JP2971809B2 - 表示装置における画素欠陥のマーク方法及びマーク装置 - Google Patents
表示装置における画素欠陥のマーク方法及びマーク装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、液晶表示パネ
ル、プラズマ表示パネル、ＥＬ表示パネル及びブラウン
管等の高精細の画素により構成される表示装置における
画素欠陥の有無を検査する検査方法及びその装置に関す
る。
ル、プラズマ表示パネル、ＥＬ表示パネル及びブラウン
管等の高精細の画素により構成される表示装置における
画素欠陥の有無を検査する検査方法及びその装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】高精細の画素により構成される表示装置
では、製造後に画素欠陥の有無についての検査が行われ
る。この画素欠陥としては、点欠陥、線欠陥及び輝度ム
ラ等がある。例えば、点欠陥である輝点欠陥の検査は、
表示装置の全面に黒画面を表示させた際における輝点の
有無を判断する。この判断は、作業者の目視による確認
作業だけでなく、表示装置の画面の撮像データを画像処
理する装置により自動的になされる。このような検査に
おいて欠陥を発見した場合、検査精度の向上を図るとと
もに、製造工程における作業を改善する等のために、画
面上における欠陥位置を再確認する必要がある。
では、製造後に画素欠陥の有無についての検査が行われ
る。この画素欠陥としては、点欠陥、線欠陥及び輝度ム
ラ等がある。例えば、点欠陥である輝点欠陥の検査は、
表示装置の全面に黒画面を表示させた際における輝点の
有無を判断する。この判断は、作業者の目視による確認
作業だけでなく、表示装置の画面の撮像データを画像処
理する装置により自動的になされる。このような検査に
おいて欠陥を発見した場合、検査精度の向上を図るとと
もに、製造工程における作業を改善する等のために、画
面上における欠陥位置を再確認する必要がある。
【０００３】そこで、従来では、検査対象の表示装置に
おける欠陥の位置を、検査対象の表示装置とは別のモニ
タ等の表示画面上において対応する位置にドット表示す
るか、別のモニタに欠陥位置を特定する座標データを表
示するか、又は、この座標データをプリンタにより打ち
出すようにしている。画面上の欠陥位置を再確認するに
あたっては、検査対象の表示装置とは別のモニタ等に表
示された位置や座標データ等の情報に基づいて検査対象
の表示装置の画面において欠陥位置を探すようにしてい
る。
おける欠陥の位置を、検査対象の表示装置とは別のモニ
タ等の表示画面上において対応する位置にドット表示す
るか、別のモニタに欠陥位置を特定する座標データを表
示するか、又は、この座標データをプリンタにより打ち
出すようにしている。画面上の欠陥位置を再確認するに
あたっては、検査対象の表示装置とは別のモニタ等に表
示された位置や座標データ等の情報に基づいて検査対象
の表示装置の画面において欠陥位置を探すようにしてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
表示装置の検査では、欠陥の再確認に際して検査対象の
表示装置とは別のモニタ等に表示された情報に基づいて
検査対象の表示装置の画面上を検索していたため、欠陥
位置を正確に特定することが困難で、再確認作業に長時
間を必要とする問題がある。これは、表示装置の画素欠
陥を目視により検査する場合だけでなく、撮像装置を用
いて自動検査する場合にも同様である。
表示装置の検査では、欠陥の再確認に際して検査対象の
表示装置とは別のモニタ等に表示された情報に基づいて
検査対象の表示装置の画面上を検索していたため、欠陥
位置を正確に特定することが困難で、再確認作業に長時
間を必要とする問題がある。これは、表示装置の画素欠
陥を目視により検査する場合だけでなく、撮像装置を用
いて自動検査する場合にも同様である。
【０００５】この発明の目的は、表示装置の表示画面に
おいて発生している画素欠陥の位置を、その検査対象で
