CN107749268B - 屏幕检测方法及设备 - Google Patents

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CN107749268B CN201711029868.4A CN201711029868A CN107749268B CN 107749268 B CN107749268 B CN 107749268B CN 201711029868 A CN201711029868 A CN 201711029868A CN 107749268 B CN107749268 B CN 107749268B
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Abstract

本申请公开了一种屏幕检测方法及设备，所述方法包括：采集检测图像；确定所述检测图像中的缺陷点；选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点；根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点；如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷。本申请实施例实现特殊缺陷的自动化检测。

Description

屏幕检测方法及设备
技术领域
本申请属于图像处理技术领域，具体地说，涉及一种屏幕检测方法及设备。
背景技术
随着科技的迅速发展，OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)屏由于其具有自发光性、广视角、高对比、低耗电、高反应速率等优点，被广泛应用在各种电子设备中，特别是VR设备中，VR设备利用OLED屏幕显示虚拟场景的场景内容，以使用户观看到具有立体感的虚拟场景。
为了确保使电子设备正常使用，且达到较好的分辨率，通常需要对OLED屏进行屏幕检测，以确定是否存在缺陷。现有的屏幕检测方式，多是控制OLED屏输出不同颜色的检测图像，通过采集所述OLED屏输出的检测图像，对所述检测图像进行检测可以获得所述检测图像中的存在缺陷的像素点，进而可以确定OLED屏幕中的缺陷点。
但是，现有的这种检测方式只能检测屏幕中的缺陷点，对于划痕或者面积较大的特殊缺陷无法检测出来，只能依据检测人员的眼睛的直接观察来判断，人眼会存在视觉疲劳，容易造成缺陷遗漏，漏检率较高。
发明内容
有鉴于此，本申请提供了一种屏幕检测方法及设备，主要通过自动判断方法来确定显示屏幕中是否存在划痕缺陷，以解决现有技术中对划痕缺陷漏检率较高的技术问题。
为了解决上述技术问题，本申请提供了一种屏幕检测方法，其特征在于，包括：
采集检测图像；
确定所述检测图像中的缺陷点；
选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点；
根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点；
如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷。
可选地，所述确定所述检测图像中的缺陷点包括：
确定所述检测图像的中心区域的中心像素特征；
根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域；
确定所述检测图像的有效区域中的缺陷点。
可选地，所述根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域包括：
从第一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一行数；
从最后一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二行数；
从第一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一列数；
从最后一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二列数；
根据所述第一行数以及第一列数构成的第一顶点，以及所述第二行数以及的第二列数构成的第二顶点，确定所述有效区域。
可选地，所述如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷包括：
计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征；
确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段；
确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点；
计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征；
如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的第一差值，大于预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
可选地，所述确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距预设距离，且平行的第二线段包括：
确定所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率；
如果所述斜率的绝对值大于1，将所述第一线段沿第一方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段；
如果所述斜率的绝对值小于1，将所述第一线段沿第二方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段。
本申请还提供一种屏幕检测设备，所述设备包括：处理器，以及与所述处理器连接的存储器；
所述存储器用于存储一条或多条计算机指令；其中，所述一条或多条计算机指令供所述处理器调用执行；
所述处理器用于：
采集检测图像；
确定所述检测图像中的缺陷点；
选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点；
根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点；
如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷。
可选地，所述处理器确定所述检测图像中的缺陷点具体是：
确定所述检测图像的中心区域的中心像素特征；
根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域；
确定所述检测图像的有效区域中的缺陷点。
可选地，所述处理器根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域具体是：
从第一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一行数；
从最后一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二行数；
从第一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一列数；
从最后一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二列数；
根据所述第一行数以及第一列数构成的第一顶点，以及所述第二行数以及的第二列数构成的第二顶点，确定所述有效区域。
可选地，所述处理器处理如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷具体是：
计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征；
确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段；
确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点；
计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征；
如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的第一差值，大于预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
可选地，所述处理器确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距预设距离，且平行的第二线段具体是：
确定所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率；
如果所述斜率的绝对值大于1，将所述第一线段沿第一方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段；
如果所述斜率的绝对值小于1，将所述第一线段沿第二方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段。
