那样进行。

图5是图4的部分放大图，仅放大表示了图像15中的缺陷像素Cn的周边。控制装置9对图像15进行图像处理，识别出缺陷像素Cn的各边的边缘部分，根据该图像15上的位置算出相对于基准点S的各边的距离Δx1、Δx2、Δy1、Δy2。接下来，控制装置9对表示在图4的“基准位置”中的基准点S的X、Y坐标加上或减去被算出的值，求出在X轴方向以及Y轴方向具有宽度的缺陷像素位置，在作为“像素位置”显示在监视器画面8上的本实例中，缺陷像素Cn在X轴方向位于“331.538mm”至“331.558mm”的范围，在y轴方向处于“210.248mm”至“210.288mm”的范围。

另外，校准所进行的偏移量的校正以及面板倾斜校正量的校正可以如上所述对基准点S的X、Y坐标进行，也可以在对基准点S的X、Y坐标加上或减去从基准点S到缺陷像素Cn各边的距离之后进行。

(辨别缺陷像素的颜色)

缺陷像素Cn由于某些原因没有被驱动，因此在图像15上只看得见黑色，其本来的显示颜色不清楚。但是，显示面板4的像素矩阵通常根据其显示颜色RGB有规则地排列，因此能够根据周围的像素的显示颜色知道缺陷像素Cn本来的显示颜色。

例如在图5的实例中，像素矩阵的横方向的行从左向右以R→G→B→R……的顺序排列，各纵方向的列从上向下如R→R→R……、G→G→G……那样，都是排列相同的颜色。因此，将该排列的规则性应用于缺陷像素Cn时，可知缺陷像素Cn本来的显示颜色是“G”。这样的辨别通常通过利用控制装置9对图像15进行信号处理来自动地进行，但检查人员通过目视对图像15进行辨别也可以。被辨别的缺陷像素Cn的显示颜色在图4的监视器画面8上显示在“像素位置”下的“显示颜色”一栏中。

另外，这样的缺陷像素Cn的本来的显示颜色的辨别如后述，是为了更准确地检测缺陷像素地址而进行的，进行上述辨别当然更理想，但未必是必要的。

(算出地址值)

接下来，根据如上述那样求得的缺陷像素Cn的位置，算出缺陷像素Cn的显示面板4上的地址。该算出如下述那样进行。

图6对于显示面板4示意性地示出使构成像素矩阵的多个像素的排列形态与实物对应而显示出的排列地图的一个实例。图中，16是排列地图，17是像素矩阵，标注符号C的各长方形表示像素。对于该显示面板4，能够根据预先知道的与各像素的尺寸和其排列形态有关的信息，即各像素的纵横的尺寸和显示颜色、像素矩阵的行数、列数、构成各行、各列的像素的数量、各像素的配置间隔等作成该排列地图16。这样的信息在每当新品种的显示面板成为检查对象时，从适当的输入装置输入到控制装置9中。或者，在预先知道这些信息和显示面板的品种的对应关系的情况下，可以由装载部3或者检查部2自动地读取附加在显示面板上的识别号码等，从控制装置9内的存储装置读出、或者通过适当的通信单元从外部的存储装置读取。

在本实例中，排列地图16将位于像素矩阵17的最左上方的像素的左上角Gp作为原点而作成的，原点Gp的X、Y坐标如图所示为(0，0)。另外，拍摄装置10的原点与显示面板4上的该原点Gp一致。缺陷像素的地址通过将前面求出的图像15上的缺陷像素Cn的存在位置应用于该排列地图16上而求出的。该应用如下述那样进行。即，被拍摄在图像15中的缺陷像素其X轴坐标为“331.538-331.558mm”的范围，Y轴坐标为“210.248-210.288mm”的范围，因此控制装置9将缺陷像素Cn的X坐标以及Y坐标分别除以构成显示面板4的像素的横向的大小以及纵向的大小加上配置间隔后的数值，通过求出其商，能够在排列地图16上求出处于与这些X、Y坐标对应的位置的像素的地址。顺便说一下，在缺陷像素Cn的X、Y坐标的范围在排列地图16上跨越多个像素时，控制装置9将与缺陷像素Cn的X、Y坐标的范围重叠的面积最大的像素判断为缺陷像素，将其地址作为缺陷像素地址输出。

