JP2009086294A - 点灯検査システム、点灯検査装置、点灯検査方法、点灯検査プログラム、コンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【課題】欠陥部位の位置を示す図形を、欠陥部位の視認性を低下させることなく表示する。
【解決手段】目視検査装置は、表示機器の画面が有する欠陥部位92・93・94の位置を示す欠陥位置情報を受信する制御装置と、制御装置が受信した欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位92・93・94の位置または存在範囲を示す欠陥部指示記号95・96・97を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように表示パネルに表示する点灯パターン形成部とを備えている。
【選択図】図1
【解決手段】目視検査装置は、表示機器の画面が有する欠陥部位92・93・94の位置を示す欠陥位置情報を受信する制御装置と、制御装置が受信した欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位92・93・94の位置または存在範囲を示す欠陥部指示記号95・96・97を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように表示パネルに表示する点灯パターン形成部とを備えている。
【選択図】図1
Description
本発明は、液晶ディスプレイなどの表示機器に対して点灯検査を行うための点灯検査装置、点灯検査システムおよび点灯検査方法に関するものである。
液晶パネル等のフラットパネルディスプレイ(FPD)に関して、品質確保のため表示面内の微小な点欠陥、異物欠陥、シミ・ムラなどを、点灯状態にて目視で検査している。しかしながら、FPDはサイズの大型化が進み、大画面の中に存在する微小な点欠陥または異物欠陥を目視により検出することには多くの時間を要し、さらに目視検査員の疲労によって微小欠陥を見逃すなどの問題が発生している。
そこで、予め自動検査装置により欠陥を抽出し、抽出された欠陥に対して、目視検査員が目視検査を実施するという検査方法が行われている。この検査方法において目視検査員が目視検査を実施する時に、自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置を容易に確認できるように工夫がなされている。
例えば、特許文献1に記載の発明では、自動検査装置によって検出された欠陥部位の座標を、目視検査装置を構成する欠陥座標表示用モニターによって表示している。目視検査員は、この座標を基に欠陥部位を見つければよい。
また、特許文献2に記載の発明では、目視検査時に、自動検査装置により検出された欠陥部位を含む、表示パネルの特定の領域のみを発光させることにより、目視検査員の作業効率を向上させている。
また、特許文献3に記載の発明では、自動検査装置により検出された欠陥部位を、円、矩形などの図形で囲むことにより、当該欠陥部位を目視検査員が認識しやすいようにしている。
特開2002−257734号公報(2002年9月11日公開)
特開2005−188968号公報(2005年7月14日公開)
特開平10−39843号公報(1998年2月13日公開)
ところが、上記従来の構成では、以下の問題が生ずる。
すなわち、特許文献1に記載の発明では、複数の欠陥が発生した時に、欠陥座標表示用モニターと被検査パネルとを何度も見比べる必要があるため、十分な作業効率の向上は期待できない。
特許文献2に記載の発明では、自発光でないFPDに適用する場合には、局所的に発光するバックライトが必要であるが、そのようなバックライトは一般的ではない。
特許文献3に記載の発明では、欠陥部位の周囲に、当該欠陥部位の位置を示す図形を表示するときに、信号のクロストーク(信号漏れ)によって、欠陥部位またはその周囲の輝度が高まり、正確な目視検査が実施できないという問題が生じる。
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、既に検出されている欠陥部位の位置を示す図形を、当該欠陥部位の視認性を低下させることなく表示機器の画面に表示することができる点灯検査装置および点灯検査システムを提供することにある。
本発明に係る点灯検査装置は、上記の課題を解決するために、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信手段と、上記受信手段が受信した欠陥位置情報に基づいて、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段とを備えることを特徴としている。
本発明に係る点灯検査方法は、上記の課題を解決するために、受信手段と表示制御手段とを備える点灯検査装置における点灯検査方法であって、上記受信手段が、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信工程と、上記受信工程において受信した欠陥位置情報に基づいて、上記表示制御手段が、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御工程とを含むことを特徴としている。
上記の構成によれば、受信手段は、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する。この欠陥位置情報に基づいて、表示制御手段は、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させない(高めないまたは低下させない)ように表示機器の画面に表示する。換言すれば、表示制御手段は、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を維持するように上記図形を表示する。
それゆえ、既に検出されている表示機器の画面の欠陥部位の位置または存在範囲を、当該欠陥部位の判定を妨げずに、点灯検査装置を操作する検査員に報知することができる。
また、上記表示制御手段は、上記図形を構成する部分のうち、上記欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に位置する部分を表示しないことが好ましい。換言すれば、上記表示制御手段は、上記欠陥部位を通る、表示パネルの画像信号線上に位置する部分を有さない上記図形を表示することが好ましい。
表示機器の画面に図形を表示する場合、当該図形を表示する部位(絵素)に信号が送られるが、その信号が図形を表示する部位の周辺に漏れることが多い。その結果、図形の周辺部位の輝度が高まり、シャドーイングという現象が生じる。このシャドーイングは、表示機器の画面の信号線に沿う方向に発生する。シャドーイングが発生すれば、このシャドーイングにより、欠陥部位または欠陥部位の周辺部位もしくはその両方の輝度が高まり、正確な欠陥部位の判定が出来なくなる可能性がある。
上記の構成によれば、表示制御手段は、上記図形を構成する部分のうち、欠陥部位を通る、表示機器の画面の信号線上に位置する部分を表示しない。換言すれば、表示制御手段は、上記図形を構成する部分のうち、欠陥部位を通る、表示機器の画面の信号線上に位置する部分を除く部分を表示する。
それゆえ、上記図形を表示することによって生じるシャドーイングにより、欠陥部位または欠陥部位の周辺部位もしくはその両方の輝度が高まり、その結果、正確な欠陥部位の判定が出来なくなるという可能性を低減することができる。
なお、シャドーイングは、表示機器の駆動方式によって画面の縦方向にも横方向にも発生する可能性がある。上記信号線は、縦方向の信号線(画像信号線)であってもよいし、横方向の信号線(走査線)であってもよい。
また、上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形を構成する部分のうち、ある欠陥部位を通る上記信号線上に位置する、別の欠陥部位に対応する上記図形を構成する部分を表示しないことが好ましい。
上記の構成によれば、ひとつの画面に複数の欠陥部位が存在している場合に、表示制御手段は、複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形を構成する部分のうち、ある欠陥部位を通る信号線上に位置する、別の欠陥部位に対応する図形を構成する部分を表示しない。換言すれば、表示制御手段は、ひとつの画面に複数の欠陥部位が存在している場合に、複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形を構成する部分のうち、ある欠陥部位を通る信号線上に位置する、別の欠陥部位に対応する図形を構成する部分を除いた部分を表示する。
それゆえ、ある欠陥部に対応する図形を表示することによって、別の欠陥部位の視認性が低下する可能を低減できる。
上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される欠陥部位のうちのある欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に、他の欠陥部位に対応する図形が位置しないように、当該他の欠陥部位に対応する図形の表示位置を変更することが好ましい。
上記の構成によれば、表示制御手段は、ひとつの表示機器の画面に複数の欠陥部位が存在する場合に、当該欠陥部位のうちのある欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に、他の欠陥部位に対応する図形が位置しないように、当該他の欠陥部位に対応する図形の表示位置を変更する。
それゆえ、ある欠陥部位に対応する図形を表示することにより、他の欠陥部位の視認性が低下する可能性を低減できる。
また、上記図形は、矩形、多角形または円形の一部、もしくは、線形状、矢印形状またはL字形状からなるものであることが好ましい。
上記の構成により、上記図形が矩形、多角形または円形の一部からなるもの、またはL字形状からなるものである場合には、当該図形によって欠陥部位の存在範囲を示すことができ、上記図形が線形状または矢印形状からなるものである場合には、欠陥部位の位置を示すことができる。
また、上記図形は、文字または数字を含むことが好ましい。
