TW201418701A - 終端缺陷檢驗的方法 - Google Patents

Abstract

一種終端缺陷檢驗的方法，包含：準備檢驗設備步驟、原點補正步驟、掃描條碼步驟、缺陷檢查步驟、缺陷區域劃記步驟以及產生出貨檔案步驟，終端檢驗設備包含主機、顯微鏡、條碼掃描器、承載治具、信號接收傳送裝置，在原點補正後觀察到缺陷時，以電磁筆在發現缺陷的檢驗區上劃記，信號接收傳送接收劃記位置，並傳送至主機，主機根據原點補正時所產生的主機板輪廓中的原點及劃記位置的相對位置計算出報廢區的座標，並產生出貨檔案，而能避免資料輸入錯誤、劃記與輸入資料不合的問題，同時取代以黑筆與白漆標記來減低工作板件污染的風險。

Description

終端缺陷檢驗的方法

本發明涉及一種終端檢驗的方法，尤其是信號接收傳送裝置而能更直覺地進行檢驗標記，而避免標示錯誤。

終端檢驗是在光學檢驗後，以人工的方式逐步地進行將電路板放到顯微鏡或是放大鏡下檢測電路板上的檢驗區，作為出貨時的最終檢驗。傳統的人工作業檢查，當發現缺陷時再以黑筆或白漆筆劃記為報廢區，在完成乾燥等作業程序後，其可作為後續雷射標示報廢與產出電子缺陷檔之依據。然而，在缺陷紀錄電子化同時，這樣的作業模式有幾項的缺點：第一，透過人工檢驗時，由於作業員必須在輸入電腦時，開啟與電路板相關的佈局圖案檔，在將報廢區的位置輸入，在作業程序上不夠自動化，且可能有開啟檔案錯誤的潛在問題；第二，隨著電路板微小精密化之趨勢，單一區塊排佈的檢驗區也越來越多，人工必須透過數行、列來判定檢驗區，這也可能使得人工劃記時與電腦輸入的位置不一致的問題產生；第三，傳統黑筆與白漆筆標示，其表面容易脫落，而後造成板便污染等問題。

由於終端檢驗後，產品將直接送至客戶端，若發生而良品、報廢區分辨錯誤與標記脫落造成板件污染等問題，會導致後續客戶端產品的報廢，衍生的成本提高，公司的商譽也可能受損，因此，需要一種更直覺性並改善習用檢驗時間較長、容易發生錯誤的檢驗系統及方法。

本發明的主要目的是提供一種終端缺陷檢驗的方法，該方法包含：準備檢驗設備步驟、掃描條碼步驟、原點補正步驟、缺陷檢查步驟、缺陷區域劃記步驟，以及產生出貨檔案步驟。 準備檢驗設備步驟，係準備一終端檢驗設備，該終端檢驗設備包含一主機、一顯微鏡、一條碼掃描器、一承載治具、一信號接收傳送裝置及一電磁筆，該主機具有一資料庫以儲存資料及線路佈局圖案，該條碼掃描器與該主機電氣連接，該承載治具用以裝設欲檢驗的一電路板，該顯微鏡用以檢查該電路板上的檢驗區，該信號接收傳送裝置設置於該承載治具上，並與該主機及該電磁筆電氣連接。

掃描條碼步驟，係以該條碼掃描器掃描在該電路板上的一條碼，該主機根據該條碼從資料庫選出對應於該電路板的資料及一線路佈局圖案；原點補正步驟，是將該電磁筆在該電路板的對角線位置進行劃記，而產生複數個初始標記位置，該信號接收傳送裝置接收該等初始標記位置並傳送至該主機，該主機依照該等初始標記位置及該線路佈局圖案定義出該電路板的輪廓，並以該電路板中的一點作為原點。