ある表示装置の画面上に表示するようにし、後に画素欠
陥を再確認する際に欠陥位置を容易に特定できるように
し、画素欠陥の再確認作業を短時間化できる表示装置の
検査方法及び検査装置を提供することにある。
おいて発生している画素欠陥の位置を、その検査対象で
ある表示装置の画面上に表示するようにし、後に画素欠
陥を再確認する際に欠陥位置を容易に特定できるように
し、画素欠陥の再確認作業を短時間化できる表示装置の
検査方法及び検査装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載した発明
は、表示装置の表示画面を構成する画素中における欠陥
の検出結果に基づいて、欠陥部分を特定する図形を、検
査対象である表示装置の画面に表示データを用いて表
示、または、記入手段により表記することを特徴とす
る。
は、表示装置の表示画面を構成する画素中における欠陥
の検出結果に基づいて、欠陥部分を特定する図形を、検
査対象である表示装置の画面に表示データを用いて表
示、または、記入手段により表記することを特徴とす
る。
【０００７】したがって、検査対象である表示装置の表
示画面に画素欠陥が存在する場合には、その表示装置に
画素欠陥の位置及び種類が直接的に表示される。
示画面に画素欠陥が存在する場合には、その表示装置に
画素欠陥の位置及び種類が直接的に表示される。
【０００８】請求項２に記載した発明は、表示装置の表
示画面を構成する画素中における欠陥の検出データの入
力を受け付け、この検出データに基づいて欠陥部分を特
定する図形を含む表示データを作成し、検査対象である
表示装置に出力する表示データ作成手段を設けたことを
特徴とする。
示画面を構成する画素中における欠陥の検出データの入
力を受け付け、この検出データに基づいて欠陥部分を特
定する図形を含む表示データを作成し、検査対象である
表示装置に出力する表示データ作成手段を設けたことを
特徴とする。
【０００９】したがって、検査対象である表示装置の表
示画面に画素欠陥が存在する場合には、その表示装置の
画面に画素欠陥の位置を特定する図形が表示される。
示画面に画素欠陥が存在する場合には、その表示装置の
画面に画素欠陥の位置を特定する図形が表示される。
【００１０】請求項３に記載した発明は、表示装置の表
示画面を構成する画素中における欠陥の検出データの入
力を受け付け、この検出データに基づいて欠陥部分を特
定する図形の描画データを作成する描画データ作成手段
と、描画データ作成手段において作成された描画データ
に基づいて検査対象である表示装置の画面に図形を表記
する記入手段と、を設けたことを特徴とする。
示画面を構成する画素中における欠陥の検出データの入
力を受け付け、この検出データに基づいて欠陥部分を特
定する図形の描画データを作成する描画データ作成手段
と、描画データ作成手段において作成された描画データ
に基づいて検査対象である表示装置の画面に図形を表記
する記入手段と、を設けたことを特徴とする。
【００１１】したがって、検査対象である表示装置の表
示画面に画素欠陥が存在する場合には、その表示装置の
画面の表面に画素欠陥の位置を特定する図形が表記され
る。請求項４に記載した発明は、前記図形が、欠陥の種
類毎に異なる形状の図形であることを特徴とする。
示画面に画素欠陥が存在する場合には、その表示装置の
画面の表面に画素欠陥の位置を特定する図形が表記され
る。請求項４に記載した発明は、前記図形が、欠陥の種
類毎に異なる形状の図形であることを特徴とする。
【００１２】したがって、表示画面における画素欠陥の
位置とともに、画素欠陥の種類が特定される。
位置とともに、画素欠陥の種類が特定される。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１は、この発明の実施形態の一
例である画像欠陥のマーク装置を含む表示装置の検査シ
ステムの構成を示す図である。撮像部１は、ＣＣＤカメ
ラ１１、画像モニタ１２、操作スイッチ１３及び位置制