上記の構成によれば、上記図形が文字または数字を含むことにより、より多くの情報を的確に検査員に伝えることができる。
また、上記図形は、線対称または点対称である図形の対を含むことが好ましい。
上記の構成により、欠陥部位を中心として当該線対称または点対称である図形の対を表示させれば、より確実に欠陥部位を検査員に認識させることができる。
また、上記表示制御手段は、複数種類の上記図形を上記画面に表示するものであり、表示する上記図形の種類を外部から入力される命令に従って変更することが好ましい。
上記の構成によれば、表示制御手段は、外部から入力される命令に従って、表示機器の画面に表示される上記図形の種類を変更する。
それゆえ、欠陥部位がどのような性質を有するものであるのかに応じて当該欠陥部位に対応する図形の種類を変更できる。従って、欠陥部位をより視認し易いように上記図形を表示することができる。
また、上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形の種類を互いに異ならせることが好ましい。
上記の構成によれば、表示制御手段は、ひとつの表示機器の画面に複数の欠陥部位が存在する場合に、当該複数の欠陥部位に対応する複数の図形の種類を互いに異ならせる。
それゆえ、ある欠陥部位を示す図形を他の欠陥部位を示す図形よりも目立つようにすることができる。
また、上記点灯検査装置を動作させる点灯検査プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための点灯検査プログラムおよび当該点灯検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も本発明の技術範囲に含まれる。
本発明に係る点灯検査システムは、上記の課題を解決するために、表示パネルを撮像手段によって撮像し、その撮像画像を解析することにより、当該表示パネルの欠陥を検出する自動検査装置と、上記自動検査装置によって検査された表示パネルに目視検査用の点灯パターンを表示する目視検査装置とを備える点灯検査システムであって、上記自動検査装置は、検出した欠陥部位の位置に関する欠陥位置情報を上記目視検査装置に送信する送信手段を備え、上記目視検査装置は、上記送信手段が送信した欠陥位置情報に基づいて、上記自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記表示パネルに表示する表示制御手段を備えることを特徴としている。
上記の構成によれば、被検査体である表示パネルが自動検査装置によって検査された後に、目視検査装置によって当該表示パネルに目視検査用の点灯パターンが表示される。自動検査装置が備える送信手段は、検出した欠陥部位の位置に関する欠陥位置情報を上記目視検査装置に送信する。そして、目視検査装置が備える表示制御手段は、上記欠陥位置情報に基づいて、自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、自動検査装置によって検査された表示パネルに表示する。このとき、表示制御手段は、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記図形を表示する。換言すれば、表示制御手段は、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を維持するように上記図形を表示する。
目視検査により表示パネルの欠陥を判定する時には、欠陥部位と当該欠陥部位の周辺部位との輝度を比較することによって判定を行う。表示制御手段は、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記図形を表示するため、上記図形が欠陥部位の判定に影響を及ぼす可能性は低くなる。
それゆえ、自動検査装置によって検出された表示パネルの欠陥部位の位置または存在範囲を、当該欠陥部位の判定を妨げずに、目視検査装置を操作する検査員に報知することができる。
本発明に係る点灯検査装置は、以上のように、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信手段と、上記受信手段が受信した欠陥位置情報に基づいて、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段とを備える構成である。
本発明に係る点灯検査方法は、以上のように、受信手段と表示制御手段とを備える点灯検査装置における点灯検査方法であって、上記受信手段が、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信工程と、上記受信工程において受信した欠陥位置情報に基づいて、上記表示制御手段が、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御工程とを含む構成である。
それゆえ、既に検出されている表示パネルの欠陥部位の位置または存在範囲を、当該欠陥部位の判定を妨げずに、点灯検査装置を操作する検査員に報知することができる。
本発明に係る点灯検査システムは、以上のように、自動検査装置は、検出した欠陥部位の位置に関する欠陥位置情報を目視検査装置に送信する送信手段を備え、目視検査装置は、上記送信手段が送信した欠陥位置情報に基づいて、上記自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段を備える構成である。
それゆえ、自動検査装置によって検出された表示パネルの欠陥部位の位置または存在範囲を、当該欠陥部位の判定を妨げずに、目視検査装置を操作する検査員に報知することができる。
〔実施の形態1〕
本発明の実施の一形態について図1〜図11に基づいて説明すれば、以下のとおりである。以下では、液晶ディスプレイの表示パネルを検査する点灯検査システム1を例に挙げて説明する。しかし、本発明の点灯検査システムの検査対象は、液晶ディスプレイ(表示機器)に限定されない。点灯検査システム1は、生産システム10に含まれている。点灯検査システム1を生産システム10に組み込む構成(ライン構成)は、特に限定されず、どのような構成であってもよい。
本発明の実施の一形態について図1〜図11に基づいて説明すれば、以下のとおりである。以下では、液晶ディスプレイの表示パネルを検査する点灯検査システム1を例に挙げて説明する。しかし、本発明の点灯検査システムの検査対象は、液晶ディスプレイ(表示機器)に限定されない。点灯検査システム1は、生産システム10に含まれている。点灯検査システム1を生産システム10に組み込む構成(ライン構成)は、特に限定されず、どのような構成であってもよい。
(生産システム10の構成)
図2は、生産システム10の構成を示す概略図である。図2に示すように、生産システム10は、自動検査装置2と目視検査装置(点灯検査装置)3とを含む点灯検査システム1、前工程用装置4、後工程用装置5および搬送コンベア6を備えている。
図2は、生産システム10の構成を示す概略図である。図2に示すように、生産システム10は、自動検査装置2と目視検査装置(点灯検査装置)3とを含む点灯検査システム1、前工程用装置4、後工程用装置5および搬送コンベア6を備えている。
自動検査装置2は、被検査体である表示パネル9の点灯検査を自動で行う。具体的には、自動検査装置2は、少なくとも1種類の点灯パターンを表示パネル9に表示させ、その表示パネル9を撮像した撮像画像に基づいて当該表示パネル9の欠陥を検出する。
この自動検査装置2は、検査対象となっている表示パネル9に対する一連の検査が終了したときに、検出された表示パネル9の欠陥部位(欠陥絵素)の位置に関する欠陥位置情報を目視検査装置3へ出力する。自動検査装置2の詳細については、後述する。
目視検査装置3は、表示パネル9の目視点灯検査を行うための装置であり、自動検査装置2の下流ラインに位置しており、自動検査装置2によって検査された表示パネル9に目視検査用の点灯パターンを表示する。表示パネル9の目視検査は、目視検査装置3の前に位置する検査員(目視検査員)によって行われる。検査対象となる表示パネル9は、搬送コンベア6によって自動検査装置2から搬出され、目視検査装置3へ搬入される。
この目視検査装置3は、自動検査装置2から欠陥位置情報を受け取ると、当該欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位の視認性を向上させる図形(以下、欠陥部指示記号と称する)を表示パネル9に表示する。この欠陥部指示記号は、自動検査装置2によって検出された、表示パネル9の欠陥部位の位置または存在範囲を当該表示パネル9上において示すものである。検査員は、表示パネル9自体に表示された欠陥部指示記号を利用して、欠陥部位を素早く確認することができる。目視検査装置3の詳細については後述する。
前工程用装置4は、自動検査装置2の上流に位置する装置であり、自動検査装置2における点灯検査の前に行われる工程(前工程)に含まれる処理(作業)を表示パネル9に対して行うための装置である。この前工程用装置4は、どのようなものであってもよい。換言すれば、前工程は、どのようなものであってもよい。
後工程用装置5は、目視検査装置3の下流に位置する装置であり、目視検査装置3における点灯検査の後に行われる工程(後工程)に含まれる処理(作業)を表示パネル9に対して行うための装置である。この後工程用装置5は、どのようなものであってもよい。換言すれば、後工程は、どのようなものであってもよい。
(自動検査装置2の構成)
図3は、自動検査装置2の構成を示す概略図である。図3に示すように、自動検査装置2は、表示パネル9を撮像するカメラ(撮像手段)21、カメラ21を固定するカメラ固定冶具22、信号発生器23、表示パネル9を背面より照射する検査用照明24、画像処理装置25、制御装置(送信手段)26および外部からの光を遮光する外装カバー27を備えている。
図3は、自動検査装置2の構成を示す概略図である。図3に示すように、自動検査装置2は、表示パネル9を撮像するカメラ(撮像手段)21、カメラ21を固定するカメラ固定冶具22、信号発生器23、表示パネル9を背面より照射する検査用照明24、画像処理装置25、制御装置(送信手段)26および外部からの光を遮光する外装カバー27を備えている。