缺陷檢查步驟，是將裝設有該電路板及該信號接收傳送裝置的該承載治具放到該顯微鏡的一載台上，移動該載台並透過該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的複數個檢驗區中是否存在缺陷；缺陷區域劃記步驟，在觀察到缺陷時，以該電磁筆在發現缺陷的該等檢驗區上進行劃記，該信號接收傳送裝置接收到複數個劃記位置，並傳送至主機；以及產生出貨檔案步驟，是在缺陷檢查完畢後，該主機根據該原點與該等劃記位置的相對位置計算出報廢區的座標，並產生包含有該報廢區的座標的一出貨檔案。

進一步地，更可以將電磁筆改為信號發射器及腳踏板的結合，當改為此方式時，需在掃描條碼步驟前先進行一設備校準步驟，將從該顯微鏡中所看到的十字區域與該信號發射器對準，並踩踏該腳踏板而使得該顯微鏡與該信號發射器的位置相對應，該信號發射器發射一定位主機完成校準定位。藉此，可以利用從該顯微鏡中所看到的十字區域及腳踏板的踩踏動作取代劃記動作。

本發明的特點在於，透過主機、條碼讀取器、信號接收傳送裝置，以及電磁筆，或信號發射器及腳踏板的組合，能夠自動地讀取電路板的資料、並運算出劃記位置，而能避免資料輸入錯誤、劃記與輸入資料不合的問題，同時取代傳統以黑筆與白漆標記，而減低工作板件污染的風險。

以下配合圖式及元件符號對本創作之實施方式做更詳細的說明，俾使熟習該項技藝者在研讀本說明書後能據以實施。

參閱第一圖，本發明終端缺陷檢驗的方法第一實施例的流程圖。如第一圖所示，第一實施例的終端缺陷檢驗的方法S1包含準備檢驗設備步驟S10、掃描條碼步驟S20、原點補正步驟S30、缺陷檢查步驟S40、缺陷區域劃記步驟S50以及產生出貨檔案步驟S60。

同時參閱第二圖，本發明終端檢驗設備第一實施例的單元示意圖。準備檢驗設備步驟S10係準備如第二圖所示的終端檢驗設備1，終端檢驗設備1包含主機10、顯微鏡20、條碼掃描器30、承載治具40、信號接收傳送裝置51及電磁筆53。主機10具有一資料庫以儲存資料(如編號ID、出貨廠商等)，及線路佈局圖案(layout)，條碼掃描器30與主機10電氣連接，承載治具40用以裝設欲檢驗的電路板100，顯微鏡20用以檢查電路板100上的檢驗區110，信號接收傳送裝置51設置於承載治具40上，與主機10及電磁筆53電氣連接。

另外，進一步參考第三圖，承載治具40的剖面示意圖。如第三圖所示，承載治具40包含一基座41、一基板載台43，基板41具有凹槽以容置基板載台43，基座載台43也同樣地具有凹槽以容置電路板100，基板載台43可依據電路板100的大小、形狀可以更換。而信號接收傳送裝置51是設置在基座41上。

掃描條碼步驟S20是以條碼掃描器20掃描在電路板100 上的條碼120，從而主機10根據該條碼120從資料庫選出對應於電路板100的資料及線路佈局圖案。

原點補正步驟S30，同時參照第四圖，是將電磁筆53在電路板對角線的位置進行劃記，而產生初始標記位置，信號接收傳送裝置51接收初始標記位置並傳送至主機10，主機10依照初始標記位置及對應於電路板100的線路佈局圖案定義出電路板100的輪廓，並以電路板100中的一點作為原點。

缺陷檢查步驟S40是將裝設有電路板100及信號接收傳送裝置51的承載治具40放到顯微鏡20的載台27上，透過顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23，並移動載台27觀察電路板100的檢驗區110中是否存在缺陷。顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23與載台27是透過支架25而連接，載台27可以移動來觀察。目鏡21的放大倍率為10X~100X，物鏡23的放大倍率為1X~10X。

缺陷區域劃記步驟S50是在觀察到缺陷時，以電磁筆53在發現缺陷的檢驗區110上進行劃記，信號接收傳送裝置51接收到劃記位置，並將劃記位置傳送至主機10。產生出貨檔案步驟S60是在缺陷檢查完畢後，主機10根據原點與劃記位置的相對位置計算出報廢區的座標，並產生包含有報廢區之座標的一出貨檔案。