控制装置9被程序化，以便通过上述那样的方法算出缺陷像素地址，控制装置9与这些程序成为一体，形成缺陷像素的地址运算装置。另外，在存在有多个与缺陷像素Cn的X、Y坐标的范围重叠的面积最大且彼此相等的像素的情况下，不能仅根据排列地图16最终决定缺陷像素的地址，后述的颜色校验步骤、位移校正步骤是有效的。

能取为原点Gp的地方并不限于位于像素矩阵17的最左上方的像素的左上角。也可以位于像素矩阵17的最左下方的像素的左下角，在设于显示面板4的左上角的对齐标记14a的基准位置与像素矩阵的位置关系清楚的情况下，也可以是对齐标记14a的基准位置。如果与像素矩阵17的位置关系清楚、且拍摄装置10的原点与显示面板4的被选择的原点一致，则取哪个点作为原点Gp是自由的。

所求得的缺陷像素Cn的地址(α，β)在图4所示的监视器画面8中作为“像素地址”显示，检查人员按下“确认”按钮时，缺陷像素Cn的地址信息被存储在控制装置9的存储装置中，或者被发送到联网的主机上，由此检测出缺陷像素地址。

另外，以上是对缺陷为点缺陷且缺陷像素为独立1个的像素的情形进行了说明，但在缺陷为线缺陷或者面缺陷、相邻的多个像素为缺陷像素的情况下，也可以与上述同样地求出缺陷像素地址。即，当检查人员发现了由图像15上相邻的多个缺陷像素构成的缺陷时，将各个缺陷像素依次在图像15上确定。确定多个缺陷像素时，设在控制装置9上的地址运算装置求出由相邻的多个缺陷像素形成的缺陷区域的各个顶点的X、Y坐标，将这些X、Y坐标应用于上述排列地图16中，或者通过计算根据这些X、Y坐标算出多个缺陷像素地址，并辨别缺陷的种类。有关所得到的缺陷像素的地址以及缺陷种类的信息被存储在控制装置9内的存储装置中，或者被发送到联网的主机上，从而同时检测出缺陷像素地址和缺陷的种类。另外，缺陷的种类的辨别可以由检查人员进行。

(校验颜色)

如上所述，能够根据由拍摄装置10拍摄的缺陷像素Cn的X、Y坐标求出缺陷像素地址，但是如果将缺陷像素的显示颜色放进判断材料的话，缺陷像素地址的检测更准确，故比较理想。

将颜色校验步骤设为“ON”使控制装置9进行颜色校验步骤时，控制装置9将以前根据图像15上周围的像素的显示颜色辨别的缺陷像素Cn的显示颜色“G”和所求出的像素C_(α，β)的显示颜色“G”进行比较。所求出的像素C_(α，β)的显示颜色为“G”可以根据与该显示面板4的像素的排列形态有关的信息知道。由于缺陷像素Cn的显示颜色和像素C_(α，β)的显示颜色都一致为“G”，控制装置9将像素C_(α，β)的地址(α，β)判断为缺陷像素地址。另外，由于像素C_(α，β)的显示颜色作为“地址颜色”显示在监视器画面8上，因此检查人员可以在监视器画面8上确认缺陷像素Cn的显示颜色和被显示的“地址颜色”是否一致。

图7是例示出缺陷像素和排列地图16的其他位置关系的图。例如，将缺陷像素Cn的X、Y坐标应用于排列地图16时，如图7上段所示，在缺陷像素Cn₁的位置跨越两个像素即C_(α3，β1)和C_(α4，β1)这两个像素的请况下，控制装置9将(α3，β1)和C(α4，β1)两个地址作为缺陷像素的地址候补，仅根据排列地图16或者坐标计算不能最终决定缺陷像素的地址。这样的情况下进行颜色校验是有效。

