CN107515481A - 一种显示面板的检测方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板的检测方法和装置，该检测方法包括：采集显示面板的第一检测图像，并获取第一检测图像中每个像素点的灰阶值；将第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定第一检测图像中各第一像素点构成的第一连通区域，并计算第一连通区域的横纵比；在预先建立的数据库中查找与第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将目标参数对应的目标类型确定为显示面板的类型。本发明实施例，实现了对显示面板类型的全自动化检测，检测装置可自动检测和判定显示面板的类型，无需耗费人力，降低了人力成本，且检测装置的全自动检测过程速度快，可有效提高检测效率。

Description

一种显示面板的检测方法和装置
技术领域
本发明实施例涉及显示面板检测技术，尤其涉及一种显示面板的检测方法和装置。
背景技术
现有显示面板在制造过程中，需要实行多种检查以确认正在制造的显示面板无缺陷，以免不良品流至后端继续作业，造成模组耗材和生产时间的大量浪费。现有显示面板的多种检查至少包括数据测试、视觉检测、全部测试和最终测试等。
视觉检测即点灯(light on)检查，主要是对成型的面板进行显示检查。现有点灯检查的程序是：对置于点灯机上的成型面板进行自动拍照；再由工作人员依照拍摄的照片去判定成型面板是否存在缺陷，以及判定不良成型面板的缺陷类型。
显然，现有显示面板的点灯检查需要经由工作人员去判断成型面板是否存在缺陷以及缺陷类型，人力成本高且效率低。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板的检测方法和装置，以降低点灯检查的人力成本和提高检测效率。
本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法，该检测方法包括：
采集所述显示面板的第一检测图像，并获取所述第一检测图像中每个像素点的灰阶值；
将所述第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定所述第一检测图像中各所述第一像素点构成的第一连通区域，并计算所述第一连通区域的横纵比；
在预先建立的数据库中查找与所述第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将所述目标参数对应的目标类型确定为所述显示面板的类型。
进一步地，所述预设灰阶范围的预设过程包括：
采集多个正常显示面板的第二检测图像，并获取多个第二检测图像中每个像素点的灰阶值；
将所述多个第二检测图像中像素点的最大灰阶值和最小灰阶值构成的灰阶范围确定为所述预设灰阶范围。
进一步地，所述数据库的建立过程包括：
采集至少25个具有第一类型的显示面板的第三检测图像，并获取每个所述第三检测图像中每个像素点的灰阶值；
查找所述第三检测图像中灰阶值超出所述预设灰阶范围的第三像素点，并确定所述第三检测图像中各所述第三像素点构成的第三连通区域；
计算每个所述第三检测图像中所述第三连通区域的横纵比，确定多个所述第三检测图像中所述第三连通区域的最大横纵比值和最小横纵比值构成的参数范围，并将该参数范围确定为与所述第一类型对应的第一参数。
进一步地，所述数据库至少包括：横纹类型和与所述横纹类型对应的横纹参数、竖纹类型和与所述竖纹类型对应的竖纹参数、菱形类型和与所述菱形类型对应的菱形参数、以及圆状类型和与所述圆状类型对应的圆状参数。
进一步地，所述第一连通区域中所述第一像素点的个数占比超过80％。
进一步地，所述第一连通区域的横纵比为所述第一连通区域在横方向上的最大像素点个数和所述第一连通区域在纵方向上的最大像素点个数之比。
本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置，该检测装置包括：
采集图像模块，用于采集所述显示面板的第一检测图像，并获取所述第一检测图像中每个像素点的灰阶值；
像素确定模块，用于将所述第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定所述第一检测图像中各所述第一像素点构成的第一连通区域，并计算所述第一连通区域的横纵比；
查找类型模块，用于在预先建立的数据库中查找与所述第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将所述目标参数对应的目标类型确定为所述显示面板的类型。
