CN104317079B - 一种显示面板识别系统、检测系统、识别方法及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种显示面板识别系统、检测系统、识别方法及检测方法,该显示面板识别系统用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,包括:定位装置,用于确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标;处理装置,用于根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板,并在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。通过本发明,当检测出位于检测机台上的一基板上的某个显示面板出现缺陷时,可以自动在该基板的映射图中寻找并标记出该显示面板,无需操作员手动寻找,节省了寻找时间,并提高了寻找的准确度,从而进一步提高了产品的测试速度以及提升了品质监控。
Description
技术领域
本发明涉及基板检测技术领域,尤其涉及一种显示面板识别系统、检测系统、识别方法及检测方法。
背景技术
当包括多个显示面板(panel)的基板完成所有工序的制作后,会通过Macro(宏观检测机)设备进行宏观品质的全检,当宏观检测机的操作员(OP)发现基板上的某个显示面板存在NG(不合格)缺陷时,会手动在Macro PC软件的映射图(Map)上选择该显示面板,并将其判定为不合格的显示面板。
目前,TFT-LCD行业8.5代线工厂在生产大尺寸(32寸或46寸等)显示面板的同时,也会大量的生产小尺寸(7寸或8寸等)显示面板,生产大尺寸显示面板时,一张基板包括8到40个显示面板,当操作员发现某个显示面板出现NG缺陷时,可以轻松的在映射图上找出该显示面板,并将其判为不合格的显示面板。但是当生产小尺寸显示面板时,一张基板有可能包括超过300个显示面板,当操作员发现某个显示面板存在NG缺陷时,由于显示面板数量过多,操作员需要花费较长时间在映射图上寻找目标显示面板,将其判为不合格的显示面板,并且手动寻找容易出错,对产品的出货速度以及品质的监控都产生了较大的影响。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种显示面板识别系统、检测系统、识别方法及检测方法,当检测出一基板上的某个显示面板出现缺陷时,可以自动在该基板的映射图中标记出该显示面板。
为解决上述技术问题,本发明提供一种显示面板识别系统,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,包括:
定位装置,用于确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标;
处理装置,用于根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板,并在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。
优选地,所述定位装置包括:
光线发射器,包括固定底座以及固定在所述固定底座上并能绕所述固定底座旋转的光线发射头,所述光线发射头发射的光线范围能够覆盖位于检测机台上的所述基板;
计算模块,用于在所述光线发射头发射的光线指向位于检测机台上的所述基板并在所述基板上形成指定点时,获取所述光线发射头在水平方向和垂直方向上的旋转角度,并获取所述基板与所述光线发射器之间的垂直距离,根据所述水平方向和垂直方向上的旋转角度及所述垂直距离,计算所述指定点的坐标。
优选地,所述光线发射器为激光发射器。
优选地,所述处理装置,具体用于获取所述基板上的各显示面板的中心点的坐标,并根据所述指定点的坐标及各显示面板的中心点的坐标,计算所述指定点与各显示面板的中心点的距离,从所述指定点与各显示面板的中心点的距离中选择最小值,确定所述最小值对应的显示面板为所述指定点所在的目标显示面板。
本发明还提供一种显示面板检测系统,包括用于放置并检测包括多个显示面板的基板的检测机台以及上述显示面板识别系统。
本发明还提供一种显示面板识别方法,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,包括:
确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标;
根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板;
在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。
优选地,所述确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标的步骤包括:
当一光线发射器的光线发射头发射的光线指向位于检测机台上的所述基板并在所述基板上形成指定点时,获取所述光线发射头在水平方向和垂直方向上的旋转角度;
获取所述基板与所述光线发射器之间的垂直距离;
根据所述水平方向和垂直方向上的旋转角度及所述垂直距离,计算所述指定点的坐标。
优选地,在执行确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标的步骤时,位于检测机台上的基板为竖直且正面朝向所述光线发射器的方向设置。