即，将颜色校验步骤设为“ON”使控制装置9进行颜色校验步骤时，控制装置9首先将作为第1个候补的(α3，β1)的显示颜色与根据图像15辨别的缺陷像素Cn₁的显示颜色“G”进行比较。像素C_(α3，β1)的显示颜色是“R”，缺陷像素Cn₁的显示颜色是“G”，两者不一致，因此控制装置9判断地址(α3，β1)不是缺陷像素Cn₁的地址并将其从地址候补中去掉，同时寻找与地址(α3，β1)最接近、且显示颜色与缺陷像素Cn₁的“G”相同的C_(α4，β1)，将该像素的地址(α4，β1)作为缺陷像素的地址。

接下来，控制装置9将作为第2个候补的(α4，β1)的显示颜色与缺陷像素Cn₁的显示颜色“G”进行比较。像素C_(α4，β1)的显示颜色是“G”，与缺陷像素Cn₁的显示颜色一致，因此控制装置9将地址(α4，β1)作为缺陷像素Cn₁的地址。

这样，对两个候补进行的颜色校验步骤的结果，都是相同的地址(α4，β1)作为缺陷像素地址得到，因此，控制装置9将该地址(α4，β1)作为缺陷像素地址输出到监视器画面8上。

同样，如图7中段所示，缺陷像素Cn₂的位置与像素C_(α2，β2)大致重叠时，如果没有颜色校验步骤，控制装置9可能会将像素C_(α2，β2)的地址(α2，β2)判断为缺陷像素的地址。但是，这样的情况下，进行颜色校验步骤时，控制装置9将像素C_(α2，β2)的颜色“B”与缺陷像素Cn₂的显示颜色“G”进行比较，由于两颜色不一致，因此控制装置9判断地址(α2，β2)不是缺陷像素Cn₁的地址。同时，控制装置9找到与地址(α2，β2)最接近、且显示颜色与缺陷像素Cn₂的“G”相同的像素C_(α1，β2)，将该地址(α1，β2)作为缺陷像素的地址。这样，由于经过颜色校验步骤，可以更准确地进行缺陷像素地址的检测。

接下来，如图7下段所示，缺陷像素Cn₃的位置跨越像素C_(α4，β2)、C_(α4，β3)、C_(α5，β2)、以及C_(α5，β3)4个像素时，控制装置9选择与缺陷像素Cn₃的X、Y坐标的范围重叠的面积最大的像素。其结果，如果C_(α4，β3)以及C_(α5，β3)两个像素与缺陷像素Cn₃重叠的面积最大，且都作为相同像素留下的情况下，如以前图7的上段所示的例子的说明，通过将颜色校验步骤设为“ON”使控制装置9进行颜色校验步骤，可以将显示颜色为与缺陷像素Cn₃相同的“G”的像素C_(α4，β3)的地址(α4，β3)作为缺陷像素的准确的地址。

控制装置9被程序化为通过上述那样的方法进行颜色校验步骤，控制装置9与该程序成为一体，形成颜色校验装置。另外，上述那样的颜色校验步骤通过形成颜色校验装置的控制装置自动地进行，但是检查人员也可以通过比较缺陷像素的显示颜色和所求的地址的像素的显示颜色来进行。即，将显示在监视器画面8上的“显示颜色”栏中的缺陷像素的显示颜色与显示在该监视器画面8上的“地址颜色”栏中的显示颜色进行比较，在两颜色不一致的情况下，检查人员按下监视器画面8的“变更”按钮，通过位于其上的箭头按钮将像素地址向上下左右的任一方向变更，使显示于“显示颜色”栏中的颜色与显示在“地址颜色”栏中的颜色一致，在两颜色一致的状态下，按下“确认”按钮，可以将该变更了的地址作为缺陷像素的地址。