本申请实施例中，采集待检测的屏幕，获得检测图像，并确定其中的缺陷点，当检测不到缺陷点时，可以确定待检测的屏幕无缺陷。针对存在缺陷点的屏幕，则可以选取两点距离符合小于距离阈值的任意两个目标缺陷点，则两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点，如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷，确定所述屏幕存在特殊缺陷。特殊缺陷可以通过上述处理过程处理获得，不再需要人眼观察，可以避免因人眼疲劳检测造成的漏检，提高了检测效率。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1是本申请实施例的一种屏幕检测方法的一个实施例的流程图；
图2是本申请实施例的一种屏幕检测方法的又一个实施例的流程图；
图3是本申请实施例的一种屏幕检测设备的一个实施例的结构示意图；
图4是本申请实施例的一种屏幕检测装置的一个实施例的结构示意图；
图5是本申请实施例的一种屏幕检测装置的又一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下将配合附图及实施例来详细说明本申请的实施方式，藉此对本申请如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
本申请实施例主要应用于屏幕检测设备中，通过在设备中增加划痕检测步骤，可以实现划痕缺陷的自动化检测，以提高屏幕的检测效率，降低漏检率。
OLED屏被应用于多种电子设备中，如液晶电视、笔记本、VR设备中。为了确保电子设备的正常使用，通常需要对安装在电子设备的显示屏进行缺陷检测。特别是VR设备中，由于VR设备对显示的特殊要求，安装于VR设备的OLED屏通常需要贴膜，例如，VR设备安装的OLED屏幕上的防眩晕模。在贴膜时，可能进入粉尘、空气，造成贴膜后的屏幕在显示时会存在区域缺陷，当区域缺陷较小时，人眼不能准确观察到。同时，屏幕中还可能存在细小的划痕，人眼有时也很难分辨出这些细小的划痕。而现有的检测方式，多是基于人眼检测特殊缺陷，或者基于检测软件检测缺陷点，这两种方式，不能检测特殊缺陷，获得漏检率较高，使用人眼时对人眼伤害也较大，不利于大规模的屏幕检测，需要改为自动检测。
发明人经研究发现，屏幕输出测试图像时，观看到的特殊缺陷部分通常与周围正常部分的画面不同，存在缺陷的屏幕与周围正常显示的屏幕有明显区别。因此，发明人想到是否可以拍摄输出测试图像时的屏幕，经图像处理之后，如果检测存在与周围差异明显的像素区域，则确定该屏幕存在特殊缺陷。据此，发明人提出了本申请的技术方案。
本发明实施例中，通过采集输出测试图像时的屏幕获得的检测图像，确定所述检测图像中的有效图像之后，可以确定所述有效图像中的缺陷点，将所述缺陷点中符合所述任意两个缺陷点的之间的像素点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点，如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷。通过采集屏幕的图像，并将图像进行上述图像处理后，以自动判断屏幕中是否存在特殊缺陷区域，不再需要人眼观察，可以避免因人眼疲劳检测造成的漏检，提高了检测效率。
下面将结合附图对本申请实施例的技术方案进行详细描述。
如图1所示，为本申请实施例所述的一种屏幕检测方法的一个实施例的流程图，该方法主要包括：
101：采集检测图像。
所述屏幕是指在通电的情况下，可以显示图像画面的显示器件，具体可以是指OLED(Organic Light Emitting Display有机发光显示器)屏幕，也可以是指贴膜的屏幕或者未贴膜的OLED屏幕，还可以是液晶屏幕、LED屏幕等。
所述采集输出测试图像时的屏幕是指待检测屏幕输出图像画面时，摄像机或者照相机针对所述待检测屏幕进行拍照，获得检测图像，可以接收照相机拍摄的检测图像。作为一种可能的实现方式，所述采集检测图像可以包括采集输出测试图像时的待检测屏幕，获得检测图像。
利用摄像机或者照相机进行拍照时，会拍摄到待检测屏幕之外的其他内容，也就是所述检测图像中包含部分背景信息，可以获取所述检测图像中的有效图像。可选地，所述采集检测图像之后，所述方法还可以包括确定所述检测图像中的有效图像。
所述检测图像中包含有背景信息，需要将所述背景信息去除，以获得所述检测图像中的有效图像。所述有效图像是指在检测图像中待检测屏幕所在区域的图像。
在采集所述待检测屏幕时，所述检测屏幕一般位于所述检测图像的中心，因此，一般默认为所述检测图像的中心区域的像素点为所述待检测屏幕采集的图像的像素点，可以基于中心区域像素点的像素特征确定所述有效图像。
102：确定所述检测图像中的缺陷点。
所述检测图像在理论上可以无背景信息，全部为待检测屏幕的图像，也即所述检测图像即为所述待检测屏幕的图像，可以针对所述检测图像，获取其中的缺陷点。当所述检测图像中包含背景信息时，可以确定所述检测图像中的缺陷点。可选地，所述确定所述检测图像中的缺陷点可以包括：确定所述有效图像中的缺陷点。
所述获取检测图像中的缺陷点，可以是将所述检测图像输入缺陷点检测软件，例如，halcon软件，接收缺陷点检测软件输出的缺陷点，即可以确定所述检测图像中的缺陷点。
作为一种可能的实现方式，所述缺陷点还可以使用以下方式获得：
确定两个高斯滤波器构成的带通滤波器；
将所述检测图像进行傅里叶变换后，与所述带通滤波器卷积，获得滤波后的滤波数据；
将所述滤波数据进行傅里叶逆变换，获得滤波后的滤波图像；
将所述滤波图像进行矩阵掩膜计算，获取所述滤波图像的像素点的灰度范围；
确定所述滤波图像中的最大灰度值以及最小灰度值；
根据所述最大灰度值以及最小灰度值确定灰度阈值；
根据所述灰度阈值将所述滤波图像二值化，获得二值化图像；
确定所述二值化图像中的白色像素点为缺陷点。
所述确定所述检测图像中的缺陷点可以通过上述图像处理方式获得，也可以通过上述缺陷点检测软件方式获得。
103：选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点。
两个缺陷点的两点距离可以是指两个缺陷点之间的位置距离，具体可以通过所述像素点的位置而计算获得。假设两个缺陷点分别用A1(x1,y1)，A2(x2,y2)表示，所述两个缺陷点的两点距离为：
Figure BDA0001449074630000081
所述预设阈值距离可以是根据所述检测图像的图像大小而确定。可选地，所述检测图像的宽度为width，高度为height，所述距离阈值可以通过
Figure BDA0001449074630000082
其中，a为常数，可以根据所述检测图像的大小而设定。为了确保所述两点距离能够足够表征缺陷点的缺陷距离，所述距离阈值可以根据所述历史的缺陷距离而确定。例如，可以设置所述距离阈值为图像距离的八分之一，也即是a＝8，可以获得较好的比较结果。
104：根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点。
所述两个目标缺陷点可以构成所述第一线段，所述第一线段上可以存在像素点。但是，在任意两个目标缺陷点之间的像素点，并不一定恰好位于所述第一线段上，可以基于所述第一线段上的每一个横坐标对应的直线点，在取整的情况下，选择所述第一线段附近的像素点，作为所述两个目标缺陷点中间的参考像素点。可以假定所述参考像素点与所述任意两个目标缺陷点构成的直线上的像素点位于所述第一预设区域内。也即，所述第一预设区域内像素点的像素特征可以表征所述任一两个目标缺陷点直线附近像素点的像素特征。进而可以统计所述两个目标缺陷点构成的第一线段对应第一预设区域的像素点的像素特征。
可选地，所述两个目标缺陷点构成的第一线段对应的第一预设区域还可以是指，以所述第一线段为基准按照预设划定规则划定的图像区域。所述划定规则可以指以所述第一线段为基准确定所述第一预设区域的顶点坐标，并根据所述顶点坐标确定对应的矩形区域。例如，可以以所述第一线段的长度为矩形区域的长，所述两个目标缺陷点为所述矩形区域的高的中点，根据设置的矩形区域的高度，确定顶点坐标。
105：如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷。
两个目标缺陷点中间的第一预设区域，可能为存在划痕缺陷、区域缺陷的部分，基于所述第一预设区域，将所述第一预设区域的像素点与所述第一预设区域周围的像素点进行比对，当所述第一预设区域的像素点与其周围的像素点的差异较小时，可以确定所述第一预设区域即为划痕缺陷或者区域缺陷等特殊缺陷。
作为一种可能的实现方式，可以计算所述第一预设区域的每一个像素点的像素值与预设的中心区域的平均像素值的差值，统计所述差值大于预设像素阈值的像素点的个数，如果统计的像素个数大于预设像素数量阈值，确定所述第一预设区域为特殊像素点区域，则所述待显示屏幕存在特殊缺陷。所述预设像素数量阈值可以根据所述第一预设区域中的像素点个数而适量确定。
作为一种可能的实现方式，可以设置不同于所述第一预设区域的参考区域，将所述第一预设区域的像素点的综合像素特征与所述参考区域的综合像素特征进行比对，当所述像素特征差异较大时可以确定所述屏幕中存在特殊缺陷。所述像素特征差异较大可以指，像素特征的差值大于预设综合特征阈值。
本申请实施例中，采集待检测的屏幕，获得检测图像，并截取所述有效检测图像中的有效图像，针对有效图像，确定其中的缺陷点，当检测不到缺陷点时，可以确定待检测的屏幕无缺陷。针对存在缺陷点的屏幕，则可以选取两点距离符合预设距离阈值的任意两个目标缺陷点，则两个目标缺陷点之间的像素点的目标像素特征满足第一特征条件时，确定所述屏幕存在特殊缺陷。特殊缺陷可以通过上述处理过程处理获得，不再需要人眼观察，可以避免因人眼疲劳检测造成的漏检，提高了检测效率。