御機構１４から構成される。ＣＣＤカメラ１１は、暗室
１５内において検査対象である表示装置１０の表示画面
を撮像する。画像モニタ１２は、ＣＣＤカメラ１１の撮
像状態を確認するために用いられる。操作スイッチ１３
は、ＣＣＤカメラ１１に対して動作を指示する際に操作
される。位置制御機構１４は、高速画像処理装置２１に
連動して検査対象である表示装置１０のサイズの変化に
応じて、ＣＣＤカメラ１１の設置位置を変える。画像処
理部２は、高速画像処理装置２１及び信号発生器２２を
備えている。高速画像処理装置２１には、ＣＣＤカメラ
１１の撮像データが入力される。高速画像処理装置２１
は、入力された撮像データに対して所定の処理を施し、
画素欠陥の検査に適合する画像データに変換する。さら
に、高速画像処理装置２１は、得られた画像データに基
づいて画素欠陥の有無を検出する。また、画像データ
は、前述の画像モニタ１２に供給される。信号発生器２
２は、検査項目に応じた表示パターン、及び、画素欠陥
の位置と種類とを表す図形を含む表示パターンを作成し
て表示装置１０に供給する。即ち、信号発生器２２は、
輝点欠陥検査、黒点欠陥検査、線状欠陥検査または輝度
ムラ検査等のそれぞれに適当な画面を表示装置１０に表
示させるための表示データを作成する。また、表示装置
１０において画素欠陥を発見した場合には、欠陥部分を
囲む図形であって、画素欠陥の種類を表す図形を含む画
面を表示装置１０に表示させるための表示データを作成
する。信号発生器２２において作成された表示データ
は、検査対象である表示装置１０に供給される。
例である画像欠陥のマーク装置を含む表示装置の検査シ
ステムの構成を示す図である。撮像部１は、ＣＣＤカメ
ラ１１、画像モニタ１２、操作スイッチ１３及び位置制
御機構１４から構成される。ＣＣＤカメラ１１は、暗室
１５内において検査対象である表示装置１０の表示画面
を撮像する。画像モニタ１２は、ＣＣＤカメラ１１の撮
像状態を確認するために用いられる。操作スイッチ１３
は、ＣＣＤカメラ１１に対して動作を指示する際に操作
される。位置制御機構１４は、高速画像処理装置２１に
連動して検査対象である表示装置１０のサイズの変化に
応じて、ＣＣＤカメラ１１の設置位置を変える。画像処
理部２は、高速画像処理装置２１及び信号発生器２２を
備えている。高速画像処理装置２１には、ＣＣＤカメラ
１１の撮像データが入力される。高速画像処理装置２１
は、入力された撮像データに対して所定の処理を施し、
画素欠陥の検査に適合する画像データに変換する。さら
に、高速画像処理装置２１は、得られた画像データに基
づいて画素欠陥の有無を検出する。また、画像データ
は、前述の画像モニタ１２に供給される。信号発生器２
２は、検査項目に応じた表示パターン、及び、画素欠陥
の位置と種類とを表す図形を含む表示パターンを作成し
て表示装置１０に供給する。即ち、信号発生器２２は、
輝点欠陥検査、黒点欠陥検査、線状欠陥検査または輝度
ムラ検査等のそれぞれに適当な画面を表示装置１０に表
示させるための表示データを作成する。また、表示装置
１０において画素欠陥を発見した場合には、欠陥部分を
囲む図形であって、画素欠陥の種類を表す図形を含む画
面を表示装置１０に表示させるための表示データを作成
する。信号発生器２２において作成された表示データ
は、検査対象である表示装置１０に供給される。
【００１４】データ処理部３は、操作スイッチ１３、モ
ニタ３２及びプリンタ３３を接続したコンピュータ３１
により構成される。コンピュータ３１は、ＣＣＤカメラ
１１、カメラ位置制御機構１４、高速画像処理装置２１
及び信号発生器２２を統括制御する。即ち、コンピュー
タ３１は、操作スイッチ１３の操作内容にしたがって、
ＣＣＤカメラ１１、カメラ位置制御機構１４、高速画像
処理装置２１及び信号発生器２２を動作させ、高速画像
処理装置２１における検出データを蓄積するとともに、
この検出データを要求に応じてモニタ３２またはプリン
タ３３に出力する。
ニタ３２及びプリンタ３３を接続したコンピュータ３１