但是，在显示颜色不一致的情况下，将与所求出的地址最接近、显示颜色与缺陷像素相同的像素的地址作为缺陷像素的地址需要以以下情况为前提的：经过上述校准步骤、面板倾斜校正步骤等，根据拍摄装置10的相对于原点的移动距离求出的缺陷像素的X、Y坐标与显示面板4的排列地图16的X、Y坐标的偏移，即使存在也停留在最低限度。这样的前提通常是正确成立的，但在希望进行更准确的地址检测的情况下，可以进行以下所示的位移校正步骤。

<位移校正>

在发现了缺陷像素Cn时，使拍摄装置10移动，对与缺陷像素Cn相同的X轴和/或Y轴坐标上的显示面板4的像素矩阵17的边部附近进行拍摄，调查该边部附近的像素相对于拍摄装置10的X轴/或者Y轴原点向哪个方向位移了多少，在求出缺陷像素Cn的地址时加入考虑所求得的位移方向和/或位移量就是位移校正步骤，例如在如下的情况下进行。

图8是例示出缺陷像素Cn和排列地图16的另一其他位置关系的图。例如，将缺陷像素Cn₄的X、Y坐标应用于排列地图16上时，如图8所示，与像素C_{(α13，β12)}重叠的情况下，在图像15上被辨别的缺陷像素Cn₄的显示颜色如果为“R”，则像素C_{(α13，β12)}的显示颜色也为“R”，因此即使经过颜色校验步骤，缺陷像素Cn₄的地址还是被判断为(α13，β12)。但是，此时如果期望更加准确，则可以进行上述那样的位移校正步骤。

即，缺陷像素Cn₄的中心的X轴坐标假如是“0.274mm”时，移动拍摄装置10，对与缺陷像素Cn₄相同的X轴坐标“0.274mm”上的显示面板4的像素矩阵17的边部附近进行拍摄。图9示出所拍摄的状态。

如图9所示，拍摄装置10的基准点S的X、Y坐标是(0.274mm，0.000mm)，基准点S在与缺陷像素Cn₄相同的X轴坐标上，拍摄装置10移动到成为拍摄装置10的Y轴原点的位置为止，对显示面板4的像素矩阵17的上边附近进行拍摄。显示在图像15中的Lx线与拍摄装置10的Y轴原点(即，Y坐标为“0”的线)一致。另外，这时，拍摄装置10的原点如上所述，与显示面板4的像素矩阵17的最左上的像素的左上角Gp一致。

在该状态下看图9可知，显示面板4的像素矩阵17的上边，在X坐标“0.274mm”中，向上偏移拍摄装置10的Y轴原点大约0.75像素长(像素的纵的长度)的程度。控制装置9解析图像15，求出处于X坐标“0.274mm”的位置的像素C_(α13，β1)的上边的边缘部的位置，求出拍摄装置10相对于Y轴原点的位移方向，并对该位移的大小进行测量。控制装置9将所求出的位移的方向以及位移的大小反映在缺陷像素Cn₄的地址计算中，再次对缺陷像素Cn₄的X、Y坐标进行计算。在本实施例的情况下，被再次计算的缺陷像素Cn₄的X、Y坐标变为从图8所示的位置向上移动大约0.75像素长(像素的纵向的长度)的程度的位置，因此大部分与像素C_{(α13，β11)}重叠，控制装置9将当初设定为(α13，β12)的缺陷像素Cn₄的地址变更为(α13，β11)。

又，如图8所示，将缺陷像素Cn₅的X、Y坐标应用于排列地图16上时，大部分与像素C(α12，β13)重叠，但是在像素C_{(α12，β13)}的显示颜色“B”与在画像15上辨别的缺陷像素Cn₅的显示颜色“G”不一致时，采用上述颜色校验步骤，判断缺陷像素Cn₅的地址是与像素C_{(α12，β13)}最接近、显示颜色为与缺陷像素Cn₅相同的“G”的像素C_{(α11，β13)}。在这样的情况下，如果期望更加准确，则可以进行上述那样的位移校正步骤。

