TW201504621A - 用於電路板檢測之光學影像檢測系統 - Google Patents

Abstract

一種光學影像檢測系統，主要用於電路板檢測，包含資料庫以及光學檢測模組，光學檢測模組從資料庫取得原始資料檔以比對電路板上的線路圖案，並且在實際比對後，將檢測差異處的影像儲存於資料庫中，光學檢測模組包含承載裝置、一鏡頭元件組、一移動裝置、一運算比對裝置以及一影像呈現及劃記裝置，該影像顯示差異處的影像，操作者可以依據影像直接判斷為良品或不良品，接著在影像呈現及劃記裝置進行不良品紀錄，並產生電子缺陷檔，而不會因為位置判定錯誤造成劃記錯誤，也提昇了最終出貨的良率，進而減少後端問題、也確保了公司商譽。

Description

用於電路板檢測之光學影像檢測系統

本發明涉及一種光學檢測系統，尤其是用於電路板檢測，能同時呈現出影像以供劃記之光學檢測系統。

參閱第一圖，習用技術用於電路板檢測之光學影像檢測系統的單元示意圖。如第一圖所示，本發明用於電路板檢測之光學影像檢測系統1包含一資料庫10、一光學檢測模組20、光學判定裝置30以及劃記裝置35。資料庫10用以儲存原始資料檔以及檢測後的檢測資料檔，光學檢測模組20與資料庫10連接，從該資料庫10取得原始資料檔，以比對電路板上的線路圖案，並且在比對後，將一檢測資料檔儲存於資料庫10中。在光學檢測模組20檢測後，以機械或人工的方式將電路板放到光學判定裝置30上，如顯微鏡或是放大鏡下檢測電路板上的檢驗區，讀取來自資料庫10的檢測資料檔，再以人工方式判定是否為不良品，最後以人工方式利用劃記裝置35，如黑筆、白漆筆或筆刀，來劃記不良品。

光學檢測模組20包含一承載裝置21、一鏡頭元件組23、一移動裝置25以及運算比對裝置27。承載裝置21用以承載欲檢測之電路板，鏡頭元件組23設置於承載裝置21的上方用以呈現光學影像，並傳送一光學資料，移動裝置25與鏡頭元件組23以及承載裝置21的至少其中之一連接，用以移動鏡頭元件組23或移動承載裝置21來進行該電路板之檢測。運算比對裝置27與該鏡頭元件組23及資料庫10連接，接收該原始資料檔及該光學資料以進行比對，將比對後的差異處輸出為一檢測資料檔，並傳送至資料庫10。

光學判定裝置30包含一傳動裝置(未顯示)、一鏡頭組(未顯示)以及一載台(未顯示)，與該資料庫10連接，讀取該檢測資料檔並且以人 工逐一比對，在量產的情況下，如此方法雖然可以減輕光學檢測模組20的負載量提昇檢測的稼動率，然而，這樣的作業模式有幾項的缺點。

第一，由於該光學判定裝置30與該光學檢測模組20可能存在有座標不相同的問題，需要進行座標轉換，而可能在該光學判定裝置30找不到光學檢測模組20所偵測到的差異點；第二，透過人工檢驗時，作業員必須在輸入電腦時，開啟與電路板相關的資料圖案檔，再將報廢區的位置劃記，可能有開啟檔案錯誤之問題；第三，由於線路製程的線路寬度越來越細，在移動過程中，可能因為粉塵的問題導致電路受損；以及第四，隨者電路板微小精密化之趨勢，其單一區塊下的排佈也越來越多，人工必須透過數行、列來判定檢驗區，可能使得人工劃記與電腦輸入位置不一致的問題產生，導致劃錯位置。

由於終端檢驗後，產品將直接送至客戶端，若發生而良品、報廢區分辨錯誤問題，會導致後續客戶端產品的報廢，衍生的成本提高，公司的商譽也可能受損，因此，需要一種改善上述問題的檢測系統。

本發明的主要目的是提供一種光學影像檢測系統，主要用於電路板檢測，該系統包含資料庫、光學檢測模組，該資料庫用以儲存原始資料檔以及檢測後的檢測資料檔，光學檢測模組與資料庫連接，從該資料庫取得原始資料擋，以比對電路板上的線路圖案，並且在比對後，將一檢測資料檔儲存於資料庫中。光學檢測模組包含承載裝置、一鏡頭元件組、一移動裝置、一運算比對裝置以及一影像呈現及劃記裝置。