表示パネル9は、搬送コンベア6上において、保持台車7によって固定されており、搬送コンベア6によって自動検査装置2へ搬入される。
信号発生器23は、表示パネル9に表示させる点灯パターンを出力する。この信号発生器23は、複数種類の点灯パターンを表示パネル9に表示させることができ、どの点灯パターンを出力するのかは、制御装置26からの命令によって決められる。
画像処理装置25は、カメラ21によって撮像された表示パネル9の撮像画像を解析することにより、当該表示パネル9の欠陥を検出する。画像処理装置25における画像解析方法は、特に限定されず、表示パネル9の欠陥を検出できるものであればどのようなものであってもよい。画像処理装置25は、表示パネル9の解析結果、ずなわち、表示パネル9の欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を制御装置26へ出力する。
制御装置26は、搬送コンベア6、信号発生器23、検査用照明24および画像処理装置25を制御するとともに、カメラ21の露光時間およびゲイン設定などを制御する。特に、制御装置26は、画像処理装置25から送信された欠陥位置情報を通信ネットワーク8を介して目視検査装置3の制御装置31へ出力する。
すなわち、制御装置26は、欠陥位置情報を目視検査装置3に送信する送信手段としての機能を有している。
以上のように、自動検査装置2は、搬入された表示パネル9に対して、信号発生器23により検査画面(点灯パターン)を表示させ、検査用照明24によって検査照明を照射しながら、当該検査画面をカメラ21で撮像し、その画像データを画像処理装置25により処理することによって、表示パネル9が有する欠陥を検出するものである。
(目視検査装置3の構成)
図4は、目視検査装置3の構成を示す概略図である。図5は、目視検査装置3の構成を示す機能ブロック図である。図4および図5に示すように、目視検査装置3は、制御装置(受信手段)31、表示パネル9に表示される点灯パターンを出力する信号発生器32、表示パネル9を背面より照射する検査用照明33、表示パネル9に表示する欠陥部指示記号を切替える、検査員からの表示切替命令を受け付ける表示切替装置34、および判定結果を検査者が入力するための判定結果入力装置35を備えている。
図4は、目視検査装置3の構成を示す概略図である。図5は、目視検査装置3の構成を示す機能ブロック図である。図4および図5に示すように、目視検査装置3は、制御装置(受信手段)31、表示パネル9に表示される点灯パターンを出力する信号発生器32、表示パネル9を背面より照射する検査用照明33、表示パネル9に表示する欠陥部指示記号を切替える、検査員からの表示切替命令を受け付ける表示切替装置34、および判定結果を検査者が入力するための判定結果入力装置35を備えている。
表示パネル9は、搬送コンベア6上において、保持台車7によって固定されており、搬送コンベア6によって目視検査装置3へ搬入される。
制御装置31は、搬送コンベア6、検査用照明33および信号発生器32を制御するとともに、自動検査装置2から送信された欠陥位置情報を、通信ネットワーク8を介して取得する。図5に示すように、この制御装置31は、点灯パターン形成部(表示制御手段)31aを備えている。
点灯パターン形成部31aは、自動検査装置2からの欠陥位置情報を受信し、当該欠陥位置情報に基づいて、欠陥部指示記号を含む点灯パターンを形成する。このとき、点灯パターン形成部31aは、欠陥位置情報に基づいて、欠陥部指示記号を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように、欠陥部指示記号を含む点灯パターンを形成する。点灯パターン形成部31aは、形成した点灯パターンの情報を信号発生器32に出力する。
換言すれば、点灯パターン形成部31aは、欠陥位置情報に基づいて、欠陥部指示記号を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を維持するように表示パネル9に表示する。
ここで、輝度を変化させないということは、輝度を高めないということと、輝度を低下させないということとを含んでいる。白点灯検査において黒点欠陥部位を示す場合には、輝度の低い欠陥部指示記号を表示する。このような場合には、輝度の低い欠陥部指示記号を表示することによって欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度が低下しないように、点灯パターン形成部31aは、欠陥部指示記号を表示パネル9に表示する。
なお、表示切替装置34から欠陥部指示記号の切替命令を受信した場合には、点灯パターン形成部31aは、その切替命令に従って点灯パターンに含める欠陥部指示記号の表示の有無を切替える。
また、点灯パターン形成部31aは、点灯パターンを表示させる命令と、欠陥部指示記号を表示させる命令とを別々に信号発生器32へ出力してもよい。
以上のように、目視検査装置3では、搬入された表示パネル9に対して、信号発生器32により検査画面(点灯パターン)を表示させるとともに、欠陥位置情報に基づいて欠陥部指示記号を表示させた後に、検査照明を照射する。そして、検査員が、検査画面を目視することにより検査を行い、その検査結果を判定結果入力装置35に入力する。
(表示パネル9の欠陥)
次に、被検査体である表示パネル9の有する欠陥について説明する。
次に、被検査体である表示パネル9の有する欠陥について説明する。
液晶パネルの点灯検査では、微小な点欠陥および線欠陥、シミ・ムラなどを検査対象としている。微小な点欠陥は、液晶パネルが表示信号に応じて駆動した時に、液晶パネルの表示素子を構成するTFT(Thin Film Transister)の異常により、所望の輝度レベルより輝度の高い、または輝度の低い点が表示されることや、i)液晶層の間、ii)偏光板群とTFT基板との間、iii)偏光板群とCF基板(カラーフィルタ基板)との間の微小異物により偏光状態が乱れて、同様に所望の輝度レベルより輝度の高い、または輝度の低い点が表示されることによって生じるものである。
図6に、TFTの異常により所望の輝度レベルより輝度の高いドットが表示されている例を示す。図6の左側の図は表示パネル9の全面を示しており、この中に微小な点欠陥が含まれている。この点欠陥を拡大したものが図6の右側の図であり、輝度の低いドットに混じって1つだけ輝度の高いドット(ドット91a)が表示されている。
カラー液晶パネルの1つの絵素は、図6の右側の図の白枠に示すように3つのドット91から構成されている。1つの絵素は、一般的に、赤(R)ドット、緑(G)ドット、青(B)ドットの3色を有している。仮に、左から順にR、G、Bと並んでいるとすると、図6の右側の図では、赤色の輝度の高い点欠陥が発生していることとなる。なお、以降の説明に関しては、R、G、Bドットの図示は省略する。
線欠陥は、前記TFTを駆動するドライバーの異常または信号線の断線・ショートなどにより、同様に所望の輝度レベルより輝度の高い、または輝度の低い線が表示されるものである。シミ・ムラは、TFT基板またはCF基板の製造工程での薄膜の膜厚異常や、TFT基板とCF基板との間に位置する液晶層のセルギャップの異常などにより発生する。
一般に、液晶パネルの点灯検査は、検査員が目視により上記欠陥の検査を行っているが、近年のパネルサイズの拡大に伴い、微小な点欠陥を広大なパネル表示面より探し出すのに非常に多くの時間を要するようになっている。また、検査員の疲労状況により見逃しが発生するなどの、大型液晶パネルの微小点欠陥の目視検査は困難になってきている。
具体的には、表示画面サイズ65インチの液晶パネルを例に挙げると、目視検査は、表示面積約620,000mm2内で0.0097mm2以下の微小な点欠陥を探すことに相当する。一方で、線欠陥やシミ・ムラ欠陥などは微小点欠陥に比べてサイズが大きいために、探し出すのに多くの時間は必要としない。
したがって、検査員が不得手とする微小な点欠陥の座標情報のみを目視検査装置3へ送信し、欠陥部指示記号により当該点欠陥の位置を示してもよい。
(クロストークの問題)
次に、液晶パネルなどで発生するクロストーク(信号漏れ)について説明を行う。図7の(a)は、液晶パネルの黒背景の中に白い矩形領域を表示しているものである。図7の(a)に示すように、液晶パネルにおいてクロストーク(信号漏れ)が発生しているために白い矩形領域の上下に尾を引いたような表示が現れている。このような現象をシャドーイングという。
次に、液晶パネルなどで発生するクロストーク(信号漏れ)について説明を行う。図7の(a)は、液晶パネルの黒背景の中に白い矩形領域を表示しているものである。図7の(a)に示すように、液晶パネルにおいてクロストーク(信号漏れ)が発生しているために白い矩形領域の上下に尾を引いたような表示が現れている。このような現象をシャドーイングという。
図7の(a)に示す線分L上の輝度を表示したものが図7の(b)のグラフである。図7の(b)に示すように、最低レベルの輝度を有している領域と最高レベルの輝度を有している領域との境界との間に中間的な輝度を有する領域が存在している。これは、黒背景と白矩形領域との境界部で、正しく境界が表示されず、白矩形領域と接する黒背景部の輝度が上昇していることを意味している。
理想的には、図7の(a)の線分L上での画像信号に関して、図7の(c)に示すような、2値的な矩形波が生じるべきである。しかし、実際には信号が周辺に漏れて、図7の(d)に示すような、最低レベルと最高レベルとの中間の電圧値を有する信号が発生する。そのために、黒背景と白矩形領域との境界部において、本来は黒背景であるはずの部分の電圧値が上がり、液晶パネルの輝度が上昇してシャドーイングという現象が現れているのである。
このシャドーイングは、信号線(画像信号線または走査線)が延びる方向(図7(a)では、線分Lが延びる方向)に沿って生じる。シャドーイングは、原理的には隣接画素への信号漏れで発生するため、画像信号線または走査線のいずれに沿った方向へも発生する可能性がある。
図8の(a)は、輝度の高い点欠陥部位の周囲を、欠陥部指示記号である矩形状の白線で囲んだ場合の表示画面を示す図である。この表示画面を拡大したものが、図8の(b)に示す図である。図8の(b)に示す線分L上の液晶パネルの輝度を表示したものが図8の(c)に示すグラフである。