即，缺陷像素Cn₅的中心的Y轴坐标假如是“1.370mm”时，移动拍摄装置10，对与缺陷像素Cn₅相同的Y轴坐标“1.370mm”上的显示面板4的像素矩阵17的边部附近进行拍摄。图10示出所拍摄的状态。

如图10所示，拍摄装置10的基准点S的X、Y坐标是(0.000mm，1.370mm)，基准点S在与缺陷像素Cn₅相同的Y轴坐标上，拍摄装置10移动到成为拍摄装置10的X轴原点的位置为止，对显示面板4的像素矩阵17的左边附近进行拍摄。显示在图像15中的Ly线与拍摄装置10的X轴原点(即，X轴坐标为“0”的线)一致。

在该状态下看图10可知，显示面板4的像素矩阵17的左边，在Y坐标“1.370mm”，比拍摄装置10的X轴原点向右偏移了大约1.5像素宽度(像素的横向的长度)的程度。控制装置9解析图像15，求出处于X坐标“1.370mm”的位置的像素C_(α1，β13)的左边的边缘部的位置，求出拍摄装置10相对于X轴原点的位移方向，并对该位移的大小进行测量。控制装置9将所求出的位移的方向以及位移的大小反映在缺陷像素Cn₅的地址计算中，再次对缺陷像素Cn₅的X、Y坐标进行计算。在本实施例的情况下，被再次计算的缺陷像素Cn₅的X、Y坐标变为从图8所示的位置向右方移动大约1.5个像素宽度(像素的横的长度)程度的位置，因此跨越了(α13，β13)和像素(α14，β13)这两个像素。利用再次计算得到的位置关系进行颜色校验步骤时，显示颜色一致且最接近的像素是像素C_{(α14，β13)}，控制装置9将当初设定为(α11，β13)的缺陷像素Cn₅的地址变更为(α14，β13)。

通过进行这样的位移校正步骤，缺陷像素地址的检测的精度进一步地提高。控制装置9被程序化为通过上述那样的方法进行位移校正步骤，控制装置9与该程序成为一体，形成位移校正装置。

另外，在显示面板4上存在多个缺陷像素的情况下，可以反复进行上述<拍摄装置向缺陷像素的移动>至<位移校正>的步骤。此时，可以根据前面检测的缺陷像素的地址值对针对后续的缺陷像素算出的地址值进行校正。例如，也可以对于前面检测到的欠陷画素Cn，在<地址值算出>步骤中，得到地址值(αn，βm)，进行<颜色校验>和/或<位移校正>后的结果为，缺陷像素Cnm的地址值变更为(αn+x，βm+y)时，该变更值(+x，+y)存储在例如控制装置9中，针对后续的缺陷像素Cn’算出的地址值(αp，βq)自动地变更为(αp+x，βq+y)，将被变更了的地址作为所求出的缺陷像素的地址。

<卸载面板>

从上述<拍摄装置向缺陷像素的移动>至<地址值算出>的步骤反复进行的次数是所发现的缺陷像素的数量，<颜色校验>步骤和<位移校正>步骤根据需要来进行，检测出所有被发现的缺陷图像的地址时，通过装载部3将显示面板4从检查部2上卸载下来。

<装载下一个面板><对齐>

接下来，下一个检查对象面板通过装载部3被装载在检查部2上，并进行对齐。该对齐例如与上述对齐步骤相同，通过对齐用摄像装置7a、7b、7c对对齐标记14a、14b、或者14c中的至少两个对齐标记进行拍摄，并使得放置台移动，从而使得这些至少两个对齐用标记来到对齐用摄像装置7a、7b、7c的视野内的标准位置。对齐结束后，接下来进行<点亮检查(目视)>以后的步骤。

另外，<点亮检查(目视)>中，未被发现缺陷图像的显示面板4如图3的流程图右侧所示，通过装载部3从检查部2上卸载下来。接下来，通过装载部3将新的显示面板4装载在检查部2上，进行上述第2次以后的对齐，该对齐结束后，进行<点亮检查(目视)>以后的步骤。