作为一个实施例，所述确定所述检测图像中的缺陷点可以包括：
确定所述检测图像的中心区域的中心像素特征；
根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域；
确定所述检测图像的有效区域中的缺陷点。
所述检测图像的中心区域一般为待检测屏幕的像素点，因此，可以基于所述检测图像的中心区域，确定所述检测图像中的有效区域，以排除所述检测图像中的干扰信息，进而提高检测成功率。
作为一种可能的实现方式，可以先确定所述检测图像的中心点，所述检测图像的宽度用width表示，高度用height表示，则所述检测图像的中心点为(width/2，height/2)，之后，根据设置的所述中心区域的大小确定所述检测图像的中心区域。可以将所述中心区域的大小设置为b*b像素，因此，所述中心区域可以使用公式Rect(width/2，height/2，b，b)获取，其中，b为正整数。为了确保所述中心区域的像素足够多而形成较为稳定的中心像素特征，b可以取50。
可选地，可以根据所述中心区域内中心像素点的像素值确定所述中心像素特征。作为一种可能的实现方式，所述中心像素特征可以为中心区域中的像素点的灰度均值。
作为一种可能的实现方式，所述根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域可以包括：
从第一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一行数；
从最后一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二行数；
从第一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一列数；
从最后一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二列数；
根据所述第一行数以及第一列数构成的第一顶点，以及所述第二行数以及的第二列数构成的第二顶点，确定所述有效区域。
可选地，所述行像素特征可以包括行灰度均值，所述列像素特征可以包括列灰度均值。所述第一行数用TOP标识，第一列数用LEFT标识，第二行数用BOTTOM标识，第二列数用RIGHT标识。则所述第一行数与第一列数构成的第一顶点为(LEFT，TOP)，所述第二行数与第二列数构成的第二顶点为(RIGHT，BOTTOM)，所述第一顶点为有效区域的左上角坐标，第二顶点为有效区域的右下角坐标，可以通过所述第一顶点与所述第二顶点确定所述有效区域。
本申请实施例中，位于检测图像中心的第一中心区域中的中心像素特征为基准，确定所述检测图像中与所述中心像素特征相匹配的有效区域，使得缺陷检测过程是针对有效区域而进行的，将检测图像进行裁剪，可以降低图像内存，进而减少后续的计算量，提高检测效率；而将无效区域去除，可以避免因背景部分形成的计算误差，可以提高处理效率，进而可以进一步提高特殊缺陷的检测效率。
如图2所示，为本发明实施例提供的一种屏幕检测方法的又一个实施例的流程图，该方法可以包括以下几个步骤：
201：采集检测图像；
202：确定所述检测图像中的缺陷点；
203：选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点；
204：根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点。
位于所述第一线段的像素点，可以用来表征所述第一线段的像素特征。但是，在任意两个目标缺陷点之间的像素点，并不一定恰好位于所述第一线段上，因此，可以基于所述第一线段确定对应的第一预设区域。所述第一预设区域以位于所述第一线段上的坐标点为基准，将所述第一线段上的未对应像素点的坐标，确定所述坐标取整后对应的像素点，将所述像素点所在区域确定为相应的第一预设区域。所述第一预设区域中的像素点可以用于表征所述第一线段的像素特征，以准确判断是否存在特殊缺陷。
205：计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征。
可选地，所述第一综合像素特征可以是指所述第一预设区域内的像素点的像素灰度均值。
所述计算所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征可以包括：
确定所述第一预设区域内的至少一个像素点；
统计所述至少一个像素点的像素个数；
计算所述至少一个像素点的像素值的和；
计算所述像素值的和与所述像素个数的比值，即为所述第一综合像素特征。
206：确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段。
207：确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点。
208：计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征。
所述第一线段可以平行移动预设距离，移动之后，对应获得第二线段。所述第二线段为所述第一线段平移之后获得的，所述第二线段可以对应第二预设区域，所述第二预设区域为距离所述第一预设区域一定距离的区域。可以基于所述第二预设区域的像素点的第二综合像素特征，与所述第一预设区域的像素点的第一综合像素特征进行比对，获得比对结果。当所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征差异较大时，说明所述目标缺陷点处于缺陷区域内，存在特殊缺陷。
可选地，所述第二综合像素特征可以指所述第二预设区域的所有像素点的像素灰度均值。
209：如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的第一差值，大于预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
可选地，所述第一综合像素特征可以指所述第一预设区域的所有像素点的第一灰度均值，所述第二综合像素特征可以指所述第二预设区域的所有像素点的第二灰度均值。所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的差值可以包括所述第一灰度均值与所述第二灰度均值的差。
在某些实施例中，为了获得准确的缺陷检测结果，上述步骤206～209可以执行多次，进而可以根据预设特征阈值进行多次比对，以准确判断所述第一预设区域与所述第二预设区域是否存在明显差异。
可选地，所述如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷可以包括：
计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征；
确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段，以及相距第二预设距离且平行的第三线段
确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点，以及所述第三线段对应的第三预设区域；
计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征，以及所述第三预设区域对应的第三综合像素特征；
如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征以及所述第三综合像素特征的第一差值以及第二差值，如果所述第一差值以及所述第二差值均大于所述预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
作为一种可能的实现方式，步骤206，也即所述确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距预设距离，且平行的第二线段可以包括：
确定所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率；
如果所述斜率的绝对值大于1，将所述第一线段沿第一方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段；
如果所述斜率的绝对值小于1，将所述第一线段沿第二方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段。
如果所述斜率绝对值大于1说明所述第一线段更接近于水平线的垂线，则可以将所述第一线段以水平线的垂线为基准左右平移所述预设距离获得所述第二线段。如果所述斜率绝对值小于1说明所述第一线段更接近于水平线，则可以将所述第一线段以水平线为基准上下平移所述预设距离获得所述第二线段。
所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率可以通过以下公式计算获得：
k＝(y2-y1)/(x2-x1)。
所述第一线段所在直线的方程的可用以下公式表示：
b＝y2-k*x2
将所述第一线段平行移动，其斜率不变，假定平移距离用shift表示，则平移后的第二线段所在的直线方程可以用以下公式表示：
b＝y2-k*x2+shift。