図8の(b)に示す図から、欠陥部位を囲む欠陥部指示記号を表示することにより、当該欠陥部指示記号に由来するクロストークが生じ、欠陥部位の周辺の輝度が上昇していることが確認できる。
検査員が目視検査により表示パネルの良否判定を行う時には、欠陥部と、その欠陥部の周辺の良品部との輝度を比較することにより良否判定を行っている。したがって、図8の(c)に示すように、欠陥部の周辺の輝度が上昇していると、欠陥部と周辺の良品部との輝度の比較による目視判定の際に誤判定をしてしまう恐れがある。そこで、本発明では、以下に説明する対策を講じている。
(目視検査装置3における欠陥部指示記号)
図1(a)は、3つの点欠陥(欠陥部位92〜94)が存在する、黒背景の液晶パネル(左側の図)と、3つの点欠陥部位を含む領域を拡大した図(右側の図)とを示すものである。
図1(a)は、3つの点欠陥(欠陥部位92〜94)が存在する、黒背景の液晶パネル(左側の図)と、3つの点欠陥部位を含む領域を拡大した図(右側の図)とを示すものである。
目視検査装置3によって表示される欠陥部指示記号は、欠陥部位を取り囲む矩形の一部であり、欠陥部位を通る信号線と交差する上記矩形の部分は、表示されないものである。
換言すれば、点灯パターン形成部31aは、欠陥部指示記号を構成する部分のうち、少なくとも、欠陥部位を通る、表示パネル9の信号線上に位置する部分を表示パネル9に表示しない。または、点灯パターン形成部31aは、表示パネル9の信号線上に位置する部分を含まない欠陥部指示記号を表示パネル9に表示する。
具体的には、図1(a)に示すように、欠陥部位92の周囲には、欠陥部指示記号95aおよび95bからなる欠陥部指示記号95が表示されている。これら欠陥部指示記号95aおよび95bは、欠陥部位92を囲む矩形(図8の(b)に示す矩形)が有する部分のうち、欠陥部位92を通る信号線(図1(a)では線分Lによって示されている)と交差する部分およびその周辺部が表示されていないものである。この欠陥部指示記号が表示されない領域(換言すれば、欠陥部位を通る信号線の周辺の領域)を非表示領域と称する。
なお、欠陥部指示記号95aおよび95bの長手方向と平行な信号線(図1(a)に示す例では、画像信号線)とは直交する方向における非表示領域の幅は、最低1絵素相当であり、好ましくは、3〜5絵素相当である。
図1(a)に示す線分L上の液晶パネルの輝度を表示したものが、図1(b)に示すグラフである。図1(b)に示すように、線分L上においてクロストークによるシャドーイングが発生していないことが分かる。
上述したように、シャドーイングは、信号線が延びる方向(図1(a)では、線分Lが延びる方向)に沿って生じるため、欠陥部指示記号95の、欠陥部位を通る信号線と交差する部分を表示しないことにより、欠陥部指示記号95を表示することによって生じるシャドーイングの影響を排除することができる。
すなわち、図8の(b)に示す例と比較して、欠陥部位92の周辺部の輝度が上昇していないため、欠陥部位と周辺の良品部位との輝度比較による欠陥部位92の目視判定をより正確に行うことができる。
また、図1(a)に示すように、欠陥部位93と欠陥部位94とに関して、欠陥部位を通る信号線を含む領域(非表示領域)が重複しているため、重複している領域すべてにおいて欠陥部指示記号96・97の該当部分を表示しないようにしている。
なお、欠陥部指示記号は、矩形の一部である必要は必ずしもなく、多角形または円形の一部であってもよいし、線形状、矢印形状またはL字形状からなるものであってもよい。すなわち、欠陥部指示記号は、欠陥部位の位置を示すもの、または、欠陥部位が存在する範囲を限定的に示すものであり、かつ、欠陥部位を通る信号線と交差する部分を有していないものである。
また、欠陥部指示記号は、線対称または点対称である図形の対を含んでいることが好ましい。例えば、欠陥部指示記号は、点対称に配置された1対のL字形状であってもよい。
欠陥部位を中心として線対称または点対称である欠陥部指示記号の対を表示させれば、より確実に欠陥部位を検査員に認識させることができる。
また、図9に示すように、欠陥部指示記号は、文字または数字を含んでいてもよい。図9は、欠陥部指示記号の別の例を示す図である。同図では、欠陥部位40に対応する欠陥部指示記号として、欠陥部位40から所定の距離だけ離れた位置において、当該欠陥部位40を囲むように配置された4つの欠陥部指示記号41〜44が示されている。
欠陥部指示記号41は、「L」という文字であり、この文字は、欠陥部位40がリーク検査において発見されたものであることを示している。また、欠陥部位40が全面消灯検査で発見されたものであることを示す「B」という文字を表示してもよいし、欠陥部位40が全面点灯検査で発見されたものであることを示す「W」という文字を表示してもよい。
欠陥部指示記号42は、三角印であり、この記号は、欠陥部位40の良品部位に対するコントラストが中間レベルであることを示している。なお、当該コントラストが高レベルである場合には、○印を、低レベルである場合には、×印を表示すればよい。
欠陥部指示記号43は、「G」であり、この文字は、G(緑)絵素欠陥であることを示している。すなわち、欠陥部指示記号は、欠陥部位の色または欠陥部位の集合に含まれる各欠陥部位の色を示すもの(例えば、R、G、B、RG、RB、GA、A(すべて))であってもよい。
欠陥部指示記号44は、追加情報がある場合の予備のスペースである。
このように、欠陥部指示記号が文字または数字を含むことにより、より多くの情報を的確に検査員に伝えることができる。
欠陥部位40の周囲に、どのような欠陥部指示記号を表示させるかを示す表示命令を、目視検査装置3は、通信ネットワーク8を介して、外部の装置(例えば、自動検査装置2)から取得してもよいし、表示切替装置34を介して検査員から取得してもよい。
換言すれば、点灯パターン形成部31aは、複数種類の欠陥部指示記号を表示パネルに表示するものであり、表示する欠陥部指示記号の種類を外部から入力される命令に従って変更する。
より好ましくは、欠陥部指示記号は、信号線(画像信号線または走査線)の延びる方向において、欠陥部位とは所定の距離以上離れているものである。
上記所定の距離とは、欠陥部位の周囲に、当該欠陥部位と比較される良品部位(正常な絵素)を、目視検査に適当な数だけ存在させることができる距離である。上記所定の距離として適当な距離は、欠陥部指示記号の輝度、表示パネルの背景の輝度、および目視検査が行われる部屋の照度等によって変化する。それゆえ、検査環境に応じて、上記所定の距離が設定されればよい。
なお、欠陥部指示記号の輝度は、当該欠陥部指示記号を検査員が視認できるものであればよく、特に限定されない。
また、欠陥部指示記号は、黒点灯における検査のみならず、中間階調の点灯検査にも適用できる。背景を白にして行う白点灯検査においても、欠陥部指示記号を表示することは、欠陥部位の視認性を高めるために有効である。なお、白点灯検査の場合には、黒の欠陥部指示記号を表示するが、この場合にも、上述したようにシャドーイングが発生する可能性がある。
このように、目視検査装置3において、クロストークの影響が出ないような欠陥部指示記号を表示パネル9に表示することにより、検査員が表示パネル内の微小な点欠陥を探索する時間を格段に短縮できるとともに、正確な目視判定の実施が可能となる。
(点灯検査システム1における処理の流れ)
次に、点灯検査システム1における処理の流れについて図10を参照しつつ説明する。図10は、点灯検査システム1における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
次に、点灯検査システム1における処理の流れについて図10を参照しつつ説明する。図10は、点灯検査システム1における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
搬送コンベア6によって自動検査装置2に表示パネル9が搬入されると(S1)、自動検査装置2は、搬入された表示パネル9に対して、信号発生器23により点灯パターンを表示させ、検査用照明24によって検査照明を照射しながら、当該検査画面をカメラ21で撮像し、その画像データを画像処理装置25により処理することによって、表示パネル9が有する欠陥を検出する(S2)。
検査が終了すると、画像処理装置25は、欠陥位置情報を制御装置26へ送信し、制御装置26は、当該欠陥位置情報を、通信ネットワーク8を介して目視検査装置3の制御装置31へ送信する(S3)(送信工程)。
そして、自動検査装置2は、表示パネル9を搬出し(S5)、次の検査対象が搬入されるのを待つ。
上記欠陥位置情報を受け取ると(受信工程)、制御装置31の点灯パターン形成部31aは、欠陥位置情報に基づいて欠陥部指示記号を含む点灯パターンを形成する(S4)。
表示パネル9が目視検査装置3に搬入されると(S6)、点灯パターン形成部31aは、形成した点灯パターンの情報を信号発生器32に出力する。信号発生器32は、受信した点灯パターンの情報に基づいて表示パネル9に欠陥部指示記号を含む点灯パターンを表示する(S7)(表示制御工程)。また、検査用照明33は、検査用の照明を照射する。
検査員が目視検査の結果を判定結果入力装置35に入力すると(S8)、目視検査装置3は、表示パネル9を搬出する(S9)。
(点灯パターン形成部31aにおける処理の流れ)
図1(a)に示すように、欠陥部位93と欠陥部位94とに関して、非表示領域が重複しているため、重複している領域すべてにおいて欠陥部指示記号96・97の該当部分を表示しないようにする場合の、点灯パターン形成部31aにおける処理の流れの一例について説明する。図11は、点灯パターン形成部31aにおける処理の流れの一例を示すフローチャートである。
図1(a)に示すように、欠陥部位93と欠陥部位94とに関して、非表示領域が重複しているため、重複している領域すべてにおいて欠陥部指示記号96・97の該当部分を表示しないようにする場合の、点灯パターン形成部31aにおける処理の流れの一例について説明する。図11は、点灯パターン形成部31aにおける処理の流れの一例を示すフローチャートである。