により構成される。コンピュータ３１は、ＣＣＤカメラ
１１、カメラ位置制御機構１４、高速画像処理装置２１
及び信号発生器２２を統括制御する。即ち、コンピュー
タ３１は、操作スイッチ１３の操作内容にしたがって、
ＣＣＤカメラ１１、カメラ位置制御機構１４、高速画像
処理装置２１及び信号発生器２２を動作させ、高速画像
処理装置２１における検出データを蓄積するとともに、
この検出データを要求に応じてモニタ３２またはプリン
タ３３に出力する。
【００１５】図２は、上記の検査装置における処理手順
の概略を示すフローチャートである。コンピュータ３１
は、暗室１５の所定の位置に検査対象である表示装置１
０が設置されると（ｓ１）、カメラ位置制御機構１４に
よりＣＣＤカメラ１１を表示装置１０の画面に対向する
位置に移動する（ｓ２）。この状態で操作スイッチ１３
における検査項目の設定入力及び検査開始の指示入力を
待機する（ｓ３，ｓ４）。検査開始が指示されると検査
スタート信号を発生し（ｓ５）、設定された検査項目に
応じた検査パターン信号を信号発生器２２に出力する
（ｓ６）。信号発生器２２は、検査パターン信号に基づ
いて設定された検査項目に応じた表示データを作成して
表示装置１０に供給し、表示装置１０は供給された表示
データに応じた画面を表示する。
の概略を示すフローチャートである。コンピュータ３１
は、暗室１５の所定の位置に検査対象である表示装置１
０が設置されると（ｓ１）、カメラ位置制御機構１４に
よりＣＣＤカメラ１１を表示装置１０の画面に対向する
位置に移動する（ｓ２）。この状態で操作スイッチ１３
における検査項目の設定入力及び検査開始の指示入力を
待機する（ｓ３，ｓ４）。検査開始が指示されると検査
スタート信号を発生し（ｓ５）、設定された検査項目に
応じた検査パターン信号を信号発生器２２に出力する
（ｓ６）。信号発生器２２は、検査パターン信号に基づ
いて設定された検査項目に応じた表示データを作成して
表示装置１０に供給し、表示装置１０は供給された表示
データに応じた画面を表示する。
【００１６】この表示装置１０の表示画面をＣＣＤカメ
ラ１１により撮像し（ｓ７）、撮像データに対して高速
画像処理装置２１による画像処理を施して画像データを
得る（ｓ８）。高速画像処理装置２１は、得られた画像
データに基づいて画素欠陥の有無を判断する（ｓ９）。
ラ１１により撮像し（ｓ７）、撮像データに対して高速
画像処理装置２１による画像処理を施して画像データを
得る（ｓ８）。高速画像処理装置２１は、得られた画像
データに基づいて画素欠陥の有無を判断する（ｓ９）。
【００１７】輝点欠陥の検査時には、一例として図３
（Ａ）に示すように、検査対象である表示装置１０の全
面に、低輝度の白色を検査画面として表示させる（ｓ２
１）。ここに、低輝度とは、例えば、輝度を最も暗い０
階調からハイライトの７階調までの８階調に分けた場合
の０〜２階調の輝度をいう。この検査画面をＣＣＤカメ
ラ１１により撮像し（ｓ２２）、得られた撮像データを
フィルタリング処理により輝点を強調して微分画像デー
タを得る（ｓ２３）。画面全体について得られた微分画
像データを例えば１０００ブロック程度の細かいブロッ
クのマトリックスに分割し、各ブロックにおける平均輝
度を算出するとともに２値化処理し、点欠陥の候補の座
標を求める（ｓ２４）。各ブロックの平均輝度を周囲の
ブロックの平均輝度と比較し（ｓ２５）、周囲のブロッ
クとの平均輝度の差が基準値を越える場合に（ｓ２
６）、そのブロックに輝点欠陥が存在すると判断する
（ｓ２７）。 一方、黒点欠陥の検査時には、図３
（Ｂ）に示すように、検査対象である表示装置１０の全
面に、ハイライト、即ち７階調の赤色、緑色、青色のそ
れぞれを検査画面として表示させる（ｓ３１）。この検
査画面をＣＣＤカメラ１１により順に撮像し（ｓ３
２）、得られた撮像データをフィルタ処理により黒点を
強調して微分画像データを得る（ｓ３３）。この微分画
像データに基づいて輝点欠陥と同様の手順により赤、
緑、青の各色について黒点欠陥が存在するブロックを特
定する（ｓ３４〜ｓ３７）。