通过平移方式获得任意两个缺陷点对应的第一预设区域的第一综合像素特征与其附近的第二预设区域的第二综合像素特征相比较，以判断所述第一预设区域中的像素点是否与其他预设区域的像素点存在像素特征上的差异，上述计算过程的计算复杂度较低，计算效率较高，进而可以快速而准确地判断是否存在特殊缺陷。
本申请实施例中，计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征，确定所述第一预设区域对应的第二预设区域的第二综合像素特征，进而，可以将两个目标缺陷点对应的第一预设区域的像素与距离其一定距离的第二预设区域进行比对，进而可以通过二者比对结果判断是否存在特殊差异。进而如果第一综合像素特征与第二综合像素特征的像素特征差异较大，说明目标缺陷点与周围的像素点差异较大，因此，可以判断所述任意两个目标缺陷点附近构成了特殊像素区域，继而可以认为该显示屏幕存在特殊缺陷。
像素特征是像素点的一种特性，因此，通过比较像素特征方式确定一个区域是否与其他区域存在明显差异，进而判断检测图像是否存在特殊缺陷，可以提高缺陷检测的准确性。
作为又一个实施例，所述选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点包括：
确定所述任意两个像素点的像素坐标；
根据所述像素坐标计算所述任意两个像素点的两点距离；
如果所述两点距离小于预设距离阈值，确定所述任意两个像素点为所述任意两个目标缺陷点。
假设两个缺陷点分别用A1(x1,y1)，A2(x2,y2)标识，所述两个缺陷点的两点距离为：
Figure BDA0001449074630000161
为了确保所述两点距离对应的第一预设区域能够足够大以判断待检测屏幕存在特殊缺陷，可以将预设距离阈值与所述图像大小相关联。所述预设距离阈值可以根据所述检测图像的图像大小而确定。可选地，所述检测图像的宽度为width，高度为height，所述预设距离阈值可以为
Figure BDA0001449074630000162
其中，a为常数，可以根据所述检测图像的大小而设定。例如，可以设置所述距离阈值为图像距离的八分之一，也即是a＝8，可以获得较好的比较结果。也即，此时，所述目标缺陷点可以通过以下公式判断获得：
Figure BDA0001449074630000163
所述距离阈值还可以根据所述历史的缺陷距离而确定，通过统计大量的历史缺陷大小来确定所述距离阈值。
本申请实施例中，确定所述任意两个缺陷点时，以预设距离阈值为基准，确定小于预设距离的任意两个目标像素点，可以避免因两个独立存在的像素点因距离较长而确定为目标缺陷点，尽管这两个目标缺陷点之间不存在其他缺陷点，将缺陷点的两点距离限定在预设距离阈值，可以排除部分虚拟缺陷区域，减少了盲目计算，进一步提高了检测效率以及检测速度。
如图3所示，为本申请实施例提供的一种屏幕检测设备的一个实施例的结构示意图，该设备可以包括：处理器301，以及与所述处理器连接的存储器302；
所述存储器302用于存储一条或多条计算机指令；其中，所述一条或多条计算机指令供所述处理器调用执行；
所述处理器301用于：
采集检测图像；确定所述检测图像中的缺陷点；选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点；根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点；如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷。
所述屏幕是指在通电的情况下，可以显示图像画面的显示器件，具体可以是指OLED(Organic Light Emitting Display有机发光显示器)屏幕，也可以是指贴膜的屏幕或者未贴膜的OLED屏幕，还可以是液晶屏幕、LED屏幕等。
所述采集输出测试图像时的屏幕是指待检测屏幕输出图像画面时，摄像机或者照相机针对所述待检测屏幕进行拍照，获得检测图像，可以接收照相机拍摄的检测图像。作为一种可能的实现方式，所述处理器采集检测图像可以是采集输出测试图像时的待检测屏幕，获得检测图像。
利用摄像机或者照相机进行拍照时，会拍摄到待检测屏幕之外的其他内容，也就是所述检测图像中包含部分背景信息，可以获取所述检测图像中的有效图像。可选地，所述采集检测图像之后，所述处理器还可以用于确定所述检测图像中的有效图像。
所述检测图像中包含有背景信息，需要将所述背景信息去除，以获得所述检测图像中的有效图像。所述有效图像是指在检测图像中待检测屏幕所在区域的图像。
在采集所述待检测屏幕时，所述检测屏幕一般位于所述检测图像的中心，因此，一般默认为所述检测图像的中心区域的像素点为所述待检测屏幕采集的图像的像素点，可以基于中心区域像素点的像素特征确定所述有效图像。
所述检测图像在理论上可以无背景信息，全部为待检测屏幕的图像，也即所述检测图像即为所述待检测屏幕的图像，可以针对所述检测图像，获取其中的缺陷点。当所述检测图像中包含背景信息时，可以确定所述检测图像中的缺陷点。可选地，所述处理器确定所述检测图像中的缺陷点可以是：确定所述有效图像中的缺陷点。
所述获取检测图像中的缺陷点，可以是将所述检测图像输入缺陷点检测软件，例如，halcon软件，接收缺陷点检测软件输出的缺陷点，即可以确定所述检测图像中的缺陷点。
作为一种可能的实现方式，所述处理器确定所述缺陷点具体可以是：
确定两个高斯滤波器构成的带通滤波器；
将所述检测图像进行傅里叶变换后，与所述带通滤波器卷积，获得滤波后的滤波数据；
将所述滤波数据进行傅里叶逆变换，获得滤波后的滤波图像；
将所述滤波图像进行矩阵掩膜计算，获取所述滤波图像的像素点的灰度范围；
确定所述滤波图像中的最大灰度值以及最小灰度值；
根据所述最大灰度值以及最小灰度值确定灰度阈值；
根据所述灰度阈值将所述滤波图像二值化，获得二值化图像；
确定所述二值化图像中的白色像素点为缺陷点。
所述确定所述检测图像中的缺陷点可以通过上述图像处理方式获得，也可以通过上述缺陷点检测软件方式获得。
两个缺陷点的两点距离可以是指两个缺陷点之间的位置距离，具体可以通过所述像素点的位置而计算获得。假设两个缺陷点分别用A1(x1,y1)，A2(x2,y2)表示，所述两个缺陷点的两点距离为：
Figure BDA0001449074630000181
所述预设阈值距离可以是根据所述检测图像的图像大小而确定。可选地，所述检测图像的宽度为width，高度为height，所述距离阈值可以通过
Figure BDA0001449074630000182
其中，a为常数，可以根据所述检测图像的大小而设定。为了确保所述两点距离能够足够表征缺陷点的缺陷距离，所述距离阈值可以根据所述历史的缺陷距离而确定。例如，可以设置所述距离阈值为图像距离的八分之一，也即是a＝8，可以获得较好的比较结果。
所述两个目标缺陷点可以构成所述第一线段，所述第一线段上可以存在像素点。但是，在任意两个目标缺陷点之间的像素点，并不一定恰好位于所述第一线段上，可以基于所述第一线段上的每一个横坐标对应的直线点，在取整的情况下，选择所述第一线段附近的像素点，作为所述两个目标缺陷点中间的参考像素点。可以假定所述参考像素点与所述任意两个目标缺陷点构成的直线上的像素点位于所述第一预设区域内。也即，所述第一预设区域内像素点的像素特征可以表征所述任一两个目标缺陷点直线附近像素点的像素特征。进而可以统计所述两个目标缺陷点构成的第一线段对应第一预设区域的像素点的像素特征。
可选地，所述两个目标缺陷点构成的第一线段对应的第一预设区域还可以是指，以所述第一线段为基准按照预设划定规则划定的图像区域。所述划定规则可以指以所述第一线段为基准确定所述第一预设区域的顶点坐标，并根据所述顶点坐标确定对应的矩形区域。例如，可以以所述第一线段的长度为矩形区域的长，所述两个目标缺陷点为所述矩形区域的高的中点，根据设置的矩形区域的高度，确定顶点坐标。
两个目标缺陷点中间的第一预设区域，可能为存在划痕缺陷、区域缺陷的部分，基于所述第一预设区域，将所述第一预设区域的像素点与所述第一预设区域周围的像素点进行比对，当所述第一预设区域的像素点与其周围的像素点的差异较小时，可以确定所述第一预设区域即为划痕缺陷或者区域缺陷等特殊缺陷。
作为一种可能的实现方式，处理器可以计算所述第一预设区域的每一个像素点的像素值与预设的中心区域的平均像素值的差值，并统计所述差值大于预设像素阈值的像素点的个数，如果统计的像素个数大于预设像素数量阈值，确定所述第一预设区域为特殊像素点区域，则所述待显示屏幕存在特殊缺陷。所述预设像素数量阈值可以根据所述第一预设区域中的像素点个数而适量确定。
作为一种可能的实现方式，所述处理器中可以设置有不同于所述第一预设区域的参考区域，将所述第一预设区域的像素点的综合像素特征与所述参考区域的综合像素特征进行比对，当所述像素特征差异较大时可以确定所述屏幕中存在特殊缺陷。所述像素特征差异较大可以指，像素特征的差值大于预设综合特征阈值。
本申请实施例中，采集待检测的屏幕，获得检测图像，并截取所述有效检测图像中的有效图像，针对有效图像，确定其中的缺陷点，当检测不到缺陷点时，可以确定待检测的屏幕无缺陷。针对存在缺陷点的屏幕，则可以选取两点距离符合预设距离阈值的任意两个目标缺陷点，则两个目标缺陷点之间的像素点的目标像素特征满足第一特征条件时，确定所述屏幕存在特殊缺陷。特殊缺陷可以通过上述处理过程处理获得，不再需要人眼观察，可以避免因人眼疲劳检测造成的漏检，提高了检测效率。
作为一个实施例，所述处理器确定所述检测图像中的缺陷点具体可以是：
确定所述检测图像的中心区域的中心像素特征；
根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域；