进一步地，所述数据库至少包括：横纹类型和与所述横纹类型对应的横纹参数、竖纹类型和与所述竖纹类型对应的竖纹参数、菱形类型和与所述菱形类型对应的菱形参数、以及圆状类型和与所述圆状类型对应的圆状参数。
进一步地，所述第一连通区域的横纵比为所述第一连通区域在横方向上的最大像素点个数和所述第一连通区域在纵方向上的最大像素点个数之比。
本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置，该检测装置包括：
采集图像模块，用于采集所述显示面板的第一检测图像，并获取所述第一检测图像中每个像素点的灰阶值；
像素确定模块，用于将所述第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定所述第一检测图像中各所述第一像素点构成的第一连通区域，并计算所述第一连通区域的横纵比；
其中，所述第一连通区域的横纵比为所述第一连通区域在横方向上的最大像素点个数和所述第一连通区域在纵方向上的最大像素点个数之比；
查找类型模块，用于在预先建立的数据库中查找与所述第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将所述目标参数对应的目标类型确定为所述显示面板的类型。
本发明实施例提供的显示面板的检测方法和装置，自动采集显示面板的第一检测图像，并获取第一检测图像中每个像素点的灰阶值，快速确定第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的第一像素点及第一像素点构成的第一连通区域，并计算第一连通区域的横纵比，最后在数据库中查找与第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，将目标参数对应的目标类型确定为显示面板的类型。本发明实施例，实现了对显示面板类型的全自动化检测，检测装置可自动检测和判定显示面板的类型，无需耗费人力，降低了人力成本，且检测装置的全自动检测过程速度快，可有效提高检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程图；
图2是本发明实施例提供的待检测显示面板的第一检测图像的示意图；
图3是本发明实施例提供的检测装置预设灰阶范围的流程示意图；
图4是本发明实施例提供的检测装置建立数据库的流程示意图；
图5A是具有最大横纵比值的一种显示面板的第三检测图像；
图5B是具有最小横纵比值的一种显示面板的第三检测图像；
图6是本发明实施例提供的一种显示面板的检测装置的示意图；
图7是本发明实施例提供的一种显示面板的检测装置的示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本发明实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本发明的技术方案，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示，为本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程图，本实施例的技术方案适用于对显示面板进行类型检测的情况。该方法可以由用于检测显示面板的检测装置来执行，该装置可以采用软件和/或硬件的方式实现并配置在检测设备中执行。
本实施例提供的显示面板的检测方法具体包括如下步骤：
步骤110、采集显示面板的第一检测图像，并获取第一检测图像中每个像素点的灰阶值。
本实施例中所述的显示面板是成型面板，以液晶显示器为例，待检测的显示面板为成型液晶盒即还未组装背光模组等结构的液晶盒。本实施例中所述的显示面板是指检测设备已经点亮的显示面板，具体的，检测设备检测到有显示面板进入后，可选采用短路棒检测方式将显示测试信号输入显示面板中以使背光模组的光进入显示面板将显示面板点亮。检测设备中集成有拍照模块，则检测装置调用拍照模块采集显示面板的第一检测图像，并获取第一检测图像中每个像素点的灰阶值。
其中，可以理解，本发明中检测设备点亮显示面板的方式包括但不限于短路棒检测方式，现有任意一种点灯检测方式均适用；本发明中检测装置获取第一检测图像中每个像素点的灰阶值的方式可以为现有任意一种适用的图像处理方式，在本发明中不进行具体说明和限制。
步骤120、将第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定第一检测图像中各第一像素点构成的第一连通区域，并计算第一连通区域的横纵比。