承載裝置用以承載欲檢測之電路板，鏡頭元件組設置於承載裝置的上方，包含至少一鏡頭以及至少一感光元件，用以呈現光學影像，並傳送一光學資料，移動裝置45為滑軌或是機械手臂，可以與鏡頭元件組以及承載裝置的至少其中之一連接，用以移動鏡頭元件組或移動承載裝置來進行該電路板之檢測。運算比對裝置與該鏡頭元件組及資料庫連接，接收該原始資料檔及該光學資料以進行比對，將比對後的差異處輸出為一初始檢測資料，並傳送至資料庫及該影像呈現及劃記裝置。

該影像呈現及劃記裝置與該運算比對裝置連接，接收該初始 檢測資料，包含一影像顯示元件及一輸入元件，在該影像顯示元件呈現該初始檢測資料中該等差異處的影像，操作者可以依據該等影像直接判斷為良品或不良品，接著藉由該輸入元件直接進行劃記不良品，經過劃記後產生一電子缺陷檔，並儲存於該資料庫中。

該影像顯示元件與該輸入元件可以結合為一觸控螢幕，也可以分離，例如該影像顯示元件可以為液晶顯示器、發光二極體顯示器、有機發光二極體顯示器、陰極射線管顯示器、電漿顯示器，而該輸入元件可以為滑鼠、鍵盤、光筆、繪圖板等。

本發明的特點在於，藉由在檢測後直接在檢測裝置上呈現影像，而可以使操作者可以依據影像直接判斷為良品或不良品，不會因為位置判定錯誤而造成劃記錯誤問題，在量產上提昇了最終出貨的良率，進而減少後端問題、也確保了公司商譽。

1‧‧‧用於電路板檢測之光學影像檢測系統

2‧‧‧用於電路板檢測之光學影像檢測系統

10‧‧‧資料庫

20‧‧‧光學檢測模組

21‧‧‧承載裝置

23‧‧‧鏡頭元件組

25‧‧‧移動裝置

27‧‧‧運算比對裝置

30‧‧‧光學判定裝置

35‧‧‧劃記裝置

40‧‧‧光學檢測模組

41‧‧‧承載裝置

43‧‧‧鏡頭元件組

45‧‧‧移動裝置

47‧‧‧運算比對裝置

49‧‧‧影像呈現及劃記裝置

51‧‧‧條碼掃描裝置

第一圖為習用技術用於電路板檢測之光學影像檢測系統的單元示意圖。

第二圖為本發明用於電路板檢測之光學影像檢測系統的單元示意圖。

以下配合圖式及元件符號對本創作之實施方式做更詳細的說明，俾使熟習該項技藝者在研讀本說明書後能據以實施。

參閱第二圖，本發明用於電路板檢測之光學影像檢測系統的單元示意圖。如第二圖所示，本發明用於電路板檢測之光學影像檢測系統2包含一資料庫10以及一光學檢測模組40，該資料庫10用以儲存原始資料檔以及檢測後的檢測資料檔，光學檢測模組40與資料庫10連接，從該資料庫10取得原始資料擋，以比對電路板上的線路圖案，並且在比對後，將一檢測資料檔儲存於資料庫10中。

光學檢測模組40細部包含一承載裝置41、一鏡頭元件組43、一移動裝置45、一運算比對裝置47以及一影像呈現及劃記裝置49。承載裝置41用以承載欲檢測之電路板，鏡頭元件組43設置於承載裝置41 的上方包含至少一鏡頭以及至少一感光元件，用以呈現光學影像，並傳送一光學資料，移動裝置45為滑軌或是機械手臂，可以與鏡頭元件組43以及承載裝置41的至少其中之一連接，用以移動鏡頭元件組43或移動承載裝置41來進行該電路板之檢測。運算比對裝置47與該鏡頭元件組43及資料庫10連接，接收該原始資料檔及該光學資料以進行比對，將比對後的差異處輸出為一初始檢測資料，並傳送至資料庫10及該影像呈現及劃記裝置49。

該影像呈現及劃記裝置49與該運算比對裝置47連接，接收該初始檢測資料，包含一影像顯示元件(未顯示)及一輸入元件(未顯示)，在該影像顯示元件呈現該初始檢測資料中該等差異處的影像，操作者可以依據該等影像直接判斷為良品或不良品，接著藉由該輸入元件直接進行劃記不良品，經過劃記後，產生一電子缺陷檔，並儲存於該資料庫10中。其中該影像顯示元件與該輸入元件可以結合或分離，例如該影像顯示元件與該輸入元件可以結合為一觸控螢幕，也可以分離，例如該影像顯示元件可以為液晶顯示器、發光二極體顯示器、有機發光二極體顯示器、陰極射線管顯示器、電漿顯示器，而該輸入元件可以為滑鼠、鍵盤、光筆、繪圖板等。