（Ａ）に示すように、検査対象である表示装置１０の全
面に、低輝度の白色を検査画面として表示させる（ｓ２
１）。ここに、低輝度とは、例えば、輝度を最も暗い０
階調からハイライトの７階調までの８階調に分けた場合
の０〜２階調の輝度をいう。この検査画面をＣＣＤカメ
ラ１１により撮像し（ｓ２２）、得られた撮像データを
フィルタリング処理により輝点を強調して微分画像デー
タを得る（ｓ２３）。画面全体について得られた微分画
像データを例えば１０００ブロック程度の細かいブロッ
クのマトリックスに分割し、各ブロックにおける平均輝
度を算出するとともに２値化処理し、点欠陥の候補の座
標を求める（ｓ２４）。各ブロックの平均輝度を周囲の
ブロックの平均輝度と比較し（ｓ２５）、周囲のブロッ
クとの平均輝度の差が基準値を越える場合に（ｓ２
６）、そのブロックに輝点欠陥が存在すると判断する
（ｓ２７）。 一方、黒点欠陥の検査時には、図３
（Ｂ）に示すように、検査対象である表示装置１０の全
面に、ハイライト、即ち７階調の赤色、緑色、青色のそ
れぞれを検査画面として表示させる（ｓ３１）。この検
査画面をＣＣＤカメラ１１により順に撮像し（ｓ３
２）、得られた撮像データをフィルタ処理により黒点を
強調して微分画像データを得る（ｓ３３）。この微分画
像データに基づいて輝点欠陥と同様の手順により赤、
緑、青の各色について黒点欠陥が存在するブロックを特
定する（ｓ３４〜ｓ３７）。
【００１８】また、線欠陥の検査時には、図４に示すよ
うに、検査対象である表示装置１０の全面に、低輝度の
白色を検査画面として表示させる（ｓ４１）。この検査
画面をＣＣＤカメラ１１により撮像する（ｓ４２）。得
られた撮像データについて、輝線強調及び黒線強調のフ
ィルタリング処理を行い、輝線強調した微分画像データ
及び黒線強調した微分画像データを得る（ｓ４３）。次
いで、それぞれの微分画像データについて水平方向の斜
影分布を取り、それぞれの斜影データを求める（ｓ４
４）。求めた斜影データの大きい順にｎ個（例えば８
個）のピーク値を抽出し（ｓ４５）、ｎ個目のピーク値
が基準値より大きいか否かの判断により線欠陥を検出す
る（ｓ４６，ｓ４７）。
うに、検査対象である表示装置１０の全面に、低輝度の
白色を検査画面として表示させる（ｓ４１）。この検査
画面をＣＣＤカメラ１１により撮像する（ｓ４２）。得
られた撮像データについて、輝線強調及び黒線強調のフ
ィルタリング処理を行い、輝線強調した微分画像データ
及び黒線強調した微分画像データを得る（ｓ４３）。次
いで、それぞれの微分画像データについて水平方向の斜
影分布を取り、それぞれの斜影データを求める（ｓ４
４）。求めた斜影データの大きい順にｎ個（例えば８
個）のピーク値を抽出し（ｓ４５）、ｎ個目のピーク値
が基準値より大きいか否かの判断により線欠陥を検出す
る（ｓ４６，ｓ４７）。
【００１９】さらに、輝度ムラの検査時には、図５に示
すように、検査対象である表示装置１０の全面に、中間
調の白色を検査画面として表示させる（ｓ５１）。この
検査画面をＣＣＤカメラ１１により撮像する（ｓ５
２）。得られた撮像データについて、ムラ強調のフィル
タリング処理を行い、ムラ強調した微分画像データを得
る（ｓ５３）。次いで、表示画面の全面についての微分
画像データを、検査するムラの種類に応じた小領域に分
割し、各小領域の平均輝度を算出する（ｓ５４）。一
方、各小領域について画像データを２値化処理し、得ら
れた２値化像に基づいてムラ欠陥を生じる可能性の高い
領域を選択する（ｓ５５，ｓ５６）。選択した領域につ
いて周囲の領域との平均輝度の差を求め（ｓ５７）、こ
の平均輝度の差が基準値を越えている場合にムラ欠陥と
判断する（ｓ５８）。
すように、検査対象である表示装置１０の全面に、中間
調の白色を検査画面として表示させる（ｓ５１）。この
検査画面をＣＣＤカメラ１１により撮像する（ｓ５
２）。得られた撮像データについて、ムラ強調のフィル
タリング処理を行い、ムラ強調した微分画像データを得
る（ｓ５３）。次いで、表示画面の全面についての微分