本实施例中检测装置中存储有预设灰阶范围，该预设灰阶范围为类型检测时正常显示面板中各像素点所属灰阶范围。显然，类型检测时，待检测的显示面板的处于该预设灰阶范围内的灰阶值为正常灰阶值以及正常灰阶值对应的像素点为正常像素点，而待检测的显示面板的超出该预设灰阶范围的灰阶值为异常灰阶值以及异常灰阶值对应的像素点为异常像素点即第一像素点。本实施例中检测装置根据第一检测图像中每个像素点的灰阶值和预设灰阶范围，可查找出第一检测图像中的各第一像素点。
本实施例中检测装置根据第一检测图像中各第一像素点可确定至少一个第一连通区域，由于显示面板中可能存在部分离散的第一像素点，因此为了便于后续类型的分辨，可选第一连通区域中第一像素点的个数占比超过80％。如图2所示的第一检测图像，例如预设灰阶范围为[49，51]，其中灰阶值为49、50或51的像素点为正常像素点，则灰阶值超出该预设灰阶范围如灰阶值为35的像素点为第一像素点，显然该第一检测图像中形成一个第一连通区域S1，该第一连通区域S1中第一像素点的个数占比超过80％。
本实施例中检测装置确定第一检测图像中的第一连通区域后可计算第一连通区域的横纵比，在此可选第一连通区域的横纵比为第一连通区域在横方向(X)上的最大像素点个数和第一连通区域在纵方向(Y)上的最大像素点个数之比，如图2所示第一连通区域S1在X方向上的最大像素点个数为30，以及在Y方向上的最大像素点个数为2，则该第一连通区域S1的横纵比为15。需要说明的是，可选横方向为显示面板的长边方向，纵方向为显示面板的短边方向。显然，对于任意一台检测设备，显示面板进入检测设备后，即使显示面板的放置方向发生改变，也可以根据显示面板的长边方向和短边方向确定横方向和纵方向，进而确定显示面板中第一连通区域的横纵比。本发明实施例中可选确定显示面板的长边方向对应横方向，显示面板的短边方向对应纵方向，根据该确定的对应关系，建立相应的显示面板的数据库，基于该数据库，检测设备对每一个显示面板进行检测，由此准确确定每一个显示面板的类型。
本发明其他实施例中也可选确定显示面板的长边方向对应纵方向，显示面板的短边方向对应横方向，根据该确定的对应关系，建立相应的显示面板的数据库，基于该数据库，检测设备对每一个显示面板进行检测，由此准确确定每一个显示面板的类型。
其中，可以理解，本发明中检测装置可根据数据处理方法确定第一连通区域的横纵比，根据图像处理方法确定第一像素点和第一连通区域；以及相关从业人员可根据设计需求自行设定第一连通区域中第一像素点的个数占比，在本发明中不限定为80％。
步骤130、在预先建立的数据库中查找与第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将目标参数对应的目标类型确定为显示面板的类型。
本实施例中检测装置中存储有数据库，数据库中包括多种类型以及各类型对应的参数，该参数可选为对应类型的横纵比范围。本实施例中检测装置计算出第一检测图像的第一连通区域的横纵比后，可将第一检测图像的第一连通区域的横纵比与数据库进行匹配。若查找出第一检测图像的第一连通区域的横纵比处于某一参数限定的横纵比范围内即第一检测图像的第一连通区域的横纵比与该参数匹配，则将该参数确定为目标参数以及该目标参数对应的目标类型确定为该检测的显示面板的类型，检测装置标记该检测的显示面板的类型。由此实现对显示面板的自动类型检测。
例如数据库中至少包括横纹类型及横纹类型的参数[10，100]，则图2所示第一检测图像的第一连通区域S1的横纵比与横纹参数匹配，则检测装置可将该检测的显示面板的类型标记为横纹类型。
需要说明的是，工作人员根据点灯测试机中记录的同批显示面板的类型可判定该批显示面板的生产线的故障，以此进行生产线设备调整，能够有效降低面板不良率。
本发明实施例提供的显示面板的检测方法，自动采集显示面板的第一检测图像并获取第一检测图像中每个像素点的灰阶值，快速确定第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的第一像素点及第一像素点构成的第一连通区域并计算第一连通区域的横纵比，最后在数据库中查找与第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，将目标参数对应的目标类型确定为显示面板的类型。本发明实施例，实现了对显示面板类型的全自动化检测，检测装置可自动检测和判定显示面板的类型，无需耗费人力，降低了人力成本，且检测装置的全自动检测过程速度快，可有效提高检测效率。
示例性的，在上述实施例的基础上，各个步骤的操作可以选择多种处理方式来实现，以下分别提供优选实施方式进行详细说明。
可选的，如图3所示检测装置预设灰阶范围的预设过程包括：
步骤210、采集多个正常显示面板的第二检测图像，并获取多个第二检测图像中每个像素点的灰阶值。