欠陥位置情報(欠陥部位93および94の座標)を自動検査装置2から受け取ると(S11)、目視検査装置3が備える制御装置31の点灯パターン形成部31aは、当該欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位93(第1欠陥部位)に対応する欠陥部指示記号96の表示領域および非表示領域を特定する(S12)。
また、点灯パターン形成部31aは、欠陥部位94(第2欠陥部位)に対応する欠陥部指示記号97の表示領域および非表示領域を特定する(S13)。
なお、欠陥部指示記号の表示領域および非表示領域は、欠陥部位の座標から一意的に特定できる。すなわち、点灯パターン形成部31aは、所定の関数を用いて、欠陥部位の座標から欠陥部指示記号の表示領域および非表示領域を示す座標を算出する。
次に、点灯パターン形成部31aは、欠陥部位93に対応する非表示領域と欠陥部位94に対応する非表示領域とを合わせた統合非表示領域を特定する(S14)。
そして、点灯パターン形成部31aは、欠陥部指示記号96および欠陥部指示記号97の表示領域から統合非表示領域をそれぞれ差し引いた領域を、最終的な欠陥部指示記号96および欠陥部指示記号97の表示領域として信号発生器32へ出力する(S15)。
以上のように、点灯パターン形成部31aは、ひとつの表示パネル9に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の欠陥部指示記号を構成する部分のうち、第1欠陥部位を通る信号線上に位置する、第2欠陥部位に対応する欠陥部指示記号を構成する部分を表示しない。
それゆえ、ある欠陥部に対応する欠陥部指示記号を表示することによって、別の欠陥部位の視認性が低下する可能を低減できる。
なお、欠陥部位が3つ以上存在する場合には、S14において、3つ以上の欠陥部位の非表示領域をすべて統合すればよい。
〔実施の形態2〕
本発明の他の実施形態について図12〜図15に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態1と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。図12は、本実施の形態に係る目視検査装置(点灯検査装置)30の構成を示す概略図である。同図に示すように目視検査装置30は、点灯パターン形成部(表示制御手段)12を有する制御装置11を備えている。
本発明の他の実施形態について図12〜図15に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態1と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。図12は、本実施の形態に係る目視検査装置(点灯検査装置)30の構成を示す概略図である。同図に示すように目視検査装置30は、点灯パターン形成部(表示制御手段)12を有する制御装置11を備えている。
図13は、点灯パターン形成部12の構成を示す概略図である。同図に示すように、点灯パターン形成部12は、欠陥位置情報取得部(受信手段)13、領域特定部14、非表示領域統合部15、表示領域再設定部16を備えている。
欠陥位置情報取得部13は、自動検査装置2から複数の欠陥部位の座標を示す複数の欠陥位置情報を一群のデータとして取得する。
領域特定部14は、欠陥位置情報取得部13が取得した欠陥位置情報が示す欠陥部位に対応した欠陥部指示記号を表示する表示領域、および当該欠陥部位を通る信号線の周辺の領域であり、欠陥部指示記号が表示されない領域である非表示領域を、欠陥部位ごとに特定する。なお、領域特定部14は、所定の関数を用いて、欠陥部位の座標から欠陥部指示記号の表示領域および非表示領域を示す座標を算出する。
非表示領域統合部15は、領域特定部14が特定した各欠陥部位の非表示領域をひとつにまとめ、統合非表示領域を特定する。換言すれば、非表示領域統合部15は、各欠陥部位の非表示領域を示すデータをひとつに統合する。
表示領域再設定部16は、非表示領域統合部15が特定した統合非表示領域に各欠陥部指示記号が重ならないように、各欠陥部指示記号の位置を変更する。
(表示領域再設定部16における、欠陥部指示記号の表示位置の変更方法)
図14は、表示領域再設定部16における、欠陥部指示記号の表示位置の変更方法の一例を説明するための図である。図14の(a)は、欠陥部指示記号の表示位置を変更する前の欠陥部指示記号の位置を示す図であり、図14の(b)は、欠陥部指示記号の表示位置を変更した状態の一例を示す図であり、図14の(c)は、欠陥部指示記号の表示位置を変更した状態の別の例を示す図である。
図14は、表示領域再設定部16における、欠陥部指示記号の表示位置の変更方法の一例を説明するための図である。図14の(a)は、欠陥部指示記号の表示位置を変更する前の欠陥部指示記号の位置を示す図であり、図14の(b)は、欠陥部指示記号の表示位置を変更した状態の一例を示す図であり、図14の(c)は、欠陥部指示記号の表示位置を変更した状態の別の例を示す図である。
ここでは、ひとつの表示パネルに欠陥部位が2つある場合を例に挙げて、欠陥部指示記号の表示位置の変更方法を説明する。図14の(a)〜(c)には、2つの欠陥部位51および52にそれぞれ対応する欠陥部指示記号53および54が示されている。欠陥部指示記号53は、欠陥部位51を重心とする正方形の四隅に当たる位置に配置された4つの欠陥部指示記号53a〜53dから構成されている。同様に、欠陥部指示記号54は、欠陥部位52を重心とする正方形の四隅に当たる位置に配置された4つのL字形状の欠陥部指示記号54a〜54dから構成されている。
欠陥部位51に対応する非表示領域は、非表示領域55として示されており、欠陥部位52に対応する非表示領域は、非表示領域56として示されている。
図14の(a)に示すように、非表示領域55と欠陥部指示記号54aおよび54dとが重なっており、非表示領域56と欠陥部指示記号53bおよび53cとが重なっている。
表示領域再設定部16は、これらの重なりを解消するために、欠陥部指示記号53bおよび53cを欠陥部位51に近づける方向に平行移動させるとともに、欠陥部指示記号54aおよび54dを欠陥部位52に近づける方向に移動させる。すなわち、表示領域再設定部16は、図14の(a)において、欠陥部指示記号53bおよび53cのX座標を所定量だけ減少させるとともに、欠陥部指示記号54aおよび54dのX座標を所定量だけ増加させる。
このような変更を行った結果が図14の(b)に示されている。同図では、欠陥部位に対して4つの欠陥部指示記号の位置が左右対称になっていないため、見にくいものになっている。そのため、表示領域再設定部16は、さらに欠陥部指示記号53aおよび53dのX座標を上記所定量だけ増加させるとともに、欠陥部指示記号54bおよび54cのX座標を上記所定量だけ減少させてもよい。このような変更を行った結果が図14の(c)に示されている。
(点灯パターン形成部12における処理の流れ)
点灯パターン形成部12における処理の流れの一例について図15を参照しつつ説明する。図15は、点灯パターン形成部12における処理の流れの一例を示すフローチャートである。ここでは、図14の(a)に示す状態から図14の(c)に示す状態へ変更する場合の処理の一例について説明する。
点灯パターン形成部12における処理の流れの一例について図15を参照しつつ説明する。図15は、点灯パターン形成部12における処理の流れの一例を示すフローチャートである。ここでは、図14の(a)に示す状態から図14の(c)に示す状態へ変更する場合の処理の一例について説明する。
欠陥位置情報取得部13は、欠陥位置情報(欠陥部位51および52の座標)を自動検査装置2から受け取ると、当該欠陥位置情報を一群のデータとして領域特定部14へ出力する(S21)。
領域特定部14は、欠陥位置情報取得部13から出力された欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位51(第1欠陥部位)に対応する欠陥部指示記号53a〜53dの表示領域および非表示領域を特定する(S22)。
また、領域特定部14は、欠陥部位52(第2欠陥部位)に対応する欠陥部指示記号54a〜54dの表示領域および非表示領域を特定する(S23)。
領域特定部14は、特定した表示領域を示す情報を表示領域再設定部16へ出力し、特定した非表示領域を示す情報を非表示領域統合部15へ出力する。
次に、非表示領域統合部15は、欠陥部位51に対応する非表示領域と欠陥部位52に対応する非表示領域とを合わせた統合非表示領域を特定する(S24)。非表示領域統合部15は、特定した統合非表示領域を示す情報を表示領域再設定部16へ出力する。
領域特定部14から表示領域を示す情報を取得し、非表示領域統合部15から統合非表示領域を示す情報を取得すると、表示領域再設定部16は、欠陥部指示記号53a〜53dおよび欠陥部指示記号54a〜54dの表示領域と統合非表示領域との重複領域があるかどうかを判定する(S25)。
上記重複領域が存在する場合(S25にてYES)、表示領域再設定部16は、重複領域を解消するための欠陥部指示記号の移動量を算出し、当該移動量に基づいて欠陥部指示記号53a〜53dおよび欠陥部指示記号54a〜54dの移動後の座標を算出する(S26)。
そして、表示領域再設定部16は、算出した移動後の座標を信号発生器32へ出力する(S27)。
一方、上記重複領域が存在しない場合(S25にてNO)には、表示領域再設定部16は、領域特定部14から出力された表示領域を示す情報(すなわち、各欠陥部指示記号の座標)を信号発生器32へ出力する(S27)。
以上のように、点灯パターン形成部12は、欠陥位置情報取得部13が、ひとつの表示パネル9に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、当該複数の欠陥位置情報によって示される欠陥部位のうちのある欠陥部位を通る、表示パネル9の信号線上に、他の欠陥部位に対応する欠陥部指示記号が位置しないように、当該他の欠陥部位に対応する欠陥部指示記号の表示位置を変更する。
それゆえ、ある欠陥部指示記号を表示することにより、他の欠陥部位の視認性が低下する可能性を低減できる。
〔実施の形態3〕
本発明の他の実施形態について図16〜図20に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態1〜2と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。