优选地,所述根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板的步骤包括:
获取所述基板上的各显示面板的中心点的坐标;
根据所述指定点的坐标及各显示面板的中心点的坐标,计算所述指定点与各显示面板的中心点的距离;
从所述指定点与各显示面板的中心点的距离中选择最小值,确定所述最小值对应的显示面板为所述指定点所在的目标显示面板。
本发明还提供一种显示面板检测方法,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,包括:
将包含多个显示面板的基板放置到检测机台上;
通过检测机台对所述基板中的各显示面板进行检测;
当检测到一显示面板为不合格的显示面板时,控制光线发射器的光线发射头绕固定底座旋转,使得光线发射头发射的光线落入所述不合格的显示面板上,并在所述不合格的显示面板上形成指定点;
确定所述指定点的坐标;
根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板;
在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。
本发明的上述技术方案的有益效果如下:
当检测出位于检测机台上的一基板上的某个显示面板出现缺陷时,可以自动在该基板的映射图中寻找并标记出该显示面板,无需操作员手动寻找,节省了寻找时间,并提高了寻找的准确度,从而进一步提高了产品的测试速度以及提升了品质监控。
附图说明
图1为本发明实施例的基板的映射图的示意图;
图2为本发明实施例的定位装置的结构示意图;
图3为本发明实施例的光线发射器与基板的位置关系示意图;
图4为本发明实施例的基板坐标系的示意图;
图5和图6为本发明实施例的指定点坐标的计算方法示意图;
图7为本发明实施例的基板上的各显示面板的中心点坐标的示意图;
图8为本发明实施例的基板上的各显示面板的中心点与指定点之间的距离的计算方法示意图;
图9为本发明实施例的目标显示面板的标记方法示意图;
图10为本发明实施例的显示面板识别方法的流程示意图;
图11为本发明实施例的显示面板检测方法的流程示意图。
具体实施方式
为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
本发明实施例提供一种显示面板识别系统,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,该识别系统包括:
定位装置,用于确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标;
处理装置,用于根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板,并在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。
请参考图1,图1为本发明实施例的基板的映射图的示意图,从图1中可以看出,当基板包括的显示面板的数量较多时,如果人工在映射图上寻找目标显示面板,需要花费较长时间。
通过上述识别系统,当检测出位于检测机台上的一基板上的某个显示面板出现缺陷时,可以自动在该基板的映射图中寻找并标记出该显示面板,无需操作员手动寻找,节省了寻找时间,并提高了寻找的准确度,从而进一步提高了产品的测试速度以及提升了品质监控。
下面举例对上述定位装置的结构进行详细说明。
请参考图2,图2为本发明实施例的定位装置的结构示意图,该定位装置包括:
光线发射器10,包括固定底座11以及固定在所述固定底座11上并能绕所述固定底座11旋转的光线发射头12,所述光线发射头12发射的光线范围能够覆盖位于检测机台上的所述基板;优选地,所述光线发射头12能够绕固定底座360度旋转。
计算模块20,用于在所述光线发射头12发射的光线指向位于检测机台上的所述基板并在所述基板上形成指定点时,获取所述光线发射头12在水平方向和垂直方向上的旋转角度,并获取所述基板与所述光线发射器10之间的垂直距离,根据所述水平方向和垂直方向上的旋转角度及所述垂直距离,计算所述指定点的坐标。
优选地,所述光线发射器10为激光发射器,当然,也可以为其他可见光发射器。
优选地,所述光线发射器10还包括:检测模块(图未示出),用于检测所述光线发射头12在水平方向和垂直方向上的旋转角度。该检测模块可设置在光线发射器10的固定底座11中。当然,在本发明的一些实施例中,所述光线发射器10也可以不包括检测模块,而是由人工检测所述光线发射头12在水平方向和垂直方向上的旋转角度。
当所述光线发射器10包括所述检测模块时,所述计算模块20可与所述光线发射器10中的检测模块连接,自动获取所述光线发射头12在水平方向和垂直方向上的旋转角度。所述计算模块20可以为一微型处理芯片,该微型处理芯片可集成在所述光线发射器10上,例如设置在光线发射器10的固定底座11中。所述计算模块20也可以为一微型处理计算机,通过有线或无线的方式与该光线发射器10连接。
当所述光线发射器10可以不包括检测模块时,所述计算模块20也可以为一具有输入界面的微型处理计算机,通过人工方式检测所述光线发射头12在水平方向和垂直方向上的旋转角度,并将检测结果人工输入至微型处理计算机。