本实施例中正常显示面板是工作人员判定的点灯检查中无缺陷的显示面板，即其每个像素点的灰阶值均正常。为了提高预设灰阶范围的准确性，可选采集至少25个无缺陷显示面板的第二检测图像及获取第二检测图像中每个像素点的灰阶值。采集无缺陷显示面板的检测图像及图像中每个像素点的灰阶值的过程与步骤110中采集第一检测图像及第一检测图像中每个像素点的灰阶值的过程类似，在此不再赘述。
其中，正常显示面板的选取数量可根据产品应用和需求不同自行确定，例如采集的正常显示面板的数量也可以是20个或100个，在本发明中不进行具体说明和限制。
步骤220、将多个第二检测图像中像素点的最大灰阶值和最小灰阶值构成的灰阶范围确定为预设灰阶范围。
本实施例中获取多个第二检测图像中每个像素点的灰阶值后，查找出多个第二检测图像中最大灰阶值和最小灰阶值，该最大灰阶值和最小灰阶值构成的灰阶范围即为预设灰阶范围。例如多个第二检测图像中像素点的最大灰阶值为52，最小灰阶值为48，则预设灰阶范围为[48，52]；点灯检查时，待检测显示面板的图像中灰阶值超出该预设灰阶范围的像素点均为第一像素点。
可选的，如图4所示检测装置中数据库的建立过程包括：
步骤310、采集至少25个具有第一类型的显示面板的第三检测图像，并获取每个第三检测图像中每个像素点的灰阶值。
本实施例中第一类型的显示面板是工作人员判定的点灯检查中检查出同一类型的显示面板。例如，该第一类型为横纹类型，为了提高横纹参数的准确性，可选采集至少25个具有横纹类型的显示面板的第三检测图像及获取第三检测图像中每个像素点的灰阶值。采集具有第一类型的显示面板的检测图像及图像中每个像素点的灰阶值的过程与步骤110类似，在此不再赘述。
其中，采集的具有第一类型的显示面板的数量也可以是20个或100个，在本发明中不进行具体说明和限制。
步骤320、查找第三检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的第三像素点，并确定第三检测图像中各第三像素点构成的第三连通区域。
步骤330、计算每个第三检测图像中第三连通区域的横纵比，确定多个第三检测图像中第三连通区域的最大横纵比值和最小横纵比值构成的参数范围，并将该参数范围确定为与第一类型对应的第一参数。
本实施例中确定第三检测图像的第三像素点、第三连通区域和第三连通区域横纵比的过程与步骤120中确定第一检测图像的第一像素点、第一连通区域和第一连通区域的横纵比的过程类似，在此不再赘述。
本实施例中获取多个第三检测图像中每个第三连通区域的横纵比后，查找出多个第三检测图像中最大横纵比值和最小横纵比值，则该最大横纵比值和最小横纵比值构成的横纵比范围即为对应第一类型的第一参数。
例如设定第一类型为横纹类型，采集至少25个具有第一类型的显示面板的第三检测图像，多个第三检测图像中第三连通区域的最大横纵比值为100，最小横纵比值为10，则横纹参数为[10，100]；点灯检查时，待检测显示面板的第一连通区域的横纵比若为20，则判定该检测的显示面板的类型为横纹类型。以每个显示面板包括50行*200列个像素点为例，行方向为X方向即横方向，列方向为Y方向即纵方向，200列依次标记为R1～R200，50行依次标记为L1～L50，即横(X)方向上的像素点个数为200，纵(Y)方向上的像素点个数为50。
如图5A所示，为具有最大横纵比值的显示面板的第三检测图像。其中，该显示面板的第三连通区域S3中，横(X)方向上灰阶值超出预设灰阶范围(例如[48，52])的第三像素点的个数为200，纵(Y)方向上灰阶值超出预设灰阶范围(例如[48，52])的第三像素点的个数为2，则该显示面板的第三连通区域S3的横纵比值为100。
如图5B所示，为具有最小横纵比值的显示面板的第三检测图像。其中，该显示面板的第三连通区域S3中，横(X)方向上灰阶值超出预设灰阶范围(例如[48，52])的第三像素点的个数为10，纵(Y)方向上灰阶值超出预设灰阶范围(例如[48，52])的第三像素点的个数为1，则该显示面板的第三连通区域S3的横纵比值为10。
按照上述方式获取其他类型参数，由此建立数据库，根据数据库可对任意包括50行*200列个像素点的显示面板进行类型检测。
可选的数据库至少包括：横纹类型和与横纹类型对应的横纹参数、竖纹类型和与竖纹类型对应的竖纹参数、菱形类型和与菱形类型对应的菱形参数、以及圆状类型和与圆状类型对应的圆状参数。横纹、竖纹、菱形和圆形为显示面板的常规缺陷图形，但数据库中的类型和参数不仅限于上述示例。此外，不同显示面板的缺陷图形形状、大小等差异较大，因此在此不具体示例横纹、竖纹、圆状、菱形等缺陷图形的参数。
如图6所示，为本发明实施例提供的一种显示面板的检测装置的示意图，本实施例的技术方案适用于对显示面板进行类型检测的情况。该装置可以执行上述任意实施例所述的显示面板检测方法，该装置可以采用软件和/或硬件的方式实现，配置在检测设备中执行。
