CN101004878A - 平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法 - Google Patents

Abstract

一种平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法，面板具有复数行电极及复数垂直行电极的列电极。检测仪包含一基座、一传动定位装置、一装设于传动定位装置的影像撷取装置及一控制装置。影像撷取装置供撷取面板的影像资讯，控制装置接收由传动定位装置回报的位置讯号且输出一特定图样讯号至电极使面板显示，并依照接收来自影像撷取装置的影像资讯分析坏点位置。

Description

平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法

技术领域

本发明涉及一种检测仪及其检测方法，特别涉及一种平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法。

背景技术

一般而言，平面显示器(Flat Panel Display)的制作过程中，需经过光学测试，主要是将亮点或可修补的坏线的位置精确找出，以供后续的雷射修补制程用。

但是，一般的点灯方式无法将坏点做定址动作，必须经过另外一台高价且慢速的定址机做定址，定址的方式为将基板的讯号线及闸线连接至检测器，透过检测器对讯号线及闸线输入特定讯号，然后逐一接收回馈的讯号并进行分析，藉此找出亮/暗点，或者是只先检测行方向的像素，再检测列方向的像素，采逐步逼近方式找出亮/暗点，此方法不但相当不便、费时，并存在些许误判率外，昂贵的机台对于日益竞争的平面显示器产业，更是成本的一大负担。

依台湾第94202737号实用新型专利案所公开的“具精密定位装置的平面显示面板检测仪”(与本发明为同一发明人)，主要利用移动轴及光学尺设计，协助坏点定位，且配合其中一移动轴的位置讯号将另外一移动轴的位置讯号作补偿处理，将坏点的位置误差缩小到约1.5 sub pixel-1 Pixel左右。然，这样的误差对于判断单一红(R)、绿(G)或蓝(B)色显示晶胞，仍存在过大的误差。

发明内容

因此，本发明的目的是在提供一种可以精确定址的平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法。

本发明的另一目的是在提供一种成本便宜的平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法。

本发明的再一目的是在提供一种可浓缩制程的平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法。

本发明的又一目的是在提供一种节省操作时间的平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法。

于是，本发明平面显示器面板坏点检测仪，面板具有复数行电极及复数垂直行电极的列电极。检测仪包含一基座、一传动定位装置、一装设于传动定位装置的影像撷取装置及一控制装置。影像撷取装置供撷取面板的影像资讯，控制装置接收由传动定位装置回报的位置讯号且输出一特定图样讯号至电极使面板显示，并依照接收来自影像撷取装置的影像资讯分析坏点位置。

此外，本发明平面显示器面板坏点检测方法，透过一传动定位装置、一影像撷取装置及一控制装置进行，方法包含以下步骤：

a)将面板定位。

b)提供一普遍性讯号使面板显示坏点。

c)移动影像撷取装置使坏点进入其可视范围。

d)提供一特定图样讯号使面板显示。

e)将接收自传动定位装置回报的位置讯号及面板显示的资讯分析。

综上所述，本发明平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法利用控制装置5输出特定图样讯号至面板1将坏点绝对定址，不仅浓缩制程、节省成本，更利用影像处理，使得CCD可视范围的标准点不需非常精准移到坏点位置即可操作，大幅节省操作时间，且特殊图样的利用，辅助达到误差校正的功能，大幅提升位址的正确率。

附图说明

图1是一立体图，说明本发明平面显示器面板坏点检测仪的第一较佳实施例；

图2是该第一较佳实施例的一示意图，说明复数行电极及复数列电极；

图3是一流程图，说明检测如图1所示面板坏点的方法；

图4是一示意图，说明一控制装置；

图5是一示意图，说明点亮特定行电极，且坏点所在行数亮；

图6是一示意图，说明点亮偶数列电极，且坏点所在列数亮；

图7是一示意图，说明点壳偶数列电极，且坏点所在列数不亮；及

图8是一示意图，说明点亮特定行电极，且坏点所在行数不亮。

附图标号说明：1面板；11行电极；12列电极；13显示晶胞；2基座；21定位块；22定位孔；3传动定位装置；4影像撷取装置；31运动台面；5控制装置；6光源；71步骤；72步骤；73步骤；74步骤；75步骤；76步骤；77步骤；78步骤；79步骤；80步骤；81步骤。