确定所述检测图像的有效区域中的缺陷点。
所述检测图像的中心区域一般为待检测屏幕的像素点，因此，处理器可以基于所述检测图像的中心区域，确定所述检测图像中的有效区域，以排除所述检测图像中的干扰信息，进而提高检测成功率。
作为一种可能的实现方式，所述处理器可以先确定所述检测图像的中心点，所述检测图像的宽度用width表示，高度用height表示，则所述检测图像的中心点为(width/2，height/2)，之后，根据设置的所述中心区域的大小确定所述检测图像的中心区域。可以将所述中心区域的大小设置为b*b像素，因此，所述中心区域可以使用公式Rect(width/2，height/2，b，b)获取，其中，b为正整数。为了确保所述中心区域的像素足够多而形成较为稳定的中心像素特征，b可以取50。
可选地，所述处理器可以根据所述中心区域内中心像素点的像素值确定所述中心像素特征。作为一种可能的实现方式，所述中心像素特征可以为中心区域中的像素点的灰度均值。
作为一种可能的实现方式，所述处理器根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域具体是：
从第一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一行数；
从最后一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二行数；
从第一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一列数；
从最后一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二列数；
根据所述第一行数以及第一列数构成的第一顶点，以及所述第二行数以及的第二列数构成的第二顶点，确定所述有效区域。
可选地，所述行像素特征可以包括行灰度均值，所述列像素特征可以包括列灰度均值。所述第一行数用TOP标识，第一列数用LEFT标识，第二行数用BOTTOM标识，第二列数用RIGHT标识。则所述第一行数与第一列数构成的第一顶点为(LEFT，TOP)，所述第二行数与第二列数构成的第二顶点为(RIGHT，BOTTOM)，所述第一顶点为有效区域的左上角坐标，第二顶点为有效区域的右下角坐标，可以通过所述第一顶点与所述第二顶点确定所述有效区域。
本申请实施例中，位于检测图像中心的第一中心区域中的中心像素特征为基准，确定所述检测图像中与所述中心像素特征相匹配的有效区域，使得缺陷检测过程是针对有效区域而进行的，将检测图像进行裁剪，可以降低图像内存，进而减少后续的计算量，提高检测效率；而将无效区域去除，可以避免因背景部分形成的计算误差，可以提高处理效率，进而可以进一步提高特殊缺陷的检测效率。
作为一个实施例，所述处理器处理如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷具体是：
计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征；确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段；确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点；计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征；如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的第一差值，大于预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
位于所述第一线段的像素点，可以用来表征所述第一线段的像素特征。但是，在任意两个目标缺陷点之间的像素点，并不一定恰好位于所述第一线段上，因此，所述处理器可以基于所述第一线段确定对应的第一预设区域。所述第一预设区域以位于所述第一线段上的坐标点为基准，将所述第一线段上的未对应像素点的坐标，确定所述坐标取整后对应的像素点，将所述像素点所在区域确定为相应的第一预设区域。所述第一预设区域中的像素点可以用于表征所述第一线段的像素特征，以准确判断是否存在特殊缺陷。
可选地，所述第一综合像素特征可以是指所述第一预设区域内的像素点的像素灰度均值。
所述处理器计算所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征可以是：
确定所述第一预设区域内的至少一个像素点；
统计所述至少一个像素点的像素个数；
计算所述至少一个像素点的像素值的和；
计算所述像素值的和与所述像素个数的比值，即为所述第一综合像素特征。
所述第一线段可以平行移动预设距离，移动之后，对应获得第二线段。所述第二线段为所述第一线段平移之后获得的，所述第二线段可以对应第二预设区域，所述第二预设区域为距离所述第一预设区域一定距离的区域。可以基于所述第二预设区域的像素点的第二综合像素特征，与所述第一预设区域的像素点的第一综合像素特征进行比对，获得比对结果。当所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征差异较大时，说明所述目标缺陷点处于缺陷区域内，存在特殊缺陷。
可选地，所述第二综合像素特征可以指所述第二预设区域的所有像素点的像素灰度均值。
可选地，所述第一综合像素特征可以指所述第一预设区域的所有像素点的第一灰度均值，所述第二综合像素特征可以指所述第二预设区域的所有像素点的第二灰度均值。所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的差值可以包括所述第一灰度均值与所述第二灰度均值的差。
在某些实施例中，为了获得准确的缺陷检测结果，处理器可以执行多次平移所述预设距离以获得平行线段进而可以获得多次比对结果，以准确判断所述第一预设区域与所述第二预设区域是否存在明显差异。
可选地，所述处理器处理如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷具体可以是：
计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征；确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段，以及相距第二预设距离且平行的第三线段；确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点，以及所述第三线段对应的第三预设区域；计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征，以及所述第三预设区域对应的第三综合像素特征；如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征以及所述第三综合像素特征的第一差值以及第二差值，如果所述第一差值以及所述第二差值均大于所述预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。作为一种可能的实现方式，所述处理器确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距预设距离，且平行的第二线段具体是：
确定所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率；
如果所述斜率的绝对值大于1，将所述第一线段沿第一方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段；
如果所述斜率的绝对值小于1，将所述第一线段沿第二方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段。
如果所述斜率大于1说明所述第一线段更接近于水平线的垂线，则可以将所述第一线段以水平线的垂线为基准左右平移所述预设距离获得所述第二线段。如果所述斜率小于1说明所述第一线段更接近于水平线，则可以将所述第一线段以水平线为基准上下平移所述预设距离获得所述第二线段。
所述处理器可以通过以下公式计算获得所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率：
k＝(y2-y1)/(x2-x1)。
所述第一线段所在直线的方程的可用以下公式表示：
b＝y2-k*x2
将所述第一线段平行移动，其斜率不变，假定平移距离用shift表示，则平移后的第二线段所在的直线方程可以用以下公式表示：
b＝y2-k*x2+shift。
通过平移方式获得任意两个缺陷点对应的第一预设区域的第一综合像素特征与其附近的第二预设区域的第二综合像素特征相比较，以判断所述第一预设区域中的像素点是否与其他预设区域的像素点存在像素特征上的差异，上述计算过程的计算复杂度较低，计算效率较高，进而可以快速而准确地判断是否存在特殊缺陷。
本申请实施例中，计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征，确定所述第一预设区域对应的第二预设区域的第二综合像素特征，进而，可以将两个目标缺陷点对应的第一预设区域的像素与距离其一定距离的第二预设区域进行比对，进而可以通过二者比对结果判断是否存在特殊差异。进而如果第一综合像素特征与第二综合像素特征的像素特征差异较大，说明目标缺陷点与周围的像素点差异较大，因此，可以判断所述任意两个目标缺陷点附近构成了特殊像素区域，继而可以认为该显示屏幕存在特殊缺陷。