产业上的可利用性

如上所述，采用本发明的缺陷像素检测方法以及检测装置，能够使用简单的装置进行高精度的缺陷像素的地址检测。因此，在与以液晶显示器面板为首的各种显示器面板的制造有关的产业领域中，都具有很大的产业上的可利用性。

Claims (14)

1.一种缺陷像素地址检测方法，其对由多个像素构成的显示面板的缺陷像素的地址进行检测，其特征在于，包括以下步骤：

(a)将作为检查对象的显示面板放置于检查部，使其点亮的步骤；

(b)对点亮了的显示面板有无缺陷像素进行检查的步骤；

(c)在发现了缺陷像素时，使所述拍摄装置移动以对缺陷像素进行拍摄，并在被拍摄的图像上确定缺陷像素的位置的步骤；

(d)根据与被确定的缺陷像素在图像上的位置和所述拍摄装置的相对于原点在X、Y轴方向上的移动距离、以及所述显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息，求出被确定的缺陷像素在显示面板上的地址的步骤。

2.如权利要求1所述的缺陷像素地址检测方法，还包括以下步骤：

(e)被放置于检查部的显示面板为新品种面板时，使用所述拍摄装置求出所述显示面板的X、Y轴方向与所述拍摄装置的X、Y轴方向的坐标轴的偏移量，并对其进行存储的校准步骤；

(f)对于与所述新品种同一品种的显示面板，根据所述坐标轴的偏移量，对所述(d)的步骤中的所述拍摄装置的相对于原点在X、Y轴方向上的移动距离进行校正的步骤。

3.如权利要求2所述的缺陷像素地址检测方法，还包括以下步骤：

(g)在发现了缺陷像素时，使用所述拍摄装置求出进行了所述(e)的校准步骤时的显示面板的X轴和/或Y轴与此次显示面板的X轴和/或Y轴的偏移量作为面板倾斜校正量的倾斜校正步骤，

(h)根据所求出的面板倾斜校正量对在所述校准步骤得到的坐标轴的偏移量进行校正的步骤。

4.如权利要求1～3中任意一项所述的缺陷像素地址检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：

(i)根据在图像上被确定的缺陷像素的周围像素的颜色对所述缺陷像素的颜色进行辨别的步骤；

(j)对被辨别的所述缺陷像素的颜色和所述显示面板的在所述(d)的步骤求出的地址的像素的颜色进行比较的步骤；

(k)颜色校验步骤，在两颜色一致的情况下，将所述地址作为所求的地址，在两颜色不一致的情况下，将所述显示面板中最接近该地址、且与被辨别的缺陷像素的颜色相同的像素的地址作为求出的地址。

5.如权利要求4所述的缺陷像素地址检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：

(l)在发现了缺陷像素时，使所述拍摄装置移动，对与缺陷像素相同的X轴和/或Y轴坐标上的显示面板的像素矩阵的边部附近进行拍摄，求出所述边部附近的像素相对于所述拍摄装置的X轴和/或Y轴原点的位移方向和/或位移量的步骤；