具体实施方式

有关本发明的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考附图的二个较佳实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。

在本发明被详细描述之前，要注意的是，在以下的说明内容中，类似的元件是以相同的编号来表示。

参阅图1与图2，本发明平面显示器面板坏点检测仪的第一较佳实施例，适用于将一平面显示面板1的坏点精确定址，面板1具有复数行电极11及复数垂直行电极11的列电极12，每一行电极11与列电极12交点处形成一显示晶胞13，每一显示晶胞13排列于列方向的发光色彩为三色(R、G及B)彼此不同色，每一显示晶胞13排列于行方向的发光色彩相同。检测仪包含一基座2、一传动定位装置3、一影像撷取装置4及一控制装置5。

基座2提供平稳的台面供平面显示面板1置放，基座2上设有复数定位块21及复数定位孔22，可适用于将各种不同规格大小的平面显示面板1稳固地固定于基座2上以供后续流程检测。

传动定位装置3设置于基座2，除提供复数可滑动的运动台面31供影像撷取装置4设置于面板1相对上方，并可线性量测其相对于面板1的滑动位移，其详细构件及细部作动方式如(具精密定位单元的平面显示面板检测仪)案所述，本例中，线性量测仪器是以光学尺为例说明，然不限于此，此外，可沿平面移动的传动装置设计已广泛地被应用于各种加工、载物及量测机台，且为一般技术人员所熟知，故在此不再赘述。

影像撷取装置4设置于传动定位装置3的运动台面31上，可伴随运动台面31相对于面板1移动，在本实施例中，影像撷取装置4是一彩色电荷耦合元件(CCD)，且面向平面显示面板1，藉由运动台面31的带动可相对于基座2移动，并可撷取平面显示面板1的显示区域的影像资料，较佳地，邻近影像撷取装置4处，可搭配一辅助对位的光源6使用。

具有一运算单元(未图示)的控制装置5接收来自传动定位装置3回报的位置讯号且输出一特定图样讯号(未图示)至各行电极11及列电极12使得面板1显示特定图样(参阅图4)。如图1所示，其利用光学尺量测影像撷取装置4相对于面板1的位置，并经运算单元依照位置讯号将面板1上坏点位置作补偿处理，且位置误差在列方向约为1.5 sub pixel，行方向约为1pixel，此外，控制装置5配合接收来自影像撷取装置4的特定图样的影像资讯，可将原本坏点在行方向及列方向位置的误差进一步缩小达到sub pixel的绝对位址。

上述藉特定图样将坏点绝对定址的检测仪，在下述所示的检测方法说明后，当可更清楚的明白。

配合参阅图3，检测如图1所示的面板1是先进行步骤71，将影像撷取装置4相对于面板1定位，由于此步骤71为一般技术人员所熟知，可使用的方式例如，先量测面板1上参考点的位置座标，再由已知参考点的固定位置，配合座标转换，将影像撷取装置4相对于面板1的偏移距离及旋转角度精确算出，其详细作动及运算在此不再赘述。

接着进行步骤72，由控制装置5输出一普遍性讯号(未图示)至电极11、12使面板1显示坏点，普遍性讯号在此是以点亮所有显示晶胞13为例说明，且经影像分析辨识暗点(亦即坏点)，此习知技术可利用一自动光学检测系统(AOI)(图未示)达成，然其光学检测方法不以此为限。

进行步骤73，驱动传动定位装置3使影像撷取装置4相对于面板1移动，且使坏点进入影像撷取装置4的可视范围，驱动方式可为使用电动源藉由控制装置5操控或经由手动，不以此为限。

再进行步骤74，利用影像处理，确认坏点相对于可视范围内一标准点(图未示)的距离，标准点在此为可视范围的中心点，亦即代表影像撷取装置4的座标位置，藉此，不需将影像撷取装置4非常精准的微调到使坏点位于可视范围的中心点位置，加以说明的是，标准点不限于可视范围的中心点，亦可选定可视范围内任一点。