像素特征是像素点的一种特性，因此，通过比较像素特征方式确定一个区域是否与其他区域存在明显差异，进而判断检测图像是否存在特殊缺陷，可以提高缺陷检测的准确性。
作为又一个实施例，所述处理器选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点具体是：
确定所述任意两个像素点的像素坐标；
根据所述像素坐标计算所述任意两个像素点的两点距离；
如果所述两点距离小于预设距离阈值，确定所述任意两个像素点为任意两个目标缺陷点。
假设两个缺陷点分别用A1(x1,y1)，A2(x2,y2)标识，所述两个缺陷点的两点距离为：
Figure BDA0001449074630000251
为了确保所述两点距离对应的第一预设区域能够足够大以判断待检测屏幕存在特殊缺陷，可以将预设距离阈值与所述图像大小相关联。所述预设距离阈值可以根据所述检测图像的图像大小而确定。可选地，所述检测图像的宽度为width，高度为height，所述预设距离阈值可以为
Figure BDA0001449074630000252
其中，a为常数，可以根据所述检测图像的大小而设定。例如，可以设置所述距离阈值为图像距离的八分之一，也即是a＝8，可以获得较好的比较结果。也即，此时，所述目标缺陷点可以通过以下公式判断获得：
Figure BDA0001449074630000253
所述距离阈值还可以根据所述历史的缺陷距离而确定，通过统计大量的历史缺陷大小来确定所述距离阈值。
本申请实施例中，确定所述任意两个缺陷点时，以预设距离阈值为基准，确定小于预设距离的任意两个目标像素点，可以避免因两个独立存在的像素点因距离较长而确定为目标缺陷点，尽管这两个目标缺陷点之间不存在其他缺陷点，将缺陷点的两点距离限定在预设距离阈值，可以排除部分虚拟缺陷区域，减少了盲目计算，进一步提高了检测效率以及检测速度。
如图4所示，为本申请实施例所述的一种屏幕检测设备的一个实施例的结构示意图，该设备主要包括：
图像采集模块401：用于采集检测图像。
所述屏幕是指在通电的情况下，可以显示图像画面的显示器件，具体可以是指OLED(Organic Light Emitting Display有机发光显示器)屏幕，也可以是指贴膜的屏幕或者未贴膜的OLED屏幕，还可以是液晶屏幕、LED屏幕等。
所述采集输出测试图像时的屏幕是指待检测屏幕输出图像画面时，摄像机或者照相机针对所述待检测屏幕进行拍照，获得检测图像，可以接收照相机拍摄的检测图像。作为一种可能的实现方式，所述采集模块具体可以用于采集输出测试图像时的待检测屏幕，获得检测图像。
利用摄像机或者照相机进行拍照时，会拍摄到待检测屏幕之外的其他内容，也就是所述检测图像中包含部分背景信息，可以获取所述检测图像中的有效图像。可选地，所述采集检测图像之后，所述方法还可以包括确定所述检测图像中的有效图像。
所述检测图像中包含有背景信息，需要将所述背景信息去除，以获得所述检测图像中的有效图像。所述有效图像是指在检测图像中待检测屏幕所在区域的图像。
在采集所述待检测屏幕时，所述检测屏幕一般位于所述检测图像的中心，因此，一般默认为所述检测图像的中心区域的像素点为所述待检测屏幕采集的图像的像素点，可以基于中心区域像素点的像素特征确定所述有效图像。
第一确定模块402：用于确定所述检测图像中的缺陷点。
所述检测图像在理论上可以无背景信息，全部为待检测屏幕的图像，也即所述检测图像即为所述待检测屏幕的图像，可以针对所述检测图像，获取其中的缺陷点。当所述检测图像中包含背景信息时，可以确定所述检测图像中的缺陷点。可选地，所述确定所述检测图像中的缺陷点可以包括：确定所述有效图像中的缺陷点。
所述获取检测图像中的缺陷点，可以是将所述检测图像输入缺陷点检测软件，例如，halcon软件，接收缺陷点检测软件输出的缺陷点，即可以确定所述检测图像中的缺陷点。
作为一种可能的实现方式，所述第一确定模块具体可以用于：
确定两个高斯滤波器构成的带通滤波器；
将所述检测图像进行傅里叶变换后，与所述带通滤波器卷积，获得滤波后的滤波数据；
将所述滤波数据进行傅里叶逆变换，获得滤波后的滤波图像；
将所述滤波图像进行矩阵掩膜计算，获取所述滤波图像的像素点的灰度范围；
确定所述滤波图像中的最大灰度值以及最小灰度值；
根据所述最大灰度值以及最小灰度值确定灰度阈值；
根据所述灰度阈值将所述滤波图像二值化，获得二值化图像；
确定所述二值化图像中的白色像素点为缺陷点。
所述确定所述检测图像中的缺陷点可以通过上述图像处理方式获得，也可以通过上述缺陷点检测软件方式获得。
选择模块403：用于选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点。
两个缺陷点的两点距离可以是指两个缺陷点之间的位置距离，具体可以通过所述像素点的位置而计算获得。假设两个缺陷点分别用A1(x1,y1)，A2(x2,y2)表示，所述两个缺陷点的两点距离为：
Figure BDA0001449074630000271
所述预设阈值距离可以是根据所述检测图像的图像大小而确定。可选地，所述检测图像的宽度为width，高度为height，所述距离阈值可以通过
Figure BDA0001449074630000281
其中，a为常数，可以根据所述检测图像的大小而设定。为了确保所述两点距离能够足够表征缺陷点的缺陷距离，所述距离阈值可以根据所述历史的缺陷距离而确定。例如，可以设置所述距离阈值为图像距离的八分之一，也即是a＝8，可以获得较好的比较结果。
第二确定模块404：用于根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点。
所述两个目标缺陷点可以构成所述第一线段，所述第一线段上可以存在像素点。但是，在任意两个目标缺陷点之间的像素点，并不一定恰好位于所述第一线段上，可以基于所述第一线段上的每一个横坐标对应的直线点，在取整的情况下，选择所述第一线段附近的像素点，作为所述两个目标缺陷点中间的参考像素点。可以假定所述参考像素点与所述任意两个目标缺陷点构成的直线上的像素点位于所述第一预设区域内。也即，所述第一预设区域内像素点的像素特征可以表征所述任一两个目标缺陷点直线附近像素点的像素特征。进而可以统计所述两个目标缺陷点构成的第一线段对应第一预设区域的像素点的像素特征。
可选地，所述两个目标缺陷点构成的第一线段对应的第一预设区域还可以是指，以所述第一线段为基准按照预设划定规则划定的图像区域。所述划定规则可以指以所述第一线段为基准确定所述第一预设区域的顶点坐标，并根据所述顶点坐标确定对应的矩形区域。例如，可以以所述第一线段的长度为矩形区域的长，所述两个目标缺陷点为所述矩形区域的高的中点，根据设置的矩形区域的高度，确定顶点坐标。
第三确定模块405：用于如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定所述待检测屏幕存在特殊缺陷。
两个目标缺陷点中间的第一预设区域，可能为存在划痕缺陷、区域缺陷的部分，基于所述第一预设区域，将所述第一预设区域的像素点与所述第一预设区域周围的像素点进行比对，当所述第一预设区域的像素点与其周围的像素点的差异较小时，可以确定所述第一预设区域即为划痕缺陷或者区域缺陷等特殊缺陷。
作为一种可能的实现方式，可以计算所述第一预设区域的每一个像素点的像素值与预设的中心区域的平均像素值的差值，统计所述差值大于预设像素阈值的像素点的个数，如果统计的像素个数大于预设像素数量阈值，确定所述第一预设区域为特殊像素点区域，则所述待显示屏幕存在特殊缺陷。所述预设像素数量阈值可以根据所述第一预设区域中的像素点个数而适量确定。
作为一种可能的实现方式，可以设置不同于所述第一预设区域的参考区域，将所述第一预设区域的像素点的综合像素特征与所述参考区域的综合像素特征进行比对，当所述像素特征差异较大时可以确定所述屏幕中存在特殊缺陷。所述像素特征差异较大可以指，像素特征的差值大于预设综合特征阈值。
本申请实施例中，采集待检测的屏幕，获得检测图像，并截取所述有效检测图像中的有效图像，针对有效图像，确定其中的缺陷点，当检测不到缺陷点时，可以确定待检测的屏幕无缺陷。针对存在缺陷点的屏幕，则可以选取两点距离符合预设距离阈值的任意两个目标缺陷点，则两个目标缺陷点之间的像素点的目标像素特征满足第一特征条件时，确定所述屏幕存在特殊缺陷。特殊缺陷可以通过上述处理过程处理获得，不再需要人眼观察，可以避免因人眼疲劳检测造成的漏检，提高了检测效率。
作为一个实施例，所述第一确定模块可以包括：
特征确定单元，用于确定所述检测图像的中心区域的中心像素特征；
区域确定单元，用于根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域；
第一确定单元，用于确定所述检测图像的有效区域中的缺陷点。
所述检测图像的中心区域一般为待检测屏幕的像素点，因此，可以基于所述检测图像的中心区域，确定所述检测图像中的有效区域，以排除所述检测图像中的干扰信息，进而提高检测成功率。
作为一种可能的实现方式，可以先确定所述检测图像的中心点，所述检测图像的宽度用width表示，高度用height表示，则所述检测图像的中心点为(width/2，height/2)，之后，根据设置的所述中心区域的大小确定所述检测图像的中心区域。可以将所述中心区域的大小设置为b*b像素，因此，所述中心区域可以使用公式Rect(width/2，height/2，b，b)获取，其中，b为正整数。为了确保所述中心区域的像素足够多而形成较为稳定的中心像素特征，b可以取50。