其中主機10與條碼掃描器30、主機10與信號接收傳送裝置51以有線或無線方式電氣連接，無線電氣連接可以藉由藍芽或無線網路的方式來進行信號傳輸/接收，而信號接收傳送裝置51與電磁筆53之間係以有線或無線方式電氣連接，無線電氣連接，可以藉由超音波、藍芽、紅外線的方式來進行。

參閱第五圖，本發明終端缺陷檢驗的方法第二實施例的流程圖。如第五圖所示，第一實施例的終端缺陷檢驗的方法S2包含準備檢驗設備步驟S12、設備校準步驟S15、掃描條碼步驟S20、原點補正步驟S35、缺陷檢查步驟S40、缺陷位置確認步驟S55以及產生出貨檔案步驟S60。

同時參閱第六圖，本發明終端檢驗設備第二實施例的單元示意圖。準備檢驗設備步驟S12係準備如第二圖所示的終端檢驗設備2，如第六圖所示，終端檢驗系統2是第一實施例終端檢驗系統1的變化形式，終端檢驗系統2包含主機10、顯微鏡20、條碼掃描器30、承載治具40、信號接收傳送裝置51、信號發射器55、腳踏板57以及電池59，主機10、顯微鏡20、條碼掃描器30、承載治具40，與第一實施例相同，在此不在贅述。信號發射器55設置在顯微鏡20的載台27上，與信號接收傳送裝置51及主機10電氣連接，腳踏板57與信號發射器55電氣連接。電池59提供電力給信號發射器55，可設置在顯微鏡的載台27上。

並同時參照第七圖，設備校準步驟S15是將顯微鏡20中所看到的十字區域與信號發射器55對準，並踩踏腳踏板57而使得顯微鏡20與信號發射器55的的位置相對應，信號發射器55發送一定位信號給主機10以完成校準定位，進一步地，還可以在顯微鏡20的支架上裝設一雷射筆以提升亮度，而在設備校準步驟S15，除了將顯微鏡20中所看到的十字區域與信號發射器55對準，還需要將雷射筆60所產生的光點與十字區域對準，再踩下腳踏板57，以完成校準定位。

掃描條碼步驟S20如同第一實施例，以條碼掃描器20掃描在電路板100上的條碼120，從而主機10根據該條碼120從資料庫選出對應於電路板100的資料及線路佈局圖案。

原點補正步驟S35，是移動顯微鏡的載台，將顯微鏡20中所看到的十字區對準到裝設在承載治具40中電路板100的對角線兩點(例如左上、右下)，並在對準時踩踏腳踏板57，而產生初始對準位置，信號接收傳送裝置51接收初始對準位置並傳送至主機10，主機10根據線路佈局圖案及初始對準位置定義出電路板100的輪廓，並以電路板上的一點作為原點。

缺陷檢查步驟S40如同第一實施例，透過顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23並移動載台27觀察電路板100的檢驗 區110中是否存在缺陷。缺陷位置確認步驟S55是在觀察到檢驗區110中存在缺陷時，將顯微鏡20中所看到的十字區域對準缺陷位置，並踩踏腳踏板57，以產生出缺陷對準位置。產生出貨檔案步驟S60是在缺陷檢查完畢後，主機10根據原點與缺陷對準位置的相對位置計算出報廢區的座標，並產生包含有報廢區之座標的一出貨檔案。

其中信號發射器55與信號接收傳送裝置57及主機10電氣連接，是以有線或無線的連接，信號發射器55與信號接收傳送裝置57無線連接的方式可以為超音波、藍芽或紅外線，而與主機無線連接的方式可以為藍芽或無線網路。

本發明的特點在於，透過主機、條碼讀取器、信號接收傳送裝置，以及電磁筆，或信號發射器及腳踏板的組合，能夠自動地讀取電路板的資料、並運算出劃記位置，而能避免資料輸入錯誤、劃記與輸入資料不合的問題，同時取代傳統以黑筆與白漆標記，而減低工作板件污染的風險。