接着进行步骤75，控制装置5接收传动定位装置3的位置讯号(影像撷取装置4相对于面板1)及配合步骤74结果(坏点相对于影像撷取装置4)，将坏点相对于面板1定址，其详细定址说明亦可参考前述相关案内容，在此不赘述，同时，坏点位置定址所产生的误差在列方向约为1.5subpixel，行方向约为1 pixel。

继续进行步骤76，控制装置5输出特定图样讯号至行、列电极11、12使面板1显示特定图样，特定图样在此步骤76中，为点亮特定行数的三色显示晶胞13。在此以控制装置5将坏点位置判定在第n行举例说明，由于坏点位置误差在行方向约为1.5 sub pixel，因此坏点位置可能性为第n行的R显示晶胞13、G显示晶胞13或B显示晶胞13，对此，控制装置5输出点亮R、G及B显示晶胞讯号至面板1显示。

接着进行步骤77，影像撷取装置4将面板1显示的影像资料传回控制装置5，假使，经由彩色CCD，影像显示坏点所在行数为R亮，则控制装置5判定坏点为第n行的R显示晶胞，假使，影像显示坏点所在行数为G(或B)亮，则判定坏点为第n行的G(或B)显示晶胞。藉输出点亮行方向的R、G、B显示晶胞13讯号及辨识坏点所在行数的颜色(R、G或B)，控制装置5将坏点在水平方向的座标位置作调整处理。特别注意的是，控制装置5输出的特定图样讯号，可为点亮特定行数的单一色(R或G或B)(参阅图5)，亦可多色同时点亮(R、G及B)，视坏点情况而定，不以此为限。

然后进行步骤78，控制装置5输出点亮特定偶数列的显示晶胞13的讯号至电极11、12使面板1显示，由于坏点位置误差在列方向约为1 Pixel左右，故坏点位置可能性有偶数列或奇数列两种。

进行步骤79，面板1显示的影像资料经影像撷取装置4传回控制装置5，假使面板1显示坏点那列亮，则控制装置5可判定坏点为偶数列(参阅图6)，假使面板1显示坏点那列不亮，则控制装置5判定坏点为奇数列(参阅图7)。藉输出列方向的特定图样讯号及辨识坏点所在列数亮与否，控制装置5将坏点位置在垂直方向的座标位置作调整处理。特别说明的是，亦可输出打亮特定奇数列显示晶胞13的讯号作分析处理，不以此为限。此外，亦可将步骤77及步骤78两者合并进行，也就是说，可输出点亮偶(或奇)数列之中的R(或B或G)显示晶胞13讯号使面板1显示，不限定于先进行检测行后再进行检测列，视检测需求而定。此处加以解释步骤74并非限定步骤，亦可省略步骤74而从步骤73直接进行步骤76，藉由步骤76～79的图样校正，控制装置5同样地可判读坏点的精确座标。

再进行步骤80，检查是否还有其他坏点，检查结果如果有其它坏点，则重覆进行步骤73～79。

如果没有其他坏点，则进行步骤81，将坏点移至后续制程作雷射修补，由于其修补过程非本发明重点所在，故不赘述。

此外，亦可设计复数影像撷取装置4用以加速检测速度，例如，每一装置4各负责不同取像范围，或是不同装置4可同时工作撷取不同位置的参考点位置影像座标。

参阅图1与图2，本发明平面显示器面板坏点检测仪的第二较佳实施例，适用于将一平面显示面板1的坏点精确定址，面板1具有复数行电极11及复数垂直行电极11的列电极12，每一行电极11与列电极12交点处形成一显示晶胞13，每一显示晶胞13排列于列方向的发光色彩为三色(R、G及B)彼此不同色，每一显示晶胞13排列于行方向的发光色彩相同。检测仪包含一基座2、一传动定位装置3、一影像撷取装置4及一控制装置5。