本発明の他の実施形態について図16〜図20に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態1〜2と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。
(生産システム100の構成)
図16は、本実施形態の生産システム100の構成を示す概略図である。同図に示すように、生産システム100は、点灯検査システム101を備えている。この点灯検査システム101は、自動検査装置2の下流ラインに位置する第1目視検査装置(点灯検査装置)102および第2目視検査装置(点灯検査装置)103を備えている。第1目視検査装置102および第2目視検査装置103は、自動検査装置2によって検査された表示パネル9に目視検査用の点灯パターンを表示する。
図16は、本実施形態の生産システム100の構成を示す概略図である。同図に示すように、生産システム100は、点灯検査システム101を備えている。この点灯検査システム101は、自動検査装置2の下流ラインに位置する第1目視検査装置(点灯検査装置)102および第2目視検査装置(点灯検査装置)103を備えている。第1目視検査装置102および第2目視検査装置103は、自動検査装置2によって検査された表示パネル9に目視検査用の点灯パターンを表示する。
第1目視検査装置102は、通常の目視力を有する第1検査員によって操作されるものであり、第2目視検査装置103は、欠陥の種類、欠陥のレベル、欠陥の判定等に関する知見および判断能力を有する第2検査員(熟練検査員)によって操作されるものである。
第1目視検査装置102は、自動検査装置2から、当該自動検査装置2が検出した欠陥に関する欠陥位置情報(第1欠陥位置情報)を受け取ると、当該第1欠陥位置情報に基づいて、欠陥部指示記号を表示パネル9に表示する。さらに、第1目視検査装置102は、第1検査員から、その第1検査員が視認した欠陥部位の大まかな位置を示す第2欠陥位置情報を受け付け、当該第2欠陥位置情報を第2目視検査装置103へ送信する。
第2目視検査装置103は、第1目視検査装置102から受信した第2欠陥位置情報に基づいて欠陥部指示記号を表示パネル9に表示する。そして、第2目視検査装置103は、第2検査員から、欠陥の種類、欠陥のレベル等の情報を含む欠陥情報、欠陥の判定結果および、欠陥部位の正確な位置を示す情報(第3欠陥位置情報)を受け付ける。
(第1目視検査装置102の構成)
図17は、第1目視検査装置102の構成を示す機能ブロック図である。同図に示すように、第1目視検査装置102は、目視検査装置3とは異なり、記憶部36、欠陥情報管理部(受信手段、送信手段)37および位置情報入力装置38aを備えている。これらのうち、記憶部36および欠陥情報管理部37は、制御装置31に備えられている。
図17は、第1目視検査装置102の構成を示す機能ブロック図である。同図に示すように、第1目視検査装置102は、目視検査装置3とは異なり、記憶部36、欠陥情報管理部(受信手段、送信手段)37および位置情報入力装置38aを備えている。これらのうち、記憶部36および欠陥情報管理部37は、制御装置31に備えられている。
位置情報入力装置38aは、第1検査員が第2欠陥位置情報を入力するための入力装置であり、例えば、マウスまたはレーザーポインタである。
欠陥情報管理部37は、自動検査装置2から送信される第1欠陥位置情報、判定結果入力装置35から入力される欠陥情報および判定結果、および位置情報入力装置38aから入力される第2欠陥位置情報を取得し、それらの情報を記憶部36に格納する。また、欠陥情報管理部37は、第2欠陥位置情報を第2目視検査装置103へ送信する。
なお、本実施形態では、点灯パターン形成部12は、自動検査装置2から送信された第1欠陥位置情報を記憶部36から取得する。
(第2目視検査装置103の構成)
図18は、第2目視検査装置103の構成を示す機能ブロック図である。同図に示すように、第2目視検査装置103は、記憶部36、欠陥情報管理部(受信手段)39、位置情報入力装置38bを備えている。
図18は、第2目視検査装置103の構成を示す機能ブロック図である。同図に示すように、第2目視検査装置103は、記憶部36、欠陥情報管理部(受信手段)39、位置情報入力装置38bを備えている。
位置情報入力装置38bは、第2検査員が第3欠陥位置情報を入力するための入力装置であり、例えば、マウスである。
欠陥情報管理部39は、第1目視検査装置102から送信される第2欠陥位置情報、判定結果入力装置35から入力される欠陥情報および判定結果、および位置情報入力装置38bから入力される第3欠陥位置情報を取得し、それらの情報を記憶部36に格納する。
なお、本実施形態では、点灯パターン形成部12は、第1目視検査装置102から送信された第2欠陥位置情報を記憶部36から取得し、その第2欠陥位置情報に基づいて、表示パネル9に欠陥部指示記号を表示する。すなわち、第2目視検査装置103の点灯パターン形成部12は、欠陥部指示記号を表示パネル9に表示することにより、第1検査員が視認した欠陥部位の位置または存在範囲を、第2検査員が目視する表示パネル9上において示す。
(点灯検査システム101における処理の流れ)
次に、点灯検査システム101における処理の流れの一例について、図19を参照しつつ説明する。図19は、第1目視検査装置102および第2目視検査装置103における処理の流れの一例を示すフローチャートである。なお、点灯検査システム101の、第1目視検査装置102および第2目視検査装置103における処理以外の処理の流れは、図10に示したものと同様である。
次に、点灯検査システム101における処理の流れの一例について、図19を参照しつつ説明する。図19は、第1目視検査装置102および第2目視検査装置103における処理の流れの一例を示すフローチャートである。なお、点灯検査システム101の、第1目視検査装置102および第2目視検査装置103における処理以外の処理の流れは、図10に示したものと同様である。
まず、第1目視検査装置102の欠陥情報管理部37は、自動検査装置2から送信された第1欠陥位置情報を受信し、当該第1欠陥位置情報を記憶部36に格納する。(S31)。
第1欠陥位置情報の格納が完了すると、点灯パターン形成部12は、記憶部36に格納された第1欠陥位置情報を取得し、その第1欠陥位置情報が示す位置に存在する欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように、欠陥部指示記号(例えば、4つの白色のL字型の図形)を含む点灯パターンを形成する。そして、点灯パターン形成部12は、形成した点灯パターンを、信号発生器32を介して表示パネル9に表示する(S32)。
その後、第1検査員は、欠陥部指示記号によってその位置または存在範囲が示された欠陥部位を目視検査し、欠陥部位の大まかな位置(すなわち、第2欠陥位置情報)を位置情報入力装置38aを用いて入力する(S33)。換言すれば、欠陥情報管理部37は、位置情報入力装置38aを介して、第2欠陥位置情報を取得する。
この第2欠陥位置情報は、例えば、位置情報入力装置38aがマウスである場合には、比較的大きなカーソルをマウスによって欠陥部位の近傍に移動させることによって入力される。
また、位置情報入力装置38aがレーザーポインタである場合には、第1検査員がレーザーポインタによって欠陥部位を指し示し、制御装置31は、レーザーポインタが指し示す位置を光学的または電磁学的に検出してもよい。例えば、レーザーポインタに姿勢センサおよび位置センサを設け、これらのセンサの検出結果から、レーザーポインタの3次元座標を特定することにより、レーザーポインタが指し示す位置を特定してもよい。
第2欠陥位置情報を取得すると、欠陥情報管理部37は、当該第2欠陥位置情報を第2目視検査装置103へ送信する(S34)。
第2目視検査装置103の欠陥情報管理部39は、第2欠陥位置情報を受信すると、当該第2欠陥位置情報を記憶部36に格納する。(S35)。
第2欠陥位置情報の格納が完了すると、点灯パターン形成部12は、記憶部36に格納された第2欠陥位置情報を取得し、その第2欠陥位置情報が示す位置に存在する欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように、欠陥部指示記号を含む点灯パターンを形成する。そして、点灯パターン形成部12は、形成した点灯パターンを、信号発生器32を介して表示パネル9に表示する(S36)。
その後、第2検査員は、欠陥部指示記号によってその位置または存在範囲が示された欠陥部位を目視検査し、欠陥の種類、欠陥のレベル等の情報を含む欠陥情報、および欠陥部指示記号によって示された部位が欠陥であるかどうかを示す判定結果を、判定結果入力装置35を介して入力する。換言すれば、欠陥情報管理部39は、判定結果入力装置35を介して欠陥情報および判定結果を取得する。
さらに、第2検査員は、欠陥部位の正確な位置(第3欠陥位置情報)を、位置情報入力装置38bを用いて入力する。換言すれば、欠陥情報管理部39は、位置情報入力装置38bを介して、第3欠陥位置情報を取得する(S37)。
図20は、第3欠陥位置情報を入力するためのカーソルの一例を示す図である。第3欠陥位置情報は、例えば、図20に示すように、四隅に配置されたL字型の図形によって囲まれた十字(図20の(a))または×印(図20の(b))のカーソルを、マウス(位置情報入力装置38b)によって、欠陥部位まで移動させることによって入力される。
上記カーソルは、図20の(a)に示すように、点滅してもよい。また、図20の(c)に示すように、×印の交差部分が欠落していてもよい。
第3欠陥位置情報を取得すると、欠陥情報管理部39は、当該第3欠陥位置情報を記憶部36に格納する(S38)。
なお、欠陥情報管理部39は、第3欠陥位置情報を外部のデータベース(不図示)に送信してもよい。また、第3欠陥位置情報は、精度の高い位置情報が、その後の処理で必要とされなければ、必ずしも入力される必要はない。
(点灯検査システム101の効果)