本实施例提供的显示面板的检测装置包括：采集图像模块410，像素确定模块420和查找类型模块430。
其中，采集图像模块410用于采集所述显示面板的第一检测图像，并获取所述第一检测图像中每个像素点的灰阶值；像素确定模块420用于将所述第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定所述第一检测图像中各所述第一像素点构成的第一连通区域，并计算所述第一连通区域的横纵比；查找类型模块430用于在预先建立的数据库中查找与所述第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将所述目标参数对应的目标类型确定为所述显示面板的类型。
可选检测装置还包括：预设灰阶模块；预设灰阶模块用于在采集显示面板的第一检测图像之前，采集多个正常显示面板的第二检测图像并获取多个第二检测图像中每个像素点的灰阶值，将多个第二检测图像中像素点的最大灰阶值和最小灰阶值构成的灰阶范围确定为预设灰阶范围。
可选检测装置还包括：建立数据库模块；建立数据库模块用于在采集显示面板的第一检测图像之前，采集至少25个具有第一类型的显示面板的第三检测图像并获取每个第三检测图像中每个像素点的灰阶值，查找第三检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的第三像素点，并确定第三检测图像中各第三像素点构成的第三连通区域，计算每个第三检测图像中第三连通区域的横纵比，并将多个第三检测图像中第三连通区域的最大横纵比值和最小横纵比值构成的参数范围确定为与第一类型对应的第一参数。
需要说明的是预设灰阶范围参数可存储在数据库中，以及如图7所示检测装置还包括设置模块400，该设置模块400集成有预设灰阶模块和建立数据库模块的功能，即该设置模块400替代了预设灰阶模块和建立数据库模块。
可选数据库至少包括：横纹类型和与横纹类型对应的横纹参数、竖纹类型和与竖纹类型对应的竖纹参数、菱形类型和与菱形类型对应的菱形参数、以及圆状类型和与圆状类型对应的圆状参数。
可选第一连通区域中第一像素点的个数占比超过80％。可选第一连通区域的横纵比为第一连通区域在横方向上的最大像素点个数和异常连通区域在纵方向上的最大像素点个数之比。
本发明实施例中检测装置需要经过一段时间收集工厂所发生的各种缺陷图形(defect)照片，经过软件计算产生数据库(defect data base)，然后就可以经由检测装置自动判定显示面板的类型(defect code)，即实现了对显示面板的类型检测的全自动化。本发明实施例中检测装置可自动检测和判定显示面板的类型，无需耗费人力，降低了人力成本，且检测装置的全自动检测过程速度快，可有效提高检测效率。
其中，显示面板可例如为液晶显示面板、OLED显示面板、QLED显示面板、曲面显示面板或其他显示面板。
其中，当显示面板为液晶显示面板，液晶显示面板包括TN液晶面板、IPS液晶面板、VA液晶面板、CPA液晶面板、PLS液晶面板、MVA液晶面板等。本领域技术人员可以理解，本发明实施例提供的显示面板的检测装置适用于检测多种显示面板，不仅限于上述种类液晶显示面板。
本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置，该检测装置包括：采集图像模块，像素确定模块和查找类型模块。
其中，采集图像模块用于采集所述显示面板的第一检测图像，并获取所述第一检测图像中每个像素点的灰阶值；像素确定模块用于将所述第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定所述第一检测图像中各所述第一像素点构成的第一连通区域，并计算所述第一连通区域的横纵比；其中，所述第一连通区域的横纵比为所述第一连通区域在横方向上的最大像素点个数和所述第一连通区域在纵方向上的最大像素点个数之比；查找类型模块用于在预先建立的数据库中查找与所述第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将所述目标参数对应的目标类型确定为所述显示面板的类型。
本发明实施例，实现了对显示面板类型的全自动化检测，检测装置可自动检测和判定显示面板的类型，无需耗费人力，降低了人力成本，且检测装置的全自动检测过程速度快，可有效提高检测效率
本发明实施例还提供了一种检测设备，该检测设备包括如上任一实施例所述的检测装置，该检测设备用于通过检测装置检测显示面板。可选的，该检测设备还包括：给显示面板提供光源的背光装置和给显示面板提供显示测试信号的信号输入装置。