可选地，可以根据所述中心区域内中心像素点的像素值确定所述中心像素特征。作为一种可能的实现方式，所述中心像素特征可以为中心区域中的像素点的灰度均值。
作为一种可能的实现方式，所述区域确定单元可以包括：
第一计算子单元，用于从第一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一行数；
第二计算子单元，用于从最后一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二行数；
第三计算子单元，用于从第一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一列数；
第四计算子单元，用于从最后一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二列数；
区域选择子单元根据所述第一行数以及第一列数构成的第一顶点，以及所述第二行数以及的第二列数构成的第二顶点，确定所述有效区域。
可选地，所述行像素特征可以包括行灰度均值，所述列像素特征可以包括列灰度均值。所述第一行数用TOP标识，第一列数用LEFT标识，第二行数用BOTTOM标识，第二列数用RIGHT标识。则所述第一行数与第一列数构成的第一顶点为(LEFT，TOP)，所述第二行数与第二列数构成的第二顶点为(RIGHT，BOTTOM)，所述第一顶点为有效区域的左上角坐标，第二顶点为有效区域的右下角坐标，可以通过所述第一顶点与所述第二顶点确定所述有效区域。
本申请实施例中，位于检测图像中心的第一中心区域中的中心像素特征为基准，确定所述检测图像中与所述中心像素特征相匹配的有效区域，使得缺陷检测过程是针对有效区域而进行的，将检测图像进行裁剪，可以降低图像内存，进而减少后续的计算量，提高检测效率；而将无效区域去除，可以避免因背景部分形成的计算误差，可以提高处理效率，进而可以进一步提高特殊缺陷的检测效率。
作为一个实施例，如图5所示，图4所示实施例的所述第二确定模块404可以包括：
第二确定单元501：用于根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点。
位于所述第一线段的像素点，可以用来表征所述第一线段的像素特征。但是，在任意两个目标缺陷点之间的像素点，并不一定恰好位于所述第一线段上，因此，可以基于所述第一线段确定对应的第一预设区域。所述第一预设区域以位于所述第一线段上的坐标点为基准，将所述第一线段上的未对应像素点的坐标，确定所述坐标取整后对应的像素点，将所述像素点所在区域确定为相应的第一预设区域。所述第一预设区域中的像素点可以用于表征所述第一线段的像素特征，以准确判断是否存在特殊缺陷。
第一计算单元502：用于计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征。
可选地，所述第一综合像素特征可以是指所述第一预设区域内的像素点的像素灰度均值。
所述计算所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征可以包括：
确定所述第一预设区域内的至少一个像素点；
统计所述至少一个像素点的像素个数；
计算所述至少一个像素点的像素值的和；
计算所述像素值的和与所述像素个数的比值，即为所述第一综合像素特征。
线段确定单元503：用于确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段。
第三确定单元504：用于确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点。
第二计算单元505：用于计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征。
所述第一线段可以平行移动预设距离，移动之后，对应获得第二线段。所述第二线段为所述第一线段平移之后获得的，所述第二线段可以对应第二预设区域，所述第二预设区域为距离所述第一预设区域一定距离的区域。可以基于所述第二预设区域的像素点的第二综合像素特征，与所述第一预设区域的像素点的第一综合像素特征进行比对，获得比对结果。当所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征差异较大时，说明所述目标缺陷点处于缺陷区域内，存在特殊缺陷。
可选地，所述第二综合像素特征可以指所述第二预设区域的所有像素点的像素灰度均值。
图4所示的实施例中，所述第三确定模块405可以包括：
第四确定单元506，用于如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的第一差值，大于预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
可选地，所述第一综合像素特征可以指所述第一预设区域的所有像素点的第一灰度均值，所述第二综合像素特征可以指所述第二预设区域的所有像素点的第二灰度均值。所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的差值可以包括所述第一灰度均值与所述第二灰度均值的差。
在某些实施例中，为了获得准确的缺陷检测结果，可以通过多次比对，以准确判断所述第一预设区域与所述第二预设区域是否存在明显差异。上述第二确定模块还可以用于：
计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征；确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段，以及相距第二预设距离且平行的第三线段；确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点，以及所述第三线段对应的第三预设区域；计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征，以及所述第三预设区域对应的第三综合像素特征；如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征以及所述第三综合像素特征的第一差值以及第二差值，如果所述第一差值以及所述第二差值均大于所述预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
作为一种可能的实现方式，上述线段确定单元503可以包括：
斜率计算子单元，用于确定所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率；
第一判断子单元，用于如果所述斜率的绝对值大于1，将所述第一线段沿第一方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段；
第二判断子单元，用于如果所述斜率的绝对值小于1，将所述第一线段沿第二方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段。
如果所述斜率大于1说明所述第一线段更接近于水平线的垂线，则可以将所述第一线段以水平线的垂线为基准左右平移所述预设距离获得所述第二线段。如果所述斜率小于1说明所述第一线段更接近于水平线，则可以将所述第一线段以水平线为基准上下平移所述预设距离获得所述第二线段。
所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率可以通过以下公式计算获得：
k＝(y2-y1)/(x2-x1)。
所述第一线段所在直线的方程的可用以下公式表示：
b＝y2-k*x2
将所述第一线段平行移动，其斜率不变，假定平移距离用shift表示，则平移后的第二线段所在的直线方程可以用以下公式表示：
b＝y2-k*x2+shift。
通过平移方式获得任意两个缺陷点对应的第一预设区域的第一综合像素特征与其附近的第二预设区域的第二综合像素特征相比较，以判断所述第一预设区域中的像素点是否与其他预设区域的像素点存在像素特征上的差异，上述计算过程的计算复杂度较低，计算效率较高，进而可以快速而准确地判断是否存在特殊缺陷。
本申请实施例中，计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征，确定所述第一预设区域对应的第二预设区域的第二综合像素特征，进而，可以将两个目标缺陷点对应的第一预设区域的像素与距离其一定距离的第二预设区域进行比对，进而可以通过二者比对结果判断是否存在特殊差异。进而如果第一综合像素特征与第二综合像素特征的像素特征差异较大，说明目标缺陷点与周围的像素点差异较大，因此，可以判断所述任意两个目标缺陷点附近构成了特殊像素区域，继而可以认为该显示屏幕存在特殊缺陷。
像素特征是像素点的一种特性，因此，通过比较像素特征方式确定一个区域是否与其他区域存在明显差异，进而判断检测图像是否存在特殊缺陷，可以提高缺陷检测的准确性。
作为又一个实施例，所述选择模块可以包括：
坐标确定单元，用于确定所述任意两个像素点的像素坐标；
距离计算单元，用于根据所述像素坐标计算所述任意两个像素点的两点距离；
目标判断单元，用于如果所述两点距离小于预设距离阈值，确定所述任意两个像素点为所述任意两个目标缺陷点。
假设两个缺陷点分别用A1(x1,y1)，A2(x2,y2)标识，所述两个缺陷点的两点距离为：
Figure BDA0001449074630000351