以上のように、点灯検査システム101では、自動検査装置2において検出された欠陥を2台の目視検査装置によって検査する。それゆえ、自動検査装置2において検出されなかった欠陥をより確実に発見することができる。また、第1目視検査装置102において大まかな目視検査を行い、第2目視検査装置103によって精密な目視検査を行うことができるため、目視検査をより効率的に行うことができる。
以上のように、点灯検査システム101では、自動検査装置2において検出された欠陥を2台の目視検査装置によって検査する。それゆえ、自動検査装置2において検出されなかった欠陥をより確実に発見することができる。また、第1目視検査装置102において大まかな目視検査を行い、第2目視検査装置103によって精密な目視検査を行うことができるため、目視検査をより効率的に行うことができる。
また、第2目視検査装置103を扱う第2検査員として、目視検査に関する能力の高い検査員を配置することにより、自動検査装置2の検査結果が妥当であるかどうかを最終的に判定することができる。
(変更例)
第1目視検査装置102から第2欠陥位置情報を第2目視検査装置103へ送信する前に、第1検査員によって初めて発見された欠陥部位(欠陥の候補)に関する情報を自動検査装置へ送信し、その自動検査装置が、当該欠陥部位のコントラストおよびサイズを計測してもよい。この自動検査装置は、上述の自動検査装置2と同じものであってもよいし、異なるものであってもよい。
第1目視検査装置102から第2欠陥位置情報を第2目視検査装置103へ送信する前に、第1検査員によって初めて発見された欠陥部位(欠陥の候補)に関する情報を自動検査装置へ送信し、その自動検査装置が、当該欠陥部位のコントラストおよびサイズを計測してもよい。この自動検査装置は、上述の自動検査装置2と同じものであってもよいし、異なるものであってもよい。
また、第1目視検査装置102を用いた目視検査において、第1検査員は、自身が認識した欠陥の属性(種類、レベル、サイズ、コントラストなど)に応じて、欠陥部指示記号を変更してもよい。換言すれば、欠陥情報管理部37は、欠陥部指示記号を変更するための指示(変更指示)を、入力装置(例えば、判定結果入力装置35)を介して検査員から受け付け、当該変更指示を、第2欠陥位置情報とともに第2目視検査装置103へ送信し、第2目視検査装置103の欠陥情報管理部39が第2欠陥位置情報および変更指示を受信すると、点灯パターン形成部12は、当該第2欠陥位置情報および変更指示に基づいて、変更された欠陥部指示記号を表示パネル9に表示してもよい。
すなわち、第2目視検査装置103の点灯パターン形成部12は、複数種類の欠陥部指示記号を表示パネル9の画面に表示するものであり、表示する欠陥部指示記号の種類を外部から入力される命令に従って変更する。
さらに、第2検査員は、変更された欠陥部指示記号によって示される欠陥を目視検査し、その欠陥の属性(欠陥の判定結果、リークしているかどうか、輝点欠陥であるかどうか、サイズなど)に応じて、欠陥部指示記号の属性(形、配置、大きさ、色、消去など)の一部を変更する指示を第2目視検査装置103に入力してもよい。
すなわち、第2目視検査装置103の欠陥情報管理部39は、欠陥部指示記号の属性の少なくとも一部を変更する指示を第2検査員から受付け、点灯パターン形成部12は、当該指示に従って欠陥部指示記号の属性の少なくとも一部を変更してもよい。
〔実施の形態4〕
本発明の他の実施形態について図21に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態1〜3と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。
本発明の他の実施形態について図21に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態1〜3と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。
(生産システム110の構成)
図21は、本実施形態の生産システム110の構成を示す概略図である。同図に示すように、生産システム110は、点灯検査システム111を備えている。この点灯検査システム111は、前工程用装置4の下流ラインに位置するマクロ自動検査装置112、ミクロ自動検査装置113、目視検査装置30を備えている。すなわち、点灯検査システム111は、マクロ自動検査装置112およびミクロ自動検査装置113という2台の自動検査装置によって表示パネル9の自動検査を行う。
図21は、本実施形態の生産システム110の構成を示す概略図である。同図に示すように、生産システム110は、点灯検査システム111を備えている。この点灯検査システム111は、前工程用装置4の下流ラインに位置するマクロ自動検査装置112、ミクロ自動検査装置113、目視検査装置30を備えている。すなわち、点灯検査システム111は、マクロ自動検査装置112およびミクロ自動検査装置113という2台の自動検査装置によって表示パネル9の自動検査を行う。
目視検査装置30は、マクロ自動検査装置112およびミクロ自動検査装置113によって検査された表示パネル9に目視検査用の点灯パターンを表示する。
マクロ自動検査装置112とミクロ自動検査装置113とは、検査範囲(画像処理範囲)、表示パネル9を撮像する撮像手段の解像度、画像処理の内容などが異なっている。マクロ自動検査装置112は、比較的広い範囲を比較的低い解像度で撮像し、大まかな検査を行い、ミクロ自動検査装置113は、マクロ自動検査装置112が検出した欠陥が存在する領域を含む比較的狭い範囲を、比較的高い解像度で撮像し、より詳細な検査を行う。
すなわち、マクロ自動検査装置112は、検出した欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報(第1欠陥位置情報)をミクロ自動検査装置113へ送信し、ミクロ自動検査装置113は、受信した第1欠陥位置情報に基づいて欠陥検査を行う。マクロ自動検査装置112における第1欠陥位置情報の送信は、送信手段としての制御装置26が行う。
ミクロ自動検査装置113は、検出した個々の欠陥の属性(判定レベル、種別、サイズ、コントラストなど)を示す属性情報を、自身が検出した欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報(第2欠陥位置情報)とともに、目視検査装置30へ送信する。すなわち、ミクロ自動検査装置113は、属性情報および第2欠陥位置情報を目視検査装置3へ送信するための、送信手段としての制御装置26を備えている。
マクロ自動検査装置112およびミクロ自動検査装置113の主要な構成は、自動検査装置2の構成と同様である。
目視検査装置30は、ミクロ自動検査装置113から受信した属性情報および第2欠陥位置情報に基づいて欠陥部指示記号を形成し、表示パネル9に表示させる。より詳細には、目視検査装置30の点灯パターン形成部12は、ミクロ自動検査装置113から入力された属性情報に応じて欠陥部指示記号の種類(形、位置、サイズまたは色など)を変更し、変更した欠陥部指示記号を、第2欠陥位置情報に基づいて配置する。
なお、欠陥部位が複数存在する場合には、ミクロ自動検査装置113は、複数の欠陥部位のうち、特に検査員に注目させるべき欠陥部位(注目欠陥部位)を特定する情報(特定情報)を上記属性情報に含めてもよい。そして、目視検査装置30の点灯パターン形成部12は、上記特定情報が示す注目欠陥部位に対応する欠陥部指示記号を点滅させる、当該欠陥部指示記号の輝度を高める、または、当該欠陥部指示記号の色を他の欠陥部指示記号とは異ならせる、または、当該欠陥部指示記号を他の欠陥部指示記号よりも先に表示する(他の欠陥部指示記号を後から表示する)などの方法により、他の欠陥部指示記号よりも強調的に表示してもよい。
上記注目欠陥部位とは、例えば、ミクロ自動検査装置113において判断しにくい欠陥部位(判定基準付近のレベルの欠陥)である。ミクロ自動検査装置113は、どの欠陥部位を注目欠陥部位とするのかという判断を所定のプログラムに基づいて行ってもよいし、外部(他の装置)から入力される命令に従って行ってもよい。
(点灯検査システム111の効果)
以上のように、点灯検査システム111では、2台の自動検査装置によって表示パネル9の自動検査を行い、目視検査装置3は、自動検査の検査結果に基づいて、欠陥部指示記号を表示パネル9に表示させる。それゆえ、表示パネル9の自動検査を効率的に行うことができる。
以上のように、点灯検査システム111では、2台の自動検査装置によって表示パネル9の自動検査を行い、目視検査装置3は、自動検査の検査結果に基づいて、欠陥部指示記号を表示パネル9に表示させる。それゆえ、表示パネル9の自動検査を効率的に行うことができる。
(変更例)
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
上述の説明では、目視検査装置3を点灯検査システム1に含まれるものとしたが、欠陥位置情報をデータベース(不図示)等から取得する独立した装置として目視検査装置3を実現してもよい。
また、ひとつの表示パネル9に複数の欠陥部位が存在する場合に、点灯パターン形成部31aまたは点灯パターン形成部12は、各欠陥部位に対応する欠陥部指示記号の種類を欠陥部位に応じて互いに異ならせてもよい。すなわち、点灯パターン形成部31aまたは点灯パターン形成部12は、ひとつの表示パネル9に異なる種類の欠陥部指示記号を表示してもよい。
また、上述した目視検査装置3・30・102・103の各ブロック、特に点灯パターン形成部12・31aは、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにCPUを用いてソフトウェアによって実現してもよい。