特别说明的是，与第一较佳实施例不同的地方在于，本实施例中，影像撷取装置4是以一单色CCD为例说明，而其余构件及组合皆与第一较佳实施例相同，故在此不再赘述。

配合参阅图3，具有单色CCD的检测仪其检测方法与第一较佳实施例主要不同的地方在于步骤76～77，故省略其它相同步骤的说明，并于下述详细说明步骤76～77。

进行步骤76，控制装置5输出特定图样讯号至行、列电极使面板1显示特定图样，特定图样在此步骤中，为点亮特定行数的单色显示晶胞13。在此以控制装置5将坏点位置判定在第n行举例说明，由于坏点位置误差在行方向约为1.5 sub Pixel，因此坏点位置可能性为第n行的R显示晶胞13、G显示晶胞13或B显示晶胞13，控制装置5输出打亮R(亦可为G或B)显示晶胞13讯号至面板1显示。

接着进行步骤77，影像撷取装置4将面板1显示的影像资料传回控制装置5，假使，经由单色CCD，影像显示坏点所在行数亮，则控制装置5判定坏点为第n行的R显示晶胞13，假使坏点所在行数不亮，则控制装置5判定坏点为第n行的G显示晶胞13或B显示晶胞13(参阅图8)，且继续输出点亮特定行数的G(或B)显示晶胞13，直至辨识出坏点所在行数为G或B显示晶胞13为止。藉输出行方向单一颜色的间隔图案，控制装置5将坏点在水平方向的座标位置作调整处理。与第一较佳实施例不同地，本实施例中，由于单色CCD无法监别三色，故使用上可能需要多次地分别输入单一色逐一检视，然，两实施例对于辨别坏点位置的功效，并无显着不同。

加以特别说明的是，步骤78～79中，第一与第二较佳实施例的差别在于第一实施例中，经由彩色CCD显示的所亮列数为三色依序排列，而第二实施例中，经由单色CCD显示的所亮列数为单色(无法分辨R、G及B)。然步骤78～79中，坏点所在列数的判断，仅经由显示晶胞13亮暗即可辨别，单色或彩色CCD的使用并不影响辨别结果。

下列表一是利用本发明平面显示器面板坏点检测仪及其检测方法针对20个不同面板1作坏点检测的实验结果。

资料表中列出了每一面板1上的两个参考点位置(参考点一、参考点二)、一个亮点位置、数学计算及其换算值(亮点相对于面板1的座标)、补正后的座标(控制装置5输出特定图样后将坏点进一步精确定址的座标)及坏点的实际座标。

                                                                                表一：

	参考点一			参考点二			亮点座标			数学计算及其换算值		补正后的座标		LCD实际座标		位置正确
																	光学尺读值	X1	X2	Y	X1	X2	Y	X1	X2	Y
LCD座标											Y	X	Y	X	Y
																	Panel1	52	449	32	81	613	55470	35073	35126	54991	1913.74	1016.7	1914	1017	1914	1017	是
Panel2	54	538	-32	20	361	55404	21224	21281	1489	1128.14	4.07	1128	4	1128	4	是
																	Panel3	45	515	31	68	623	55469	19087	19141	41129		X	1006	754	1006	754	是
Panel4	41	397	39	126	840	55479	68697	273	343866	3827.17	2.63	3827	1	3827	1	是
																	Panel5	49	475	31	76	614	55469	68367	68449	55140	3806.42	1019.9	3807	1019	3807	1019	是
Panel6	45	444	35	80	603	55473	32399	32457	28390	1762.95	512.88	1763	513	1763	513	是
																	Panel7	48	535	-29	15	370	55409	1980	2030	55056	36.52	1018.8	36	1019	36	1019	是
Panel8	43	448	34	73	610	55474	2973	3027	1774	91.87	8.47	91	8	91	8	是
																	Panel9	32	358	44	125	844	55482	19310	19355	54990	1015.48	1016.7	1015	1017	1015	1017	是
Panel10	46	440	34	77	604	55472	57736	57788	55153	3201.57	1020	3201	1020	3201	1020	是
																	Panel11	60	467	36	95	636	55475	27537	27575	1803	1686.05	9.27	1486	9	1486	9	是
Panel12	65	511	-27	36	359	55409	2568	2612	55093	69.23	1019.4	69	1019	69	1019	是
																	Panel13	59	481	38	93	644	55477	2984	3030	1709	91.61	7.16	91	7	91	7	是
Panel14	41	399	48	131	877	55486	1896	1939	55059	25.61	1017.4	25	1017	25	1017	是
																	Panel15	58	498	36	84	636	55476	53303	53363	1806	2950.99	9.49	2951	9	2951	9	是
Panel16	53	450	35	88	623	55472	29766	29814	30108	1612.73	545.4	1612	545	1612	545	是
																	Panel17	59	526	-32	29	373	55405	52076	52139	55185	2882.85	1020.8	2883	1020	2883	1020	是
Panel18	53	439	34	88	612	55470	24206	24256	8067	1297.71	127.91	1297	127	1297	127	是
																	Panel19	32	388	43	125	846	55480	68583	68648	31328	3817.84	570.13	3818	569	3818	569	是
Panel20	49	468	34	75	643	55470	31368	31421	55045	1703.24	1017.7	l703	1018	1703	1018	是