为了确保所述两点距离对应的第一预设区域能够足够大以判断待检测屏幕存在特殊缺陷，可以将预设距离阈值与所述图像大小相关联。所述预设距离阈值可以根据所述检测图像的图像大小而确定。
可选地，所述检测图像的宽度为width，高度为height，所述预设距离阈值可以为
Figure BDA0001449074630000352
其中，a为常数，可以根据所述检测图像的大小而设定。例如，可以设置所述距离阈值为图像距离的八分之一，也即是a＝8，可以获得较好的比较结果。也即，此时，所述目标缺陷点可以通过以下公式判断获得：
Figure BDA0001449074630000353
所述距离阈值还可以根据所述历史的缺陷距离而确定，通过统计大量的历史缺陷大小来确定所述距离阈值。
本申请实施例中，确定所述任意两个缺陷点时，以预设距离阈值为基准，确定小于预设距离的任意两个目标像素点，可以避免因两个独立存在的像素点因距离较长而确定为目标缺陷点，尽管这两个目标缺陷点之间不存在其他缺陷点，将缺陷点的两点距离限定在预设距离阈值，可以排除部分虚拟缺陷区域，减少了盲目计算，进一步提高了检测效率以及检测速度。
在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括非暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接收的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。此外，“耦接”一词在此包含任何直接及间接的电性耦接手段。因此，若文中描述一第一装置耦接于一第二装置，则代表所述第一装置可直接电性耦接于所述第二装置，或通过其他装置或耦接手段间接地电性耦接至所述第二装置。说明书后续描述为实施本申请的较佳实施方式，然所述描述乃以说明本申请的一般原则为目的，并非用以限定本申请的范围。本申请的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的商品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种商品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的商品或者系统中还存在另外的相同要素
上述说明示出并描述了本申请的若干优选实施例，但如前所述，应当理解本申请并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述申请构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本申请的精神和范围，则都应在本申请所附权利要求的保护范围内。

Claims (8)

1.一种屏幕检测方法，其特征在于，包括：
采集检测图像；
确定所述检测图像中的缺陷点；
选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点；
根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点；
如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定待检测屏幕存在特殊缺陷；
其中，所述如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定待检测屏幕存在特殊缺陷包括：
计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征；
确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段；
确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点；
计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征；
如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的第一差值，大于预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述检测图像中的缺陷点包括：
确定所述检测图像的中心区域的中心像素特征；
根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件的有效区域；
确定所述检测图像的有效区域中的缺陷点。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域包括：
从第一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一行数；
从最后一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二行数；
从第一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一列数；
从最后一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二列数；
根据所述第一行数以及第一列数构成的第一顶点，以及所述第二行数以及的第二列数构成的第二顶点，确定所述有效区域。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距预设距离，且平行的第二线段包括：
确定所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率；
如果所述斜率的绝对值大于1，将所述第一线段沿第一方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段；
如果所述斜率的绝对值小于1，将所述第一线段沿第二方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段。
5.一种屏幕检测设备，其特征在于，包括：处理器，以及与所述处理器连接的存储器；
所述存储器用于存储一条或多条计算机指令；其中，所述一条或多条计算机指令供所述处理器调用执行；
所述处理器用于：
采集检测图像；
确定所述检测图像中的缺陷点；
选取两点距离小于预设距离阈值的任意两个目标缺陷点；
根据所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，确定所述第一线段对应第一预设区域内的像素点；
如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定待检测屏幕存在特殊缺陷；
其中，所述处理器处理如果所述第一预设区域内的像素点满足缺陷条件，确定待检测屏幕存在特殊缺陷具体是：
计算位于所述第一预设区域内的像素点的第一综合像素特征；
确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距第一预设距离且平行的第二线段；
确定所述第二线段对应的第二预设区域的像素点；
计算位于所述第二预设区域内的像素点的第二综合像素特征；
如果所述第一综合像素特征与所述第二综合像素特征的第一差值，大于预设特征阈值，确定所述屏幕存在特殊缺陷。
6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述处理器确定所述检测图像中的缺陷点具体是：
确定所述检测图像的中心区域的中心像素特征；
根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件的有效区域；
确定所述检测图像的有效区域中的缺陷点。
7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述处理器根据所述检测图像行像素特征以及列像素特征，确定与所述中心像素特征的特征差异满意预设条件的有效区域具体是：
从第一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一行数；
从最后一行开始，依次计算每一行的行像素特征，直至任一行的行像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二行数；
从第一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第一列数；
从最后一列开始，依次计算每一列的列像素特征，直至任一列的列像素特征与所述中心像素特征的特征差异满足预设条件，记录第二列数；
根据所述第一行数以及第一列数构成的第一顶点，以及所述第二行数以及的第二列数构成的第二顶点，确定所述有效区域。
8.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述处理器确定与所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段，相距预设距离，且平行的第二线段具体是：
确定所述任意两个目标缺陷点构成的第一线段所在直线的斜率；
如果所述斜率的绝对值大于1，将所述第一线段沿第一方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段；
如果所述斜率的绝对值小于1，将所述第一线段沿第二方向平行移动所述预设距离，确定与所述第一线段平行的第二线段。
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