以上所述者僅為用以解釋本發明之較佳實施例，並非企圖據以對本發明做任何形式上之限制，是以，凡有在相同之發明精神下所作有關本發明之任何修飾或變更，皆仍應包括在本發明意圖保護之範疇。

1‧‧‧終端檢驗系統

2‧‧‧終端檢驗系統

10‧‧‧主機

20‧‧‧顯微鏡

21‧‧‧目鏡

23‧‧‧物鏡

25‧‧‧載台

27‧‧‧支架

30‧‧‧條碼掃描器

40‧‧‧承載治具

51‧‧‧信號接收傳送裝置

53‧‧‧電磁筆

55‧‧‧信號發射器

57‧‧‧腳踏板

59‧‧‧電池

60‧‧‧雷射筆

100‧‧‧電路板

110‧‧‧檢驗區

120‧‧‧條碼

S1‧‧‧終端缺陷檢驗的方法

S2‧‧‧終端缺陷檢驗的方法

S10‧‧‧準備檢驗設備步驟

S12‧‧‧準備檢驗設備步驟

S15‧‧‧設備校準步驟

S20‧‧‧掃描條碼步驟

S30‧‧‧原點補正步驟

S35‧‧‧原點補正步驟

S40‧‧‧缺陷檢查步驟

S50‧‧‧缺陷區域劃記步驟

S55‧‧‧缺陷位置確認步驟

S60‧‧‧產生出貨檔案步驟

第一圖為本發明終端缺陷檢驗的方法第一實施例的流程圖。

第二圖為本發明終端檢驗設備第一實施例的單元示意圖。

第三圖為第一圖中承載治具的剖面示意圖。

第四圖是以電磁筆在電路板對角線的位置進行劃記的示意圖。

第五圖為本發明終端缺陷檢驗的方法第二實施例的流程圖。

第六圖為本發明終端檢驗設備第二實施例的單元示意圖。

第七圖為中終端檢驗設備的設備校準的示意圖。

S1‧‧‧終端缺陷檢驗的方法

S10‧‧‧準備檢驗設備步驟

S20‧‧‧掃描條碼步驟

S30‧‧‧原點補正步驟

S40‧‧‧缺陷檢查步驟

S50‧‧‧缺陷區域劃記步驟

S60‧‧‧產生出貨檔案步驟

Claims (14)