实验座标正确率100％

由表一可看出，对于20个不同面板1的实验数据，将亮点(坏点)补正后的座标，与其实际座标相比较，正确率达到100％。

以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，不能以此限定本发明实施的范围，即凡依本发明专利权利要求保护的范围及发明说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利权利要求涵盖的范围内。

Claims (11)

1.一种平面显示器面板坏点检测方法，该面板具有复数行电极及复数垂直该等行电极的列电极，每一行电极与列电极交点处形成一显示晶胞，该方法透过一传动定位装置、一影像撷取装置及一控制装置进行，其特征在于，该方法包含下列步骤：

a)将该面板定位；

b)提供一普遍性讯号使该面板显示坏点；

c)移动该影像撷取装置使坏点进入其可视范围；

d)提供一特定图样讯号使该面板显示；及

e)将接收自该传动定位装置的位置讯号及该面板显示的资讯分析。

2.依据权利要求1所述的平面显示器面板坏点检测方法，其特征在于，该步骤b)系透过该控制装置输出讯号至各行、列电极使该面板点亮。

3.依据权利要求1所述的平面显示器面板坏点检测方法，其特征在于，该影像撷取装置为一彩色电荷耦合元件，该步骤d)系透过该控制装置输出讯号至特定行数电极使三色显示晶胞点亮。

4.依据权利要求1所述的平面显示器面板坏点检测方法，其特征在于，该影像撷取装置为一彩色电荷耦合元件，该步骤d)系透过该控制装置输出讯号至偶数列电极使该等显示晶胞点亮。

5.依据权利要求1所述的平面显示器面板坏点检测方法，其特征在于，该影像撷取装置为一单色电荷耦合元件，该步骤d)系透过该控制装置输出讯号至特定行数电极使单色显示晶胞点亮。

6.依据权利要求1所述的平面显示器面板坏点检测方法，其特征在于，该影像撷取装置为一单色电荷耦合元件，该步骤d)系透过该控制装置输出讯号至偶数列电极使该等显示晶胞点亮。

7.依据权利要求1所述的平面显示器面板坏点检测方法，其特征在于，在该步骤e)之后更包含一修补坏点的步骤f)。

8.依据权利要求1所述的平面显示器面板坏点检测方法，其特征在于，在该步骤c)之后更包含一确认坏点相对于可视范围内一标准点距离的步骤g)。

9.一种平面显示器面板坏点检测仪，该面板具有复数行电极及复数垂直该等行电极的列电极，每一行电极舆列电极交点处形成一显示晶胞，其特征在于，该检测仪包含：

一基座，供设置该平面显示面板；

一传动定位装置；

一装设于该传动定位装置的影像撷取装置，供撷取该面板的影像资讯：及

一控制装置，输出一特定图样讯号至该等电极使该面板显示特定图样，且该控制装置接收该传动定位装置回报的位置讯号并依照接收来自该影像撷取装置的影像资讯分析坏点位置。

10.依据权利要求9所述的平面显示器面板坏点检测仪，其特征在于，该基座设有复数定位块及复数定位孔，用以将该面板固定于该基座上。

11.依据权利要求9所述的平面显示器面板坏点检测仪，其特征在于，该影像撷取装置为一电荷耦合元件。

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