すなわち、目視検査装置3・30・102・103は、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するCPU(central processing unit)、上記プログラムを格納したROM(read only memory)、上記プログラムを展開するRAM(random access memory)、上記プログラムおよび各種データを格納するメモリ等の記憶装置(記録媒体)などを備えている。そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである目視検査装置3・30・102・103の制御プログラム(点灯検査プログラム)のプログラムコード(実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム)をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、上記目視検査装置3・30・102・103に供給し、そのコンピュータ(またはCPUやMPU)が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。
上記記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー(登録商標)ディスク/ハードディスク等の磁気ディスクやCD−ROM/MO/MD/DVD/CD−R等の光ディスクを含むディスク系、ICカード(メモリカードを含む)/光カード等のカード系、あるいはマスクROM/EPROM/EEPROM/フラッシュROM等の半導体メモリ系などを用いることができる。
また、目視検査装置3・30・102・103を通信ネットワークと接続可能に構成し、上記プログラムコードを通信ネットワークを介して供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、LAN、ISDN、VAN、CATV通信網、仮想専用網(virtual private network)、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、IEEE1394、USB、電力線搬送、ケーブルTV回線、電話線、ADSL回線等の有線でも、IrDAやリモコンのような赤外線、Bluetooth(登録商標)、802.11無線、HDR、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。なお、本発明は、上記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。
なお、本発明は、以下のようにも表現できる。
すなわち、本発明の点灯検査システムは、自動検査装置と目視検査装置から構成される表示機器の点灯検査システムにおいて、自動検査装置により検出された欠陥情報を目視検査装置に送信する手段と、目視検査装置での検査時に前記欠陥情報に基づいて被検査表示機器の欠陥部位の視認性を向上させる記号を被検査機器に表示させる手段とを備え、前記記号は被検査表示機器に含まれる欠陥部位および欠陥部位周辺の表示状態に影響を与えない形状である。
本発明の点灯検査方法は、自動検査装置と目視検査装置から構成される表示機器の点灯検査システムにおいて、自動検査装置により検出された欠陥情報を目視検査装置に送信する工程と、目視検査装置での検査時に前記欠陥情報に基づいて被検査表示機器の欠陥部位の視認性を向上させる記号を被検査機器に表示させる工程とを含み、前記記号は被検査表示機器に含まれる欠陥部位および欠陥部位周辺の表示状態に影響を与えない形状である。
欠陥部位の位置を示す図形を、当該欠陥部位の視認性を低下させることなく表示することができるため、液晶ディスプレイ等の点灯検査装置に好適に適用できる。
1 点灯検査システム
2 自動検査装置
3 目視検査装置(点灯検査装置)
9 表示パネル
12 点灯パターン形成部(表示制御手段)
13 欠陥位置情報取得部(受信手段)
21 カメラ(撮像手段)
26 制御装置(送信手段)
30 目視検査装置(点灯検査装置)
31 制御装置(受信手段)
31a 点灯パターン形成部(表示制御手段)
37 欠陥情報管理部(受信手段)
39 欠陥情報管理部(受信手段)
92 欠陥部位
93 欠陥部位
94 欠陥部位
95 欠陥部指示記号(図形)
96 欠陥部指示記号(図形)
97 欠陥部指示記号(図形)
101 点灯検査システム
102 第1目視検査装置(点灯検査装置)
103 第2目視検査装置(点灯検査装置)
111 点灯検査システム
112 マクロ自動検査装置
113 ミクロ自動検査装置
2 自動検査装置
3 目視検査装置(点灯検査装置)
9 表示パネル
12 点灯パターン形成部(表示制御手段)
13 欠陥位置情報取得部(受信手段)
21 カメラ(撮像手段)
26 制御装置(送信手段)
30 目視検査装置(点灯検査装置)
31 制御装置(受信手段)
31a 点灯パターン形成部(表示制御手段)
37 欠陥情報管理部(受信手段)
39 欠陥情報管理部(受信手段)
92 欠陥部位
93 欠陥部位
94 欠陥部位
95 欠陥部指示記号(図形)
96 欠陥部指示記号(図形)
97 欠陥部指示記号(図形)
101 点灯検査システム
102 第1目視検査装置(点灯検査装置)
103 第2目視検査装置(点灯検査装置)
111 点灯検査システム
112 マクロ自動検査装置
113 ミクロ自動検査装置
Claims (13)
- 表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信手段と、
上記受信手段が受信した欠陥位置情報に基づいて、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段とを備えることを特徴とする点灯検査装置。 - 上記表示制御手段は、上記図形を構成する部分のうち、上記欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に位置する部分を表示しないことを特徴とする請求項1に記載の点灯検査装置。
- 上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、
上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形を構成する部分のうち、ある欠陥部位を通る上記信号線上に位置する、別の欠陥部位に対応する上記図形を構成する部分を表示しないことを特徴とする請求項2に記載の点灯検査装置。 - 上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、
上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される欠陥部位のうちのある欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に、他の欠陥部位に対応する図形が位置しないように、当該他の欠陥部位に対応する図形の表示位置を変更することを特徴とする請求項1に記載の点灯検査装置。 - 上記図形は、矩形、多角形または円形の一部、もしくは、線形状、矢印形状またはL字形状からなるものであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の点灯検査装置。
- 上記図形は、文字または数字を含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の点灯検査装置。
- 上記図形は、線対称または点対称である図形の対を含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の点灯検査装置。
- 上記表示制御手段は、複数種類の上記図形を上記画面に表示するものであり、表示する上記図形の種類を外部から入力される命令に従って変更することを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の点灯検査装置。
- 上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、
上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形の種類を互いに異ならせることを特徴とする請求項8に記載の点灯検査装置。 - 請求項1〜9のいずれか1項に記載の点灯検査装置を動作させる点灯検査プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための点灯検査プログラム。
- 請求項10に記載の点灯検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 受信手段と表示制御手段とを備える点灯検査装置における点灯検査方法であって、
上記受信手段が、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信工程と、
上記受信工程において受信した欠陥位置情報に基づいて、上記表示制御手段が、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御工程とを含むことを特徴とする点灯検査方法。 - 表示機器の画面を撮像手段によって撮像し、その撮像画像を解析することにより、当該画面の欠陥を検出する自動検査装置と、
上記自動検査装置によって検査された画面に目視検査用の点灯パターンを表示する目視検査装置とを備える点灯検査システムであって、
上記自動検査装置は、検出した欠陥部位の位置に関する欠陥位置情報を上記目視検査装置に送信する送信手段を備え、
上記目視検査装置は、上記送信手段が送信した欠陥位置情報に基づいて、上記自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段を備えることを特徴とする点灯検査システム。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010271055A (ja) * | 2009-05-19 | 2010-12-02 | Micronics Japan Co Ltd | 目視検査装置と目視検査方法 |
JP2011008156A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Toppan Printing Co Ltd | カラーフィルタの欠陥検査方法および検査装置 |
-
2007
- 2007-09-28 JP JP2007256166A patent/JP2009086294A/ja active Pending
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