JP4350475B2 - 光学デバイスの製造方法およびこれに用いる欠陥判定用の検査具 - Google Patents
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特定の濃さのムラを有する表示パネルを用いる必要があるが、そのような適当なものの存在確率は低い。
NDフィルターを用いる判定では、作業場所の環境照明の影響を強く受けるので、照度管理を厳密に行う必要がある。
通常の液晶パネル等の表示パネルにおいては、表示面に対する視線の角度(視角)により、濃淡が鋭敏に変化してしまう。
15 透明フィルム
2 濃淡ゲージをなす印刷パターン
21 5mm角の正方形の濃淡表示パターン
22 0.5mm径の円形の濃淡表示パターン
3 寸法ゲージをなす印刷パターン
Claims (13)
- 光学デバイスの一主面上の面内光学ムラを検出するとともに、検出された前記光学ムラの濃さの程度を判定するための判定操作を行う光学デバイスの製造方法において、
前記光学デバイスが表示パネルであり、
透明なシートまたはフィルムに、少なくとも1つの濃度パターンを設けた検査具を前記光学デバイスの前記主面上に載置し、
前記濃度パターンと前記光学ムラとを比較対照してそれら濃度レベルが同等か、もしくは大小関係にあるかを判別することにより前記表示ムラの濃さの程度を判定することを特徴とする光学デバイスの製造方法。 - 光学デバイスの一主面上の面内光学ムラを検出するとともに、検出された前記光学ムラの濃さの程度を判定するための判定操作を行う光学デバイスの製造方法において、
前記光学デバイスが照明装置であり、
透明なシートまたはフィルムに、少なくとも1つの濃度パターンを設けた検査具を前記光学デバイスの前記主面上に載置し、
前記濃度パターンと前記光学ムラとを比較対照してそれら濃度レベルが同等か、もしくは大小関係にあるかを判別することにより前記表示ムラの濃さの程度を判定することを特徴とする光学デバイスの製造方法。 - 前記判定操作中に前記光学デバイスは動作状態にあり、前記主面から光を出射していることを特徴とする請求項1または2記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記濃度パターンが前記光学ムラに隣接するよう前記検査具を前記光学デバイスの前記主面上に載置することを特徴とする請求項1または2記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記濃度パターンが前記光学ムラを覆うよう前記検査具を前記光学デバイスの前記主面上に載置することを特徴とする請求項1または2記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記検査具は濃度レベルの異なる複数の濃度パターンを含んで構成されることを特徴とする請求項1または2記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記濃度パターンは濃度レベルの大きさの順に従って配列されることを特徴とする請求項6記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記判定の際、前記配列された一連の前記濃度パターンを、判定対象の前記光学ムラに順次適用して、濃度レベルの比較対照、または、視認可能かどうかの判別を行なうことを特徴とする請求項7記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記濃度パターンは、前記シートまたはフィルムに設けられた複数のドットにより構成され、前記濃度パターンの前記濃度レベルは単位面積あたりの前記ドットの占有率で表現されることを特徴とする請求項1または2記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記ドットの寸法は40μm以下であることを特徴とする請求項9記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記検査具は、前記ドットの占有率の異なる複数の濃度パターンを含んで構成され、前記ドットの占有率が3〜45%の範囲の前記濃度パターンを有することを特徴とする請求項9記載の光学デバイスの製造方法。
- 前記検査具は、前記濃度レベルが低い濃度レベルにおいては1〜3%の間隔をおいて形成され、高い濃度レベルにおいては5%の間隔をおいて形成されることを特徴とする請求項11記載の光学デバイスの製造方法。
- 表示パネルまたは照明装置の主表面に現れる光学ムラの濃さの程度を判定するための検査具であって、
無色透明なシートまたはフィルムでなるベース基板と、
前記ベース基板に設けられ、寸法が40μm以下のドットの集合体からなる濃度パターンを有することを特徴とする検査具。
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