画像データを、検査するムラの種類に応じた小領域に分
割し、各小領域の平均輝度を算出する（ｓ５４）。一
方、各小領域について画像データを２値化処理し、得ら
れた２値化像に基づいてムラ欠陥を生じる可能性の高い
領域を選択する（ｓ５５，ｓ５６）。選択した領域につ
いて周囲の領域との平均輝度の差を求め（ｓ５７）、こ
の平均輝度の差が基準値を越えている場合にムラ欠陥と
判断する（ｓ５８）。
【００２０】以上の処理によって画素欠陥が存在すると
判断した場合は、その種類及び位置を特定し（ｓ１
０）、画素欠陥の部分を囲む画素欠陥の種類に応じた図
形を含む表示データを作成して表示装置１０に供給する
（ｓ１１）。即ち、画素欠陥の種類に応じた図形が予め
設定されており、特定した画素欠陥の種類に応じて表示
すべき図形が決定される。信号発生器２２は、決定され
た図形を欠陥を生じた画素を中心として表示させる表示
データを作成する。
判断した場合は、その種類及び位置を特定し（ｓ１
０）、画素欠陥の部分を囲む画素欠陥の種類に応じた図
形を含む表示データを作成して表示装置１０に供給する
（ｓ１１）。即ち、画素欠陥の種類に応じた図形が予め
設定されており、特定した画素欠陥の種類に応じて表示
すべき図形が決定される。信号発生器２２は、決定され
た図形を欠陥を生じた画素を中心として表示させる表示
データを作成する。
【００２１】なお、画素欠陥の種類、位置及び個数は、
画素欠陥データとして高速画像処理装置２１からコンピ
ュータ３１に入力され、コンピュータ３１において記憶
される。
画素欠陥データとして高速画像処理装置２１からコンピ
ュータ３１に入力され、コンピュータ３１において記憶
される。
【００２２】以上の処理により、図６に示すように、表
示装置１０の表示画面１０ａに黒点欠陥４１が存在する
場合、その表示画面１０ａ中に黒点欠陥４１を中心とす
る円の図形５１が表示される。また、表示装置１０の表
示画面１０ａに白点欠陥４２が存在する場合、その表示
画面１０ａ中に白点欠陥４２を中心とする矩形の図形５
２が表示される。このように検査対象である表示装置１
０の表示画面１０ａに、画素欠陥の種類及び位置を特定
する図形を表示させることにより、欠陥の再確認作業時
に表示画面において欠陥を生じた位置を容易に特定する
ことができ、画素欠陥の検査処理に続く後方処理を容易
化できる。
示装置１０の表示画面１０ａに黒点欠陥４１が存在する
場合、その表示画面１０ａ中に黒点欠陥４１を中心とす
る円の図形５１が表示される。また、表示装置１０の表
示画面１０ａに白点欠陥４２が存在する場合、その表示
画面１０ａ中に白点欠陥４２を中心とする矩形の図形５
２が表示される。このように検査対象である表示装置１
０の表示画面１０ａに、画素欠陥の種類及び位置を特定
する図形を表示させることにより、欠陥の再確認作業時
に表示画面において欠陥を生じた位置を容易に特定する
ことができ、画素欠陥の検査処理に続く後方処理を容易
化できる。
【００２３】なお、検査処理に続く後方処理が、この検
査システムから離れた場所で行われる場合には、検査対
象である表示装置１０と信号発生器２２との接続を断た
れ、表示装置１０に画素欠陥の種類及び位置を特定する
図形を表示させることができなくなる。そこで、図７に
示すように、後方処理が行われる位置に、信号発生器２
２にデータ伝送ラインを介して接続した別の信号発生器
５１を備え、信号発生器２２から送信した画素欠陥の種
類及び位置を特定するデータを別の信号発生器５１にお
いて受信し、別の信号発生器５１を介して表示装置１０
に図形を表示させることにより、検査システムから離れ
た位置で行われる後方処理においても、表示装置１０に
おける画素欠陥の種類及び発生位置を容易に確認するこ
とができる。
査システムから離れた場所で行われる場合には、検査対
象である表示装置１０と信号発生器２２との接続を断た
れ、表示装置１０に画素欠陥の種類及び位置を特定する
図形を表示させることができなくなる。そこで、図７に
示すように、後方処理が行われる位置に、信号発生器２