(m)在所述(d)或者(k)的步骤中求取缺陷像素的地址时，加入考虑所求出的位移方向和/或位移量的位移校正步骤。

6.如权利要求4所述的缺陷像素地址检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：

(n)对于同一显示面板，将在所述(d)步骤对前一个缺陷像素求出的缺陷像素地址和通过上述(k)的颜色校验步骤求出的缺陷像素地址的地址差进行存储的步骤；

(o)根据所述被存储的地址差，对在上述(d)步骤就后续的缺陷像素求出的缺陷像素地址进行校正的地址校正步骤。

7.如权利要求5所述的缺陷像素地址检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：

(p)对于同一显示面板，将在所述(d)步骤对前一个缺陷像素求出的缺陷像素地址和通过上述(m)的位移校正步骤求出的缺陷像素地址的地址差进行存储的步骤；

(q)根据所述被存储的地址差，对在上述(d)步骤就后续的缺陷像素求出的缺陷像素地址进行校正的地址校正步骤。

8.一种缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括：检查部，至少具有放置台和探测单元，能够使作为检查对象的显示面板点亮；拍摄装置，能够相对于被放置在检查部上的显示面板在X、Y轴方向上移动；测量装置，对所述拍摄装置的X、Y轴方向的移动距离进行测量；显示装置，显示被所述拍摄装置拍摄的图像；存储装置，对与作为检查对象的所述显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息进行存储；地址运算装置，其被程序化，若被显示于所述显示装置上的图像上缺陷像素的位置被确定，则根据所述缺陷像素在所述图像上的位置和此时的所述拍摄装置的X、Y轴方向的移动距离、以及与存储于所述存储装置中的所述显示面板的像素的尺寸和其排列形态有关的信息，求出所述显示面板中缺陷像素的地址。

9.如权利要求8所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，所述存储装置存储使所述拍摄装置移动对被放置在检查部上的显示面板进行拍摄所得到的所述显示面板的X、Y轴方向和所述拍摄装置的X、Y轴方向的坐标轴的偏移量，并且所述缺陷像素地址检测装置进一步包括：校准装置，其被程序化，以便根据被存储的所述坐标轴的偏移量对从原点到缺陷像素为止的所述拍摄装置的X、Y轴方向的移动距离进行校正。

10.如权利要求9所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括：运算装置，其求出使所述拍摄装置移动对放置在检查部上的显示面板进行拍摄所得到的所述显示面板的X轴和/或Y轴方向和进行了校准步骤时的显示面板的X轴和/或Y轴的偏移量作为面板倾斜校正量；倾斜校正装置，其被程序化，以便根据所述被求出的面板倾斜校正量对被放置在检查部上的所述显示面板的X、Y坐标轴的偏移量进行校正。

11.如权利要求8～10中任意一项所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，所述拍摄装置是能够识别像素的颜色的彩色拍摄装置，所述缺陷像素地址检测装置包括：颜色辨别装置，若被显示于所述显示装置上的图像上缺陷像素的位置被确定，则根据其周围像素的颜色辨别所述缺陷像素的颜色；颜色比较装置，对所述被辨别的颜色和所述显示面板的与所求出的缺陷像素的地址对应的像素的颜色进行比较；颜色校验装置，在两颜色一致的情况下，将所述被求出的地址作为所求的缺陷像素的地址，在两颜色不一致的情况下，选择与所述被求出的地址最接近、且与所述被辨别的缺陷像素的颜色相同的像素的地址，并将其作为所求的缺陷像素的地址。

12.如权利要求11所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，包括：位移测量装置，在使所述拍摄装置移动对与缺陷像素相同的X轴和/或Y轴坐标上的显示面板的像素矩阵的周边部进行了拍摄时，求出所述边部附近的像素相对于所述拍摄装置的X轴和/或Y轴原点的位移方向和/或位移量；位移校正装置，根据所求出的位移方向和/或位移量变更或者决定所述地址运算装置和/或颜色校正装置所输出的缺陷像素地址。

13.如权利要求11所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，所述存储装置，对于同一显示面板，将通过地址运算装置对前一个缺陷像素求出的缺陷像素地址和通过所述颜色校验装置求出的缺陷像素地址的地址差进行存储，并且所述缺陷像素地址检测装置进一步包括：地址校正装置，根据所述被存储的地址差，校正通过地址运算装置对后续的缺陷像素求出的缺陷像素地址。

14.如权利要求12所述的缺陷像素地址检测装置，其特征在于，所述存储装置，对于同一显示面板，将通过地址运算装置对前一个缺陷像素求出的缺陷像素地址和通过所述位移校正装置求出的缺陷像素地址的地址差进行存储，并且所述缺陷像素地址检测装置进一步包括：地址校正装置，根据所述被存储的地址差，校正通过地址运算装置对后续的缺陷像素求出的缺陷像素地址。

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