请参考图3,该光线发射器10可以固定在一操作台上,优选地固定在该操作台的中心位置,该操作台与用于放置基板30的检测机台相对设置,在进行上述指定点坐标的检测时,优选地,位于检测机台上的基板30为竖直且正面朝向所述光线发射器10的方向设置,即检测机台处于90度。当然,在本发明的其他实施例中,在进行指定点坐标的检测时,位于检测机台上的基板30也可以呈其他角度设置,只要预先得知基板的倾角,即可计算出指定点的坐标。
下面举例对具体如何计算所述指定点的坐标的方法进行详细说明。
1)建立一基板坐标系,请参考图4,该基板坐标系为平面直角坐标系,坐标系的X轴(水平方向的数轴)和Y轴(垂直方向的数轴)均位于基板30所在的平面内,且互相垂直,X轴和Y轴的交点位于基板30的中心位置,并作为坐标原点O。
2)将光线发射器10固定在一操作台的中心位置,该操作台与用于放置基板30的检测机台相对设置,且光线发射器10的光线发射头在X轴和Y轴方向上的旋转角度为0度(即光线发射头与固定底座在Y轴方向呈90度夹角)时,光线发射头发射的光线与基板30的交点即基板坐标系的坐标原点O。请参考图5和图6,当光线发射器10指向基板30上的指定点P时,计算模块(图未示出)获取光线发射器10的光线发射头在X轴方向(水平方向)上的旋转角度θ,以及在Y轴方向(垂直方向)上的旋转角度β。
3)请参考图5,在Y轴方向上,根据tanθ=A/L,可以得出指定点P在Y轴方向上的坐标A=L=tanθ。请参考图6,在X轴方向上,根据tanβ=B/L,可以得出指定点P在X轴方向上的坐标B=L×tanβ,从而得到指定点P的坐标(A,B),其中,L为光线发射器10与位于检测机台上的基板30之间的垂直距离,此时位于检测机台上的基板30为竖直且正面朝向所述光线发射器10的方向设置,该距离可以测量并记录在所述计算模块中。
当然,本发明实施例中,也不排除采用其他方法获取所述指定点的坐标,在此不再详细说明。
下面举例对上述处理装置如何确定所述指定点所在的目标显示面板的方法进行详细说明。
1)请参考图7,所述处理装置可以首先获取所述基板上的各显示面板的中心点的坐标(x1,y1)、(x2,y2)、(x3,y3)……。
具体的,所述处理装置可以针对包括各种尺寸的显示面板的基板,存储各显示面板的中心点的坐标。
2)请参考图8,所述处理装置根据所述指定点的坐标及各显示面板的中心点的坐标,计算所述指定点P(A,B)与各显示面板的中心点(x1,y1)、(x2,y2)、(x3,y3)……的距离。
具体的,所述指定点与各显示面板的中心点的距离的计算公式为:
3)所述处理装置从所述指定点与各显示面板的中心点的距离中选择最小值,确定所述最小值对应的显示面板为所述指定点所在的目标显示面板。
4)请参考图9,所述处理装置在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。具体地,可以通过修改目标显示面板底色等或者将显示面板用线条框住等方式,标记出目标显示面板。
当然,在本发明的其他实施例中,也可以通过其他方法确定所述指定点所在的目标显示面板,例如,记录各显示面板的坐标点的范围,判断指定点位于哪一显示面板的坐标点的范围内,从而确定所述指定点所在的目标显示面板。
本发明实施例还提供一种显示面板检测系统,包括用于放置并检测包括多个显示面板的基板的检测机台,以及上述任实施例所述的显示面板识别系统。该显示面板检测系统可以为Macro设备,或者为其他可以检测基板缺陷的设备。
请参考图10,本发明实施例还提供一种显示面板识别方法,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,该方法包括以下步骤:
步骤S101:确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标;
步骤S102:根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板;
步骤S103:在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。
优选地,上述步骤101中确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标的步骤可以包括:
步骤S1011:当一光线发射器的光线发射头发射的光线指向位于检测机台上的所述基板并在所述基板上形成指定点时,获取所述光线发射头在水平方向和垂直方向上的旋转角度;
步骤S1012:获取所述基板与所述光线发射器之间的垂直距离;
步骤S1031:根据所述水平方向和垂直方向上的旋转角度及所述垂直距离,计算所述指定点的坐标。
该光线发射器的结构请参考上述实施例,在此不再赘述。
优选地,在执行确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标的步骤时,位于检测机台上的基板为竖直且正面朝向所述光线发射器的方向设置。
优选地,上述步骤S102中根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板的步骤可以包括:
步骤S1021:获取所述基板上的各显示面板的中心点的坐标;
步骤S1022:根据所述指定点的坐标及各显示面板的中心点的坐标,计算所述指定点与各显示面板的中心点的距离;
步骤S1023:从所述指定点与各显示面板的中心点的距离中选择最小值,确定所述最小值对应的显示面板为所述指定点所在的目标显示面板。
请参考图11,本发明实施例还提供一种显示面板检测方法,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,该方法包括:
步骤S111:将包含多个显示面板的基板放置到检测机台上;
步骤S112:通过检测机台对所述基板中的各显示面板进行检测;
步骤S113:当检测到一显示面板为不合格的显示面板时,控制光线发射器的光线发射头绕固定底座旋转,使得光线发射头发射的光线落入所述不合格的显示面板上,并在所述不合格的显示面板上形成指定点;
步骤S114:确定所述指定点的坐标;
步骤S115:根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板;
步骤S116:在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。
检测完成后,将检测完毕的基板排出。
以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明所述原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种显示面板识别系统,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,其特征在于,包括:
定位装置,用于确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标;
处理装置,用于根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板,并在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板;
所述定位装置包括:
光线发射器,包括固定底座以及固定在所述固定底座上并能绕所述固定底座旋转的光线发射头,所述光线发射头发射的光线范围能够覆盖位于检测机台上的所述基板;
计算模块,用于在所述光线发射头发射的光线指向位于检测机台上的所述基板并在所述基板上形成指定点时,获取所述光线发射头在水平方向和垂直方向上的旋转角度,并获取所述基板与所述光线发射器之间的垂直距离,根据所述水平方向和垂直方向上的旋转角度及所述垂直距离,计算所述指定点的坐标。
2.根据权利要求1所述的显示面板识别系统,其特征在于,所述光线发射器为激光发射器。
3.根据权利要求1所述的显示面板识别系统,其特征在于,
所述处理装置,具体用于获取所述基板上的各显示面板的中心点的坐标,并根据所述指定点的坐标及各显示面板的中心点的坐标,计算所述指定点与各显示面板的中心点的距离,从所述指定点与各显示面板的中心点的距离中选择最小值,确定所述最小值对应的显示面板为所述指定点所在的目标显示面板。
4.一种显示面板检测系统,包括用于放置并检测包括多个显示面板的基板的检测机台,其特征在于,还包括权利要求1-3任一项所述的显示面板识别系统。
5.一种显示面板识别方法,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,其特征在于,包括:
确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标;
根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板;
在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板;
所述确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标的步骤包括:
当一光线发射器的光线发射头发射的光线指向位于检测机台上的所述基板并在所述基板上形成指定点时,获取所述光线发射头在水平方向和垂直方向上的旋转角度;
获取所述基板与所述光线发射器之间的垂直距离;
根据所述水平方向和垂直方向上的旋转角度及所述垂直距离,计算所述指定点的坐标。
6.根据权利要求5所述的显示面板识别方法,其特征在于,在执行确定位于检测机台上的基板上的指定点的坐标的步骤时,位于检测机台上的基板为竖直且正面朝向所述光线发射器的方向设置。
7.根据权利要求5所述的显示面板识别方法,其特征在于,所述根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板的步骤包括:
获取所述基板上的各显示面板的中心点的坐标;
根据所述指定点的坐标及各显示面板的中心点的坐标,计算所述指定点与各显示面板的中心点的距离;
从所述指定点与各显示面板的中心点的距离中选择最小值,确定所述最小值对应的显示面板为所述指定点所在的目标显示面板。
8.一种显示面板检测方法,用于从包括多个显示面板的基板的映射图中识别出目标显示面板,其特征在于,包括:
将包含多个显示面板的基板放置到检测机台上;
通过检测机台对所述基板中的各显示面板进行检测;
当检测到一显示面板为不合格的显示面板时,控制光线发射器的光线发射头绕固定底座旋转,使得光线发射头发射的光线落入所述不合格的显示面板上,并在所述不合格的显示面板上形成指定点;
确定所述指定点的坐标;
根据所述指定点的坐标,确定所述指定点所在的目标显示面板;
在所述基板的映射图中标记出所述目标显示面板。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
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