需要说明的是，该检测设备可选为点灯测试机，该点灯测试机与现有点灯机的区别在于，点灯测试机中集成的检测装置可自动化实现对显示面板的点灯检查，无需人力去判断成型面板是否存在缺陷以及缺陷类型，降低了人力成本且提高了检测效率。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：
采集所述显示面板的第一检测图像，并获取所述第一检测图像中每个像素点的灰阶值；
将所述第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定所述第一检测图像中各所述第一像素点构成的第一连通区域，并计算所述第一连通区域的横纵比；
在预先建立的数据库中查找与所述第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将所述目标参数对应的目标类型确定为所述显示面板的类型。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述预设灰阶范围的预设过程包括：
采集多个正常显示面板的第二检测图像，并获取多个第二检测图像中每个像素点的灰阶值；
将所述多个第二检测图像中像素点的最大灰阶值和最小灰阶值构成的灰阶范围确定为所述预设灰阶范围。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述数据库的建立过程包括：
采集至少25个具有第一类型的显示面板的第三检测图像，并获取每个所述第三检测图像中每个像素点的灰阶值；
查找所述第三检测图像中灰阶值超出所述预设灰阶范围的第三像素点，并确定所述第三检测图像中各所述第三像素点构成的第三连通区域；
计算每个所述第三检测图像中所述第三连通区域的横纵比，确定多个所述第三检测图像中所述第三连通区域的最大横纵比值和最小横纵比值构成的参数范围，并将该参数范围确定为与所述第一类型对应的第一参数。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述数据库至少包括：横纹类型和与所述横纹类型对应的横纹参数、竖纹类型和与所述竖纹类型对应的竖纹参数、菱形类型和与所述菱形类型对应的菱形参数、以及圆状类型和与所述圆状类型对应的圆状参数。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一连通区域中所述第一像素点的个数占比超过80％。
6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一连通区域的横纵比为所述第一连通区域在横方向上的最大像素点个数和所述第一连通区域在纵方向上的最大像素点个数之比。
7.一种显示面板的检测装置，其特征在于，包括：
采集图像模块，用于采集所述显示面板的第一检测图像，并获取所述第一检测图像中每个像素点的灰阶值；
像素确定模块，用于将所述第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定所述第一检测图像中各所述第一像素点构成的第一连通区域，并计算所述第一连通区域的横纵比；
查找类型模块，用于在预先建立的数据库中查找与所述第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将所述目标参数对应的目标类型确定为所述显示面板的类型。
8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述数据库至少包括：横纹类型和与所述横纹类型对应的横纹参数、竖纹类型和与所述竖纹类型对应的竖纹参数、菱形类型和与所述菱形类型对应的菱形参数、以及圆状类型和与所述圆状类型对应的圆状参数。
9.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述第一连通区域的横纵比为所述第一连通区域在横方向上的最大像素点个数和所述第一连通区域在纵方向上的最大像素点个数之比。
10.一种显示面板的检测装置，其特征在于，包括：
采集图像模块，用于采集所述显示面板的第一检测图像，并获取所述第一检测图像中每个像素点的灰阶值；
像素确定模块，用于将所述第一检测图像中灰阶值超出预设灰阶范围的像素点确定为第一像素点，以及确定所述第一检测图像中各所述第一像素点构成的第一连通区域，并计算所述第一连通区域的横纵比；
其中，所述第一连通区域的横纵比为所述第一连通区域在横方向上的最大像素点个数和所述第一连通区域在纵方向上的最大像素点个数之比；
查找类型模块，用于在预先建立的数据库中查找与所述第一连通区域的横纵比匹配的目标参数，并将所述目标参数对应的目标类型确定为所述显示面板的类型。
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