進一步地，光學檢測模組40還包含一條碼掃描裝置51，該條碼掃描裝置51與運算比對裝置47及資料庫10電氣連接，該條碼掃描裝置51掃描欲檢測之電路板的一條碼(未可視)，並在掃描條碼後產生一條碼對應訊息，並傳送至運算比對裝置47，運算比對裝置47根據該條碼對影訊息直接由資料庫10取得原始資料擋，從而避免人工輸入錯誤產生的問題。

本發明的特點在於，藉由在檢測後直接在檢測裝置上呈現影像，而可以使操作者可以依據影像直接判斷為良品或不良品，不會因為位置判定錯誤而造成劃記錯誤問題，在量產上提昇了最終出貨的良率，進而減少後端問題、也確保了公司商譽。

以上所述者僅為用以解釋本發明之較佳實施例，並非企圖據以對本發明做任何形式上之限制，是以，凡有在相同之發明精神下所作有關本發明之任何修飾或變更，皆仍應包括在本發明意圖保護之範疇。

2‧‧‧用於電路板檢測之光學影像檢測系統

10‧‧‧資料庫

40‧‧‧光學檢測模組

41‧‧‧承載裝置

43‧‧‧鏡頭元件組

45‧‧‧移動裝置

47‧‧‧運算比對裝置

49‧‧‧影像呈現及劃記裝置

51‧‧‧條碼掃描裝置

Claims (7)

1. 一種光學影像檢測系統，主要用於電路板檢測，該系統包含：一資料庫，用以儲存複數個原始資料檔以及檢測後的複數個檢測資料檔；以及一光學檢測模組，與該資料庫連接，從該資料庫取得該等原始資料擋的其中之一，以比對一電路板上的線路圖案，並且在比對後，將一檢測資料檔儲存於該資料庫中，該光學檢測模組包含：一承載裝置，用以承載欲檢測之該電路板；一鏡頭元件組，設置於該承載裝置的上方，且包含至少一鏡頭以及至少一感光元件，用以呈現光學影像，並傳送一光學資料；一移動裝置，與該鏡頭元件組以及該承載裝置的至少其中之一連接，用以移動該鏡頭元件組或該承載裝置來進行該電路板之檢測；一運算比對裝置，與該鏡頭元件組及該資料庫連接，接收該等原始資料檔的其中之一及該光學資料以進行比對將比對後的差異處輸出為一初始檢測資料，並傳送出該初始檢測資料；以及一影像呈現及劃記裝置，與該運算比對裝置連接，接收該初始檢測資料，並呈現該初始檢測資料中該等差異處的複數個影像，該影像呈現及劃記裝置包含一影像顯示元件及一輸入元件，該影像顯示元件與該輸入元件可結合或分離，該影像顯示元件顯示該等影像，操作者依據該等影像直接判斷為良品或不良品，接著藉由該輸入元件直接進行劃記不良品，完成劃記後，該影像呈現及劃記裝置產生一產生一電子缺陷檔，並儲存於該該資料庫中。
2. 如申請專利範圍第1項所述系統，其中該移動裝置為複數個滑軌或是至少一機械手臂。
3. 如申請專利範圍第1項所述系統，其中該初始檢測資料也儲存於該資料庫中。
4. 如申請專利範圍第1項所述系統，其中該影像顯示元件與該輸入元件結合為一觸控螢幕。
5. 如申請專利範圍第1項所述系統，其中該影像顯示元件為一液晶顯示器、一發光二極體顯示器、一有機發光二極體顯示器、一陰極射線管顯示器以及一電漿顯示器的至少其中之一。
6. 如申請專利範圍第1項所述系統，其中該輸入元件可以為一滑鼠、一鍵盤、一光筆以及一繪圖板的至少其中之一。
7. 如申請專利範圍第1項所述系統，其中該光學檢測模組進一步包含一條碼掃描裝置，該條碼掃描裝置與該運算比對裝置及該資料庫電氣連接，該條碼掃描裝置用以掃描欲檢測之該電路板上的一條碼，並在掃描該條碼產生一條碼對應訊息並送至該運算比對裝置，該運算比對裝置依據該條碼對應訊息直接由該資料庫取得原始資料擋。