２にデータ伝送ラインを介して接続した別の信号発生器
５１を備え、信号発生器２２から送信した画素欠陥の種
類及び位置を特定するデータを別の信号発生器５１にお
いて受信し、別の信号発生器５１を介して表示装置１０
に図形を表示させることにより、検査システムから離れ
た位置で行われる後方処理においても、表示装置１０に
おける画素欠陥の種類及び発生位置を容易に確認するこ
とができる。
【００２４】また、図８に示すように、表示装置１０の
表示画面に対向するＸ−Ｙプロッタ等の描画装置６１を
備え、この描画装置６１に対して信号発生器２２から上
述の表示データを描画データとして供給することによ
り、検査対象である表示装置１０の表示画面の表面にお
いて画素欠陥を生じた位置に、画素欠陥の種類に応じた
図形を描くようにしてもよい。この構成は、表示装置１
０が液晶やプラズマディスプレイ等のフラットパネルで
ある場合に特に有効である。
表示画面に対向するＸ−Ｙプロッタ等の描画装置６１を
備え、この描画装置６１に対して信号発生器２２から上
述の表示データを描画データとして供給することによ
り、検査対象である表示装置１０の表示画面の表面にお
いて画素欠陥を生じた位置に、画素欠陥の種類に応じた
図形を描くようにしてもよい。この構成は、表示装置１
０が液晶やプラズマディスプレイ等のフラットパネルで
ある場合に特に有効である。
【００２５】さらに、画素欠陥を特定する図形として
は、欠陥部分を囲む図形に限られるものではなく、例え
ば、線欠陥について、始点位置と終点位置とを表す印を
表示するようにしてもよい。
は、欠陥部分を囲む図形に限られるものではなく、例え
ば、線欠陥について、始点位置と終点位置とを表す印を
表示するようにしてもよい。
【００２６】
【発明の効果】この発明によれば、検査対象である表示
装置の表示画面に画素欠陥が存在する場合に、その表示
装置に画素欠陥の位置及び種類を直接的に表示すること
ができ、後方処理における画素欠陥の再確認作業を容易
に行うことができ、検査作業を短時間化できる利点があ
る。
装置の表示画面に画素欠陥が存在する場合に、その表示
装置に画素欠陥の位置及び種類を直接的に表示すること
ができ、後方処理における画素欠陥の再確認作業を容易
に行うことができ、検査作業を短時間化できる利点があ
る。
【図１】この発明の実施形態の一例である表示装置の検
査システムの構成を示す図である。
査システムの構成を示す図である。
【図２】同検査システムにおける処理手順の概略を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図３】同検査システムにおける点欠陥の検査処理の要
部を説明するフローチャートである。
部を説明するフローチャートである。
【図４】同検査システムにおける線欠陥の検査処理の要
部を説明するフローチャートである。
部を説明するフローチャートである。
【図５】同検査システムにおけるムラ欠陥の検査処理の
要部を説明するフローチャートである。
要部を説明するフローチャートである。
【図６】同検査システムにおける画素欠陥の表示状態を
示す図である。
示す図である。
【図７】この発明の別の実施形態に係る検査システムの
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図８】この発明のさらに別の実施形態に係る検査シス
テムの要部の構成を示す図である。
テムの要部の構成を示す図である。
１−撮像部 ２−画像処理部 ３−データ処理部 １０−表示装置 １１−ＣＣＤカメラ ２１−高速画像処理装置 ２２−信号発生器 ３１−コンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01M 11/00 G09G 5/00 G09G 3/20 G01D 9/00
Claims (4)
- 【請求項１】表示装置の表示画面を構成する画素中にお
ける欠陥の検出結果に基づいて、欠陥部分を特定する図
形を、検査対象である表示装置の画面に表示データを用