1. 一種終端缺陷檢驗的方法，包含：一準備檢驗設備步驟，係準備一終端檢驗設備，該終端檢驗設備包含一主機、一顯微鏡、一條碼掃描器、一承載治具、一信號接收傳送裝置及一電磁筆，該主機具有一資料庫，該條碼掃描器與該主機電氣連接，該承載治具用以裝設欲檢驗的一電路板，該信號接收傳送裝置設置於該承載治具上，並與該主機及該電磁筆電氣連接；一掃描條碼步驟，以該條碼掃描器掃描在該電路板上的一條碼，該主機根據該條碼從該資料庫選出對應於該電路板的一資料及一線路佈局圖案；一原點補正步驟，以該電磁筆在該電路板的對角線位置進行劃記，而產生複數個初始標記位置，該信號接收傳送裝置接收該等初始標記位置並傳送至該主機，該主機依照該等初始標記位置及該線路佈局圖案定義出該電路板的輪廓，並以該電路板中的一點作為一原點；一缺陷檢查步驟，是將裝設有該電路板及該信號接收傳送裝置的該承載治具放到該顯微鏡的一載台上，移動該載台並透過該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的複數個檢驗區中是否存在複數個缺陷；一缺陷區域劃記步驟，在觀察到該等缺陷時，以該電磁筆在發現該等缺陷的該等檢驗區上進行劃記，該信號接收傳送裝置接收到複數個劃記位置，並傳送至主機；以及一產生出貨檔案步驟，該主機根據該原點與該等劃記位置的相對位置計算出報廢區的座標，並產生包含有該報廢區的座標的一出貨檔案。
2. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該目鏡的放大倍率為10X~100X，而該至少一物鏡的放大倍率為1X~10X。
3. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該主機與該條碼掃描器，以及該主機與信號接收傳送裝置以有線或無線電氣連接。
4. 如申請專利範圍第3項所述之方法，其中該無線電氣連接藉由藍芽或無線網路的方式來進行信號傳輸/接收。
5. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該信號接收傳送裝置與該電磁筆之間係以有線或無線電氣連接，無線電氣連接係藉由超音波、藍芽、紅外線的方式來進行信號傳輸/接收。
6. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該承載治具包含一基座以及一基板載台，該基座具有一凹槽以容置該基板載台，該基板載台具有一另一凹槽以承載該電路板。
7. 一種終端缺陷檢驗的方法，包含：準備檢驗設備步驟，該終端檢驗設備包含一主機、一顯微鏡、一條碼掃描器、一承載治具、一信號接收傳送裝置、一信號發射器以及一腳踏板，該主機具有一資料庫，該條碼掃描器與該主機電氣連接，該承載治具用以裝設欲檢驗的一電路板，該信號接收傳送裝置設置於該承載治具上，並與該主機電氣連接，該信號發射器設置在該顯微鏡的一載台上，並與該信號接收傳送裝置及該主機電氣連接，該腳踏板與該信號發射器電氣連接；一設備校準步驟，將從該顯微鏡中所看到的一十字區域與該信號發射器對準，並踩踏該腳踏板而使得該顯微鏡與該信號發射器的位置相對應，該信號發射器發射一定位主機完成校準定位；一掃描條碼步驟，以該條碼掃描器掃描在該電路板上的一條碼，該主機根據該條碼從該資料庫選出對應於該電路板的一資料及一線路佈局圖案； 一原點補正步驟，移動該顯微鏡的該載台，將從該顯微鏡中所看到的該十字區對準到裝設在該承載治具中的該電路板之對角線兩點，並在對準時踩踏該腳踏板，而產生複數個初始對準位置，該信號接收傳送裝置接收該等初始對準位置並傳送至主機，該主機根據該線路佈局圖案及該等初始對準位置定義出電路板的輪廓，並以該電路板上的一點作為一原點；一缺陷檢查步驟，移動該載台並透過該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的複數個檢驗區中是否存在複數個缺陷；一缺陷位置確認步驟，當觀察到該等檢驗區中存在該等缺陷時，將該顯微鏡中所看到的該十字區域對準該等缺陷的位置，並踩踏該腳踏板，以產生出複數個缺陷對準位置；以及一產生出貨檔案步驟，該主機根據該原點與該等缺陷對準位置的相對位置計算出報廢區的座標，並產生包含有報廢區之座標的一出貨檔案。
8. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其中該承載治具包含一基座以及一基板載台，該基座具有一凹槽以容置該基板載台，該基板載台具有一另一凹槽以承載該電路板。
9. 如申請專利範圍第7項所述之方法，該終端檢驗設備進一步包含一雷射筆，該雷射筆安裝於該顯微鏡的該支架上提供光源來提升亮度，在設備校準時，同時將該雷射筆所產生的光點與該十字區域及該信號產生器對準，再踩下該腳踏板，以完成校準定位。
10. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其中該目鏡的放大倍率為10X~100X，而該至少一物鏡的放大倍率為1X~10X。
11. 如申請專利範圍第7項所述之終端檢驗系統，其中該主機與該條碼掃描器、該主機與信號接收傳送裝置，以及該主機與 該信號發射器以有線或無線電氣連接。
12. 如申請專利範圍第11項所述之方法，其中該無線電氣連接藉由藍芽或無線網路的方式來進行信號傳輸/接收。
13. 如申請專利範圍第7項所述之方法，該終端檢驗設備進一步包含一電池，該電池設置在顯微鏡的載台上，提供電力給該信號發射器。
14. 如申請專利範圍第7所述之方法，其中該信號接收傳送裝置與該信號發射器之間係以有線或無線電氣連接，無線電氣連接係藉由超音波、藍芽、紅外線的方式來進行信號傳輸/接收。