いて表示、または、記入手段により表記することを特徴
とする表示装置における画素欠陥のマーク方法。 - 【請求項２】表示装置の表示画面を構成する画素中にお
ける欠陥の検出データの入力を受け付け、この検出デー
タに基づいて欠陥部分を特定する図形を含む表示データ
を作成し、検査対象である表示装置に出力する表示デー
タ作成手段を設けたことを特徴とする表示装置における
画素欠陥のマーク装置。 - 【請求項３】表示装置の表示画面を構成する画素中にお
ける欠陥の検出データの入力を受け付け、この検出デー
タに基づいて欠陥部分を特定する図形の描画データを作
成する描画データ作成手段と、描画データ作成手段にお
いて作成された描画データに基づいて検査対象である表
示装置の画面に図形を表記する記入手段と、を設けたこ
とを特徴とする表示装置における画素欠陥のマーク装
置。 - 【請求項４】前記図形が、欠陥の種類毎に異なる形状の
図形である請求項２又は３に記載の表示装置における画
素欠陥のマーク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8199009A JP2971809B2 (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 表示装置における画素欠陥のマーク方法及びマーク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8199009A JP2971809B2 (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 表示装置における画素欠陥のマーク方法及びマーク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1039843A JPH1039843A (ja) | 1998-02-13 |
| JP2971809B2 true JP2971809B2 (ja) | 1999-11-08 |
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ID=16400598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8199009A Expired - Fee Related JP2971809B2 (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 表示装置における画素欠陥のマーク方法及びマーク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2971809B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101996543A (zh) * | 2009-08-25 | 2011-03-30 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 缺陷像素地址检测方法以及检测装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005249946A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Inter Action Corp | 表示装置の欠陥検査装置 |
| JP6611423B2 (ja) * | 2014-10-27 | 2019-11-27 | キヤノン株式会社 | 表示装置、管理装置およびコンピュータプログラム |
-
1996
- 1996-07-29 JP JP8199009A patent/JP2971809B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH1039843A (ja) | 1998-02-13 |
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